Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Плотников Р.И. Флюоресцентный рентгено-радиометрический анализ

.pdf
Скачиваний:
8
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.81 Mб
Скачать

излучения на флюоресцентный пик приводит к повыше ­ нию порога чувствительности. Это наблюдается, напри­

мер, при определении

Sn с источниками

Тгп 1 7 0

или W 1 8 1

и сцпнтилляционным

счетчиком Си, Zn

II Pb С

ИСТОЧНИ­

КОМ C d 1 0 9 и Кгпропорциональным счетчиком и при оп­ ределении элементов с атомными номерами 16—19 с ис­ точником Fe 5 5 и аргоновым пропорциональным счет­ чиком.

Вместе с тем в ряде случаев энергетическое разре ­ шение детектора может быть существенно улучшено, если производить анализ не по основным пикам, а по пи­ кам вылета [136, 137]. Улуч­ шение разрешения происхо-

 

 

 

 

 

70

I

 

 

 

 

 

80

Е7,юЬ

Рис.

32.

Зависимость

отно­

Рис.

33.

Зависимость

грани­

шения разрешения

К а - лп -

цы

комптоиовского

спектра

ний по пику вылета к раз­

£г]і

от

энергии падающего

решению

по

основному пи­

 

 

излучения

Еу.

 

 

 

ку

от

атомного номера.

 

 

 

 

 

 

 

 

дит

из-за

того, что

расстояния

м е ж д у основными

пика­

ми равны расстояниям между соответствующими

пика ми

вылета,

а

полуширина

пиков

вылета в

] / "

Еу/Е—Еф

раз

меньше

полуширины

основных

пиков.

Отношение

разрешения по пику вылета к разрешению по основному

пику,

определяемое

величиной УіЕф/Е,

д л я

Кг- и

Хе-пропорциональных

счетчиков приведено на рис. 32.

К а к

видно из рисунка,

разрешение д л я элементов,

флюо ­

ресцентное излучение которых немного превышает энер­

гию к р а я поглощения газа,

заполняющего счетчик, уве­

личивается в два и более

раза , что позволяет, напри­

мер, в случае Y и Zr

[137]

или

Zr и Nb

[138] р а з р е ш а т ь

/(-серии соседних по

атомному

номеру

элементов. Н а л о ­

жение флюоресцентного излучения легких элементов на пики вылета более т я ж е л ы х элементов може т быть суще­ ственно уменьшено, если использовать соответствующие фильтры .

Комптоновский континуум возникает вследствие вы­ лета из детектора квантов иекогерентно рассеянного из­ лучения. Так к а к в рентгеновском диапазоне коэффи ­ циент фотопоглощения для материалов, используемых в

детекторах, значительно

больше коэффициента

некоге­

рентного рассеяния,

многократным

рассеянием

можно

пренебречь. Это обусловливает четко в ы р а ж е н н у ю

корот­

коволновую границу

комптоновского

спектра (рис. 33),

- определяемую уравнением

V •

 

£

Г Р =

 

24

 

 

 

(->

Интегральная интенсивность комптоновского

спектра

для тонкого детектора определяется _отношением

коэф ­

фициента некогерентного

 

рассеяния

а н к к коэффициенту

поглощения т. С увеличением толщины детектора интен­

сивность

комптоновского

спектра

падает,

п р и б л и ж а я с ь

к 0,15—0,2 а ш 7 т . Практически

комптоновский

континуум

в рентгеновской

области

спектра может затруднить про­

ведение анализа

лишь

в

редких

случаях

из-за малой

плотности

потока и

очень

ограниченного

диапазона

энергий.

 

 

 

 

 

 

 

 

Более существенно при анализе малых концентраций присутствие в аппаратурных спектрах «хвоста» в диапа ­

зоне от 0 до Еу.

Н а л и ч и е такого «хвоста» может быть

обусловлено как

технологическими причинами (наличие

в объеме детектора областей с неполным сбором носи­

телей), так и вылетом из детектора части

фото-

и оже-

электронов.

