Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Плотников Р.И. Флюоресцентный рентгено-радиометрический анализ

.pdf
Скачиваний:
8
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
10.81 Mб
Скачать

наибольшей светосилы, это позволяет

снизить

требова­

ния к точности установки образца и

постоянству плот­

ности

пробы

(особенно в • коротковолновой

области,

когда

средняя

длина пробега 'излучения в исследуемом

Рис. 36. Основные рентгенооптические схемы:

1 — образец; 2 — фильтр;

3 — коисталл-сцинтиллятор;

 

 

4 — радиоизотоп;

5 — экран;

6 — ФЭУ.

 

 

материале может быть соизмерима

с

расстоянием

до

о б р а з ц а ) .

 

 

 

 

 

При работе с рентгеновскими трубками, когда ин­

тенсивность источника в о з б у ж д а ю щ е г о

излучения

вели­

ка и, как правило, избыточна, обычно-источник

и

де­

тектор ..сил>.ш_1Шллшли^аотсд^ Использование колли-

мированных пучков позволяет

получить в

2—3 раза

более высокую контрастность

по сравнению

с широки­

ми пучками [128, 158], но повышаются требования к по­ стоянству геометрии измерений.

4. Селективные рентгеновские фильтры

При наличии в спектре линий с энергиями, близки­ ми к энергии аналитической линии, разрешение, обес­ печиваемое сцинтилляционными или пропорциональными

счетчиками, часто оказывается недостаточным. В этих случаях обычно применяются селективные фильтры, представляющие собой тонкие слои из различных хими­

ческих

элементов.

 

 

 

 

Д л я

всех элементов

пропускание монотонно

растет

с увеличением

энергии,

причем

плавный

ход этой функ-

 

SС1

К Са Ті V Сг Мп

Со Си In

Єє-

I

 

 

 

3 ^

 

5

6

7

 

8

 

3

10Е,кэ8

 

Рис.

37.

Кривые пропускания

фильтров

из металли­

 

 

 

 

 

 

ческих фолы:

 

 

 

 

 

 

 

/ — Мо толщиной

1,5 мкм;

2 — kg

толщиной

2 мкм;

3 — Ті

 

 

толщиной

20 жк.и; 4 — Ni толщиной

 

18 мкм. В верхней

части

 

 

рисунка приведены Кц-лшпш некоторых элементов.

 

ции нарушается

скачками

поглощения,

 

соответствую­

щими потенциалам ионизации /(, L и других

оболочек

атома . В

районе

скачка

поглощения

 

с

увеличением

энергии п а д а ю щ е г о

излучения

 

наблюдается

резкое

уменьшение

пропускания.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Подобрав подходящий материал фильтра и его тол­

щину, можно достаточно полно отделить

аналитическую

линию

от

более

жесткого излучения. Н а

 

рис.

37

приве­

дены

кривые

пропускания

некоторых

 

фильтров.

К а к

видно

из

рисунка,

Мо - фнльтр

 

позволяет

 

р а з д е л и т ь

Ко. -линии S и С1,

Ag - фильтр — излучение

К

и Са, Ті-

фильтр — отделить

излучение

 

Ті

и V

 

от

рассеянного

излучения

Мп Л-источннка

Fe 5 5

и

Ni-фильтр — обеспе­

чить раздельное определение Си н Zn, обычно совместно присутствующих в полиметаллических рудах. Н а б л ю ­ дается пологий с п а д кривых пропускания в сторону ма­ лых энергий, что делает отделение линии от более мяг­ кого излучения малоэффективным . Тем не менее с по­ мощью фильтров в некоторых случаях м о ж е т быть до-

стягнуто существенное повышение

 

избирательности

анализа

и по

отношению

к

элементам

с

меньшими

Z.

