- •А.Г. Акманов, б.Г. Шакиров оСновы квантовых и оптоэлектронных приборов
- •Введение
- •1 Физические основы лазеров
- •1.1Оптическое излучение
- •1.2Энергетические состояния квантовой системы. Населенности квантовых уровней
- •1.3Элементарные процессы взаимодействия оптического излучения с веществом
- •Спонтанные переходы
- •Вынужденные переходы
- •Спонтанное излучение
- •1.4Основы теории формы и ширины линии излучения
- •Доплеровское уширение
- •1.5Коэффициенты Эйнштейна. Термодинамическое рассмотрение
- •1.6Квантовое усиление в среде
- •1.7Квантовый генератор (лазер)
- •1.8Методы инверсии населенностей квантовых уровней
- •1.9Метод оптической накачки
- •1.10Кинетические уравнения для населенностей уровней
- •1.11 Оптические резонаторы
- •1.11.1 Добротность открытого резонатора
- •1.11.2 Волновая теория открытого резонатора
- •1.11.3 Дифракционная теория
- •1.11.4 Геометрическая теория открытого резонатора
- •Типы оптических резонаторов
- •1.11.5 Селекция типов колебаний
- •2Твердотельные лазеры
- •2.1Рубиновый лазер
- •2.2Неодимовые лазеры
- •2.3Устройство твердотельного лазера
- •2.4Система оптической накачки
- •2.5Электрическая схема питания лазера
- •2.6Режимы работы твердотельных лазеров
- •Режим свободной генерации
- •Режим модулированной добротности
- •Режим синхронизации мод
- •3Газовые лазеры
- •3.1Принцип работы и конструкция газовых лазеров
- •3.2Инверсия населенностей в плазме газового разряда
- •3.3Гелий – неоновый лазер
- •3.4Аргоновый лазер
- •3.5Со2-лазер
- •4Полупроводниковые лазеры
- •4.1Физические основы работы полупроводникового лазера
- •4.1.1Энергетические состояния в полупроводниках
- •4.1.2 Излучательные и безызлучательные переходы.
- •4.1.2Условие усиления электромагнитной волны в полупроводнике
- •4.2Инжекционный полупроводниковый лазер на гомопереходе
- •4.3Инжекционный полупроводниковый лазер на гетеропереходе
- •4.4Характеристики и параметры полупроводниковых лазеров
- •4.5Применения полупроводниковых лазеров
- •5Оптические модуляторы
- •5.1Электрооптические модуляторы
- •Линейный электрооптический эффект в одноосных кристаллах
- •Фазовая и амплитудная модуляция света в одноосных кристаллах. Модуляционная характеристика электрооптического модулятора
- •Режимы работы и конструктивные особенности электрооптических модуляторов
- •5.2Акустооптические модуляторы
- •5.3Магнитооптические модуляторы
- •6Волоконно-оптические усилители
- •6.1Принцип работы волоконно-оптических усилителей
- •6.2Устройство и схемы волоконно-оптических усилителей
- •6.3Характеристики и параметры волоконно-оптических усилителей.
- •7Основы нелинейной оптики
- •7.1Поляризация диэлектрика. Нелинейная поляризация
- •7.2Генерация оптических гармоник, суммарных и разностных частот
- •7.3Фазовый синхронизм в одноосных кристаллах
- •7.4Самофокусировка света
- •7.5Двухфотонное поглощение
- •7.6Вынужденное комбинационное рассеивание света
- •8Элементы оптоэлектронных приборов
- •8.1Физические основы работы полупроводниковых светоизлучающих диодов
- •8.2Внутренний и внешний квантовые выходы
- •8.3Потери излучения в светоизлучающем диоде
- •8.4Излучательная и спектральная характеристики светоизлучающего диода
- •8.5Модуляционная характеристика светоизлучающего диода
- •8.6Параметры и электрические характеристики светоизлучающего диода
- •8.7Конструкции излучающего диода и эффективность связи с волоконным световодом
- •8.8Принцип работы полупроводниковых фотоприемников
- •8.9 Внутренний фотоэффект. Фотопроводимость
- •8.10Скорость оптической генерации носителей заряда
- •8.11Процессы рекомбинации носителей заряда
- •8.12Основное характеристическое соотношение фотопроводимости
- •8.13Процессы релаксации
- •8.14Фоточувствительность. Фототок. Усиление фототока
- •8.15Характеристики фотоприемников
- •8.16Фотодиоды
- •Лавинные фотодиоды
- •Параметры лавинного фотодиода лфд-2-а
- •8.17Фототранзисторы
- •8.18Фототиристоры
- •8.19Фоторезисторы
- •Список литературы
- •Содержание
8.2Внутренний и внешний квантовые выходы
Количественно эффективность рекомбинации при люминесценции характеризуют внутренним квантовым выходом э, который определяется отношением числа актов излучательной рекомбинации к полному числу актов (излучательной и безызлучательной) рекомбинации. А эффективность электролюминесценции определяется произведением э.
|
Рис. 8.3. Зависимость внутреннего квантового выхода э от плотности прямого тока J. |
В еличина внутреннего квантового выхода э зависит от плотности прямого тока J. Вид этой зависимости показан на рис. 8.3.
