Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Плотников Р.И. Флюоресцентный рентгено-радиометрический анализ

.pdf
Скачиваний:
8
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.81 Mб
Скачать

В работе

[331]

определялось содержание

окислов

ж е л е з а и хрома в

шихте

д л я производства огнеупорных

магнезитовых

кирпичей.

И с с л е д о в а л а с ь в л а ж н а я

шихта

с источником H 3 / Z r и сцинтилляционным счетчиком с дифференциальными фильтрами . Пр и содержаниях 10—20% коэффициент вариации при определении этих

окислов составил около 2%, что примерно

соответствует

результатам

определения

Fe в цементных

смесях.

В работе

[332] для

определения M n ,

Fe, Со и Си

в цветных стеклах был применен Si—Li-детектор с раз­ решением 0,4 кэв. Д л я возбуждения использовался у-рентгеновскнй источник Am 2 4 1 /As . Погрешность в оп­

ределении

этих элементов

в

диапазоне

содержаний

0,1—1%

составляла

5—10

отн . %, пороговая чувстви­

т е л ь н о с т ь — 0,01%-

Полученные

результаты

показывают

перспективность использования полупроводниковых де ­

текторов при анализе стекол и

силикатных материалов

сложного

состава.

 

 

 

 

 

6. А н а л и з

сплавов

 

 

 

 

Сплавы

обычно

являются

очень

благоприятными

объектами

д л я

рентгенорадиометрического

анализа,

так как

отличаются

высокой

однородностью,

а д л я

сплавов

каждого

конкретного

типа — незначительными

вариациями состава. Эти факторы позволяют при ана­

лизе сплавов обеспечить высокую точность,

часто трудно

достижимую д л я

других сред. Ч а щ е

всего

анализ

спла­

вов производится

с целью контроля

и управления

про­

цессом их выплавки, при этом пробы отливаются в фор­

мы и

после застывания

шлифуются .

В

большинстве

случаев

вполне

удовлетворительные

результаты могут

быть

получены

после

шлифовки

абразивом

(конечная

величина

зерна

100

меш) или обработки

на

токарном

станке

 

(класс

6) .

Длительность

такой

обработки не

п р е в ы ш а е т 5 мин, коэффициент вариации процесса под­

готовки проб

при определении

основных

компонентов —

0,2—0,5%

и

менее.

Возможен

т а к ж е

анализ

готовых

сплавов или

изделий

из них с целью сортировки [334].

П р и этом

предварительная

подготовка

поверхности

обычно не производится, но требования

к точности при

сортировке,

ка к правило, ниже.

 

 

 

 

Н а и б о л е е

прост анализ двухкомпонентных сплавов.

Излучение

одного из

элементов выделяется

с

помощью

амплитудн

ого дискриминатора

или селективного фильтра,

и, т а к

как

какие-либо влияния

отсутствуют,

з а д а ч а сво­

дится

лишь

к точному определению плотности потока

выделенного

излучения. В о з м о ж н о т а к ж е

определение

отношения плотностей потоков флюоресцентного излу­

чения

компонентов,

выделенных

с помощью

амплитуд­

ного дискриминатора . П р и м е р о м

а н а л и з а таких

сплавов

может

служить

анализ

сплавов

A l S i

и

С и — Z n

с И С ­

Т О Ч Н И К О М

H 3 / Z r

и пропорциональным счетчиком

с

филь­

трами

[335], анализ

сплавов

Си—А1

с

( З - И С Т О Ч Н И К О М

Р т 1 4 7

[91],

определение

Sn

в

бронзе

с

 

И С Т О Ч Н И К О М

Р т 1 4 7 / А 1

и

сциитилляционным

счетчиком

с

дифференци ­

альными

фильтрами

 

и

М п

в углеродистых

сталях

с

источником

H 3 / Z r

и

сциитилляционным

счетчиком

с

хромовым

фильтром

 

[336].

По

отношению

скоростей

счета с д в у м я фильтрами проводился анализ латуней, источником возбуждения с л у ж и л H 3 / Z r [309]. Д л я та­ ких систем точность анализа, как правило, достаточно

высока, погрешность при содержании десятков

процен­

тов

составляет

0,5

отн.°/о

и

при

содержании

1—5%

погрешность 3—-5 отн . % .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Известно

т а к ж е

 

использование

рентгенораднометри­

ческого

анализа д л я

определения

сравнительно

малых

количеств

(менее

1%)

примесей

 

в чистых

металлах .

