Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Кремниевые планарные транзисторы

..pdf
Скачиваний:
21
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
17.57 Mб
Скачать

 

Из

выражения

(5.50) определим

предельную

частоту усиления

по

току

в

схеме

с

общим

эмиттером

сог ,

для

реального транзистора. Поскольку

( о г ) | =

1,

то

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

cor

 

 

 

 

+COY

 

- +K

1

 

 

 

 

 

 

 

 

\

у

ѵ Y ш« 7г

С0К

C û r

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

cor

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

cov

cor

coK

 

c ù K c o r c o T j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

cor

cor

— r +

 

 

 

+ — г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Y « Г

W

Y « к

 

m K °V

 

 

 

 

 

 

 

 

 

+

1

1

1

 

 

 

û ) r

 

 

 

 

(5.51a)

 

 

 

 

 

— + — + — -

 

;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L coY

cor

coK

 

 

(dK(aTy

 

 

 

 

 

 

Уравнение

(5.51a)

алгебраическое

6-й степени

относительно

ыт

В

самом

деле,

после

очевидных преобразований

получаем

 

 

 

 

 

 

 

 

cof. jco£

C Ö 2 C ö f 2

 

t ô 2 C 0 2

C ö f 2 « 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

— + — + -

 

 

 

 

CO?

. =

1.

 

(5.516)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

COv

Cöf

COK

/

; ( 0 * 0 ^ 0 9 *

 

 

 

 

 

Предположим,

что частота а>т

не

 

превосходит

минимальной

из

трех

частот: со^,

CD7 ',

CDk . Тогда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

f

 

 

 

 

cos

 

 

 

coY

 

со г

 

со.

 

 

 

 

 

 

<ù?<ù*.

CO2 Cöf" со2

 

 

 

 

 

 

C 0 2 C û f

2 '

®y<

 

 

В

результате

после

пренебрежения

 

малыми

членами

в

уравнении

(5.516)

находим

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

r

= ( I / c o Y - l

l / c o f + l / c ö K ) - i .

 

 

(5.52)

Проверим справедливость пренебрежения малыми членами и в уравнении (5.516). Предположим, что а>у = cor = сок ; в результате из (5.52) полу­ чаем ш г = сок /3. Следовательно,

соѵ

 

со;

 

c o j

Cöjf

 

 

 

со

1

 

 

1

J

'

 

 

 

со^со^ +и

,-2 со 2

 

+

 

©»(öf'

 

 

 

 

 

 

 

Г ш к .

 

 

щ

L / J L АЛ

L _ L

 

=

2

I 9

+

8J } ~

3

со

2

со^

со2 C ö f со2

и*

 

к

но-

Т. е.

при

û ) r

=

ю ѵ =

4%

от второго

члена

тим,

что

к

<

(ÛJ-,

û)K

отброшенные члены составляют по величине

менее

в фигурных скобках выражения (5.516). Теперь

допус­

y.

Тогда

 

 

 

 

1

/ 1

 

 

1

1 ,2

1

 

 

 

 

 

 

СО2.

 

I соѵ

(Of

' CO.. /

(ùl

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

-.)

 

 

 

 

 

со

1

1

 

1

+

 

 

ю г

^ 1

1

2 m S

1

со2 со'2

<K

со'2-со*

 

C Ù 2 C 0 f 2 t û £

 

2

o)f2

cof2 (ö2

©«

L

Y

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Аналогично

можно

рассмотреть

 

и

другие

случаи:

ѵ

< со^, сок ;

cor <

(ùy, (ÙK. Таким образом, приближенная

формула

(5.52), полученная из урав­

нения

(5.516), является

достаточно

точной.

С

учетом

выражения

(5.52)

теперь

можно

упростить

равенство (5.50) для

| В (со) |:

 

 

 

 

 

 

 

|ß(co)|co = C ö r

,

 

 

 

(5.53)

Последнее равенство аналогично равенству (5.31), выведенно­ му для случая, когда частотнозависимым параметром является лишь коэффициент переноса ß(co).

