- •2.1. Теория
- •Постоянная составляющая
- •Постоянный наклон
- •Неидеальность сканера, вычитание поверхности второго порядка
- •Шумы аппаратуры
- •Горизонтальные полосы на изображении
- •Линейные фильтры
- •Сглаживание
- •Градиентные фильтры
- •Фильтры резкости (Контрастирующие фильтры)
- •Нелинейные фильтры
- •2.1.4. Количественный анализ СЗМ изображений
- •Построение гистограммы изображения
- •Определение параметров шероховатости поверхности
- •Построение Фурье-спектра изображения
- •2.2. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Задание 1. Планаризация изображения
- •Задание 2. Применение фильтров
- •Задание 3. Преобразование Фурье
- •Задание 4. Фурье-фильтрация
- •2.3. Контрольные вопросы
- •2.4. Литература
- •5. Изготовление зондов для СЗМ методом электрохимического травления
- •5.1. Теория
- •Зонды для туннельных микроскопов
- •Изготовление зондов методом электрохимического травления
- •Изготовление зондов методом перерезывания проволоки
- •Искажения, связанные с формой зонда
- •Устройство заточки зондов для СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II
- •Определение остроты зонда
- •5.2. Задание
- •5.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Изготовление заготовки зонда
- •Подготовка к заточке
- •Заточка зонда
- •1-й способ (одноступенчатая заточка)
- •2-й способ (многоступенчатая заточка)
- •Подготовка к измерениям
- •Определение формы резонансного пика
- •Анализ результатов
- •5.4. Контрольные вопросы
- •5.5. Литература
- •6. Исследование поверхности твердых тел методами сканирующей туннельной микроскопии
- •6.1. Теория
- •Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа
- •Факторы, влияющие на качество изображения в СТМ
- •Конструкция датчика туннельного тока СЗМ Наноэдюкатор II
- •6.2. Задание
- •6.3. Порядок выполнения работы
- •Подготовка прибора к работе
- •Определение максимального измеряемого тока
- •Определение величины минимального измеряемого тока
- •Получение рельефа поверхности методом постоянного туннельного тока
- •Подготовка к сканированию
- •6.4. Контрольные вопросы
- •6.5. Литература
- •7. Зондовая литография
- •7.1. Теория
- •7.1.1. Физические основы зондовой литографии
- •7.1.2. Виды зондовой литографии
- •7.1.2.1. СТМ литография
- •7.1.2.3. Силовая литография
- •7.2. Задание
- •7.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Подготовка к работе
- •Предварительное сканирование
- •Подбор параметров литографии
- •Векторная силовая литография
- •Растровая силовая литография
- •Завершение работы
- •7.4. Контрольные вопросы
- •7.5. Литература
- •8. Калибровка сканеров
- •8.1. Теория
- •Устройство и принцип работы сканера на основе пьезотрубок
- •Сканирование
- •Сканеры с емкостными датчиками положения
- •Обратная связь по осям X и Y
- •8.2. Задание
- •8.3. Проведение лабораторной работы
- •Подготовка образца
- •Подстройка датчиков положения
- •Калибровка сканера
- •Сканирование калибровочной решетки
- •Проверка калибровок
- •Изменение калибровочных параметров
- •Проверка калибровок
- •8.4. Контрольные вопросы
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР. Учебное пособие
3. Установите зондовый датчик в измерительную головку.
ВНИМАНИЕ! Не допускайте соприкосновения острия зонда с какими-либо поверхностями во избежание повреждения острия.
4.Откройте окно подвода, щелкнув на кнопке . Опустите образец, нажимая на кнопку . По достижении крайнего нижнего положения в журнале появится сообщение "Остановлено по ограничителю".
5.Установите измерительную головку на базовый блок.
6.Откройте программный осциллограф кнопкой . Установите сигнал Ipro be на одном из каналов осциллографа. Запустите осциллограф кнопкой Пус к . Сигнал на осциллографе отражает шумы аппаратуры.
Рис. 6-11
7.Сохраните окно с шумовой дорожкой для представления в отчете (кнопка Со хранить на панели управления осциллографа).
8.Оцените величину минимального измеряемого тока по амплитуде размаха шумовой дорожки сигнала Ipro be.
