Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Агаханян Т.М. Основы транзисторной электроники

.pdf
Скачиваний:
28
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
11.39 Mб
Скачать

Т. М. АГАХАНЯН

ОСНОВЫ

ТРАНЗИСТОРНОЙ

ЭЛЕКТРОНИКИ

«ЭНЕРГИЯ»

МОСКВА 1974

6ФО.З А 23

УДК.621.382.3

\Го - . п> о '

Агахаиян Т. М.

А 23 Основы транзисторной электроники. М., «Энер­ гия», 1974

256 с. с пл.

Дастся описание электронных процессов в полупроводниковых кристаллах. Исследуются импульсные п статические характери­ стики электропио-дырочного перехода с учетом ВЛИЯНИЯ токов ге­ нерации н рекомбинации в переходном слое, канальных токов и токов утечки. Рассматриваются принцип действия, статические, высокочастотпые, импульсные характеристики и физические пара­ метры биполярных и униполярных транзисторов, приводятся их эквивалентные схемы, учитывающие специфику расчета различных электронных устройств.

Кппга предназначена для аспирантов и студентов, специали­ зирующихся по радиоэлектронике, автоматике, вычислительной тех­ нике. Она будет представлять интерес и для инженеров, вавимающнхся разработкой, производством и эксплуатацией радиоэлектрон­ ной аппаратуры.

051(01)-74 220-73

СФО.З

3 3 1 2 - 0 1 7

 

© Издательство «Энергия», 1974 г.

П Р Е Д И С Л О В И Е

Предлагаемая вниманию читателейкнига посвящена описанию физических" процессов, принципов работы, параметров и характеристик биполярных и униполярных транзисторов, кото­ рые в настоящее время нашли наиболее широкое применение в радиоэлектронике.

• По теории транзисторов накоплен обширный материал, выполнено большое число научных исследований, основные результаты которых опубликованы в периодической литературе и частично систематизированы и освещены в моно­ графиях и учебниках. Однако большинство опубликованных монографий и учебных пособий по полупроводниковой электронике написано авторами, являющимися специалистами по физи­ ческой электронике. Эти книги служат доста­ точно полным пособием для студентов и инже­ неров, занимающихся разработкой полупровод­ никовых приборов, но они не могут удовлетво­ рить запросы тех специалистов, которые зани­ маются разработкой и эксплуатацией электрон­ ных устройств на полупроводниковых приборах. Поэтому не отпала необходимость в написании книги, которая содержала бы:

во-первых, детальное пояснение физической сути процессов и принципов действия полупро­ водниковых приборов при преобразовании и усилении электрических сигналов с учетом особенностей их работы в электронных схе­ мах;

во-вторых, определение физических парамет­ ров транзисторов, основанное на связи этих параметров с электрофизическими параметрами полупроводникового кристалла, конфигурацией и геометрическими размерами его рабочих облас­ тей;

1*

3

В-третьих, эквивалентные схемы, состав­ ленные на основании анализа электронных процессов в транзисторных структурах и позво­ ляющие дать количественную оценку работы электронной схемы как в стационарном, так и в импульсном режимах.

Именно с таким намерением задумана данная книга. Она написана па основе циклов лекций, прочитанных автором студентам Московского инженерно-физического института и инженерам на курсах усовершенствования.

При написании книги использован обширный

материал из монографий, книг и опубликован­

ных статей, основные

из которых перечислены

в списке литературы. В книге нашли отражение

также результаты

научно-исследовательских

работ по теории транзисторов, выполненных па кафедре электроники Московского ппжепер- но-фпзического института. Весь этот материал спстематизпроваи и обработан с таким расчетом, чтобы книга оказалась полезной для широкого круга читателей. По просьбе автора § 6-6; 6-7; 6-10 написаны к.т.н. В. Я. Стениным.

Считаю приятным долгом выразить свою признательность рецензенту доктору фпз.-мат. паук В. А. Кузьмину, доцентам Ю. В. Вино­ градову и И. Г. Морозовой за обсуждение некоторых разделов книги н высказанные кри­ тические замечания, а также сотрудникам кафедры электроники МИФИ за ту большую помощь, которая была оказана мне при под­ готовке рукописи.