Указанный выше приближенный метод позволил найти анали­

тическое выражение для предельной частоты а>т с учетом

соѵ, cof

и сок в отличие от работ [46, 47], в которых для определения

другой

предельной частоты соа в общем случае необходимо численно решать алгебраическое уравнение 5-й степени.

Подставив в формулу (5.52) явные выражения (5.1-4) для соѵ и (5.46) для со к, получим окончательную формулу для частоты fx ==

=сот72я:

/г = [2яфГ С в / / в - f 2я/©£ + 2я (RK +

гб) Ск

а ] - \

(5.54)

где cof находится из равенства (5.40).

 

 

 

Данная предельная частота /V (или сог)

очень

легко

опреде­

ляется экспериментально. Выбирается любая достаточно высокая

частота измерений /. Необходимо,

чтобы

| B(f) | % (0,1 Ч- 0,2)ß0 ,

где В 0 — низкочастотное

значение

(обычно

на частоте 1 кГц) ко­

эффициента усиления B(f).

Затем вычисляется произведение | B(f) |/,

которое, согласно равенству (5.53), и дает нам предельную частоту /т. Для сравнения заметим, что для определения предельной ча­

стоты f a

пришлось бы проводить измерения

| а(/) | в широком диа­

пазоне

частот, пока не была бы найдена

частота, на которой

(а(/а)|

= а 0 / К 2 .

 

5.3.Омическое (распределенное) сопротивление базы /"'б

Впредыдущем параграфе мы установили, что предельная ча­

стота транзистора и>т (5.52) существенно зависит от предельной частоты коллекторной цепи сок (5.46), а следовательно, и от омиче­ ского сопротивления базы гб . Таким образом, r't является важным параметром Т-образной эквивалентной схемы транзистора,

141

 

Параметр гб представляет собой некоторое эффективное сопро­

тивление

для переменного базового

тока / б 7 П

ехр (/со/)

между ба­

зовыми контактными площадками и центром эмиттера.

 

Таким

образом, Гб включает в себя три последовательно

соединенных

сопротивления: K — контактное

сопротивление

между

базовой

металлизацией и кремнием, Г б ' п —

сопротивление

пассивной базы

(между краем эмиттера и ближайшим краем базовой

контактной

площадки), г б а — сопротивление активной базы

(между

центром

и краями эмиттера). Поскольку концентрация

примесей

на по­

верхности пассивной базы всегда поддерживается

достаточно

высо­

кой

(Nsœ

101 9 — 102 0 см - 3 ), то ширина

запирающего

слоя

 

между

металлом

(обычно AI) и кремнием

становится

чрезвычайно

малой

( «

50 — 100 А), и носители тока проходят через эти слои

почти

без сопротивления за счет туннельного

эффекта.

Поэтому гб 'к <

/"б'п +

і~ба и в результате имеем

 

 

 

 

 

 

 

 

Гб = Гбп+Гб

а-

 

 

 

(5.55)

Сопротивление пассивной базы г б 'п. очевидно, зависит только от геометрии пассивной базы и от концентрации примеси в ней. Если эмиттер состоит из N узких прямоугольных полос, ширина которых

/ э значительно

меньше длины

Z3(lJZa

< 0,1 — 0,2),

тогда г б п

находится весьма просто:

 

 

 

 

 

 

Л5л =

;

Ad

=

 

àdRsп

(5.56)

 

 

 

,

 

 

 

 

 

2NZa

ѵ

 

 

2NZB§

q\i

(x)N(x)dx

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

где Ad — расстояние

между

краем эмиттера и базовым

контактом

(см. рис. 4.1),

a R s

n =

9[x(x)iV(x)dx] 1

— поперечное

(или по-

 

 

о

 

 

 

 

 

верхностное) сопротивление пассивной базы, В реальных

приборах

обычно R s n «

200 — 600 Ом/квадрат. В

 

