- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
В сущности, процедура обратного прохода чрезвычайно проста. Процесс транспортировки логических состояний целевых узлов реализуется программно достаточно легко и для комбинационных схем должен всегда завершаться доопределением состояния первичного входа. В следующем примере, по-прежнему основанному на схеме рис. 4.6, иллюстрируется последовательность выполнения D-прохода для узла с ветвлениями и выбором нескольких путей D-pacпространения. Некоторые детали процедуры обратного прохода теперь опускаются и используется краткая описательная форма транспортировки состояний целевого узла.
НАЧАЛЬНАЯ УСТАНОВКА всех узлов схемы в неопределенное логическое
состояние X
ВЫБРАТЬ НЕИСПРАВНОСТЬ: G 4.12 н-к-0
ИСХОДНЫЙ ЦЕЛЕВОЙ УЗЕЛ:
OB (G 4.12 = D)
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
OB (G 4.12 = D) : выбираем произвольно G 4.2 (= В*) = 0
0В (В* = 0)
ОПРЕДЕЛИТЬ ПВх (В*) = 0 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ В* = 0
G 4.12 = D
ВОПРОС: Обеспечивается ли состояние D в целевом узле?
ДА
ВОПРОС: Распространяется ли значение D на первичный выход
НЕТ
Определить кратчайший Х-пугь к первичному выходу. Кратчайшим является путь к
выходу NCN1
Произвольно выбираем один из двух кратчайших путей равной длины через G 10 и G 11
Используем D-проход для установления следующего целевого узла:
OB (G 10.3 = D)
ПРОДОЛЖАТЬ D-ПРОХОД
OB (G 10.3 = D)
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
OB (G 10.3 = D): — G 10.1 (= CN) = 1
OB (CN) = 1
МОДЕЛИРОВАТЬ:
CN = 1
G 10.3 = D
ВОПРОС: Обеспечивается ли состояние D в целевом узле?
ДА
ВОПРОС: Распространяется ли значение D на первичный выход?
НЕТ
Определить кратчайший Х-путь к первичному выходу. (По-прежнему NCN1).
Использовать D-проход для следующего целевого узла:
OB (G 12.12 =D)
ПРОДОЛЖАГЬ D-ПРОХОД
OB (G 12.12 =D)
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
OB (G 12.12 =D): — G 12.13 (= G 11.3) = 0
OB (G 11.3 = 0): — G 11.2 (= G 3.12) = 0
OB (G 3.12 = 0): —
:
:
ОВ (А1 = 0) ПВх-определение
:
ОВ (А* = 1) ПВх-определение
:
ОВ (АС = 1) ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ:
А1 = 0
А*=1
АС=1
G 1.3 = 1
G 3.12 = 0
G 5.3 = 0
G 8.12 = 0
G 9.3 = 0
G 11.3 = 0
G 12.12 =D
NCN1 =D ПВх-определение
G 6.3 = 0 (Сходящееся ветвление D-кубов: D D = 0)
G 7.3 =D
G 13.6 = D
NSUM = D ПВх-определение
G 14.2 =D
SUM =D ПВх-определение
Последовательность вопросов определяет завершение процедуры и получение следующего теста:
А1 |
А2 |
А* |
АС |
С |
В1 |
B2 |
В* |
ВС |
NSUM |
SUM |
NCN1 |
0 |
Х |
1 |
1 |
1 |
Х |
Х |
0 |
0 |
1(D) |
0(D) |
0(D) |
Относительно данного примера приведем следующие замечания.
а) подпрограмма нахождения Х-путей осуществляет поиск кратчайшею пути от D-границы к любому первичному выходу; если имеется несколько кратчайших путей равной длины, то выбирается произвольно любой из них;
б) отметим пример сходящегося ветвления инверсных D-кубов неисправности на блоке G 6.