Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Микроминиатюризация элементов радиоэлектронной аппаратуры

..pdf
Скачиваний:
19
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
11.88 Mб
Скачать

УДК 621.382.34

H. С. Спиридонов

ОБЗОР МОДЕЛЕЙ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ ДЛЯ МАШИННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ

В

статье дан анализ

недостатков существующих мо­

делей

биполярных

транзисторов

и показана

необходи­

мость их совершенствования для

применения при

машин­

ном проектировании

электронных

цепей. Даны

классифи­

кация

математических

и схемных

моделей

биполярных

транзисторов и сравнительная оценка моделей

транзис­

торов.

 

 

 

 

 

ВВЕДЕНИЕ

В связи с машинным проектированием и широким внедре­ нием интегральных устройств вопрос о выборе моделей тран­ зисторов и разработке более совершенных моделей стал еще более актуальным. Старые модели транзисторов, разработан­ ные для безмашинного расчета устройств на дискретных тран­ зисторах, оказались непригодными для машинного расчета, особенно для проектирования интегральных устройств. Это объясняется следующими причинами:

/. Различными требованиями к простоте и точности моделей при ручном и машинном проектировании. Требования к точнос­ ти модели минимальны при проектировании без ЦВМ. Задача моделей при этом — обеспечить ориентировочный расчет це­ пи для построения макета устройства. Основная работа по про­ ектированию и выбору оптимального варианта устройства про­ изводится на экспериментальном макете.

Задача машинного расчета усложняется — рассчитываются многие варианты построения цепи, выбираются оптимальный вариант, оптимальные параметры цепи, аналитически исследу­ ются различные условия работы. Такие расчеты позволяют значительно уменьшить объем работы на экспериментальном макете. Однако такое проектирование невозможно при исполь­ зовании простейших моделей транзисторов, так как модель бо­ лее точно должна описывать его свойства, чем это требуется для ориентировочного расчета.

2) Уменьшением разброса параметров современных тран­ зисторов. Простейшие модели были созданы для транзисторов, имеющих большой разброс параметров. В этом случае точность расчета из-за разброса параметров транзисторов оказывается низкой. Точная модель приводила бы лишь к увеличению вре­ мени расчета.

С внедрением планарной технологии, фотолитографии и других прогрессивных приемов технологии разброс параметров

Ю

транзисторов резко уменьшился, стало возможным применение более точных моделей транзисторов, тем более что в настоящее время появились методы автоматизированного расчета тран­ зисторов и транзисторных цепей.

3)Особенностями проектирования интегральных схем. При проектировании интегральных цепей экспериментальная до­ водка устройства значительно ограничена вследствие слож­ ности, трудоемкости, высокой стоимости и большого количе­ ства времени разработки и изготовления новых вариантов уст­ ройства. Поэтому основой проектирования должен быть анали­ тический расчет устройства (включая расчет топологии инте­ грального устройства) с помощью ЦВМ, В этом случае зада­ чей модели является не только точное описание свойств тран­ зистора в заданном режиме, но и поведение прибора в самых разных условиях, выбор оптимальных режимов работы прибо­ ра, оптимальной технологии, а также учет паразитных связей между элементами в интегральном устройстве.

4)Отставанием теории транзисторов, изготовляемых по но­

вой технологии (в частности планарных, эпіпаксиальных).

Простые модели транзисторов были разработаны для транзис­ торов, имеющих сравнительно большую ширину базовой об­ ласти и низкие предельные частоты. В них не учитывались многие явления, играющие важную роль в новых типах тран­ зисторов, — влияние участка тормозящего поля в базовой об­ ласти, влияние переменной подвижности носителей на время их переноса в базе, влияние двумерности процессов переноса но­ сителей, влияние высокого уровня инжекции и др. Для полу­ чения достаточно точных моделей транзисторов необходимо учитывать все эти явления.

Всвязи с указанными причинами в настоящее время про­ водятся большие исследования по разработке и совершенство­ ванию моделей транзисторов. Для выбора правильного направ­ ления разработки моделей большое значение имеет анализ до­ стоинств и недостатков существующих моделей.

