Содержание

1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:

Необходимость проектирования тестопригодных схем………………………..4

1.1 Введение……………………………………………………………………….4

1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:

Цепи и терминология……………………………………………………………..4

2. Процедуры и проблемы программного тестирования……………………...5

3. Необходимость проектированмя тестопригодных схем…………………...8

1. Анализ тестопригодности: система CAMELOT…………………………….………………………………………..9

2.1 Количественная оценка тестопригодности………………………………….9

1. Принципы вычисления управляемости…………………………………….10

2. Принципы вычисления наблюдаемости……………………………………14

3. Принципы вычисления тестопригодности…………………………………18

4. Приминение системы CAMELOT на практике……………………………19

5. О других системах анализа тестопригодности…………………………….29

6. Заключительные замечания о методах анализа тестопригодности………33

1. Методы структурного проектирования и самотестирования……………..34

   1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь………………………35

   2. Сканирование с произвольным доступом………………………………….38

   3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала……40

   4. Недостатки и достоинства методов сканирования………………………..47

   5. Методы самотестирования: BILBO………………………………………...49

   6. Заключительные замечания о методах сканирования…………………….65

2. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования…………………………………………………………...…….65

   1. Алгоритм PODEM, условные обозначения, понятия и принципы……….66

   2. Процедура PODEM………………………………………………………….71

   3. Процедура RAPS…………………………………………………………….82

   4. Методика выполнения прцедуры RAPS и PODEM……………………….86

   5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей…..92

   6. Заключительные замечания о процедурах PODEM и RAPS……………...94

3. Практические рекомендации по проектированию

тестопригодных схем……………………………………………………………94

1. Средства поддержки процедуры генерации тестов……………………….94

Список литературы……………………………………………………………..120

123