Т. Агаханян

Глава первая

П О Л У П Р О В О Д Н И К И

ИИ Х Э Л Е К Т Р О Ф И З И Ч Е С К И Е С В О Й С Т В А

Полупроводниковые приборы представляют собой устройства, в которых используются эффекты, обусловленные переносом заря­

да в твердом теле, для преобразования, усиления и генерирования

электрических сигналов. Если параметры электронных ламп, рабочей средой для которых является вакуум, в основном опре­ деляются геометрическими размерами, то параметры полупровод­ никовых приборов существенно зависят также и от свойств полу­ проводника, из которого изготовлен прибор. Механизм образования направленного потока носителей заряда (электрического тока) в полупроводниковом кристалле гораздо сложнее, чем в вакууме. Поэтому для четкого представления и понимания процессов, происходящих в полупроводниковых устройствах, необходимо прежде всего остановиться иа электрофизических свойствах полупроводниковых кристаллов.

В настоящей главе кратко рассматриваются особенности полу­ проводниковых кристаллов и механизмы переноса в них электри­ ческих зарядов.

1-1. ПРОВОДНИКИ, ПОЛУПРОВОДНИКИ И ДИЭЛЕКТРИКИ

До конца 40-х годов в электронике и электротехнике исполь­ зовались в основном два вида материалов: проводники и диэлект­ рики. Первые из них представляют собой материалы с удельным сопротивлением р = 10~°—10~5 ом-см. Это главным образом металлы с хорошей проводимостью. Ко второй группе относятся

диэлектрики с удельным сопротивлением

р =

1010—1015

ом-см.

Обширный

класс материалов с удельным

сопротивлением

р =

= 10~5—1010

ом-см,

представляющих

собой

полупроводники,

почти не использовался техникой и в связи с

этим практически

не изучался

физикой

[Л. 1, 2]. В настоящее время область техни­

ческого применения

полупроводников

весьма

обширна [Л. 3].

Ь

Р и с . 1-1. Структура алмаза.

Нас же будет интересовать только та область их применения, которая связана с транзисторной электропикой.

Классификация электротехнических материалов по их удель­ ным сопротивлениям, разумеется, условна. Более четкое разделе­ ние материалов на группы следует проводить по их характерным особенностям. Например, полупроводники отличаются от провод­ ников не только большей величиной удельного сопротивления, но и иной его зависимостью от температуры. Сопротивление провод­ ников (металлов) с понижением температуры уменьшается и с при­ ближением к абсолютному нулю достигает весьма малых значений, а проводимость стремится к весьма большим значениям или даже переходит в сверхпроводимость. В полупроводниках с пониже­ нием температуры сопротивление обычно увеличивается, а вблизи нуля они становятся диэлектриками.

1-2. СТРУКТУРА ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛОВ

В качестве основного полупроводникового материала в современной транзисторной электронике применяются кремний (Si) н германий (Ge). Описание основных свойств этпх элементов дано в мопографпп Р. Смита [Л. 4].

Кремнии — элемент IV группы с

порядковым

номером

г = 14.

В природе встречается в виде двуокпеп

кремния

Si0 2

как

составная

часть

песка,

кварца

и

т. д.

 

Германий — элемент с поряд­

ковым

помером

 

z =

 

32,

 

также

принадлежащий к IV группе, —

был предсказан Д. И.

Менделее­

вым до того, как был

обнаружен

в

природе.

 

 

 

 

 

 

 

 

Современные

технологичес­

кие методы

получения

монокрис­

таллов германия и кремния весьма

сложпы

[Л. 5—7],

и

их

изучение

выходит за рамки данной книги.

 

Рассмотрим особенности

элек­

тронной

структуры

полупровод­

никовых кристаллов

па

примере

кремния и

германия.

 

 

 

 

Атомы кремния и германия содержат соответственно 14 п 32 электрона, лишь четыре из кото­ рых участвуют в химических реакциях и электропроводности.

Остальные электроны тесно связаны с ядрами, образуя стабильный атом­ ный остаток с результирующим зарядом 4е. Атомный остаток не участвует в электронных процессах и в дальнейшем нас будет интересовать как источ­ ник положительного заряда. Электронные же процессы характеризуются четырьмя валентными электронами, расположенными на внешней оболочке атома.