Внастоящей статье дается систематизация моделей тран­ зистора.

КЛАССИФИКАЦИЯ МОДЕЛЕЙ

Различают два основных вида моделей, используемых для анализа схем:

— математические модели, описывающие процессы в тран­ зисторе и являющиеся основой для получения аналитических соотношений, определяющих электрические свойства транзис­ тора;

— схемные модели (эквивалентные схемы), которые пред­ ставляют транзистор в виде набора пассивных элементов и уп­ равляемых генераторов.

Математическая модель. Математической моделью транзис­ тора является система уравнений, описывающих физические процессы в транзисторе. Работа транзистора заключается в пе­ редаче информации вследствие распространения сигнала с входа на выход. Процессы распространения сигнала описыва­ ются дифференциальными уравнениями в частных производ­ ных, включающих в качестве переменных время и простран­ ственные координаты. Такими уравнениями являются уравне­ ния непрерывности, уравнения р-п переходов и уравнения ней­ тральности [1, 4].

Для получения модели реального транзистора добавляют уравнения, определяющие величины внешних параметров (ем­ костей переходов и омических сопротивлений транзистора, индуктивностей выводов). Так как математическая модель тран­ зистора включает уравнения в частных производных, прямое решение которых является громоздким даже в простейших слу­ чаях, применяют приближенные методы решения, приводящие к исключению пространственной переменной. Различие между разными моделями транзистора заключается в различии при­ ближений, вводимых при исключении пространственной пере­ менной.

Классификация математических моделей транзисторов при­ ведена на рис. 1. Подробный обзор моделей транзисторов дан в работе [1].

Эквивалентные схемы транзисторов. Построить эквивалент­ ные схемы транзисторов можно на основе параметров дьух ти­ пов:

— параметров цепи, не связанных непосредственно с физи­ ческими процессами в приборе;

— параметров прибора, связанных с определенными физи­ ческими свойствами транзистора [2, 3, 4].

Эквивалентные схемы в зависимости от того, какие пара­ метры берут для их построения, могут быть разделены на три группы (рис. 2) :

эквивалентные схемы четырехполюсника;

физические эквивалентные схемы;

практические эквивалентные схемы.

Эквивалентные .схемы четырехполюсника строятся на осно­ ве параметров цепи, определяемых экспериментально из режи­ мов короткого замыкания и холостого хода. Эти схемы часто называют формальными эквивалентными схемами, так как, в

12

Уравнение S \'crcrwwж праигВоЗньм Элѵ Зь/рох и эле -

ІОещая Mcr.-neffCfmo'-tGctcasr МС&А&І

 

О #мсмерксг$г магпемя -

 

 

 

 

 

гпическаѵ

недель

 

 

 

 

 

dp .

dp

àp _ dp

 

dp

 

 

àx '

ôt

 

 

 

<?x ' â</ ' ~dt

 

 

 

 

 

/7;прямое

 

 

Переход

к

конечны.-

рсир*ёние

 

 

ровное

m с/ч

УроЁне-ния

УраВнение

ДLіфф&ре.чцороЯам -

НЫС pQJHCfC-TtMbfl?

ѵелгуь/рехпелхкѵи -

cm оц аонорі-*ыУ#

урабления

 

Р (У)

ка

Ѳл? токае

m ох:со и чарчаоВ

Модепь

с

сосредоточу

 

 

 

іуар ом.

(,1иней мл )

 

 

 

TOUHVG решение.

 

ОдмonQ/f'-ccKoe

РосппеЗ.

модель.

 

 

 

 

дла

J.

 

 

 

 

At с de

ль

Молг a

I

 

 

У£лpea-

 

 

 

 

 

peujeHu*: спя аоль -

ж

 

 

 

Иели^

модель.

 

 

 

 

 

ч

Решение

В

Приближенное

 

Suae

 

ч

 

р&шяние

ал* /малого

гиПер$&ЛиЧ«£Х01/ j

сигнале.