Так,

например,

при

определении

м а л ы х содержаний

Cd

в Zn или Sb в РЬ с у-рентгеновскими источниками

на

основе

G d 1 5 3

и

сциитилляционным

счетчиком

с

селек­

тивными

фильтрами

порог

чувствительности

составлял

0,01%

[337]. Подобные

результаты

с соответствующими

селективными

 

фильтрами

были

получены

т а к ж е

при

определении Cd в Sn и Zn

с

источником

Gd 1 5 3 ,

а

т а к ж е

Те и Zn в РЬ с Cd1 0 9 /Ge [101]. В работе

[338]

опреде­

лялись примеси в золоте высокой чистоты.

 

 

 

 

 

Более

высокая

чувствительность

может

быть

полу­

чена с полупроводниковыми детекторами . Так, напри­

мер,

при определении М о

в сталях и Sn в

медных спла­

вах

[339]

чувствительность

с источником

A m 2 4 1 состав­

л я л а

п-10~3

%, несмотря

на

неоптимальное

возбуждение

и неудовлетворительное

разрешение Si—Li-детектора

(1,2

кэв).

 

 

 

 

П р и м е р о м исследования сложных сплавов является анализ легированных сталей. Вопрос о межэлементном влиянии при рентгенорадиометрическом анализе сталей достаточно хорошо изучен [340]. В случае, если необ-

хо димо при ограниченном числе эталонов

анализиро ­

вать разнообразные типы сталей,

обычно

используют

системы уравнений Бити-—Брисси

[192] или

Лукас - Туса,

связывающие интенсивности аналитических

линий всех

компонентов с их концентрациями . Пр и а н а л и з е опре­ деленных типов сталей с э т а л о н а м и соответствующего состава хорошие результаты часто могут быть получены непосредственно, в крайнем случае поправки могут быть введены на концентрации особенно сильно влияю­ щих элементов. П р и м е р а м и таких сильно в ы р а ж е н н ы х эффектов может быть влияние Ті на интенсивность ли­ ний Сг и М п и влияние W и М о на интенсивности линий

элементов с атомными номерами 22—26. Кроме

влияния

абсорбционных характеристик пробы

при

анализе

сложных сплавов часто приходится

т а к ж е учитывать

наложение линий. Так, например, при анализе с диффе ­

ренциальными

фильтрами

д л я

элементов с

Z — 224-29

на аналитическую

линию

Ко. элемента

Z

налагается

/Ср-линия элемента

(Z—1).

 

 

 

 

Д а н н ы е по

определению Ті,

V, Mo ,

W

и других

элементов в сталях со сциитилляционным счетчиком и дифференциальными или селективными фильтрами при­

ведены

в работах [159, 336]. Р е з у л ь т а т ы

определения W

в сталях по /(-серии с источниками

Gd 1 5 3 ,

С о 5 7

и Cs1 3 7

даны в

работе

[341], с источниками

 

Т т 1 7 0

и

Se7 5 — в

работе

[342].

В качестве детектора

в

этих

исследова­

ниях применялся сцинтилляционный счетчик. Погреш ­ ность определения W в диапазоне содержаний 2—20% составляла 1 отн. %.

Д е т а л ь н ы е данные

по определению Ті, V,

Сг, Мп ,

Ni, Си, Mo , Zr, Nb, Sn

и W в низколегированных

сталях

срадиоизотопными источниками приведены' в работе

[343]. Порог

чувствительности

д л я

Сг

и N i составлял

0,04%,

д л я других элементов

порог

был ниже. Так, на­

пример,

при

определении Zr

и

М о

с

источником C d 1 0 9

порог чувствительности составлял 0,003 и 0,001% со­ ответственно.

Особенно перспективно применение при анализе легированных сталей сложного состава полупроводни­ ковых детекторов. Р е з у л ь т а т ы анализа легированных сталей с полупроводниковым детектором приведены в работе [344]. Использование в этой работе вычисли­

тельного устройства позволяло

.учитывать

к а к н а л о ж е ­

ние спектральных линий, т а к и

матричный

эффект .