случае кругового эмит­

тера с радиусом R s и внутренним радиусом базового контакта R 6 ,

так что R 6

— R 3 =

Ad,

сопротивление rén находим

следующим

 

 

 

 

 

 

образом. Очевидно,

Г б П

=

§ dr6, где dr6

— сопротивление цилин-

дрического

слоя высотой

к , радиусом

основания г

и толщиной

стенок dr, и равное

 

 

 

 

 

 

,

 

 

dr

d r

 

 

dr6 =

хк

 

2лг R s n

 

 

 

 

 

 

 

2nr j

q\y, (x) N (x) dx

 

 

142

Следовательно,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

гб 'п = ^

Ч

п

^ .

 

(5.57а)

Но lnR5/R3

=

In (1 + Ad/Ra)

 

»

Ad/R3,

поскольку

всегда

< V 3 «

1.

Например,

в

приборах

КТ312, КТ602

Ra =

= 75 мкм, Ad = 20 мкм. Итак, окончательно для транзистора с

круговым эмиттером

получаем

 

 

r6n=RsnAd/2nR3.

(5.576)

Теперь перейдем

к вычислению сопротивления активной базы

Г б а - В данном случае

уже нельзя пользоваться простой

методикой

расчета, использованной выше при определении сопротивления пас­ сивной базы Г б п , ибо базовый ток не является постоянным под эмит­ тером: как отмечалось в § 4.1, базовый ток изменяется от максималь­

ного значения / б ( ± / э / 2 )

или

I6(R3)

у края

эмиттера

до

нуля

в центре

эмиттера

/б (0)

= 0.

Кроме того, величина

г£а

должна

зависеть

от

величины

постоянного

тока эмиттера I э ,

поскольку

при больших

токах

/ э

из-за эффекта оттеснения тока к краям эмит­

тера базовый ток будет проходить меньшее расстояние

под эмитте­

ром, что приведет к уменьшению г^а

с ростом I э.

С ростом частоты

переменного сигнала, очевидно,

должны возрастать емкостные

со­

ставляющие базового тока, заряжающие барьерные емкости эмит­

терного С э

и коллекторного С к

р-п переходов, а также диффузион­

ную емкость эмиттера

С Э д и ф

=

dQ6/dU Э р . „ ,

где Q6 — заряд не­

основных

носителей в

базе. Это

приведет к

увеличению падения

напряжения вдоль базового слоя под эмиттером и высокочастотному

эффекту оттеснения эмиттерного тока, что, очевидно,

вызовет

уменьшение

Г б а с ростом частоты переменного

сигнала.

Однако

расчет Г б а с

учетом последнего эффекта весьма

сложен.

Ограни­

чимся вычислением г'ь а для случая низких частот, принимая во вни­ мание эффект оттеснения постоянного эмиттерного тока.

Из Т-образной эквивалентной схемы на рис. 5.2 для достаточно

низких

частот (/ « 1 Мгц для

транзисторов

fT >

100

МГц),

ис­

пользуя условие холостого хода на входе эт

=

0) и

короткого

замыкания на выходе (UK6m

=

0), находим общее выражение

для

полного

сопротивления базы

 

 

 

 

 

 

 

,

 

дѵ^\

 

 

( 5

> 5 8 )

Следует заметить, что мы рассматриваем случай таких частот, когда можно не учитывать так называемое диффузионное сопротив­ ление базы гб даф, которое отражает влияние модуляции толщины квазинейтральной базы (эффект Ирли) на величину эмиттерного напряжения £ / э Р . п . Как показано в [46], для дрейфовых тран­ зисторов уже при / ^ 1 МГц можно пренебречь диффузионным сопротивлением.

