- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
Невозможно количественно определить или установить пропорциональные соотношения между факторами, перечисленными в предыдущем разделе, без детального изложения требований диагностического обеспечения. Ясно, однако, что общие затраты, связанные с диагностическим обеспечением изделия на этапе жизненного цикла, считаются в настоящее время, как правило, чрезмерно большими и, вероятно, будут оставаться такими для многих сфер электронной промышленности от производства микросхем до производства законченной системы. В результате были приложены значительные усилия, направленные на сокращение отдельных видов затрат. Это обусловило развитие методов проектирования тестопригодных устройств и появление надежных и жизнеспособных методов проектирования. Перед обсуждением этих методов необходимо определить понятие «тестопригодносгь».
1.4.1. ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕСТОПРИГОДНОСТИ
Как обсуждалось в подразделе 1.3.4, обеспечение тестопригодности связано с некоторыми затратами. Неформально тестопригодность определяется следующим образом:
схема является тестопригодной, если процедуры генерации множества тестовых наборов, оценки их эффективности и реализации тестового диагностирования могут быть выполнены при условии соблюдения в установленных пределах финансовых затрат. затрат времени и значений показателей, характеризующих приспособленность схемы к обнаружению неисправностей, поиску места неисправностей и реализации тестового диагностирования.
Ключевым моментом этого определения является необходимость выполнения определенных технических требований в пределах допустимых финансовых затрат. Если реальная стоимость тестового диагностирования больше установленной, то в соответствии с приведенным определением изделие первоначально было спроектировано нетестопригодным. Сделать изделие тестопригодным можно либо путем увеличения допустимых затрат, либо путем сокращения стоимости одного или нескольких главных факторов, определяющих стоимость программного тестирования. Если прият второй подход, то любая процедура, обеспечивающая уменьшение затрат на тестовое диагностирование, может рассматриваться как процедура тестопригодного проектирования.
1.4.2. МЕТОДЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ ТЕСТОПРИГОДНЫХ СХЕМ
Далее рассмотрим три основных подхода к сокращению затрат на тестовое диагностирование путем проектирования тестопригодных логических схем. Подходы можно классифицировать следующим образом:
а) численная оценка характеристик управляемости и наблюдаемости схемы, позволяющая оценить меру тестопригодности схемы, которая может использоваться на этапе проектирования устройств;
6} методы структурного проектирования тестопригодных схем и в некоторых случаях самотестируемых схем, основанные на использовании свойств сканируемого пути, обеспечивающего простоту доступа к внутренним точкам схемы, а также эффективные методы генерации тестов для схем, реализующих методы сканирования;
в) разработка перечня практических руководящих указаний, обеспечивающих сокращение затрат на процедуры генерации тестов и реализации тестового диагностирования.
1.4.3. ПРЕИМУЩЕСТВА И ОБЯЗАТЕЛЬНЫЕ УСЛОВИЯ
Преимущества использования тестопригодного проектирования можно обобщить и представить одной фразой — сокращение времени полного цикла проектирования и стоимости тестового диагностирования без снижения качества изделия. Кроме того, отдельные этапы процесса тестового диагностирования становятся контролируемыми, а разработчики осведомленными в методах тестового диагностирования. Только таким путем можно действительно объединить процессы проектирования и тестового диагностирования. Однако методология тестопригодного проектирования окажет положительное воздействие только в том случае, если сами разработчики, а также руководители тех, кто проектирует, производит и проверяет, будут твердо следовать этому курсу. Неспособность признать необходимость принятия подобного обязательства неизбежно приведет к несостоятельности технической политики, вследствие чего будут увеличиваться затраты на производство и эксплуатацию с соответствующим снижением размеров прибылей, надежности и качества изделия.