7. О п р е д е л е н и е толщин покрытий

Р е н т г е н о р а д и о м е т р и ч е с к ий анализ часто исполь­ зуется д л я определения толщин покрытий, так как он является безконтактным и н е р а з р у ш а ю щ и м . Измерение толщин покрытий является особым случаем количест­

венного анализа, при этом определяется

поверхностная

плотность

элемента, входящего

в состав

покрытия

пропорциональная его толщине. Обычно

• исследуются

толщины

металлических покрытий на металлах, однако

в о з м о ж н о

определение толщин

любых

покрытий

на

различных подложках, достаточно лишь, чтобы хими­ ческий состав покрытия и подложки различался и в их состав входили элементы, определяемые по рентге­ новской флюоресценции.

Методически определение толщины покрытия анало ­ гично анализу двухкомпонентного сплава . Первичное излучение возбуждает рентгеновскую флюоресценцию элемента п о д л о ж к и и элемента покрытия, причем плот­

ность

потока

флюоресценции

покрытия

Ni

возрастает

с увеличением

его толщины, а плотность потока флюоре ­

сценции п о д л о ж к и

N2

падает .

Эти

зависимости

могут

быть

в ы р а ж е н ы уравнениями

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

# !

=

 

ад-ехр(-Л*)],

 

 

 

(4.7)

 

 

 

 

 

ЛГ2 =

Л / 0 2 е х р ( - Л х ) ,

 

 

 

 

(4.8)

где

Noi — плотность потока флюоресценции

д л я

покры­

тия

в

насыщенном

слое; Ми то

ж е

д л я

подложки

без

покрытия;

х — толщина

покрытия

и Л = |^/sin9 + u.i7sim|).

 

Л ю б а я

из

этих

зависимостей может быть использо­

в а н а

д л я

анализа,

достаточно

лишь

настроить

счетный

к а н а л

на

соответствующее излучение. Это

м о ж е т

быть

всегда легко осуществлено с помощью амплитудной ди­ скриминации импульсов, селективных фильтров или избирательного возбуждения .

Р а с с м о т р и м зависимость статистической погрешности измерений от толщины исследуемых покрытий. Обозна ­

чим через Nt набор импульсов

за время

 

t. Тогда

коэф­

фициент вариации

 

 

 

 

 

*

в 6N (

4

.

9

)

ах

У £

 

З а в и с и м о с ти коэффициентов вариации

от

п а р а м е т р а А,

рассчитанные

по

в ы р а ж е н и я м (4.7) — (4.9)

д л я N0l

или

N02, равных

104

имп, и

контрастности

(отношения

ско­

ростей счета в измерительном канале

д л я элементов

покрытия и подложки)

100 приведены

на

рис. 86.

Точ-

Рис. 86. Зависимость относительной средиеквадратнческой погрешности определения толщины по­

крытий

от

£бсорбционных свойств покрытия

А =

 

Н7

 

І-Ч'

 

=

1

и его толщины х при Л/'о = 104

имп:

1,2

вшф

 

sinip

 

измерение флюоресценции покрытия и подложки

 

 

 

соответственно.

 

ное определение толщин покрытий возможно лишь В

ограниченном

диапазоне, определяемом

геометрией

измерений, а

т а к ж е абсорбционными свойствами покры­

т и я д л я первичного излучения и флюоресценции по­

крытия (кривая 1) или п о д л о ж к и (кривая

2).

З а

пре­

делами этого

диапазона

коэффициент вариации быстро

растет. И з

рисунка следует

т а к ж е ,

что

при

прочих

рав ­

ных условиях

измерение

флюоресценции

 

покрытия

позволяет

исследовать

значительно

меньшие

толщины .

В табл . 22 приведеныграницы диапазонов,

в

которых

погрешность измерений

не

превышает

10

отн. %

д л я

нескольких характерных случаев при условиях, соот­

ветствующих условиям рис.

86 и ф=а|) = 45°.

К а к

видно

из таблицы,

рентгенорадиометрический

метод

позволяет

исследовать

наиболее часто встречаю-

Т а б л и ц а 22

Диапазоны толщин покрытий, для которых погрешность измерении не превосходит 10 отн. %

Материал

Материал

Источник, кэв

покрытия

подложки

Сг

 

8 (№/Zr)

Сг

 

22 (Cdi°s )

Sn

 

32 (Ama «/Ba)

Sn

 

60 ( A m 2 " )

Sn

 

5,9 (Fe5 5 )

Sn

Fe

22 (Cdi°°)

Аналитическая Границы линия диапазона,

мкм

0,04—8,3 CrKa 0,14—28 Sn/<a 0,3—62 SuKa 0,9—190 SnLa 0,02—4

0,2—15

щ и й ся на практике диапазон толщин (от сотых до де­

сятков микрон), положение которого может

быть зна­

чительно

сдвинуто

выбором спектрального

состава

первичного излучения

и аналитической линии.