Г43

В

равенстве (5.58)

входное

напряжение

U36

можно предста­

вить

в виде £/.,(5 = ( / э р - n - | - с / І

І б ,

где Un6

падение напряжения

при

протекании базового

тока

в пассивной базе,

U'3p.n— напря­

жение на эмиттерном

р-п

переходе

у края

эмиттера. Тогда

 

д11э

 

 

dU_n±

(5.59)

 

 

 

- const

 

 

 

дік

 

 

В формуле (5.59)

 

 

 

 

 

 

 

Гбп

dUu6 I

 

dU П б

 

 

 

дІк

\'a =

const

dis

 

 

 

 

 

 

представляет собой сопротивление пассивной базы [равенства (5.56) и (5.576)1, а

ÔU э р-п

__

дНэр-п

о/к

/ „ = const

 

— сопротивление активной базы. Как видно из этого определения, параметр Гб'а учитывает тот факт, что приращение базового тока àl6(t) = /6 m exp(/cù^) вызывает изменение падения напряжения вдоль базового слоя, а следовательно, и величины эффекта оттес­

нения эмиттерного тока. В результате для сохранения

постоянства

эмиттерного тока

(I э = const)

необходимо изменить

напряжение

на эмиттерном р-п

переходе на

величину А1/эр.п

=

Д / б Г б ' а -

Кон­

кретная методика

вычисления

г б а определяется

геометрией

эмит­

тера.

 

 

 

 

 

Рассмотрим случай прямоугольного эмиттера с двумя базовыми контактными площадками по обеим сторонам эмиттера. Восполь­ зуемся результатами расчета эффекта эмиттерного вытеснения,

приведенными в § 4.1. Согласно (4.3)

и (4.4)

 

 

 

 

иэ р . п (IJ2) = фг In / э (/э /2)//э 0 .

 

(5.60)

Плотность эмиттерного тока /а (/э /2) в зависимости от полного

эмиттерного тока определяем из формулы (4.18):

 

 

 

 

 

 

 

(5.61)

 

 

L Za

sin

 

 

 

 

 

 

 

Параметр Л зависит от величины базового тока Іб

=

/ э ( 1 - а ) "

согласно (4.156). Поэтому с учетом (5.60), (5.61) получаем

 

 

 

cos N sin2A

dA(I6)

 

 

sin

sin2

dl6

 

 

где dA(I6)/dIö

находим с помощью равенства (4.156)

как

производ­

ную неявной функции от / б :

 

 

 

 

 

 

dA(I5)

 

Is R&

 

 

 

 

dl6

9 r 8 Z 3 ( t g A - b A c o s - 2 A ) '

 

 

144

jq\i (x) N (x) dx

-поперечное сопротивление активной базы. С учетом последних выражений

получим окончательное выражение

Д Л Я г'ба.

г'

_

hRsa

(sin 2Л—2Лcos 2Л)

 

(5 62а)

6

3

8Z3 AtgA

sin2A-J-2A

'

'

Исследуем поведение гб 'а от параметра Л, а следовательно, и от тока / б . При малых токах эмиттера / э , следовательно, и при малых токах базы / б , эффектом эмиттерного вытеснения можно пренебречь. Тогда Л « 1 и, разлагая sin 2Л и cos 2Л в ряды и ограничиваясь первыми двумя членами:

sin2A = 2 A J l ~

у

 

COS2A - 1 — 2Л 2 ,

 

 

t g A = A ( l + A 2 / 3 ) « A ,

 

 

 

получаем

 

 

 

 

 

 

 

^ • І ^ ^ І а д Г '

 

( 5 - 6 2 б )

Выражение (5.62 б) для /-б 'а

хорошо

известно в

литературе [80].

В случае больших токов

эмиттера

(I а ->• оо)

эффект эмиттер­

ного вытеснения становится значительным, ибо

І6 -*• оо

и Л

->

—>- п/2, как видно из уравнения (4.156), следовательно, sin 2Л

->

->• 0, sin Л -> 1, cos 2Л ->• —1

и

формула (5.62а) с учетом (4.156)

принимает вид

 

 

 

 

 

 

 

г б а

| / б

_

= -

^ .