Д л я

пропорциональных

 

и

сцинтилляцион -

ных счетчиков при

нормальном

угле

 

падения

регистри­

руемого

излучения

высота

«хвоста»

обычно

составляет

0,5—1% амплитуды фотопика,

д л я

полупроводниковых

счетчиков, в зависимости от их

качества

 

и энергетиче­

ского разрешения, от 0,3 до 3%

(рис.

34).

Д л я

наклон­

ных пучков,

что обычно

имеет

место

в

рентгенорадио-

метрическом

анализе, высота

«хвоста»

 

увеличивается

до 2—3%

и

более.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Фон и шумы . Интегральный

фон

детекторов,

приме­

няемых в рентгенорадиометрическом анализе, обус­ ловленный космическим и ^-излучениями, к а к правило, незначителен и составляет 2—5 имп/сек. В рабочем ка ­ нале величина фона не превосходит десятых долей им ­ пульса в секунду, что на один-два порядка меньше ско-

6* 83

ростей счета, обусловленных рассеянным в о з б у ж д а ю ­ щ и м -излучением. Интересно отметить сравнительно высокий уровень фона криптоновых пропорциональных счетчиков, в 3—5 раз превышающий фон счетчиков

 

О

100

 

 

 

 

 

 

 

Номер

канала

 

 

 

 

Рис. 34.

Аппаратурный спектр

Л'-серии

Мп,

полученный

с Si—Li-детектором [21]. Уровень

шумов

предусили-

теля 100 эв. Разрешение 166

кэв.

В

области

малых

энергий

заметен

«хвост», составляющий

около

0,3% от

 

 

амплитуды

пика.

 

 

 

 

с другим наполнением. Этот аномальный фон обуслов­

лен присутствием

в атмосферном

Кг радиоактивного

изотопа

К г 8 5 , являющегося

продуктом деления.

 

Д л я

сщштилляционных рентгеновских,

детекторов

обычно

уровень шумов

составляет

2—2,5 кэв,

однако

возможно снижение

этого

уровня до

1—1,5

кэв,

что по­

зволяет при наличии достаточно тонкого окна регистри­ ровать излучение Si К и А1 /С [139].

Этот шум может быть еще снижен охлаждением де­ тектора. Практически использование сцинтилляционных

счетчиков

в анализе ограничено элементами c Z ^

16. Соб­

ственный

шум

пропорциональных счетчиков отсутствует,

что

позволяет

использовать

эти детекторы Б наиболее

длинноволновой области до

90 эв [114]. При уменьше­

нии

коэффициента газового

усиления, однако,

стано-

внтся существенным в к л а д

первого к а с к а д а

предуси-

лителя. Ш у м ы предусилителя,

составляющие

обычно

величину порядка 10—150

мкв,

ограничивают

т а к ж е

возможность повышения энергетического р а з р е ш е н и я пропорциональных счетчиков при снижении рабочего на­ пряжения и переходе к режиму импульсной ионизаци - ционной камеры .

Аналогичное явление имеет место и в случае полу­ проводниковых детекторов, собственный шум которых, обусловленный флюктуацией темнового тока, может со­ ставлять сотые доли микровольта, что эквивалентно энергии регистрируемого кванта 10—20 эв *. Значи ­ тельно выше уровень шумов предусилителей, используе­ мых с полупроводниковыми детекторами . Так , напри­ мер, лучшие современные предусилнтели с головным каскадом на 'охлаждаемых полевых транзисторах с оп­ тической импульсной обратной с в я з ь ю имеют уровень шумов порядка 80 эв [140], что и определяет энергети­ ческое разрешение рентгеновских спектрометров с по­

лупроводниковыми

детекторами в области

м а л ы х

энергии.