Получение рельефа поверхности методом постоянного туннельного тока
Подвод образца к зонду рекомендуется проводить в режиме работы атомносилового микроскопа (АСМ). Эта предосторожность необходима для того, чтобы не
повредить зонд во время подвода, т.к. исследуемые в СТМ образцы могут быть частично окислены.
6-12
Лабораторная работа № 6
1.Переключите СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II для работы по полуконтактным методам АСМ (кнопка AСM на дополнительной панели Главного окна программы). Включите обратную связь по X,Y датчикам перемещения ( ).
Рис. 6-12
2.Откройте окно Резонанс кнопкой . Запустите процедуру автоматического поиска резонанса кнопкой Пуск . В результате амплитуда выходного сигнала генератора и коэффициент усиления цепи обратной связи
будут подстроены таким образом, чтобы амплитуда колебаний зондового датчика на резонансной частоте была не менее 10 нА; частота выходного сигнала генератора будет установлена равной резонансной частоте зонда.
Рис. 6-13. Частота генератора установлена равной резонансной частоте зондового датчика; амплитуда колебаний зонда установлена равной 10 нА
6-13
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР. Учебное пособие
3.Подведите образец к зонду:
a.Откройте окно видеокамеры кнопкой .
b.Откройте окно подвода кнопкой . Подведите образец к зонду до расстояния, при котором на изображении появится отражение зонда. Для этого, наблюдая за зондом по изображению с видеокамеры, нажмите кнопку . Остановите подвод повторным нажатием кнопки .
c.Замкните цепь обратной связи ( ).
d.Задайте начальные значения параметров: Раб.То чк а – 8; Ус иление – 1.
e.Откройте окно осциллографа. Выберите сигнал M ag из списка Сигналы. Запустите осциллограф кнопкой .
f.Запустите процедуру подвода кнопкой . По окончании подвода значение сигнала Mag установится равным рабочей точке, сканер будет выдвинут примерно до половины своей длины.
Рис. 6-14. Окончание процесса подвода. Генерация отсутствует
Подготовка к сканированию
1.Переключите микроскоп для работы по методам туннельной микроскопии. Для этого:
a.Разомкните цепь обратной связи ). Сканер максимально втянется.
b.На дополнительной панели Главного окна программы нажмите кнопку СТМ (Рис. 6-15). В результате в качестве входного сигнала обратной связи будет выбран Ipro be.
6-14
Лабораторная работа № 6
Рис. 6-15. Переключение прибора для работы по методам СТМ
c. В качестве начальных установите следующие значения параметров:
Раб . то чка |
0,4 |
нA; |
Усиление |
4; |
|
BV |
0,5 |
В. |
d.Замкните цепь обратной связи ). В результате сканер должен выдвинуться примерно на половину своей длины, что будет отражено на индикаторе выдвижения сканера (Рис. 6-16).
Если окажется, что сканер выдвинут слишком сильно, уменьшить степень выдвижения сканера можно, подведя образец на один шаг шагового двигателя (кнопка в окне подвода).
Рис. 6-16
2.Откройте окно операций кнопкой . Перейдите на вкладку
Сканиро вание.
3.На панели управления окна сканирования из раскрывающегося списка Метод выберите метод постоянного тока (пункт Constant Current). При этом в качестве регистрируемого сигнала будет установлен сигнал Height.
6-15
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР. Учебное пособие
Рис. 6-17
4.Задайте следующие параметры сканирования:
●Скорость – 0,5 Гц;
●Размеры области сканирования – 7×7 мкм.
5.Запустите сканирование кнопкой . В нижней части окна, строчка за строчкой, начинает появляться изображение сканируемой поверхности
(Рис. 6-18).
Рис. 6-18. Процесс сканирования
6.В процессе сканирования, контролируя качество получаемого изображения, подберите значения параметров сканирования таким образом, чтобы
изображение получилось максимально четким (например, как на Рис. 6-19). Изменяйте значения параметров в следующих пределах:
Ско рость |
0,2 |
– 1 |
Гц |
Усиление |
0,5 |
– 8; |
|
Раб.точка |
0,1 |
– 1 |
нA; |
BV |
0,1 |
÷ 1 В. |
6-16