 

функции

 

Лимеа-ыс/я мvasль.

 

Рис. 1

13

/схемные моЗели /

Формальные

 

 

Физические

 

 

параметрами

 

/с параметрами

 

четырех полк/сника/

 

прибора

I

 

 

 

Практические

 

 

 

С

рассчитанными

С

измеренными

 

структурными

 

параметрами

 

параметрами

 

 

 

 

 

 

 

Малосигналь­

Динамичес -

 

 

кие моде -

ные

модели

кие

модели

 

 

ал я

перемен­

для

Зо/іьшо

 

 

ли

 

ного

го

сигнала

 

 

 

тока

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Т -

образ­

Э8ерса~

Иеяинеи-

 

 

ная

Мол/iö

ноя

 

 

модель

 

 

модель

 

 

 

Зарядоупрае\

Унифициро­

 

 

 

ляемая

ванные

мо­

 

 

 

модель

дели

боль­

 

 

 

 

 

шого

сог­

нала

Гибридная модель Аинеилла

РИС. 2

отличие от физические эквивалентных схем, соотношения меж­ ду токами и напряжениями в таких схемах устанавливаются

без анализа внутренних процессов в транзисторе.

Физические эквивалентные схемы составляют на основе ис­ пользования параметров прибора, отражающих физические процессы в транзисторе. Физические эквивалентные схемы по­ лучаются из математической модели транзистора. Метод полу­ чения физических эквивалентных схем связан с определенным методом анализа математической модели, поэтому различным математическим моделям соответствуют различные физические эквивалентные схемы. Физические эквивалентные схемы стро­ ятся для идеального транзистора (упрощенной физической мо­ дели транзистора) или для реального транзистора конструкции определенного типа.

Физическая эквивалентная схема, если она достаточно точ­ на и полна, включает большое число элементов. Начертание физической эквивалентной схемы зависит от конструкции и технологии изготовления транзистора. Поэтому такие эквива­ лентные схемы обычно строятся только для анализа идеализи­ рованной модели транзистора.

Практические эквивалентные схемы являются приближен­ ными; они справедливы только для ограниченного диапазона частот. Такие схемы можно получить упрощением четырехполюсных эквивалентных схем, физических эквивалентных схем или сочетанием физических и четырехполюсных эквивалентных схем.

К практическим эквивалентным схемам предъявляются тре­ бования удобства использования малого количества элементов, удобства измерения параметров и простоты аналитических за­ висимостей от режима и температуры. Эти схемы не должны иметь частотно-зависимых элементов и элементов с распреде­ ленными и отрицательными параметрами. Точность представ­ ления электрических свойств транзистора должна быть доста­ точной для практических расчетов.

Эти требования не могут быть выполнены в полной мере, так как они противоречивы, например требования простоты и точности.

В зависимости от области применения различают следую­ щие модели транзисторов:

1.Статическую модель транзистора, используемую для ре­ жима постоянного тока или медленно изменяющегося режима.

2.Малосигнальную модель — для режима, когда транзис­ тор может считаться линейным усилительным прибором. При этом используют малые отклонения от статического режима и линейные участки статических характеристик.

15

3.Динамическую модель для большого сигнала. Такая модель применяется для анализа режима быстрых переключе­ ний тока или напряжения.

4.Универсальную модель транзистора, используемую для анализа различных режимов работы транзисторов.

Параметры элементов практической эквивалентной схемы могут определяться двумя методами — рассчитываться но структурным и технологическим данным или определяться из экспериментальных данных. В зависимости от этого различают два вида моделей транзисторов — модели с параметрами, рас­ считанными по структурным данным, и модели с параметрами, определенными из экспериментальных данных.

До последнего времени основным типом модели была мо­ дель с параметрами, определяемыми из экспериментальных данных. Такая модель больше подходила для дискретных транзисторов при безмашинном проектировании электронных цепей по следующим причинам:

расчет модели по структурным и технологическим пара­ метрам транзистора не давал хорошего результата вследствие несовершенства технологии и большого разброса параметров;

использовались простые модели, измерение параметров таких моделей для дискретных транзисторов было сравнитель­ но простым.