И м е ю т с я многочисленные примеры успешного при­

менения

рентгенорадиометрического анализа

д л я опре­

деления толщин самых разнообразных покрытий. Одной

из первых работ

в

этой

области

является

определение

толщины

А1 на

Fe

и

Сг

на

N i

с

 

источником

H 3 / Z r

[345].

Т а м ж е этот

метод

применен

д л я

определения

толщины слоя краски, с о д е р ж а щ е й

Т і 0 2 .

Б о л ь ш о е

вни­

мание

уделялось

наиболее

в а ж н ы м

случаям

определе­

ния толщины Sn-покрытий

на

стали

[101, 346,

347],

Zn-покрытий на Fe

[51] , Ni-покрытий на Fe

[348].

Многочисленные

примеры

 

определения

 

толщины

покрытий

с радиоизотопными

источниками

 

приведены

в работе [349]. В работе [350]

приведены

 

результаты

определения толщин

д л я

различных

комбинаций

мате­

р и а л о в п о д л о ж к и

и

покрытий с источником Fe5 5 в диа­

пазоне

толщин

(поверхностных

плотностей) 1 • 10~5

5 - Ю - 3

г/см2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Исследовалось

Cu-покрытие

на А1, А1-покрытие

на Fe

и Cd

на

Ті, A u на

Sn

и

A g

на

Fe.

М и н и м а л ь н ы й

порог чувствительности, полученный в этих эксперимен­

тах, составлял 5 - 10 _ 6

г/см2.

Е щ е более

низкий

порог

чувствительности

( 6 - Ю - 7 г/см2)

был получен при

опре­

делении толщины

слоя

A u на лавсановой

пленке с

рент­

геновской трубкой

и пропорциональным счетчиком

[222].

8. А н а л и з органических материалов

Р е н т г е н о р а д и о м е т р и ч е с к ий анализ органических ма­ териалов обычно не вызывает каких-либо серьезных трудностей ввиду простоты их химического состава. Могут определяться л ю б ы е химические элементы начи­ ная от А1 или д а ж е M g . Пороги чувствительности при анализе органических материалов очень низки из-за их

малого

эффективного

атомного

номера.

Эта ж е

причина

может

иногда

затруднять определение

больших

кон­

центраций

т я ж е л ы х

элементов

(концентрационное

вы­

р о ж д е н и е ) .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Характерной задачей, часто встречающейся па прак­

тике, является

определение

с о д е р ж а н и я Fe (продуктов

износа)

в

смазочных

маслах

[351—353]. Поскольку

со­

д е р ж а н и е

Fe в

м а с л а х

обычно

незначительно

(0,005—

0,1%),

д л я обеспечения

максимальной

чувствительности

обычно используются пропорциональные счетчики. Это

позволяет

с

источником

H 3 / Z r

 

получить

порог

чувстви­

тельности

« - 1 0 _ 3 %

 

при

фоновой

концентрации

~ 0 , 2 %

[353]. Е щ е более

низкий

порог

 

может

быть

получен

при

возбуждении

от

вторичного

излучателя

[105].

Точность

измерений, ка к правило, достаточно высока

из-за отсут­

ствия матричного эффекта . Так, например,

в

работе

[353]

д л я

содержания

Fe

0,1%

к о э ф ф и ц и е н т ' в а р и а ц и и

составил 2,5%.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Другой аналогичной задачей является определение

следов

Со

(катализатор)

в

углеводородах

[16,

354].

Важной

задачей,

 

которая

 

т а к ж е

часто

решается

флюоресцентным

 

рентгенорадиометрический

методом,

является определение серы в нефти

и

углеводородах .

