книги из ГПНТБ / Волкова, Е. А. Поляризационные измерения
.pdfВ поляризационных приборах измеряют следующие пара метры поляризованного света:
1) для линейно поляризованного света— положение плос кости поляризации в пространстве — ее азимут; 2) для света с эллиптической поляризацией — положение эллипса в про странстве— угол у, форму эллипса — отношение полуосей эл
липса— tgp и направление |
движения |
светового вектора; |
3) для частично поляризованного света |
определяют степень |
|
поляризации. |
|
|
Рассмотрение поляризации |
светового |
пучка показывает, |
что существует семь качественно различимых состояний: естественный свет; линейно поляризованный свет;
свет, поляризованный по кругу; эллиптически поляризованный свет;
смесь естественного и линейно поляризованного света; смесь естественного и циркулярио поляризованного света; смесь естественного и эллиптически поляризованного света. Последние три состояния объединяют названием «частич
но поляризованный свет».
Для того чтобы установить состояние поляризации светово го пучка, его исследуют с помощью анализатора и пластинки четверть волны. Для этого принимают световой пучок на ана лизатор и, вращая его, наблюдают за изменением яркости поля зрения. Возможны следующие варианты: полное затемнение поля зрения — полное гашение; поле зрения не ме няет яркости во время вращения анализатора; при некотором положении анализатора яркость поля зрения уменьшается, но полного гашения не происходит.
Очевидно, что первый вариант соответствует линейной по ляризации исследуемого пучка: существует положение анали затора, при котором направление пропускаемых колебаний перпендикулярно к направлению колебаний в пучке.
Во втором варианте свет может быть естественным, иметь круговую поляризацию или быть смесью циркулярио поляри зованного света с естественным. Для того чтобы различать эти случаи, надо перед анализатором поместить пластинку четверть волны, причем ее плоскости должны быть перпенди кулярны к оси светового пучка, а ориентация главных направ лений произвольна. Затем следует поворачивать анализатор. При вращении анализатора яркость поля зрения не изменится, если исследуемый свет является естественным. В случае кру говой поляризации пучка возможно положение анализатора, при котором поле зрения полностью затемнено. Если пучок со держал естественный и циркулярио поляризованный компо
40
ненты, то можно найти положение анализатора, при котором несколько уменьшается яркость поля зрения. Чем больше доля поляризованной составляющей, тем больше затемнение.
Возможность применения пластинки четверть волны для исследования света с круговой или эллиптической поляризаци ей можно доказать следующим образом. Пусть на пластинку четверть волны падает свет с левой эллиптической поляризаци
ей. |
Расположим пластинку четверть волны с отмеченным на |
||||||||||
ней быстрым |
направлением так, |
|
|
||||||||
чтобы это направление совпа |
|
|
|||||||||
дало |
с большой |
осью |
эллипса. |
|
|
||||||
С этой целью |
вначале |
убирают |
|
|
|||||||
пластинку |
о |
пути лучей и уста |
|
|
|||||||
навливают анализатор в положе |
|
|
|||||||||
ние / (рис. 23), при котором поле |
|
|
|||||||||
зрения |
|
имеет |
минимальную яр |
|
|
||||||
кость — направление |
|
пропуска |
|
|
|||||||
ния анализатора параллельно ма |
|
|
|||||||||
лой оси эллипса. Затем пластинку |
|
|
|||||||||
снова |
помещают |
на пути лучей |
|
|
|||||||
и устанавливают так, чтобы в по |
|
|
|||||||||
ле |
зрения |
сохранилась мини |
/ |
|
|||||||
мальная |
яркость и одновременно |
Рис. 23. Исследование эллипти |
|||||||||
быстрое |
направление |
пластинки |
|||||||||
расположилось |
|
бы |
перпендику |
чески поляризованного |
света с |
||||||
|
помощью пластинки |
четверть |
|||||||||
лярно к направлению |
колебаний, |
||||||||||
волны и анализатора (метод |
|||||||||||
пропускаемых |
|
анализатором. |
Сенармона) |
|
|||||||
Если полуоси эллипса |
направле |
|
|
ны вдоль осей координат, то взаимно |
перпендикулярные со |
|||||||||
ставляющие волны с левой |
эллиптической |
поляризацией ха |
||||||||
рактеризуются уравнениями (14). |
|
|
|
|
||||||
После прохождения пластинки четверть волны, быстрое на |
||||||||||
правление которой совмещено с большой |
осью эллипса, |
со |
||||||||
ставляющая с колебаниями, |
направленными |
вдоль большой |
||||||||
оси, |
приобретает |
добавочную |
разность фаз |
и уравнения |
||||||
(14) |
примут вид: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Е' |
= |
a-, cos (tot |
— |
) = — o-sirW , |
, |
, |
|||
|
|
|
1 |
\ |
- 2 ) |
1 |
|
(19> |
||
|
Е |
= bx sin ш/. |
|
|
|
|
I |
|
||
|
е ' |
|
I |
является величиной, не |
зависящей от |
|||||
Отношение— = |
___— |
|||||||||
|
■ Е'х |
|
01 |
|
|
пластинки четверть волны |
||||
времени, т. е. после прохождения |
41
эллиптически поляризованные колебания превратились >в ко лебания с линейной поляризацией.