 

 

 

Выходной сигнал. Величина импульса

на

выходе

сцинтилляционных

и пропорциональных

счетчиков мо­

ж е т быть изменена в широких пределах

регулировкой

напряжения на детекторе. В практической

р а б о т е

напря ­

жение на детекторе обычно подбирается

таким,

чтобы

выходной сигнал д л я сцинтилляционного

и пропорцио­

нального счетчиков составлял десятки и несколько мил­ ливольт соответственно.

Д л я полупроводниковых детекторов выходной сиг­ нал почти не зависит от напряжения и определяется в

основном

величиной собранного

з а р я д а и входной

емко­

стью. Так, например, дл я кремниевых детекторов

при

Спх = Ю пф

амплитуда

импульса

на

выходе

составляет

около 4—5 мкв/кэв.

М а л а я величина

выходного сигнала

предъявляет

очень

жесткие

требования к ш у м а м

голов­

ного

к а с к а д а

предусилителя

и н а в о д к а м .

 

 

*

Переход

от энергии

кванта

Еу

к напряжению

сигнала или

шума,

если

постоянная

времени

входной

цепи ЯпС

значительно

больше времени сбора носителей, может быть осуществлен по про­

стои формуле (7спг= Q/C, где С —входная емкость и Q — заряд на

Е

V

входе, причем Q = —^- е (е — заряд электрона).

Д о п у с т и м ая скорость счета. Д л я

сцннтилляционных

счетчиков допустимая

скорость

счета

может

доходить

до 1,5—2-Ю5

имп/сек.

Однако

при

такой

загрузке

на­

блюдается заметное отклонение от линейности,

и обыч­

но при

работе

скорость

счета

не

превосходит

5 - Ю 4

имп/сек.

Такого

ж е порядка

загрузка

может

быть

и у специальных газоразрядных счетчиков типа

«Муль-

тптрон». При работе с пропорциональными

счетчиками

обычно

избегают

загрузок,

превосходящих

1—2Х

Х І 0 4

имп/сек,

так

как при больших

загрузках

наблю ­

дается заметное смещение фотопика.

 

 

 

 

В

случае

полупроводниковых

детекторов

высокие

скорости счета могут привести к ушнренню пиков из-за статистических флюктуации рабочей точки, наложения

импульса на -импульс и -импульса на

«хвост».

 

 

 

 

И с к а ж е н и я амплитудного

распределения,

зависящие

от

загрузки,

часто сказываются раньше всего на ушире-

ние пика

на

одной десятой высоты

или

на

 

отношении

пика к «хвосту», прежде чем станет заметным

возраста­

ние полуширины пика. Если среднее

расстояние

 

между

импульсами

становится

меньше

десятикратной

ширины

импульса

по базисной

 

линии,

 

наложение

 

импульсов

приводит

к

заметным

и с к а ж е н и я м

амплитудного

рас­

пределения.

В настоящее

время

м а к с и м а л ь н а я

достиг­

нутая

загрузка

без существенного

 

ухудшения

 

разре­

шения

и

искажений

амплитудного

распределения —

около

105

имп/сек

[141],

что составляет

приблизительно

2-

106

дл я Si и

1 • 10'

кэв/сек

 

дл я

Ge,

та к

как

Ge ис­

пользуется

д л я

регистрации

 

более

жесткого

излуче­

ния [21].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v

Рабочее

напряжение .

 

Д л я

 

сцннтилляционных

счет­

чиков

рентгеновского

излучения

рабочее

напряжение,

в

зависимости от типа

примененного

ФЭУ,

 

заключено

в

диапазоне

600—1400

в.

Д л я

часто

применяемых

счет­

чиков СРС-1-0 и СРС - 4 с фотоумножителями

ФЭУ-35А

рабочее напряжение составляет

 

600—750 в

[142].

П р и

изменении напряжения на 1% уход фотопика в рабочей области составляет величину порядка 6—8%. Д л я про­ порциональных счетчиков, в зависимости от диаметра

анода и газа-наполнителя,

рабочее

напряжение

состав­

ляет

величину порядка 1700—2200

в. П р и использова­

нии

низкошумящих предусилителей

возможно

умень­

шение его до 1200—1500 в

<и д а л е е

вплоть до

р е ж и м а

импульсной ионизационной

камеры .