 

(5.62В)

Таким образом из (5.62 в) следует, что сопротивление

актив­

ной базы при очень больших базовых

токах гб 'а

убывает

обратно

пропорционально току базы. Следует заметить, что формула (5.62

в)

справедлива при таких токах эмиттера I э , когда транзистор еще не вошел в режим насыщения и не наступил большой уровень инжек­

ции в базе, т. е. при

I э

< / к 1 , / К 4 [см. формулы (4.44) и (4.46)].

При т о к а х / э ;> / к 1 ,

/ К 4

для определения эффекта оттеснения эмит­

терного тока непригодны формулы (4.156) и (4.17), выведенные для

малых уровней инжекции

в

базе,

и,

следовательно, зависимость

Гб'а будет отличной от (5.62

в).

 

 

 

На рис. 5.3 показаны зависимости

полного омического сопро­

тивления базы Г б = Гба +

гб

п от

тока эмиттера для разных частот

для кремниевых п-р-п планарных транзисторов с прямоугольным эмиттером типа 2N914 и 2N918, взятые из работы [81]. Из этого

рисунка

видно, что сопротивление

на частоте / = 1 МГц в диа­

пазоне тока эмиттера 0,01 — 10 мА убывает почти

в 2 раза. Такой

характер

изменения параметра можно объяснить

следующим об-

145

 

Рис.

5.3.

Зависимость

сопротивления

 

базы г б

планарного

транзистора с

пря­

 

моугольным эмиттером от коллекторного

 

тока и частоты переменного сигнала.

 

разом.

Сопротивление

активной

 

базы ré а согласно

(5.62в)

монотон­

 

но убывает

с ростом тока

базы / б

 

и,

следовательно,

тока

 

эмиттера

 

/э

= ВСТІ6.

Сопротивление

пас­

0,1 0,1

сивной

базы гб п

от тока

эмиттера

 

не

зависит,

но

оно

значительно

 

меньше

сопротивления

г б а вслед­

ствие сильного различия в величинах поверхностного сопротивле­ ния пассивной базы (Rsu — 300 — 600 Ом/квадрат) и поперечного сопротивления активной базы (Rsa » 5000 — 10 000 Ом/квадрат) в реальных п-р-п кремниевых приборах. Кроме того, из-за высоко­ частотного эффекта эмиттерного вытеснения г б убывает почти в 5 раз

на частоте / == 400 МГц при токах I э ^

1 мА по сравнению со зна­

чением г б

при / =

1 МГц.

 

 

 

Теперь проведем расчет активного сопротивления базы для

кругового

эмиттера. В данном

случае в выражении

(5.60) для

UBP.n(Ra)

необходимо

вместо

(5.61)

воспользоваться

формулой

(4.38). В результате

получим

 

 

 

 

 

/ э ( Я э )

=

 

 

(5.63)

Дифференцируя

выражение

(5.60) с учетом (5.63), находим

 

 

 

 

Rs а

 

(5.64а)

 

 

 

 

 

 

При малых базовых токах I5Rsj8mpT

<^ 1 получаем обычное выра­

жение для Г б а без учета эффекта оттеснения эмиттерного тока [80]

 

 

r'6a=RsJ&n.

 

(5.646)

При больших

токах эмиттера

(I э ~*~ оо) базовый

ток становится

значительным

(I6Rsj8nq>T

>

1) и

формула (5.64

а) упрощается:

 

 

г б а ! 7 б ^ 0 0 =

Ф г / / б

(5.64в)

Формула (5.646) впервые получена в работе [82]. Сравнивая выра­ жение (5.62в) И (5.64В), МОЖНО сделать вывод о том, что незави­ симо от геометрии эмиттера сопротивление активной базы при до­ статочно больших токах а убывает обратно пропорционально току базы.

146

5.4. Зависимость предельной частоты fr от тока коллектора

В предыдущих разделах мы получили общее выражение (5.54) для предельной частоты (ог = 2л/ г . Большой практический и фи­ зический интерес представляет поведение этого важного параметра

транзисторов в

зависимости

от постоянного

тока коллектора Ік.

