- •2.1. Теория
- •Постоянная составляющая
- •Постоянный наклон
- •Неидеальность сканера, вычитание поверхности второго порядка
- •Шумы аппаратуры
- •Горизонтальные полосы на изображении
- •Линейные фильтры
- •Сглаживание
- •Градиентные фильтры
- •Фильтры резкости (Контрастирующие фильтры)
- •Нелинейные фильтры
- •2.1.4. Количественный анализ СЗМ изображений
- •Построение гистограммы изображения
- •Определение параметров шероховатости поверхности
- •Построение Фурье-спектра изображения
- •2.2. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Задание 1. Планаризация изображения
- •Задание 2. Применение фильтров
- •Задание 3. Преобразование Фурье
- •Задание 4. Фурье-фильтрация
- •2.3. Контрольные вопросы
- •2.4. Литература
- •5. Изготовление зондов для СЗМ методом электрохимического травления
- •5.1. Теория
- •Зонды для туннельных микроскопов
- •Изготовление зондов методом электрохимического травления
- •Изготовление зондов методом перерезывания проволоки
- •Искажения, связанные с формой зонда
- •Устройство заточки зондов для СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II
- •Определение остроты зонда
- •5.2. Задание
- •5.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Изготовление заготовки зонда
- •Подготовка к заточке
- •Заточка зонда
- •1-й способ (одноступенчатая заточка)
- •2-й способ (многоступенчатая заточка)
- •Подготовка к измерениям
- •Определение формы резонансного пика
- •Анализ результатов
- •5.4. Контрольные вопросы
- •5.5. Литература
- •6. Исследование поверхности твердых тел методами сканирующей туннельной микроскопии
- •6.1. Теория
- •Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа
- •Факторы, влияющие на качество изображения в СТМ
- •Конструкция датчика туннельного тока СЗМ Наноэдюкатор II
- •6.2. Задание
- •6.3. Порядок выполнения работы
- •Подготовка прибора к работе
- •Определение максимального измеряемого тока
- •Определение величины минимального измеряемого тока
- •Получение рельефа поверхности методом постоянного туннельного тока
- •Подготовка к сканированию
- •6.4. Контрольные вопросы
- •6.5. Литература
- •7. Зондовая литография
- •7.1. Теория
- •7.1.1. Физические основы зондовой литографии
- •7.1.2. Виды зондовой литографии
- •7.1.2.1. СТМ литография
- •7.1.2.3. Силовая литография
- •7.2. Задание
- •7.3. Порядок выполнения лабораторной работы
- •Подготовка к работе
- •Предварительное сканирование
- •Подбор параметров литографии
- •Векторная силовая литография
- •Растровая силовая литография
- •Завершение работы
- •7.4. Контрольные вопросы
- •7.5. Литература
- •8. Калибровка сканеров
- •8.1. Теория
- •Устройство и принцип работы сканера на основе пьезотрубок
- •Сканирование
- •Сканеры с емкостными датчиками положения
- •Обратная связь по осям X и Y
- •8.2. Задание
- •8.3. Проведение лабораторной работы
- •Подготовка образца
- •Подстройка датчиков положения
- •Калибровка сканера
- •Сканирование калибровочной решетки
- •Проверка калибровок
- •Изменение калибровочных параметров
- •Проверка калибровок
- •8.4. Контрольные вопросы
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II. Учебное пособие
7.2.Задание
1.Просканируйте поверхность образца и выберите участок для литографии. Подберите параметры литографии.
2.Выполните векторную литографию на выбранном ранее участке поверхности образца.
3.Выполите растровую силовую литографию на выбранном ранее участке поверхности образца.
7.3.Порядок выполнения лабораторной работы
В качестве шаблона растровой литографии может быть использован либо рисунок, прилагаемый в комплекте поставки прибора, либо подготовленный
самостоятельно.