Так,

например,

в

работе

[159] при определении

Са и

Fe

 

 

 

 

 

 

 

в цементных смесях использо­

 

 

 

 

 

 

 

вание Fe - фильтра позволило

 

 

 

 

 

 

 

отделить

линии

Fe Ка (6,4

кэв)

 

 

 

 

 

 

 

и

Са Ка

(3,7

кэв),

не

разре ­

 

 

 

 

 

 

 

шаемые

 

сцинтилляционным

 

 

 

 

 

 

 

счетчиком. Пр и определении

 

 

 

 

 

 

 

А1

использование

АІ-фильтра

 

 

 

 

 

 

 

повысило

избирательность ана­

 

 

 

 

 

 

 

лиза

 

не

только

по

отношению

 

 

 

 

 

 

 

к

более

т я ж е л ы м

элементам

 

 

 

 

 

 

 

(Si,

Р, S),

но и по

отношению

 

 

 

 

 

 

 

к M g

[160].

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В а ж н ы м параметром,

ха ­

 

 

 

 

 

 

 

рактеризующим

с ел ектив и ы й

 

 

 

 

 

 

 

фильтр,

кроме

пропускания

 

 

 

 

 

 

 

выделяемого излучения Ти оп­

 

 

 

 

 

 

 

ределяющего

светосилу

филь­

 

 

 

 

 

 

 

тра,

 

является

коэффициент

 

 

 

 

 

 

 

фильтрации

А — отношение

Ті

 

 

 

 

 

 

 

к

Т2

— пропусканию

поглощае ­

 

20 30 W

SO Ть%

мого

 

излучения:

А — Т\1Т2.

Т\

Рис.

38.

Зависимость

коэф­

определяется

толщиной

филь ­

тра

/

и его линейным

коэффи ­

фициента

фильтрации

/1

от

циентом

поглощения

д л я

вы ­

светосилы

Т) для

различных

деляемого

излучения

\!L\:T\ =

 

значении

К-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

= ехр(—\1).

Более

удобно

пропускание

фильтра

может

быть

в ы р а ж е н о

 

через

его

поверхностную

плотность

и

массовый

коэффициент

п о г л о щ е н и я

 

: 7"і = е х р ( — І П Ц І ) .

 

 

 

 

 

 

 

 

Коэффициент

фильтрации

 

може т

 

быть

определен

как

А = Т\~К,

 

где К— U.2/V1 — отношение

коэффициен ­

тов поглощения поглощаемого и выделяемого

излуче­

ний. Н а

рис. 38 и з о б р а ж е н а

зависимость

коэффициента

фильтрации от

светосилы

фильтра

д л я

различных

зна­

чений К. К а к видно и з рисунка, уменьшение К

приводит

к уменьшению коэффициента фильтрации А при посто­

янном Г] или к снижению светосилы фильтра

при по­

стоянном

А. Особенно

критично значение К д л я фильт­

ров с большим коэффициентом фильтрации .

Так, на ­

пример,

при А = 100

уменьшение К от 5 до

3 ведет

к снижению светосилы

фильтра в 3 раза .

 

Величина К определяется

материалом

фильтра

(его

скачком поглощения) и отношением энергий (или

длин

волн)

выделяемого

и

поглощаемого

излучений:

К=

~ ^ ( ~ ^ ) 3 '

^ с л

и

Ф ' И Л Ь Т Р

предназначен

д л я

отделения

аналитической

линии

от

 

более

мягкого

излучения

(Е\>Е2)

и

между

этими

линиями отсутствуют скачки

поглощения, то / ( =

{^rj

Значения

К

д л я

некоторых

практически в а ж н ы х случаев

приведены

в табл .