Затем поворачивают анализатор и устанавливают его в по ложение II, при котором поле зрения затемнено (направление колебаний падающего света перпендикулярно к направлению колебаний, пропускаемых анализатором). Направление пово рота анализатора указывает на направление движения свето вого вектора. Бели для получения темноты анализатор повер нут на острый угол, то направление поворота анализатора противоположно направлению движения вектора исследуемого эллиптически поляризованного света (вектор движется против часовой стрелки, а анализатор повернут по часовой стрелке).
Если исследуемый свет имеет правую эллиптическую по ляризацию, то при такой же взаимной ориентации эллипса, пластинки и анализатора поворот анализатора (на острый угол) из положения I в положение II также должен происхо дить в направлении, обратном движению вектора, т. е. против часовой стрелки.
Очевидно, что если с большой осью эллипса совместить медленное направление пластинки (направление колебаний, пропускаемых анализатором, в положении I по-прежнему па раллельно малой оси эллипса), то■направление поворота ана лизатора из положения I в положение II совпадает с направ лением перемещения вектора эллиптически поляризованного света.
Измерив угол поворота анализатора из положения I в по ложение II, можно вычислить эллиптичность: тангенс угла по ворота равен отношению полуосей.
Если для получения темноты анализатор был повернут на угол, больший 90°, то направление поворота анализатора и пе ремещения вектора совпадают при совмещении большой полу оси и быстрого направления пластинки и противоположны при совмещении большой полуоси и медленного направления пла стинки.
Если свет, исследуемый с помощью пластинки четверть волны, имеет круговую поляризацию, то a x— bi и уравнение (19) справедливо при любой ориентации главных направлений пластинки четверть волны. Таким образом, при прохождении через пластинку четверть волны света с круговой поляризаци ей выходящее из нее излучение линейно поляризовано при любой ориентации главных направлений пластинки.
Третий вариант может соответствовать эллиптически .по ляризованному свету, смеси естественного света и линейно поляризованного или смеси естественного и эллиптически по ляризованного света. Для выяснения, какое состояние поля ризации имеет место, надо установить анализатор так (поло-
42
.жение I, см. рис. 23), чтобы в поле зрения была минимальная яркость. Затем нужно ввести в световой пучок перпендикуляр но к его оси пластинку четверть волны, причем одно из ее главных направлений должно совпадать с направлением ко лебаний, пропускаемых анализатором (для этого надо вра щать пластинку в ее плоскости до тех пор, пока яркость поля зрения не будет такой же, как н до установки пластинки). Затем снова поворачивают анализатор. Если свет был полно стью эллиптически поляризован, то можно найти такое поло жение анализатора (//) (см. рис. 23), при котором в поле зре ния будет темнота.