Зависимость

/у от тока Ік

при постоянном коллекторном на­

пряжении (UKa

= const) для германиевых

дрейфовых транзисто­

ров исследовал Кирк в 1962 г. [66], причем было экспериментально обнаружено, что зависимости fT = fT(IK) |u K 8 = c o n st имеют вид кри­ вых с максимумом в области средних токов коллектора. Аналогич­ ный характер носят зависимости предельной частоты /V от тока кол­ лектора для кремниевых планарных транзисторов (см., например, рис. 5.4 для маломощного прибора П307 и рис. 5.5 для переключаю­ щего транзистора КТ603). Из рисунков видно, что параметр fT, как и статический коэффициент усиления по току В с т , убывает в об­ ласти малых токов (/„ < 1 мА) и в области больших токов коллек­ тора.

Спад /г при малых токах I к происходит за счет увеличения инер­ ционности эмиттерной цепи, т. е. постоянной времени т э = 1/гдр.пСд, поскольку дифференциальное сопротивление эмиттерного р-п

перехода гэ р.п возрастает с убыванием тока / э « Ік

по закону

гд р.п = Фг//к-

 

Поэтому при малых токах предельная частота fT

определяется

в основном предельной частотой эмиттерной цепи coY [см. формулу

(5.14)], поскольку

предельные частоты

cof [см. равенство (5.40)]

и к>к [см. равенство (5.46)] не зависят от тока / к , т. е.

 

 

 

/ г = / к / 2 я Ф г С э .

 

 

(5.65)

По этой причине микромощные транзисторы (/>р а с

«

ЮмкВт),

работающие при токах / к « 1 мкА, имеют довольно

низкие пре­

дельные частоты fT.

Например, при Сд

= 20 пФ, что является ти­

пичным для маломощного транзистора

КТ312, и / к

=

1 мкА на

О

100

200

Ік,мА

Рис. 5.4. Зависимость предельной ча­ стоты fr от тока коллектора для ма­ ломощного транзистора П307 в не­ прерывном режиме.

Рис. 5.5. Зависимость предельной ча­ стоты fr от тока коллектора для переключающего транзистора КТ603 (в импульсном режиме).

147

основании

формулы

(5.65) получим fT = 3 • 105

Гц = 0,3 МГц.

Кроме того, из (5.65) видно, что при малых токах / к

предельная ча­

стота /г убывает прямо пропорционально /,„ поскольку

емкость

эмиттерного р-п

перехода С э

в

соответствии

с

формулами (5.11)

и (5.12)

меняется

незначительно

в диапазоне

рабочих напряжений

^эр-п =

 

0,4 — 0,6

В. При

достаточно больших

токах

1/соѵ

1/cof

+

1/k и выражение

 

(5.52) принимает

следующий вид:

сог = (1/cof + 1/ C Ö K ) - 1 .

 

 

 

 

 

 

Таким образом, в диапазоне средних токов частота fT

должна

быть постоянна, поскольку cof и сок здесь не зависят от / к .

Однако

с ростом коллекторного тока начинает увеличиваться падение на­ пряжения на толще коллекторного слоя, и обратное напряжение

смещения на коллекторном р-п переходе убывает по закону | £/к р - п | =

=

| ( 7

к б | IKRK

ля

схемы

с общей базой)

или \UKP.N\

=

\UK3\ — U Э Р . П

IKRK

(ДЛЯ схемы с общим эмиттером).

 

 

В

результате

при

 

I K R K

0,5 \UK5\ и

при | £ / к | / / n 0

^ 5 х

X 10s

В/см (в случае не очень сильных полей в коллекторном

слое)

в соответствии с выражением (3.20) ширина коллекторного р-п пе­

рехода

уменьшается: Хк

р.п

-> R P.N(UK

Р.П

=

0).

Это приводит

к увеличению емкости коллекторного р-п перехода

С к

= ee0 SK P .n /

%к р-п ( У к

Р-П), а ширина

квазинейтральной

базы

W6 = W60

— (^ко — х к ) на основании

(3.40) растет и стремится к ширине тех­

нологической базы W60.