12.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

12

 

Характеристики

некоторых

металлических

фильтров

 

Материал Пропускаемое

 

 

 

Поглощае­

 

 

 

 

 

£[, кэв

 

мое

 

Ег

,кэв

 

 

фильтра

излучение

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

излучение

 

 

 

 

 

А1

 

А\Ка

 

 

1,49

 

 

S i * a

 

1,74

7,5

 

А1

 

A\Ka

 

 

1,49

 

 

 

 

1,26

1,7

 

Мо

 

SKa

 

 

2,32

 

 

 

 

2,62

2,5

 

Ag

 

 

 

3,33

 

 

 

 

3,7

3,8

 

 

K * a

 

 

 

 

 

 

 

Ті

 

T [ I < a

 

 

4,52

 

 

M n i C a

 

5,9

3,94

Ті

 

T i ^ a

 

 

4,52

 

 

 

 

3,7

1,75

Cr

 

MnKa

 

 

5,9

 

 

 

 

6,4

7,0

 

Ni

 

 

 

 

8,05

 

 

 

 

6,4

1,96

Ni

 

 

 

 

8,05

 

 

ZnKa

 

8,65

6,8

 

Zr

 

МоКа

 

 

17,5

 

 

 

 

20*

4.2

 

* Некогерентно рассеянное излучение

источника

Cd 1 0 0 .

 

 

 

Рассмотрим

требования

 

к равномерности

фильтра

по толщине. Так, для клиновидного

фильтра

средней

толщины I с максимальными отклонениями А - пропус ­

кание

составит

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т" =т

s ^

 

 

*

 

(2 5)

 

 

 

 

 

 

 

 

(.іД

 

 

 

 

 

где Т — пропускание однородного фильтра толщиной /. Таким образом, неоднородность по толщине приводит к увеличению пропускания, тем большему, чем больше максимальное отклонение оптической плотности фильтра . Практически наличие неоднородностей приводит к

у м е н ь ш е н ию коэффициента фильтрации без изменения

светосилы фильтра,

т а к к а к

величина щ Д м а л а . - Н а п р и ­

мер, для фильтра с

Г = 0 , 3 3

и К=5 при А = 0,2/ коэффи ­

циент фильтрации будет равен 78 вместо 100 для одно­ родного фильтра, т. е. требования к равномерности фильтров сравнительно невысоки.

Иногда невозможно иметь фильтрующий слой из чи­ стого химического элемента. В этом случае селективный фильтр может быть изготовлен из смеси тонкоизмель-

ченного элемента

(или

его соединения

с легкими

эле­

ментами)

со связующим

органическим

пластиком.

 

Возможно

т а к ж е нанесение

фильтрующего

слоя

на

подложку

(Be

пли

пластиковая

пленка),

достигаемое,

например,

испарением

в вакууме. Значение

/ (

для

та­

кого гомогенного фильтра может быть определено по вы­ ражению

 

cS -f- (1 — с) ll[ Ltі

/ Р,

 

с + ( 1 - е ) и,/Ці

V £ о -

/

где с — содержание

фильтрующего

компонента; 5 — его

скачок поглощения

и ,ui/ui отношение

массовых коэф­

фициентов поглощения связующего (пли подложки) и

фильтрующего

компонента

для

выделяемого

 

излу­

чения.

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а

13

Значения К для гомогенных фильтров на основе

 

 

полиэтилена (для Аг-линин соседних элементов)

 

 

 

Содержание

фильтрующего помпономта, 0 о

 

 

Фильтрующий

 

 

 

3S

.компонент

100

ги

 

Si

9,5

6,2

4,3

2

7

S

8,2

6,4

5,3

3,5

Т і 0 3

4,8

4,4

3,9

3,2

Fe,03

6,2

5,8

5,5

4,8

В табл . 13 приведены значения К для некоторых фильтров на основе полиэтилена, предназначенных для разделения /(а - линяй соседних элементов. К а к видно из таблицы, с о д е р ж а н и е фильтрующего компонента срав ­ нительно мало влияет на К в спектральной области от

6 кэв и выше, однако этот параметр становится очень кр'итичньш дл я длинноволновой области.

Рассмотрим вопрос о необходимой степени измель ­ чения фильтрующего компонента. Абсорбция рентгенов­ ского излучения гетерогенными слоями со случайным распределением частиц рассмотрена в работе [161]. Пре ­ небрегая коэффициентом поглощения связующего и при­

няв,

что доля

объема,

з а н и м а е м а я фильтрующим

компо­

нентом,

равна

0,5, получаем д л я эффективного

коэффи­

циента

поглощения

слоя простое

в ы р а ж е н и е

 

 

 

 

 

 

 

 

2

.

