- •2.1. Теория
- •Постоянная составляющая
- •Постоянный наклон
- •Неидеальность сканера, вычитание поверхности второго порядка
- •Шумы аппаратуры
- •Горизонтальные полосы на изображении
- •Линейные фильтры
- •Сглаживание
- •Градиентные фильтры
- •Фильтры резкости (Контрастирующие фильтры)
- •Нелинейные фильтры
- •2.1.4. Количественный анализ СЗМ изображений
- •Построение гистограммы изображения
- •Определение параметров шероховатости поверхности
- •Построение Фурье-спектра изображения
- •2.2. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Задание 1. Планаризация изображения
- •Задание 2. Применение фильтров
- •Задание 3. Преобразование Фурье
- •Задание 4. Фурье-фильтрация
- •2.3. Контрольные вопросы
- •2.4. Литература
- •5. Изготовление зондов для СЗМ методом электрохимического травления
- •5.1. Теория
- •Зонды для туннельных микроскопов
- •Изготовление зондов методом электрохимического травления
- •Изготовление зондов методом перерезывания проволоки
- •Искажения, связанные с формой зонда
- •Устройство заточки зондов для СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II
- •Определение остроты зонда
- •5.2. Задание
- •5.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Изготовление заготовки зонда
- •Подготовка к заточке
- •Заточка зонда
- •1-й способ (одноступенчатая заточка)
- •2-й способ (многоступенчатая заточка)
- •Подготовка к измерениям
- •Определение формы резонансного пика
- •Анализ результатов
- •5.4. Контрольные вопросы
- •5.5. Литература
- •6. Исследование поверхности твердых тел методами сканирующей туннельной микроскопии
- •6.1. Теория
- •Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа
- •Факторы, влияющие на качество изображения в СТМ
- •Конструкция датчика туннельного тока СЗМ Наноэдюкатор II
- •6.2. Задание
- •6.3. Порядок выполнения работы
- •Подготовка прибора к работе
- •Определение максимального измеряемого тока
- •Определение величины минимального измеряемого тока
- •Получение рельефа поверхности методом постоянного туннельного тока
- •Подготовка к сканированию
- •6.4. Контрольные вопросы
- •6.5. Литература
- •7. Зондовая литография
- •7.1. Теория
- •7.1.1. Физические основы зондовой литографии
- •7.1.2. Виды зондовой литографии
- •7.1.2.1. СТМ литография
- •7.1.2.3. Силовая литография
- •7.2. Задание
- •7.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Подготовка к работе
- •Предварительное сканирование
- •Подбор параметров литографии
- •Векторная силовая литография
- •Растровая силовая литография
- •Завершение работы
- •7.4. Контрольные вопросы
- •7.5. Литература
- •8. Калибровка сканеров
- •8.1. Теория
- •Устройство и принцип работы сканера на основе пьезотрубок
- •Сканирование
- •Сканеры с емкостными датчиками положения
- •Обратная связь по осям X и Y
- •8.2. Задание
- •8.3. Проведение лабораторной работы
- •Подготовка образца
- •Подстройка датчиков положения
- •Калибровка сканера
- •Сканирование калибровочной решетки
- •Проверка калибровок
- •Изменение калибровочных параметров
- •Проверка калибровок
- •8.4. Контрольные вопросы
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II. Учебное пособие
Для корректировки этого вида искажений в калибровочных параметрах сканера следует учитывать толщину образца.
Рис. 8-6. Увеличение размера изображения при увеличении толщины образца
Сканеры с емкостными датчиками положения
Из-за нелинейных свойств пьезокерамики связь управляющего напряжения с
положением сканера по данной оси неоднозначна, что приводит к существенным искажениям получаемого изображения.
Серьезно улучшить ситуацию позволяет использование датчиков положения сканера. Точность измерений во многих важных случаях улучшается на порядок. Заметно уменьшаются нелинейность перемещений сканера и дрейфы взаимного
положения зонда и образца. Становится возможным проведение таких тонких операций, как векторная литография и наноманипуляции. Рельеф поверхности
образца отображается без заметных искажений по оси Z.* Возможность точно
задавать перемещения сканера не только по осям X, Y, но и по оси Z, позволяет существенно улучшить результаты измерений в двухпроходных методиках и при
проведении спектроскопических измерений. Такие датчики используются в СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II.
Одна из обкладок плоского конденсатора датчика закреплена на подвижной части сканера, вторая обкладка неподвижна. При перемещениях сканера меняется зазор между обкладками конденсатора, при этом на выходе подключенной к
конденсатору электронной схемы генерируется напряжение, величина которого есть линейная функция от 1/C (С – емкость конденсатора). Таким образом, если пренебречь краевыми эффектами и непараллельностью обкладок конденсатора,
выходное напряжение можно полагать пропорциональным величине зазора. В зависимости от диапазона перемещения, который необходимо измерять, зазор между обкладками датчика составляет обычно от 20 до 100 мкм.
* Однако, при сканировании больших участков поверхности может наблюдаться некоторая неплоскостность полученного изображения.
8-6
Лабораторная работа № 8
В программе управления прибором сигнал датчика измеряется в вольтах. Фактически, значение сигнала в программе – это реальное значение сигнала датчика на входе АЦП контроллера.
Изменение положения подвижной обкладки датчика не обязательно совпадает с перемещением зонда относительно образца, а лишь пропорционально этому
перемещению. Например, для сканеров на основе пьезотрубок, X- и Y- датчики расположены на другом расстоянии от центра вращения XY-трубки, нежели зонд или образец.