В кристаллах атомы кремния и германия образуют такую же структуру, что и атомы углерода в кристалле алмаза, т. е. каждый атом соединяется четырьмя валентными связями с расположенными в вершинах тетраэдра сосед­ ними атомами (рис. 1-1). При этом атомы оказываются связанными между собой ковалентнъшп связями (парноэлектронными связями), образуемыми двумя валентными электронами, каждый из которых принадлежит одному

а)

б)

Рис. 1-2. Копалентиая связь в молекуле водорода.

а — дпп изолированных атома водорода; б — молекула водорода (точками

условно обозначена плотность заряда электрона).

из соседних атомов. Примером простейшей ковалентной связи является связь в молекуле водорода (рпс. 1-2). При образовании молекулы атомы сближаются

настолько,

 

что

между

электронами

 

 

 

 

возникает

взаимодействие,

 

вследствие

 

 

 

 

чего

соетоншю

электронного

 

облака

 

 

 

 

изменяется. В

результате

этого

между

 

 

 

 

двумя

 

ядрами — протонами

возникает

 

 

 

 

как

бы

добавочный

отрицательный

 

 

 

 

заряд, который и связывает их вместе

 

 

 

 

[Л. 1].

Эта

связь

особенно

устойчива

 

 

 

 

в том

случае,

 

когда

в пей

участвуют

 

 

 

 

два электрона. Такие устойчивые связи

 

 

 

 

образуются

 

в

кристаллах

и

кремппя

 

 

 

 

и германия. При рассмотрении электро­

 

 

 

 

физических

 

свойств

этих

 

кристаллов

 

 

 

 

для упрощения рисунков будем условно

 

 

 

 

изображать

 

их структуру не в трех

 

 

 

 

измерениях, а в двух, как это пред-

 

 

 

 

ставлепо на рис. 1-3.

В

центре

этого

 

 

 

 

рисунка показан атомный остаток Ge,

 

 

 

 

который связан с четырьмя окружаю­

Рис. 1-3. Электронная

структура

щими

 

его

соседними

атомами

силами

ковалентной

связп.

Валентные

 

элект­

германия.

мпнус

в центре).

роны

 

условно

 

представлены

кружочками

(со знаком

Подобным

же

образом можно

представить

и кристалл

кремния.

1-3. ЭЛЕКТРОНЫ И ДЫРКИ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛАХ.' ЭЛЕКТРОННАЯ И ДЫРОЧНАЯ ПРОВОДИМОСТЬ

Рассмотрим электрофизические свойства полупроводниковых кристаллов.

Как известно, электрическая проводимость обусловлена пере­ носом заряда валентными электронами. В металле валентные электроны образуют нечто подобное газу из свободных электронов, создающему однородное облако отрицательного заряда, в котором «плавают» положительные ионы металла [Л. 1]. В полупровод­ никах же каждый электрон прочно связан с кристаллической ре­ шеткой и до тех пор, пока он связан, не может принимать участие в переносе заряда, т. е. в процессе электрической проводимости.

7

=

Если нарушить идеальную структуру валентных связей (напри­ мер, передать электронам тепловую энергию, достаточную для разрыва ковалентнон связи), то появятся электроны проводимости, которые могут перемещаться в кристалле и участвовать в процессе электропроводности. Иначе говоря, можно перевести электрон из валентной зоны в зону проводимости. В отличие от проводников (у которых валеитпая зона перекрывается зоной проводимости) в полупроводниках валентная зона отделена от зоны проводимости (рис. 1-4). Поэтому для перевода электрона в зону проводимости

^Зона, проводимости.

М\ ч ц

О) £г

I —("1

n

требуется некоторая энергия, опре­

деляемая шириной запрещенной зоны A'Sg.

При комнатной температуре в по­ лупроводниковых кристаллах имеет­ ся заметное число электронов, спо­ собных преодолеть запрещепную зо­ ну, тогда как в диэлектриках такие электроны практически отсутствуют (именно в этом заключается основ­ ное отличие полупроводников от ди­ электриков [Л. 21).

 

 

 

 

 

 

Переход

в

зопу

проводимости не мо­

 

Валентная

зона.

 

жет, однако, происходить путем постепен­

 

 

ного

накоплении

и

нарастания

энергии.

