- •А.Г. Акманов, б.Г. Шакиров оСновы квантовых и оптоэлектронных приборов
- •Введение
- •1 Физические основы лазеров
- •1.1Оптическое излучение
- •1.2Энергетические состояния квантовой системы. Населенности квантовых уровней
- •1.3Элементарные процессы взаимодействия оптического излучения с веществом
- •Спонтанные переходы
- •Вынужденные переходы
- •Спонтанное излучение
- •1.4Основы теории формы и ширины линии излучения
- •Доплеровское уширение
- •1.5Коэффициенты Эйнштейна. Термодинамическое рассмотрение
- •1.6Квантовое усиление в среде
- •1.7Квантовый генератор (лазер)
- •1.8Методы инверсии населенностей квантовых уровней
- •1.9Метод оптической накачки
- •1.10Кинетические уравнения для населенностей уровней
- •1.11 Оптические резонаторы
- •1.11.1 Добротность открытого резонатора
- •1.11.2 Волновая теория открытого резонатора
- •1.11.3 Дифракционная теория
- •1.11.4 Геометрическая теория открытого резонатора
- •Типы оптических резонаторов
- •1.11.5 Селекция типов колебаний
- •2Твердотельные лазеры
- •2.1Рубиновый лазер
- •2.2Неодимовые лазеры
- •2.3Устройство твердотельного лазера
- •2.4Система оптической накачки
- •2.5Электрическая схема питания лазера
- •2.6Режимы работы твердотельных лазеров
- •Режим свободной генерации
- •Режим модулированной добротности
- •Режим синхронизации мод
- •3Газовые лазеры
- •3.1Принцип работы и конструкция газовых лазеров
- •3.2Инверсия населенностей в плазме газового разряда
- •3.3Гелий – неоновый лазер
- •3.4Аргоновый лазер
- •3.5Со2-лазер
- •4Полупроводниковые лазеры
- •4.1Физические основы работы полупроводникового лазера
- •4.1.1Энергетические состояния в полупроводниках
- •4.1.2 Излучательные и безызлучательные переходы.
- •4.1.2Условие усиления электромагнитной волны в полупроводнике
- •4.2Инжекционный полупроводниковый лазер на гомопереходе
- •4.3Инжекционный полупроводниковый лазер на гетеропереходе
- •4.4Характеристики и параметры полупроводниковых лазеров
- •4.5Применения полупроводниковых лазеров
- •5Оптические модуляторы
- •5.1Электрооптические модуляторы
- •Линейный электрооптический эффект в одноосных кристаллах
- •Фазовая и амплитудная модуляция света в одноосных кристаллах. Модуляционная характеристика электрооптического модулятора
- •Режимы работы и конструктивные особенности электрооптических модуляторов
- •5.2Акустооптические модуляторы
- •5.3Магнитооптические модуляторы
- •6Волоконно-оптические усилители
- •6.1Принцип работы волоконно-оптических усилителей
- •6.2Устройство и схемы волоконно-оптических усилителей
- •6.3Характеристики и параметры волоконно-оптических усилителей.
- •7Основы нелинейной оптики
- •7.1Поляризация диэлектрика. Нелинейная поляризация
- •7.2Генерация оптических гармоник, суммарных и разностных частот
- •7.3Фазовый синхронизм в одноосных кристаллах
- •7.4Самофокусировка света
- •7.5Двухфотонное поглощение
- •7.6Вынужденное комбинационное рассеивание света
- •8Элементы оптоэлектронных приборов
- •8.1Физические основы работы полупроводниковых светоизлучающих диодов
- •8.2Внутренний и внешний квантовые выходы
- •8.3Потери излучения в светоизлучающем диоде
- •8.4Излучательная и спектральная характеристики светоизлучающего диода
- •8.5Модуляционная характеристика светоизлучающего диода
- •8.6Параметры и электрические характеристики светоизлучающего диода
- •8.7Конструкции излучающего диода и эффективность связи с волоконным световодом
- •8.8Принцип работы полупроводниковых фотоприемников
- •8.9 Внутренний фотоэффект. Фотопроводимость
- •8.10Скорость оптической генерации носителей заряда
- •8.11Процессы рекомбинации носителей заряда
- •8.12Основное характеристическое соотношение фотопроводимости
- •8.13Процессы релаксации
- •8.14Фоточувствительность. Фототок. Усиление фототока
- •8.15Характеристики фотоприемников
- •8.16Фотодиоды
- •Лавинные фотодиоды
- •Параметры лавинного фотодиода лфд-2-а
- •8.17Фототранзисторы
- •8.18Фототиристоры
- •8.19Фоторезисторы
- •Список литературы
- •Содержание
8.8Принцип работы полупроводниковых фотоприемников
Физической основой работы полупроводниковых фотоприемников является поглощение оптического излучения в полупроводниках.
Различают пять основных типов оптического поглощения:
- собственное (фундаментальное) поглощение;
- примесное поглощение;
- поглощение свободными носителями заряда;
- экситонное и решеточное поглощение.
Рассмотрим их подробнее.
a) Собственное поглощение. Собственным называется поглощение, при котором электроны под действием излучения приобретают дополнительную энергию, превышающую или равную ширине запрещенной зоны Eg, и переходят из валентной зоны в зону проводимости.
Для прямозонных полупроводников коэффициент поглощения у края собственного поглощения полупроводника имеет вид:
=A(h-Eg)1/2, (8.11)
и для непрямозонного полупроводника =A(h-Eg)3/2 , (8.12)
где А и А - коэффициенты, зависящие от эффективных масс носителей.