 

.

_

 

 

(2.7)

 

 

 

 

 

 

\id

• l n c h -2^

 

 

 

где

d

размер

частиц, и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

rU2 d — 2 I n c h — —

 

 

 

 

 

к

=

Ik эф

 

 

 

 

2

 

 

(2.8)

 

 

 

 

 

1 X 1 э *

(Xid — 2 In ch

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

К а к

следует

из

уравнения,

с

увеличением

р а з м е р а

частиц

d от 0 до со К падает от Ко (гомогенный

слой)

до 1, т. е. селективность фильтра

уменьшается

с

увели­

чением

d.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Зависимость коэффициента фильтрации К от оптиче­

ской

плотности

частиц

д л я

поглощаемого

излучения

\\2d

при различных

значениях

Ко показана

на

рис. 39.

В табл .

14 приведены

размеры

частиц

д л я

некоторых

химических элементов

и л и и х

соединений

при

 

\x2d = \.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т а б л и ц а 14

Размер частиц

некоторых

соединений

с оптической

плотностью,

 

 

 

 

 

равной единице

 

 

 

 

Соединение (элемент)

Поглощаемое излучение

Коэффициент поглощения, см'/г

Размер частиц, мкм

Соединение (элемент)

 

Si

 

2800

1,6

Fe 2 0

3

SiC

 

2040

1,6

CuO

 

р

 

2400

1,5

Ga 2 0 3

S

 

2000

2,5

SrC03

СаО

Sc/Ca

723

4,0

Y 2 0 3

 

т ю а

 

320

7,8

 

 

5 u

 

 

If я

•e-g-5.

 

 

 

Є ї

£ g 3

 

 

284

6,8

 

225

7,0

 

167

9,4

NbKa

71

38

MoK„

88

23

7 P. И. Плотников, Г. А. Пшеничный

97

 

Этому

значению

соответствует

уменьшение

коэффи­

циента

К приблизительно на

20%.

К а к видно

из рисун­

ка и таблицы, необходимая

для обеспечения

высокого

качества фильтров из легких элементов степень измель­

чения

достаточно велика и составляет 1—3

мкм.

 

 

 

 

При

использовании

селектив­

 

 

 

 

ных

 

фильтров

для

отделения

 

 

 

 

аналитической

линии

от

более

 

 

 

 

жесткого флюоресцентного и рас­

 

 

 

 

сеянного

 

излучений

 

следует

 

 

 

 

иметь

в

виду их

рентгеновскую

 

 

 

 

флюоресценцию. П о г л о щ а я из­

 

 

 

 

лучение

с энергией,

п р е в ы ш а ю ­

0.5

1,0

1,5 2,0 .2,5ji2d

щей

 

потенциал

 

возбуждения,

фильтр

преобразует

его в

флюо­

Рис. 39.

Зависимость ко­

ресцентное

излучение,

проходя­

щее

 

через

фильтр

и

попадаю ­

эффициента

фильтрации

щее

в

детектор.

В

большинстве

К от оптической

плотно­

случаев

именно

флюоресценция

сти

частиц

р.2СІ.

фильтров ограничивает

реальную

 

 

 

 

величину

коэффициента

фильтрации .

 

 

 

 

Если

принять, что

коэффициент

поглощения

фильт­

ром собственного флюоресцентного излучения равен коэффициенту поглощения выделяемого излучения, то коэффициент фильтрации с учетом флюоресценции бу-

/5 1 —і

дет равен

А'=А11

+ W —— ц) , где

5 и W — скачок по­

глощения

и выход

флюоресценции

материала фильтра

соответственно; і] геометрический

фактор, определяе­

мый долей излучения фильтра, попадающей в окно де­

тектора. В к л а д флюоресценции максимален

для фильт­

ра,

непосредственно прилегающего

к окну

детектора.

В

этом

случае

 

 

 

 

 

 

 

ехр (—/)

dt.