Хотя с этой целью часто применяется

абсорбционный

анализ,

погрешности

при

абсорбционных

измерениях,

обусловленные влиянием

отношения

С

к

Н,

содержа ­

нием

воды

и

прочих

элементов

(О, О

и т. д . ) , и недо­

статочная чувствительность д е л а ю т

более

перспектив­

ным флюоресцентный

метод.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

П р и

использовании

д л я

возбуждения

источника

Fe 5 5

и детектировании

 

флюоресценции

пропорциональным

Кг-счетчиком с тонким Ве-окном пороговая

чувствитель­

ность

составляет

 

( 1 — 2 ) - 1 0 _ 2 %

[355,

356]. Е щ е

лучшие

результаты

могут

быть

получены

с

пропорциональным

Ne-счетчиком

типа

экзатрон,

 

эффективность

 

которого

д л я

рассеянного

 

первичного

излучения

незначительна.

М е н ее удовлетворительно

применение

д л я определения

серы

аргонового пропорционального

счетчика,

т а к

как

пик

вылета

рассеянного

излучения М п К а

снижает

контрастность.

Та к к а к

поглощение

излучения

серы

воздухом сравнительно невелико, анализ обычно произ­ водится в воздушной среде, хотя флюоресценция аргона воздуха и приводит к заметному увеличению фона [72, 79]. Хорошие результаты при определении серы в нефти

были получены т а к ж е

с рентгеновской

трубкой, рабо ­

тавшей при напряжении

4 кв. В этом

случае детекти­

рование осуществлялось проточным аргоновым пропор­ циональным счетчиком С Р П П - 2 2 [256]. Порог чувстви­ тельности составил 0,006%, относительное среднеквадратическое расхождение с химическим анализом в диа­ пазоне концентраций серы 0,1—3,5% — 1,7%. Пр и более высоком анодном напряжении условия определения S

саргоновым счетчиком ухудшаются из-за н а л о ж е н и я

пиков вылета рассеянного излучения,

однако

переход

к Ne-счетчику позволяет

обеспечить т а к у ю ж е

порого­

вую чувствительность

[238J.

 

 

 

 

Несколько худшие результаты были получены при

определении серы в угле с низковольтной

рентгеновской

трубкой

и

счетчиком

С Р П П - 2 2

[256].

Порог

чувстви­

тельности

 

при этом

составил

0,02%,

и

коэффициент

вариации

в

диапазоне

содержаний

0 , 4 — 4 % — 9 , 5 п / о -

Повышение

погрешности

при

анализе

углей

обуслов­

лено, по-видимому, неоднородностью образцов и влия­

нием состава

наполнителя

(содержанием з о л ы ) .

Опре­

деление серы

в угле

(и нефти) возможно

т а к ж е

спомощью сцинтилляционного счетчика с дифферен ­

циальными ф и л ь т р а м и [159, 357], однако порог чувст­ вительности в этом случае на порядок выше, чем с про­

порциональным

счетчиком.

Интересной

задачей д л я рентгенорадиометрического

анализа является определение отношения С к Н в угле­ водородах,' основанное на зависимости отношения интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного излу­ чения от эффективного атомного номера . В работе 1358] эта з а д а ч а была решена с помощью кристаллодифрак - ционного спектрометра, однако разделение когерентно и некогерентно рассеянного излучения в д и а п а з о н е энер­ гии 16—22 кэв легко может быть выполнено и рентгенорадиометрическим методом, например с помощью полу­ проводниковых детекторов, по пикам вылета пропорцио-

пального Kr-счетчпка или с селективными фильт­ рами.

Большое распространение может получить рентгенорадиометрическнй анализ химических волокон и поли­ мерных материалов . В настоящее время все более широ­

кое значение приобретают

полимерные материалы,

с о д е р ж а щ и е кроме обычных

д л я органических соедине­

ний атомов углерода, водорода, кислорода и азота эле­

менты с атомными номерами от 14 (кремний)

и

выше.

Введение в состав полимеров таких элементов

придает

им р я д ценных технических свойств. В процессе

произ­

водства таких полимеров и при контроле качества

гото­

вой продукции возникает задача быстрого и точного определения содержания введенного элемента .

Одной из первых работ но анализу полимерных мате­ риалов было определение с о д е р ж а н и я СІ в поливинил-

хлориде с источником

H 3 / Z r

[359]. Коэффициент

вариа ­

ции при этом

составлял

около

2% . Аналогичные

резуль­

таты

были

получены т а к ж е

при определении

СІ в

поли­

мерах

на

основе

поливинилхлорида

с

источником

Fe5 5

и низковольтной

рентгеновской

трубкой

[222]. В каче­

стве

детектора

при этих

измерениях

использовался

пропорциональный

счетчик

С Р П П - 2 2 . В

той

ж е

работе

приведены

результаты

определения

Ті,

Fe, Се и Fig в

различных полимерных м а т е р и а л а х и

волокнах.