С внедрением машинного проектирования электронных схем стало возможным применение сложных моделей. А внед­ рение современной технологии транзисторов (планарные струк­ туры, фотолитография) привело к уменьшению разброса па­ раметров и сделало возможным применение расчета моделей транзисторов по структурным и технологическим параметрам. Внедрение интегральных цепей привело к значительному ус­ ложнению экспериментального определения параметров моде­ ли транзистора.

СРАВНИТЕЛЬНАЯ ОЦЕНКА МОДЕЛЕЙ ТРАНЗИСТОРОВ

В настоящее время широко используют для машинного проектирования модели Эберса—Молла и зарядоуправляемую модель (наиболее простые модели). Следует, однако,отметить, что они не удовлетворяют требованиям к моделям для машин­ ного проектирования при большом быстродействии устройств, что объясняется приближенностью математического анализа при получении этих моделей [ 1 , 5].

В связи с этим создалось следующее положение с примене­ нием моделей: «Зарядоуправляемая модель и модель Эбер­ са—Молла не позволяют получить удовлетворительных резуль­ татов при расчете насыщенных схем даже тогда, когда тран-

16

зисторы в них работают со средней скоростью переключения. А ведь эти модели являются единственными, которые исполь­ зуются при анализе схем на ЦВМ» [5J.

В связи с этим в последнее время стали использовать более точные модели транзисторов — модель Линвилла [6] и нели­ нейную модель, полученную на основе прямого решения урав­ нения в частных производных [1J. По-видимому, это основные направления совершенствования моделей транзисторов, кото­ рые могут внести вклад в теорию и методы расчета транзисто­ ров и транзисторных цепей и дополнить друг друга. Однако следует, по нашему мнению, отдать предпочтение моделям, по­ лучаемым из прямого решения уравнений в частных производ­ ных по следующим причинам:

1)Модель Линвилла использует необычные параметры, ко­ торые нельзя измерять непосредственно. Это затрудняет прак­ тические расчеты с помощью модели.

2)Модель Линвилла позволяет получить большую точ­

ность, однако это требует больших затрат машинного времени. 3 При пользовании этой моделью труднее анализировать влияние различных эффектов на параметры цепи, так как па­ раметры модели отличаются от общепринятых и привычных

схемных элементов, используемых в нелинейной модели.

4) Имеющиеся при прямом решении уравнений математи­ ческие трудности (которые в модели Линвилла обходятся пе­ реходом к дифференциально-разностным уравнениям) могут быть преодолены применением численных методов, которые в последнее время получают широкое применение [7].

Следует, однако, указать, что разработка нелинейной моде­ ли представляет значительные трудности в смысле решения ря­ да теоретических проблем расчета транзистора по структур­ ным параметрам. К таким проблемам относится учет тормо­ зящего поля в базе, уровня инжекции, переменной подвижнос­ ти носителей и т. д. В настоящее время эти проблемы в значи­ тельной степени решены и имеется возможность разработки моделей для конкретных структур транзистора [4, 8—10]. При­ мер разработки такой модели в работе [11].

Основное достоинство нелинейной модели — ее простота для практического использования, возможность упрощения ее в тех случаях, когда не требуется большая точность.

 

 

ЛИТЕРАТУРА

1.

Анализ и расчет интегральных схем (перевод

с английского). М.,

«Мир», 1969.

 

2.

Р г 11 с h а г ci R. L. IKE. Transactions, v o l . c .

T-3, 1956, NI CT-3

1, 1956.

3.B e n z W. Electronische Rundschau J& 1, I960.

2. Зак. 205.

07

4.С п и р и д о н о в Н С . Основы теории транзисторов. К., «Техника»,

1969.

5.Машинный расчет интегральных схем (перевод с английского). AI., «Мир», 1971.

6.К а л а X а н Д. Методы машинного расчета электронных схем. AI., «Мир», 1970.