б) Примесное поглощение. При наличии в запрещенной зоне энергетических уровней примесей, обмен носителями заряда между этими уровнями осуществляется фотонами с малой энергией, т.е h<Eg. Примесные уровни подразделяются на мелкие и глубокие. Глубокими называются уровни, вероятность термической ионизации которых при комнатной температуре мала. Они играют большую роль в определении свойств фотоприемников. Коэффициент примесного поглощения равен:
=8.3·10-17 m0N/mn*nEa , (8.13)
где N - концентрация атомов примесей; n - показатель преломления; Ea - энергия активизации примесного уровня; mn*- эффективная масса электрона.
в) Поглощение свободными носителями. Поглощение свободными носителями обусловлено электронными переходами внутри разрешенных зон, т.е. внутри зоны проводимости и валентной зоны. Это поглощение неселективное. Для фотонов, энергия которых намного меньше, чем ширина запрещенной зоны, т.е. h << Eg, коэффициент поглощения равен:
(8.14)
где n – концентрация электронов, n – подвижность электронов.
Выражение (8.14) справедливо и для случая поглощения свободными дырками.
г Экситонное и решеточное поглощение. В некоторых полупроводниках наблюдается поглощение экситонами - квазичастицами, состоящими из связанных кулоновским взаимодействием электрона и дырки. Энергия возбуждения экситона меньше ширины запрещенной зоны.
Для полупроводниковых соединений, состоящих из атомов различных типов, например GaAs, наблюдается, так называемое решеточное поглощение. Оно обуславливается поглощением диполями, образуемыми атомами различных типов. Спектр поглощения состоит из ряда пиков и накладывается на поглощение свободными носителями.
8.9 Внутренний фотоэффект. Фотопроводимость
При переходах электронов из валентной зоны или из примесных уровней в зону проводимости, или из валентной зоны на примесные уровни, возникают новые свободные носители заряда, способные участвовать в переносе тока. Это приводит к изменению концентрации носителей заряда.
Изменение концентрации носителей заряда в веществе при его освещении, приводящее к изменению его электрических свойств, называется внутренним фотоэффектом. При внутреннем фотоэффекте, в отличие от внешнего, оптически возбужденные электроны остаются внутри освещенного тела, электрическая нейтральность которого не нарушается.
Внутренний фотоэффект обуславливается собственным и примесным поглощением, так как остальные типы поглощения не создают свободных носителей зарядов. На рисунке 8.10 показаны фотоэлектрические переходы, в результате которых создаются свободные носители заряда.
Р ис.8.10. Фотоэлектрические переходы в полупроводниках:
1-собственные переходы, 2- примесные переходы, Еad и Еaa энергии активации доноров и акцепторов
Внутренний фотоэффект явление не поверхностное, а объемное, поэтому даже если коэффициент поглощения и будет незначительным, тем не менее эффект будет значительным.
Под действием оптического излучения изменяется проводимость полупроводника. Это изменение проводимости называется фотопроводимостью. Как известно, проводимость полупроводников определяется выражением: σ=σn +σp =e(nμn + pμp), (8.15)
где σn и σp – электронная и дырочная составляющие проводимости, μn и μp - подвижности электронов и дырок; n и p - объемные концентрации свободных электронов и дырок.
Из выражения (8.15) видно, что проводимость может изменяться в результате изменения концентрации носителей или их подвижности.
При поглощении излучения в собственной или примесной области спектра происходит оптическая генерация носителей заряда, т.е. увеличивается их концентрация, вследствие чего нарушается термодинамическое равновесие системы электрон-решетка. Поэтому избыточные электроны и дырки, генерирующиеся при освещении полупроводника, называются неравновесными носителями заряда (равновесные носители генерируются путем термического возбуждения).
Если концентрация свободных электронов в результате поглощения излучения изменится на величину Δn, а концентрация дырок на величину ∆p, то проводимость полупроводника изменится на величину
∆σ=е(μnΔn+μpΔp). (8.16)
Полная проводимость освещенного полупроводника может быть представлена как сумма равновесной проводимости в темноте (темновой проводимости) и фотопроводимости:
σ = σ0 + Δσ = еμn(n0 + Δn) + eμp(p0 + Δp). (8.17)
При определенных условиях освещения полупроводника может привести не к повышению, а к понижению его проводимости, т.е. Δn,Δp<0. Это явление называется отрицательной фотопроводимостью.
В неравновесных условиях концентрация электронов n=n0+Δn и дырок p=p0+Δp не может определяться положением уровня Ферми, которое имеет смысл только при термодинамическом равновесии. Однако неравновесную концентрацию зарядов удобно описывать выражениями, справедливыми для равновесной концентрации:
n = Ncexp(Ec - EFn/kT), (8.18.а)
p = Nvexp(EFp - Ev/kT), (8.18.б)
где величины Nc= (2/h3)(2πme*kT)3/2 и Nv= (2/h3)(2πmp*kT)3/2 - эффективные плотности состояний в этих зонах, EFn и EFp квазиуровни Ферми.
Увеличение неравновесной концентрации электронов в зоне проводимости эквивалентно смещению квазиуровня Ферми EFn вверх, а увеличение концентрации дырок – смещению квазиуровня Ферми EFp - вниз.
Энергетические модели полупроводников в равновесных и неравновесных случаях наглядно можно представить в следующих рисунках:
Рис. 8.11. Энергетические модели полупроводников: а) – равновесное состояние, б) и в) - неравновесное состояние.