При самостоятельной подготовке шаблона, для получения хорошего изображения желательно, чтобы рисунок был черно-белым (две градации цвета), без
тонких линий и мелких деталей. Рисунок должен быть сделан в растровом формате, число точек не рекомендуется делать слишком большим (не более 1024×1024).
Подготовка к работе
Предполагается, что студенты знакомы с порядком подготовки СЗМ
НАНОЭДЬЮКАТОР к работе (см. ЛР №1). Здесь приводится только основная последовательность операций.
1.Включите виброизолирующую платформу (при наличии).
2.Включите компьютер.
3.Установите образец. Установите измерительную головку с зондовым датчиком на базовый блок.
4.Включите СЗМ контроллер. Запустите программу NanoEducator 2.
5.Переключите СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II для работы по полуконтактным методам АСМ (кнопка AСM на дополнительной панели Главного окна программы). Проверьте, что обратная связь по X,Y датчикам перемещения включена ().
7-10
Лабораторная работа № 7
Рис. 7-1. Прибор переключен для работы по полуконтактным методам атомно-силовой микроскопии
6.Откройте окно Рез о нанс кнопкой . Запустите процедуру автоматического поиска резонанса кнопкой Пус к . В результате амплитуда выходного сигнала генератора и коэффициент усиления цепи обратной связи будут подстроены таким образом, чтобы амплитуда колебаний зондового
датчика на резонансной частоте была не менее 10 нА; частота выходного сигнала генератора будет установлена равной резонансной частоте зонда.
Рис. 7-2. Частота генератора установлена равной резонансной частоте зондового датчика; амплитуда колебаний зонда установлена равной 10 нА
7-11
СЗМ НАНОЭДЬЮКАТОР II. Учебное пособие
7.Подведите образец к зонду:
a. Откройте окно видеокамеры кнопкой .
b. Откройте окно подвода кнопкой |
. Подведите образец к зонду до |
расстояния, при котором на изображении появится отражение зонда. Для
этого, наблюдая за зондом по изображению с видеокамеры, нажмите кнопку . Остановите подвод повторным нажатием кнопки .
c.Замкните цепь обратной связи ().
d.Задайте начальные значения параметров: Раб.То чк а – 8; Ус иление – 1.
e.Откройте окно осциллографа. Выберите сигнал M ag из списка Сигналы. Запустите осциллограф кнопкой .
f.Запустите процедуру подвода кнопкой .
g.Если после окончания подвода возникла генерация (амплитуда колебаний
M ag больше, чем ~5 % от начального сигнала M ag), уменьшите Ус иление до 0.5÷0.7 от значения при котором генерация исчезает.
Рис. 7-3. Окончание процесса подвода. Генерация отсутствует
7-12
Лабораторная работа № 7
Предварительное сканирование
Предварительное сканирование необходимо для того, чтобы выбрать участок для литографии. Размер области сканирования рекомендуется выбирать превышающим
размер области, в которой предполагается провести литографию. Это дает возможность быстро найти наиболее подходящий участок. Рабочий участок
рекомендуется выбирать в середине доступного поля сканирования.
1.Откройте окно операций кнопкой . Перейдите на вкладку сканирования. В списке М ето д выберите метод To po graphy.
Рис. 7-4
2.Задайте параметры сканирования:
●Размер области сканирования не менее 20×20 мкм (линейные размеры области сканирования должны быть примерно в два раза больше предполагаемой области литографии для того, чтобы можно было выбрать подходящий участок);
●Скорость сканирования – 0,5 – 1 Гц.
3. Выберите область сканирования (кнопка |
). Проверьте, что в пределах |
выбранной области сканирования зонд всюду достает до поверхности и нигде не «врезается» в нее.
4.Запустите сканирование кнопкой . Дождитесь окончания сканирования.
Для проведения литографии следует выбирать достаточно гладкий и не имеющий существенных поверхностных дефектов и загрязнений участок образца (Рис. 7-5). Если на полученном изображении невозможно выбрать подходящий участок, сместите область сканирования и заново отсканируйте образец.
7-13