Изменение

н а п р я -

ж е н и я

на счетчике на

1 %

приводит к

уходу фотопика

на 15—20%,

т. е. пропорциональные

счетчики

значи­

тельно

более

критичны

к стабильности

рабочего

напря­

жения

по

сравнению

со

сцннтилляционными. П о ­

лупроводниковые детекторы, в зависимости от толщины

рабочего

слоя, требуют

напряжения

от

нескольких сот

до тысячи

вольт. Ввиду очень слабой

зависимости

сигна­

л а

от напряжения требования

к стабильности напряже ­

ния

невелики.

 

 

 

 

 

 

Срок

службы . Выход из строя

сцинтилляционных

счетчиков

наблюдается

только

в случае

явных

дефек­

тов, связанных, например, с натеканием ФЭУ или раз ­

герметизацией кристалла - сцннтиллятора .

n p j L отсутст­

вии таких дефектов длительность работы счетчика

изме­

ряется годами при любых

загрузкахі

 

 

 

В случае отпаянных

пропорциональных

счетчиков,

кроме натекания, причиной выхода из строя

может

слу­

ж и т ь разрушение органических добавок

к

инертным

газам, например обычно применяемого метана. Инди­ катором окончания срока службы являются: ухудшение разрешения, искажения амплитудного распределения и уменьшение коэффициента газового усиления. Обычно

срок хранения отпаянного

пропорционального

счетчика

по меньшей мере 1—2

года,

а ресурс 101 0 — 10 й

импуль ­

сов. Увеличить'ресурс

возможно, с н и ж а я рабочее на­

пряжение и подбирая

состав газа - наполнителя .

Проточ­

ные пропорциональные счетчики, поскольку состав газа в них постоянно обновляется, имеют очень большой, практически неограниченный срок службы . Потребление

газовой смеси проточным счетчиком составляет

величину

порядка 10 мл/мин

[143].

 

 

Полупроводниковые счетчики при отсутствии дефек­

тов имеют

т а к ж е очень большой

срок с л у ж б ы ,

не зави­

сящий

от

загрузки

и измеряемый

годами. Следует, од­

нако,

отметать, что

наиболее распространенные

литий-

дрейфовые дефекторы, г-слой которых возникает при диф ­ фузии лития, д о л ж н ы храниться при температуре жид ­ кого азота. Повышение температуры до комнатной при­

водит к быстрому

и необратимому

выходу

из строя

Ge

Li-детекторов

из-за подвижности

лития.

Несколько

 

более устойчивы при комнатной температуре Si—Li-де­

текторы.

 

В связи с неудобством непрерывного хранения

ука­

з а н н ы х детекторов при температуре жидкого азота

боль-

шоп интерес представляют

радиационные

германиевые

детекторы [144—146]

и детекторы на

основе

высокочн-

стого германия

[147,

148, 156], которые

могут

храниться

при комнатной

температуре

неограниченное

время

без

ухуд шения хар а ктеристи к.

 

 

 

 

 

Температурные

условия,

влияние

давления .

К а к

сцинтилляционные,

так и пропорциональные

счетчики

работоспособны в

широком

диапазоне

температур

от

—2J3°_C_ и ниже

до

+ 5 5 — 6 0 ° С и более. Хорошо

известна

температурная

зависимость

положения

фотопика

дл я

сцинтилляционных

счетчиков, обусловленная

 

изменени­

ем светового

выхода

кристалла - сцинтиллятора с

из­

менением температуры . Температурный уход фотопика составляет около 0,05% на 1° С. Н а д е ж н ы е данные по температурной зависимости положения фотопнка отпа­

янных пропорциональных счетчиков

отсутствуют.