(2.9)

 

 

 

Hi'

 

 

 

 

Д л я

обычно

применяемых

фильтров с

оптической

плотностью д л я

пропускаемого

излучения

0,5—1 г| =

= 0,25-^0,2 и предел А' при Л->оо равен

S

т. е.

 

 

 

 

 

 

достижение высоких коэффициентов фильтрации в такой геометрии возможно лишь в длинноволновой области спектра, когда выход флюоресценции W мал .

В

общем случае доля излучения фильтра,

попадаю ­

щ а я

в детектор, может быть рассчитана по

выражени ­

ям, приведенным, например, в работе [162]. Геометриче­

ский фактор т) падает с уменьшением угловой

апертуры

пучка, однако такое ограничение апертуры

неизбежно

сопровождается потерей в светосиле. М и н и м а л ь н а я ве­

личина т] при заданной геометрии измерений имеет ме­ сто, когда фильтр расположен на середине расстояния между образцом и детектором.

Другой возможный путь повышения контрастности при измерениях с селективными фильтрами — использо­ вание двух фильтров, один из которых, расположенный ближе к детектору, поглощает флюоресцентное излуче­

ние первого.

Так, например, при определении Fe с воз­

б у ж д а ю щ и м

излучением Си К доля флюоресцентного

излучения может быть снижена в 5^—6 р а з при исполь­

зовании перед детектором вместо Co-фильтра двух

фильт­

ров из Со и Мп с той

ж е

суммарной оптической

плот­

ностью.

 

 

 

 

 

5. Д и ф ф е р е н ц и а л ь н ы е ф и л ь т р ы

 

 

 

Д и ф ф е р е н ц и а л ь н ы е

фильтры, предложенные

Россом

[163], представляют собой

совокупность

двух

фильтров

из химических элементов

с соседними

или

близкими

атомными номерами, толщины которых подобраны так, чтобы их пропускание было одинаковым во .всем диапа ­ зоне энергии, кроме интервала между к р а я м и поглоще­ ния фильтров. Это требование легко может быть выпол­

нено, т а к как

скачки поглощения близких по Z

эле­

ментов мало

отличаются по величине, и зависимости

и х

коэффициентов поглощения от энергии практически т о ж ­

дественны. Принцип действия дифференциальных

фильт­

ров изображен на

рис. 40. К а к видно

и з рисунка,

р а з -

_ ность скоростей счета, полученных с фильтрами

из

эле­

ментов с Z и Z - H , пропорциональна

плотности

потока

излучения в интервале м е ж д у к р а я м и поглощения

фильт­

ров, т. е. полоса пропускания дифференциальных

фильт­

ров определяется к р а я м и поглощения фильтрующих

эле­

ментов. Зависимости разности

пропускания

выделяемой

линии фильтрами

пары и статистической

погрешности

анализа

от толщины фильтров

рассмотрены в

работах

[5, 164].

К а к показывают эти

расчеты,

толщина

фильт-

7* 99

р ов может отклоняться на 30—40% от оптимальной без существенного ухудшения качества фильтров. Практиче ­ ски обычно используют фильтры такой толщины, чтобы для аналитической линии значение Т пропускающего

 

 

 

 

 

 

 

фильтра

пары

составляло

40—

•ч

 

 

 

 

 

 

60%.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В большинстве случаев диф ­

 

 

 

 

 

 

 

ференциальные

фильтры

позво­

 

 

 

 

 

 

 

ляют

выделять

характеристиче ­

 

 

 

 

 

 

 

ское

излучение

определяемого

 

 

 

 

 

 

 

элемента в присутствии элемен­

 

 

 

 

 

 

 

тов

с

соседними

атомными

но­

 

 

 

 

 

 

 

мерами. Однако попадание в по­

 

 

 

 

 

 

 

лосу пропускания фильтров спек­

 

 

 

 

 

 

 

тральных линий других элемен­

 

 

 

 

 

 

 

тов,

присутствующих

в

 

пробе,

 

 

 

 

 

 

 

приводит

к

завышению

 

резуль­

Рис.