Все это вызывает

медленное

уменьшение

предельных частот cof [см. равенство

(5.40)] и сок

[см. равенство

(5.46)],

а

следовательно,

и

спад предельной

частоты

транзистора

fT сог/2я.

Однако резкий спад /г начинается после смены полярности на­ пряжения на коллекторном р-п переходе (переход из активного ре­

жима в режим насыщения) при токах Ік > Ік1,

где ток / к 1

опре­

деляется по формуле (4.44).

 

 

В

выражении (4.44) для простоты считаем

коллекторный

слой

тонким

In < lg, R S , так что R K = ç>nl'nlSgP.n

(для п-р-п триода).

fe< Теперь необходимо учитывать новую составляющую емкости

коллекторного

р-п

перехода — диффузионную емкость

Ск

Д И ф,

как и в обычном прямо смещенном диоде:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С,к Лиф = AQp /At7K 6 ,

 

 

(5.66)

где Qp = t/S3

Г [р{х)—pn]dx

—избыточный

заряд неосновных

носителей - дырок

в

коллекторном слое для п-р-п

транзисторов.

Емкость С К Д И ф

является

частотно-зависимой

величиной,

как

видно из рис. 5.6, а,

б для транзистора

КТ602. С ростом

частоты

С к д и ф

0, а С к

->- С к п ,

где С к п барьерная

емкость пассивной

части

коллекторного

р-п

перехода. На

высоких

частотах

if >

>10 МГц для приборов П307 и КТ602) изменение заряда неоснов­

ных носителей AQP под действием переменного сигнала

Д £ / К б (/) =

— ^кб me xp (/©0 с увеличением частоты уменьшается,

поскольку

И8

 

a) ö)

Рис. 5.6. Зависимость емкости коллектора от коллекторного тока для тран­

зистора

КТ602:

 

а — на

частоте f=0,465 Мгц; б — на

частоте { = 20 МГц.

за полупериод сигнала 772

= я/со неосновные носители не успевают

переместиться за счет диффузии на большое расстояние от границы металлургического перехода хк0.

Расчет зависимости С к д и ф = С к д и ф к, со) весьма сложен, так как необходимо учитывать наличие тормозящего поля для не­ основных носителей в высокоомном коллекторном слое и двумер­ ный характер распределения носителей в нем из-за эффекта эмиттер­ ного вытеснения (под краями эмиттера плотность тока / к максималь­ на и концентрация р(х, у) — максимальна, а под центром эмиттера и р(х, у) минимальны). В низкочастотном пределе (со 0) и в одно­ мерном приближении (без учета эффекта оттеснения эмиттерного

тока) величина

С к

д и ф

в зависимости

от тока

коллектора

была вы­

числена впервые в работе [83].

 

 

 

 

 

 

 

р(х)

dx

При

этих

допущениях

уравнение

(4.52)

 

умножаем

на

и интегрируем левую часть в пределах от p(xl)

до р(Хп) та 0, а пра­

вую часть по толщине высокоомного слоя:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

"(хп)

 

 

 

 

 

.

х п

 

 

 

 

 

 

 

j

[2p + NdK]dp=

-

I

M

 

^p{x)dx

 

 

 

 

 

 

P ( * K )

 

 

 

 

 

хк

 

 

 

 

или

 

 

Qp^S3^[p2(x^)

 

 

+

Ni лр(х'к)}.

 

 

(5 . 67)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

I I

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

'к диф :

 

dQp

 

 

dQp

 

 

 

dp (хк)

 

 

 

 

 

dUK6

/ K = const

dpix'û) | / K =

const

dUK6

 

 

 

Производную

dQpldp(x'i)

находим

с помощью

равенства

(5.67),

а производную

dp(х)/аикП

из

выражения

(4.55),

поскольку

при /„ >

/ к і ,

£/к б

=

—(£/„ с

л +

Ф Й,),

U*Р-„ та ф р к

и dp (x"K)/dUK6

=

•™-dp(x'K)ldUKca,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

149