В ра ­

боте [77] было отмечено, что счетчики

С Р М имеют

тем­

пературный дрейф 0,9%/°С, однако

в наших работах

с отпаянными счетчиками заметный дрейф, превосходя­

щий 0,1—0,2% на 1°С, не наблюдался .

Д л я проточных

счетчиков

температурный дрейф

резко

в ы р а ж е н

и со­

ставляет

2—2,5%

" а 1°С [143].

Этот

дрейф обуслов­

лен зависимостью

плотности газа

от температуры

(при

постоянном давлении) . Плотность газа, в свою очередь, определяет коэффициент газового усиления и положение фотопнка.

Аналогично температуре влияет на работу проточного пропорционального счетчика атмосферное давление. Из ­

менение

давления на

1 мм рт. ст. приводит

к изменению

положения

фотопнка

па

1%

[143]. Сильно

в ы р а ж е н н а я

зависимость

положения

фотопика

от давления затруд ­

няет

использование проточного

пропорционального счет­

чика

в

высокоточной

аппаратуре

без

стабилизации

пика.

Полупроводниковые детекторы с высоким энергети­

ческим

разрешением

имеют

рабочую

температуру

—195° С

(температура

жидкого

а з о т а ) .

Д а ж е незначи­

тельное повышение температуры приводит к ухудшению характеристик детекторов. Д л я радиационных германие­

вых детекторов допустимо повышение

температуры до

—182° С (жидкий кислород),

однако дальнейшее

повы­

шение температуры приводит

к ухудшению

разрешения

[150]. Кремниевые детекторы

могут

работать

при

более

высокой температуре; полученное

при

комнатной

тем -

пературе разрешение на

линии 122 кэв

 

составляет

около

3 кэв и, по-видимому, может быть

снижено д о

2 кэв

[151]. В настоящее -время исследуются

некоторые

новые

'полупроводниковые

материалы,

которые благо­

д а р я

большой ширине запрещенной

зоны

в

принципе

могут обеспечить высокое разрешение при комнатной

температуре .

К

таким м а т е р и а л а м относятся в

первую

очередь CdTe

и GaAs. Однако полученное при

комнат­

ной температуре

разрешение с полупроводниковыми де ­

текторами из этих материалов пока недостаточно и со­

ставляет в

лучшем случае

2,5—3 кэв, кроме того,

пло­

щ а д ь изготовляемых

детекторов незначительна

[152—

155].

 

 

 

 

 

 

Сравнение

детекторов

и дальнейшие

перспективы.

К а к видно

из

приведенных данных, наиболее просты в

обращении

и

надежны

в работе сцинтилляционные

счет­

чики. Этим и обусловлено их широкое применение в рентгенорадиометрической аппаратуре, несмотря на низкое энергетическое разрешение и ограничения в области ма­ лых энергий. Проведенные за последние годы разработки пропорциональных счетчиков, высокостабильных блоков питания и предусилнтелей к ним позволили более широ­ ко использовать этот тип детекторов не только в л а б о р а ­ торной аппаратуре, но и в промышленных и полевых приборах. Более высокое разрешение и спектральная из ­ бирательность пропорциональных счетчиков позволяют получить более низкий порог чувствительности и в неко­ торых случаях проводить одновременное определение не­

скольких химических элементов

[6, 7].

 

 

 

Еще

более

перспективны

полупроводниковые

детек­

торы, высокое

разрешение которых

позволяет

проводить

одновременно

определение

многих

химических

элемен­

тов с пороговой чувствительностью,

не уступающей

поро­

говой чувствительности кристалл - дифракционных

 

рент ­

геновских квантомеров.

 

 

 

 

 

 

Д л я

иллюстрации возможностей

П П Д на рис. 35

при­

ведены

спектры

жаростойких

сплавов,

полученные

с Si—Li-детектором. К а к видно

из рисунка,

разрешены

пики около 10 компонент, входящих в состав

сплава .