40.

Кривые про­

 

татов анализа . По данным

рабо ­

пускания

 

двух

сба­

 

ты

 

[5],

при

проведении

 

анализа

лансированных фильт­

 

по

/(«-линиям присутствие

в

про­

ров из

элементов

с

 

 

бе

1% мешающего элемента

при­

атомными

 

номерами

 

 

Z

и

Z+1.

 

 

водит к абсолютному

завышению

 

 

 

 

 

 

 

результатов

(в процентах):

 

0,6 — 0,7 для Kat,

0 , 3 - 0 , 4

для

K*t,

0,25 — 0,4 для La,

0,15—0,3 для L P l

3 , 0,1—0,2 для Кр ,

0,01 - 0,06 для / С р

 

 

 

 

 

 

Lat> L$t, L V l .

 

 

 

 

 

 

В

работах [5, 164] приведены

таблицы

мешающих

линий

при анализе

с

дифференциальными

фильтрами .

В случае

присутствия

в исследуемых пробах

мешающих

элементов учет их влияния обычно

не вызывает

 

каких-

либо трудностей,

т а к к а к их концентрация может

быть

определена

по другим

спектральным

линиям .

 

 

 

 

В

настоящее

время

основным

средством

повышения

разрешения

при работе с

пропорциональными

и

сцин-

тилляционными счетчиками

с л у ж а т

дифференциальные

фильтры .

К а к видно

из

рис.

29,

дифференциальные

фильтры

 

позволяют

обеспечить

разрешение

от

0,3

кэв

в длинноволновой области д о 2—2,5 кэв в коротковол ­ новой области . Обычно фильтры применяются в сочета­ нии с амплитудным анализом импульсов, что позволяет

уменьшить в к л а д фонового излучения

и снизить требо ­

вания к балансировке, т. е. к подбору

толщин фильтров.

Особенно

часто

используются

дифференциальные

фильтры

при анализе

сложных проб, с о д е р ж а щ и х

боль­

шое

чисто различных

химических

элементов.

таким

объектам

относятся,

например,

полиметаллические

руды

и некоторые

продукты обогащения .

 

 

К

недостаткам

метода дифференциальных

фильтров

относится необходимость проведения двух замеров с по­ следующим вычитанием и связанное с этим увеличение статистической погрешности (или увеличение времени измерения) . Обычно применение дифференциальных

фильтров, по сравнению

с

измерением

без

фильтров в

тех ж е условиях, приводит

к увеличению

статистической

погрешности измерений в

1,5—2 раза .

 

 

6. Отражательные

фильтры

 

 

 

В ультрадлинноволновой области спектра д л я отделе­

ния флюоресценции

определяемого

элемента

от более

коротковолнового излучения могут

быть

использованы

о т р а ж а т е л ь н ы е фильтры,

действие

которых

основано на

сильно выраженной зависимости коэффициента отраже ­ ния рентгеновского излучения от его энергии и угла па­

дения [165, 166].

 

К а к

показано в работах [167, 168], при определении

Be и В

микроанализатором использование о т р а ж а ю щ е г о

фильтра

из полистирола позволило получить

высокую

контрастность, лишь немного уступающую

контраст­

ности с кристаллом - анализатором, при существенно большей скорости счета.

7. Технология изготовления фильтров

В первых работах [169] использовались фильтры, из ­ готовленные из порошка требуемого элемента или его

окисла

с парафином в качестве

связующего.

 

Значи ­

тельно более прочные фильтры этого типа могут

быть

изготовлены прессованием смеси

фильтрующего

 

компо­

нента

с полиэтиленом, полистиролом и некоторыми дру­

гими пластиками . Методика изготовления таких

фильт­

ров и их характеристики приведены в р а б о т а х

[77, 170].

Содержание фильтрующего компонента в

фильтрах

на пластмассовой основе доходит до 50%, что позволяет при условии достаточного измельчения компонентов обе­ спечить высокое качество фильтров из элементов с Z

10.1

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