Граничные значения интервала изменения выходного сигнала датчика составляют приблизительно от –10 до +10 вольт. Соответственно, интервал
изменения зазора между обкладками, при котором выход датчика линейно зависит от 1/C, также ограничен. В схеме измерения сигнала датчика имеются звенья, с помощью которых можно настраивать границы изменения выходного сигнала при
данных границах изменения зазора. Регулируются эти “подстроечные” звенья в программе управления прибором (параметры Scale, Bias, см. Рис. 8-7 ниже).
По любой из осей сканеров данного типа имеется заметный разброс величины зазора датчика. Диапазон перемещения меняется от сканера к сканеру. К тому же и зазор датчика, и диапазон перемещения меняются в процессе использования сканера.
Поэтому значения подстроечных параметров Scale и Bias индивидуальны для каждого сканера.
X-, Y- датчики обычно используются в цепи обратной связи, которая позволяет задавать положение сканера. Сигнал Z-датчика используется при измерении рельефа и при работе с использованием методов, требующих контролируемого перемещения
сканера по Z (спектроскопии, двухпроходные методы и т.д.).
Следует отметить, что использование датчиков перемещений сканера может несколько ухудшить разрешающую способность прибора. Обычно ухудшается
разрешение по осям X и Y. Датчик обладает собственным электронным шумом, который по цепи обратной связи передается на высоковольтный усилитель, что
приводит к большему (по сравнению с использованием аналогичного сканера без датчиков) “дрожанию” сканера по соответствующей оси. Z-датчик, как правило, шумит меньше, т.к. обычно диапазон сканера по Z в несколько раз меньше
диапазона по X, Y, что позволяет уменьшить зазор между обкладками датчика (зависимость уровня шума от величины зазора при постоянной площади обкладок примерно квадратичная).
Обратная связь по осям X и Y
На Рис. 8-7 изображена принципиальная схема работы сканера с замкнутой обратной связью по сигналу X- или Y-датчика. Сигнал с датчика сравнивается с
задаваемым программно значением и, при наличии рассогласования, разностный сигнал усиливается и подается на соответствующую секцию сканера, вызывая перемещение, компенсирующее это рассогласование.
В программе управления прибором есть несколько параметров, с помощью которых осуществляется индивидуальная для каждого сканера настройка работы
обратной связи. Это параметры, управляющие сигналом датчиков в программе, – “Scale”, “Bias”, “Band” на Рис. 8-7, а также “Gain” – коэффициент усиления обратной связи по датчикам положения X, Y (Closed Loop).
8-7
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II. Учебное пособие
Текущее |
Реальное |
положение |
по оси Х, |
|
|
|
∫ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
положение |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
заданное в |
|
|
|
|
HV |
|
|
|
Сканер |
|
по оси X |
|||||||
|
|
|
|
|||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
программе |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Gain |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Датчик по X |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
к АЦП |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Scale |
|
Offset |
|
Band |
|
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 8-7. Схема работы обратной связи по оси X (HV – Высоковольтный усилитель)
Параметры “Scale” и “Bias” определяют значение сигнала датчика при данном
постоянном зазоре между его обкладками. При работе с обратной связью значения коэффициентов “Scale” и “Bias” напрямую влияют на границы изменения зазора и
управляющего напряжения, подаваемого на соответствующую секцию сканера. Чтобы управляющее напряжение при замкнутой обратной связи оставалось в заданных пределах, например, от –300 до +300 вольт, производится предварительная
настройка сигнала датчика. Для этого на соответствующую секцию сканера подается напряжение треугольной формы, от –300 до 300 вольт, и подбираются такие
значения “Scale” и “ Bias ”, чтобы сигнал датчика менялся в заданных пределах (для СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II эти пределы составляют от –7 до +7 вольт).
В первые месяцы использования сканера рекомендуется проверять настройки
сигналов X-, Y-, Z- датчиков регулярно, примерно один раз в месяц. Дело в том, что старение керамики приводит не только к уменьшению чувствительности, но и к
некоторому изменению в размерах пьезотрубок при нулевом напряжении, что может отразиться на средних зазорах* между обкладками датчиков. Прежде всего, пьезотрубки со временем удлиняются. Пьезотрубка 100-микронного сканера,
установленная в СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II удлиняется на несколько микрон. Если эти изменения разные, то в результате меняется зазор у Z-датчика. Кроме удлинения,
трубка также может и гнуться, например, если противоположные части X-секции трубки растянутся неодинаково, то произойдет изгиб, как при работе пьезотрубки по оси X под действием управляющего напряжения. Изменения среднего зазора между
обкладками X- или Y- датчика, приводят к смещению интервала, в котором меняется управляющее напряжение при работе с обратной связью, что нежелательно.
Кроме монотонного уменьшения, всегда имеются колебания чувствительности
сканера по данной оси, а также колебания среднего зазора датчика. После изменения коэффициентов “Scale” и “Bias” необходимо выполнить перекалибровку системы по
тестовым решеткам, т.к. диапазон сканера с новыми коэффициентами “Scale” и “Bias” будет уже другой.
* Среднее значение зазора при подаче на сканер управляющего напряжения треугольной формы от – 300 до +300 вольт. Из-за гистерезиса пьезокерамики зазор при нулевом напряжении – величина неоднозначная.
8-8