Влияние температуры на параметры и э проявляется следующим образом: коэффициент инжекции увеличивается с ростом температуры, в то же время внутренний квантовый выход уменьшается сильнее с ростом температуры и поэтому эффективность инжекции снижается.
Качество светодиода характеризуется внешним квантовым выходом:
эопт, (8.3)
где опт - оптическая эффективность или коэффициент вывода излучения. Параметр является интегральным показателем излучательной способности светоизлучающего диода. Произведение э определяет эффективность инжекционной электролюминесценции, однако и при большом её значении внешний квантовый выход может оказаться малым. Это случается, когда коэффициент вывода света во внешнюю среду является низким, так как при выводе излучения из активной области диода всегда имеются потери энергии.
Эффективность вывода оптического излучения опт определяется отношением: опт=Ризл/Рг , (8.4)
где Ризл -мощность выходящего излучения, Рг -мощность, генерируемая внутри кристалла.
8.3Потери излучения в светоизлучающем диоде
Потери генерированного в p-n-переходе излучения обусловлены следующими факторами (рис.8.4).
1. Потери на самопоглощение (рис.8.4). При поглощении полупроводником фотонов их энергия может быть передана:
- электронам валентной зоны с переводом их в зону проводимости;
- свободным электронам зоны проводимости с переводом их на более высокие уровни;
- дыркам в валентной зоне, также переводом их на высокие уровни;
- фононам;
- примесям.
2. Потери на полное внутреннее отражение. При падении излучения луча (2) на границу раздела более плотной среды с оптически менее плотной под углом пр , оно претерпевает полное внутреннее отражение. При пр излучение частично отражается от непросветленной поверхности. Эти потери называются френелевскими.
3. Потери на обратное и боковое излучение. Излучение в активной области светодиода спонтанное и характеризуется тем, что лучи распространяются во все стороны. Обратное излучение (3), поглощается в подложке, а излучение через боковые поверхности кристалла (4) теряется в корпусе или в окружающем пространстве.
Рис.8.4. Потери излучения в светоизлучающем диоде.
8.4Излучательная и спектральная характеристики светоизлучающего диода
Зависимость параметров оптического излучения от прямого тока через диод называется излучательной характеристикой. Для ИК-диодов излучательная характеристика представляет собой зависимость потока светового излучения Ф от прямого тока Iпр. Типичная зависимость Ф=f(Iпр) имеет вид, показанный на рис.8.5.
|
Рис.8.5. Излучательная характеристика ИК –диода.
|
Для светоизлучающего диода излучательная характеристика задается обычно зависимостью силы света Ic от прямого тока Iпр. В качестве параметра электрического режима выбирается прямой ток через диод, а не падение напряжения на диоде. Это связано с тем, что р-n -переход излучающего диода включен в прямом направлении и электрическое сопротивление диода мало. Поэтому можно считать, что прямой ток через излучающий диод задается внешней цепью, изменяется в широком диапазоне и легко измеряется.
Как видно из графика, излучательная характеристика ИК-диода нелинейная и имеет максимум. При малых токах Iпр велика доля безызлучательной рекомбинационной составляющей тока Iрек и коэффициент инжекции в соответствии с выражением (8.2) мал. С ростом Iпр поток излучения увеличивается - становится преобладающим инжекционная составляющая In. Дальнейший рост тока, приводящий к насыщению центров люминесценции, снижает излучательную способность диода.
Мощность оптического излучения выражается в виде:
Pизл=опт hсп (I/e), (8.5)
где опт - эффективность вывода излучения; I/e -число носителей, инжектированных в активный слой в единицу времени, I-ток инжекции, e -заряд электрона; сп=1/(1+сп/*) - кпд светового излучения, сп и * - времени излучательной и безызлучательной рекомбинации.
Зависимость выходных параметров светодиода от длины волны излучения называется спектральной характеристикой. Длина волны излучения световода определяется, согласно формуле (8.1) шириной запрещенной зоны полупроводника. Так как переход электронов при рекомбинации носителей зарядов происходит не между двумя энергетическими уровнями, а между группами энергетических уровней, то спектр излучения оказывается сильно уширенной. Однако, несмотря на это, излучение большинства диодов близко к квазимонохроматическому (/<<1) и имеет относительно высокую направленность в пространстве.
Вид спектральных характеристик некоторых светоизлучающих диодов представлены на рисунке 8.6.
Рис.8.6. V() - спектральная характеристика человеческого глаза,
ФДК -спектральная характеристика кремниевого фотодиода.
Спектр излучения принято характеризовать ее шириной на полувысоте интенсивности, которая ровна: . (8.6)