Полупроводниковые детекторы

открывают

т а к ж е со­

вершенно новые

перспективы

и в

рентгеноструктурном

анализе. Обычно при изучении параметров решетки по - ликристалличееких образцов определяется угловое рас ­ пределение рассеянного монохроматического излучения .

Те ж е данные можно получить, исследуя полупроводни­ ковым детектором спектр «белого» рентгеновского из­ лучения, рассеиваемого образцом под каким - либо опре­

деленным углом [149]. Принципиальное

преимущество

7671F

 

 

 

10

ада.

Iі.

 

ЛИ

 

 

 

 

•:J

і! і

 

0,1\

 

 

 

702

 

^

5 ^ S

 

м

їм

 

10

i l . I

l l

 

 

 

 

1

0,71

14 if

I I I

'.'I.

A

7/7/7

ZOO

300

 

Номер канапа

 

Рис. 35. Два спектра жаростойких сплавов, полученные с Si—Li-детектором [21].

этого метода заключается в очень большой скорости проведения исследования, что делает его пригодным д л я изучения быстропротекающих процессов. В настоя­

щее

время создан

промышленный

прибор

этого

типа

[157].

 

 

 

 

К

сожалению, необходимость

охлаждения

детектора

и первого каскада предусилителя ограничивает

широкое

внедрение полупроводниковых

рентгеновских

спектро­

метров в лабораторную

практику и

промышленность.

Безусловно, эти трудности могут быть преодолены раз­

работкой на основе новых материалов

полупроводнике-'

в ы х детекторов, работоспособных

при

обычных усло­

виях. Возможно т а к ж е создание

надежных в работе и

портативных

о х л а ж д а ю щ и х

устройств,

что

позволит

обойтись

без

непрерывного

обеспечения

спектрометров

ж и д к и м

азотом.

 

 

 

 

 

 

Представляет -интерес т а к ж е усовершенствование ла­

винных детекторов, являющихся,

по

существу,

полупро­

водниковыми

пропорциональными

счетчиками.

Р а з р а б о ­

танные в настоящее время лавинные

детекторы

имеют

разрешение,

несколько уступающее

разрешению

про­

порциональных счетчиков при

значительных искажениях

амплитудного распределения [32, 33]. Тем не менее эти

недостатки связаны скорее с

несовершенной технологи­

ей, при которой

коэффициент

усиления в

разных уча­

стках детектора

различен. М а л а я энергия

образования

пары и малый фактор Фано в сочетании с большим вы­ ходным сигналом и работоспособностью при комнатной и повышенной температуре делают этот тип детекторов весьма перспективным.

3.Рентгенооптические схемы

На рис. 36 показаны основные рентгенооптические схемы, применяемые в рентгенорадиометрическом ана­ лизе с радиоизотопным возбуждением . Схема а с цент­ ральным расположением источника отличается наиболь­ шейсветосилой и применяется со сцинтилляционными

или

пропорциональными счетчиками с большими окна­

ми.

Схема б обладает значительно меньшей светосилой

5—10 р а з ) ,

но позволяет применять детекторы с ма­

лым размером

окна, в частности полупроводниковые

детекторы. Конечно, в этой схеме может быть использо­

вано несколько

радионзотопных

источников,

симметрич­

но расположенных вокруг

окна,

или кольцевой источник.

Это

позволяет,

применяя

источники

малой

удель ­

ной

активности,

обеспечить

большие

скорости

счета.

Схема

в с сильно коллимированным источником

приме­

няется

обьТТно"" в коротковолновой ооласти, когда

необхо­

дима

з а щ и т а детектора

от

неиспользуемого

излучения.

 

Перечисленные схемы характеризуются сложной за­

висимостью сигнала

от

расстояния

до

поверхности

образца . С увеличением расстояния скорость

счета

воз­

растает, проходит через максимум и далее

падает.

Та­

кая зависимость обычно называется инверсионной.

К а к

правило, расстояние до образца подбирают таким,

что­

бы

работать в области

максимума . Помимо

обеспечения

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