Д л я

возбуждения

использовались

источники

R3/Zr,

 

Fe5 3

и рентгеновские

трубки

типа

БСВ - 7,

детектирование

осуществлялось пропорциональным счетчиком. Порог

чувствительности

д л я

перечисленных

элементов

состав­

л я л л - Ю - 2 — 1 - 1

0 - 3 % ,

расхождение

с химическим ана­

лизом при концентрациях 1—5% составляет Б—8

отн . % .

Обычно анализ полимеров проводился по методу внешнего стандарта, однако при определении Fe в поли­ мерах на основе поливинилхлорида лучшие результаты были получены по методу стандарта - фона, что позво­

ляло

учитывать абсорбционные

свойства наполнителя .

Н а и б о л е е

легким из

определяемых элементов яв ­

л я л с я

Si, определение которого

производилось

с низко­

вольтной трубкой. П р и м е р о м

более сложного

случая мо­

ж е т служить определение Р

и

СІ в сложном

полимере

[360].

Д л я

возбуждения

т а к ж е

использовалась

рентге­

новская трубка при напряжении 4 /се, флюоресцентное излучение Р и С1 выделялось с помощью селективных фильтров (из серы и - поливинилхлорида соответственно).

К о э ф ф и ц и е нт вариации при

этих

измерениях

состав-

пял

3—4%.

 

 

 

 

 

 

 

 

В

работе [221]

рентгенорадиометрический

анализ

был применен д л я

определения

м е т а л л с о д е р ж а щ и х

кра­

сителей

в тканях.

Пороговая

чувствительность

для

хрома

и кобальта

составила

10

мг

на

1 кг

ткани.

Этот

метод,

очевидно, может быть

применен

д л я

определения

концентрации многочисленных красителей, в молекулы которых входят атомы серы, хлора и брома.

Кроме анализа полимерных материалов рентгено­ радиометрический метод может быть применен д л я опре­

деления серы, хлора,

брома, иода, различных

металлов

в самых разнообразных продуктах . К

таким продуктам

относятся кргогтели

и

сырье

д л я

их

производства,

фармацевтические

препараты,

инсектициды,

фунги­

циды и т. д. Примером

такой

работы

может

служить

определение иода в фармацевтических п р е п а р а т а х с ис­

точником

P m 1 4 7 / L a

и сцинтилляционным счетчиком

с

дифференциальными

фильтрами [361].

 

 

9.

А н а л и з газов

 

 

 

 

Рентгенорадиометрический метод может быть при­

менен д л я

определения содержания

в г а з а х

Аг, Кг,

Хе,

S O 2 ,

H2 S,

Cl 2 , НС1 и

разнообразных

летучих

соединений

серы,

хлора и некоторых других элементов .

П р и ана­

лизе газов глубина проникновения излучения в среде

велика, и

сигнал

зависит

от

плотности

исследуемого

газа . Поэтому

д л я

обеспечения

точных

результатов

д о л ж н а вноситься

поправка

на

плотность

или

исполь­

зоваться

специальное

зондовое

устройство

[197].

Р е з у л ь т а т ы

определения S 0 2

и С!2 в воздухе

и азоте,

а т а к ж е Аг

в

водороде приведены

в работе [362J-. Д л я

возбуждения

использовались

источники H 3 / Z r

и H 3 / T i ,

детектирование

осуществлялось

аргоновым

проточным

пропорциональным счетчиком. П о р о г о в а я чувствитель­

ность

при

этом

была

неудовлетворительной, составляя,

например,

д л я

S 0 2 в

воздухе

2 и 0,2% с

источниками

№ / Z r

и

H 3 / T i

соответственно.

Д а ж е при

определении

Аг в водороде порог чувствительности составил 0,05 %. Недостаточная чувствительность обусловлена, по-види­ мому, неудачным выбором источника и детектора.

В

работе

[363] исследовалась

возможность

опреде­

ления

Кг в

воздухе с источником

C d 1 0 9 и С1 и

Аг с ис-

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