7. К р ы л о в а И. И. Численные методы расчета транзисторов. Элек­ тронная техника, серия I I . Вып. 6 (63), 1971.

8.

К а м е н е ц к и й

К). А., Ш и б а н о в А. П. Полупроводниковые при­

боры

и их применение.

Сб. статей,

Б Ы П . 25, стр. 403—433. М., «Сов. радио»,

1971.

 

 

*

9. С п и р и д о н о в Н. С. Известия вузов. Радиоэлектроника, том. XV,

1, стр. 22—28, 1972.

10. С п и р и д о н о в Н. С. Радиотехника и эл-ектроника, том. ХѴІГ,

11, 1972.

11.М а с л о в с к и й В. А. Статическая модель эпипланарного транзис­ тора с линейчатой структурой электродов, см. стр. 27 настоящего сборника.

УДК 621.382.33

Н. С. Спиридонов

РАСЧЕТ ГРАНИЧНОЙ ЧАСТОТЫ ДРЕЙФОВОГО ТРАНЗИСТОРА С УЧЕТОМ ЗАВИСИМОСТИ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ОТ КООРДИНАТЫ

В статье получены формулы для времени пролета и граничной частоты дрейфового биполярного транзистора

сучетом зависимости подвижности от координаты.

Вряде работ рассматривался вопрос о влиянии переменной подвижности носителей в базе на параметры дрейфового тран­ зистора. Обзор этих работ дается в работе [1].

Вработе [2] Каменецким Ю. А. и Шибановым А. П. впервые предложен общий метод решения нелинейного уравнения пере­ носа носителей с учетом зависимости подвижности от коорди­ наты и получены выражения для параметров транзистора при произвольном распределении носителей. Однако в этой работе параметры выражаются сложными формулами.

Внастоящей статье методом заряда получены простые формулы для времени пролета и граничной частоты дрейфо­ вого транзистора при экспоненциальном распределении при­ месей в базовой области.

При анализе примем следующие допущения. Будем рас­ сматривать одномерное приближение при малом уровне ин-

18

Жекции. Концентрацию носителей в базе у коллектора примем равной нулю (активный режим работы транзистора). Будем пренебрегать рекомбинацией носителей в базе. Примем, что распределение примесей и зависимость коэффициента диффу­ зии носителей от координаты являются экспоненциальными:

N

N3e

£х

D(x)

 

 

DKe-

-X)

(1)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

X •

расстояние от эмиттера;

 

 

 

 

DK

концентрация примесей у эмиттера;

 

.коэффициент диффузии у коллектора;

 

' е-

факторы поля и изменения

подвижности;

 

W •

ширина

базы.

 

 

 

 

 

 

 

Уравнение распределения носителей при принятых допуще­

ниях может быть записано в виде [1]:

 

 

 

 

 

 

дх

аЕр

4-

 

Jp

 

 

(2)

 

 

qD,

(X)

 

 

 

 

 

 

 

Решение этого уравнения при граничном условии р~-0

при

x = w имеет вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а.%. dx

 

 

 

I

°:Edx

 

 

р

=

е°

 

qDp

(X)

 

е°

 

dx

(3)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

После подстановки (1) в уравнение (3) и интегрирования получим уравнение распределения неосновных носителей в ба­ зовой области

 

 

 

 

 

 

 

(4)

При х = 0

 

 

 

 

 

 

 

Р

qD„

 

е 1'- —

 

 

(5)

 

 

аЕ)

рэ

при

а —О,

Эта концентрация

больше, чем концентрация

 

(я +

 

ра

 

 

когда подвижность

 

постоянна.

Увеличение

при

а,х>0

объясняется уменьшением тока при уменьшении Dp

и необхо­

димостью увеличения градиента р для поддержания постоян­ ства плотности тока Jp.

В случае постоянного коэффициента диффузии aix 0 фор­ мула (4) приводится к ранее полученной формуле распределе­ ния неосновных носителей в базе дрейфового транзистора [1].

19

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