- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
Старческое сжатие тестовых наборов — способ уменьшения общего числа тестов совмещением отдельных тестовых наборов после их генерации. Другой подход, используемый только в процедуре PODEM, заключается в попытке максимизировать приращение уровня покрытия неисправностей в процессе генерации каждого теста. Этот метод, названный динамическим сжатием тестов, представлен в общих чертах на рис. 4.15.
Как только в процедуре PODEM завершается генерация тестового набора, подсчитывается число первичных входов, остающихся недоопределенными. Если это число составляет приемлемую часть (в процентах) от общего числа первичных входов (в качестве приемлемого предполагается 15% и выше), производится поиск каких-либо непокрытых неисправностей, которые могли бы обнаруживаться в результате доопределения этих неопределенных первичных входов на рассматриваемом тестовом наборе. Поиск основан на нахождении Х-значного узла, представляющего непокрытую неисправность, который расположен на Х-пути к первичному выходу с неопределенным логическим состоянием. Если поиск успешен, то устанавливается исходный целевой узел, в котором создаются условия проявления этой новой вторичной неисправности, и процедурой PODEM. осуществляется попыгка дальнейшего доопределения, обеспечивающего генерацию теста для обнаружения этой неисправности.
Рис. 4.15. Динамическое сжатие тестов в процедуре PODEM
Эта попытка может быть успешной или неуспешной, так как логические значения некоторых первичных входов и внутренних узлов были уже определены в предыдущем цикле программы PODEM. Если попытка успешна, то осуществляется возврат к условию, проверяющему число оставшихся недоопределенных первичных входов. Если попытка неуспешна, то возможно несколько вариантов решения. Первый — возврат к выбору вторичной неисправности и анализ возможности существования другой вторичной неисправности. Второй — отказ от попытки и выход из подпрограммы после произвольного доопределения первичных входов с неопределенными состояниями. Один из способов выбора решения связан с наблюдением за временем, расходуемым на построение вторичной неисправности, и сравнение его с временными затратами на основную часть теста (для исходной неисправности). Когда длительность вторичного цикла превышает, скажем, 50% времени основного цикла, то принимается отказ от попытки выполнения вторичного цикла.
Достоинство динамического сжатия тестового набора заключается в том, что на каждом тесте максимизируется число покрываемых неисправностей. В связи с этим обеспечивается сокращение времени генерации тестов и моделирования неисправностей. К недостатку метода относится потенциальная возможность осуществления бесполезных вычислений в цикле доопределения тестов, покрывающих вторичные неисправности. Компромиссным решением могли бы быть использование только одной вторичной неисправности и отказ от дальнейшего поиска теста в случае возникновения противоречия в процессе доопределения.