Рпс. 1-4. Энергетические зоны

Для перевода электрона в зону проводимо­

сти

необходим

источник,

который мог бы

в

кристалле

полупроводника

сразу передать энергию,

равную

или пре­

с

собствоиной

электропровод­

вышающую ширину запрещенной зоны Де^.

ностью.

 

 

 

 

 

 

Источником

такой

энергии является,

на­

окружающей

средой.

 

пример,

тепло,

передаваемое

кристаллу

Причем переход электронов в зопу проводимости

воз­

можен н в том случае,

когда средняя энергия кристалла во много

раз мень­

ше &%s. Так,

например, при комнатной температуре средняя тсиловая энер­

гия составляет

всего

0,026 эв, тогда

как

Д е ^ =

0,67

эв

для Ge

и bMs

=

=

1,12 эв для Si. Однако при этом число электронов

проводимости

в каждом

кубическом сантиметре достигает 2,37 -101 3

у германия ц 1,38-Ю1 0 у кремния.

Вероятность того, что при средней энергии порядка кТ появится флукту­ ация, способная сообщить электрону энергию &$g, очевидно, тем меньше, чем

больше Д ^ п о сравнению со средней энергией /^(поэтому число электро­ нов проводимости у германия значительно больше, чем у кремния).

Как известно [Л. 1], вероятность того, что при средней тепловой энер­ гии порядка кТ уровень с энергией Ш может быть занят электроном, опре­

деляется функцией распределения Ферми—Дирака

/ ( £ ) = — « Л — . ехр - кТ

В этой формуле eF — уровень Ферми, который в равновесном состоянии совпадает с химическим потенциалом кристалла [Л. 2]; к = 1,38 • 10~23 дж/°К— постоянная Больцмапа; Т — абсолютная температура.

Если

(1-1)

а

то с достаточной для практики точностью функцию распределения Ферми Дирака можно определить по приближенной формуле

/ ( £ ) ~ е х р '

- ~ Ш р

(1-2)

 

кТ

 

Это приближение совпадает с функцией, определяющей распределение электронов по классической статистике Максвелла—Больцмана.

Условие (1-1) не выполняется для вырожденных полупроводников, у ко­ торых концентрация свободных электропов достигает значительной величины. На практике главным образом применяются невырожденные полупроводники, поэтому в дальнейших выводах используется приближенная функция распре­ деления (1-2).

Можно показать [Л. 1], что в соответствии со статистикой Максвелла—Больцмана концентрация электронов в зоне проводи­ мости определяется соотношением

П = ; у с е х р ( - ? Ц ^ ) ,

(1-3)

где Шс энергия электрона на дне зоны проводимости (см. рис. 1-4),

т. е. наименьшая энергия электрона в зоне проводимости; Nc = 4,82-1015 T'lt, см~3 — эффективная плотность состояний в зоне

проводимости.

При удалении электронов из валентной зоны в ней образуются незанятые энергетические состояния, которые условились назы­ вать дырками. В электронной теории полупроводников дырки в валентной зоне играют такую же роль, что и электроны в зоне проводимости. Поэтому для количественной оценки проводимости требуется знать не только концентрацию электронов проводи­ мости, но и концентрацию дырок проводимости, которая в соответ­ ствии со статистикой Максвелла — Больцмана определяется фор­ мулой

p = iV„exp

кТ

(1-4)

 

 

где %v — энергия электрона на верхней границе валентной зоны; Nv — эффективная плотность состояний в валентной зоне.

Итак, под действием тепла, света и других видов энергии про­ исходит переход электронов из валентной зоны в зону проводи­ мости. При этом образуются электроны и дырки проводимости, концентрации которых определяются соотношениями (1-3) и (1-4). Процесс образования пары электрон — дырка называется гене­

рацией пары.

После разрыва валентных связей и перехода в зону проводи­ мости электрон под действием тепловой энергии совершает хаоти­ ческое движение до тех пор, пока захватывается дыркой, переходя

из зоны проводимости в валентную зону. Этот процесс исчезновения электрона и дырки называется рекомбинацией. Она характеризуется диффузионной длиной для электронов L n , представляющей собой

среднее расстояние, которое проходит электрон с момента перехода

9

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