Если исследуемый свет был смесью естественного света с линейно поляризованным, то поворот анализатора из положе ния I приведет к увеличению яркости поля зрения. Если свет
•состоял из смеси естественного и эллиптически поляризованно го, то при повороте анализатора из положения I яркость поля зрения начнет уменьшаться. Эго будет происходить до тех пор, пока плоскость колебаний, пропускаемых анализатором, не станет перпендикулярной к плоскости колебаний линейно по
ляризованного компонента, в |
|
который |
пластинка четверть |
||||||
волны превратила эллиптически |
поляризованную составляю |
||||||||
щую. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА |
|||||||||
Расположим кристаллическую пластинку |
с |
плоскостями, |
|||||||
параллельными оптичеокой оси кристалла, |
между поляризато- |
||||||||
' ром и анализатором так, |
чтобы |
ее |
плоскости были перпен- |
||||||
|
|
дикулярны |
к |
оси падающего |
|||||
|
|
параллельного |
пучка |
|
моно |
||||
|
|
хроматических |
|
лучей |
(см. |
||||
|
|
рис. 15,6). |
Одно |
из главных |
|||||
|
|
направлений пластинки |
распо |
||||||
|
|
ложено под углом р к направ |
|||||||
|
|
лению колебаний, пропускае |
|||||||
|
|
мых поляризатором Р и под уг |
|||||||
|
|
лом р к направлению |
колеба |
||||||
|
|
ний, пропускаемых анализато |
|||||||
|
|
ром Л |
(рис. 24). |
После |
про |
||||
Рнс. 24. Векторы световых |
волн |
хождения через пластинку обе |
|||||||
волны выходят но направлению |
|||||||||
при прохождении линейно поляри |
нормали к поверхности |
и име |
|||||||
зованного света через кристалли |
|||||||||
ческую пластинку и анализатор |
ют разность фаз |
|
|
|
|||||
|
|
|
|
ь |
Л |
|
— ne)d. |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
43
Квадрат среднего значения светового вектора линейно по ляризованного света в соответствии с формулой (4)
При прохождении через пластинку световая волна разде ляется на две составляющие волны со взаимно перпендикуляр ными направлениями колебаний. Эти составляющие Ех (OD) и Е у (OG), выходящие из пластинки, определяются как про екции Е на главные направления пластинки. После прохожде ния анализатора колебания в обеих волнах будут приведены к одной плоскости, т. е. будут спроектированы на направление колебаний, пропускаемых анализатором. Выражения для со ставляющих, выходящих из анализатора, следующие:
Е х = A cost/cos р sin (<р + 8) = |
Akxsin (<p + |
8), |
Е у = A sin г( sin р sin ® = |
Ak2sin <р, |
|
где Ak\ и Ak2 — амплитуды волн. Обе волны |
когерентны, |
и поэтому квадрат среднего значения результирующего век тора в соответствии с формулой (5)
Поскольку поток излучения пропорционален квадрату сред него значения светового вектора и коэффициент пропорцио нальности одинаков для потоков, выходящих из поляризатора Фо и из анализатора, то поток излучения Ф, покидающий ана лизатор,
Ф = Ф0 cos2 (р — т|) — sin 2г/sin 2р sin2 — |
,20) |
т } |
Так как разность фаз б одинакова для всех проходящих лу чей, то поверхность пластинки имеет одинаковую освещен ность.
Если угол Р — 7J =
то
Ф — Ф0 sin2 2т) sin2 |
( 21) |
44
и при е—л = о |
|
|
|
Ф = |
Ф0^1— sin2 2^ sin2 |
|
(22) |
Таким образом, при окрещенном положении поляризатора |
|||
и анализатора (р — ri = — ] .когда т|= |
— |
или— (нечетное |
|
\ |
2 / |
4 |
4 |
число — ) из анализатора выходит максимальный для данно
го значения 6 поток излучения. Когда г|= 0 или (четное чис
ло— , т. е. главные направления пластинки совпадают с на- 4 /
правлениями колебаний, пропускаемых поляризатором и ана лизатором, поток излучения независимо от значения б равен 0.
При параллельной установке поляризатора и анализатора
(б—г1= 0). когда г) = 0 или-^-, из анализатора |
выходит поток |
|||
излучения, не зависящий от величины 8 |
и равный выходяще |
|||
му из 'поляризатора. Когда |
tj = — |
или |
— , |
выходящий из |
|
4 |
|
4 |
|
анализатора поток минимален, причем |
величина его опреде |
|||
ляется величиной б. |
|
|
|
|
Если рассматриваемую |
систему |
поляризатор —■пластин |
ка — анализатор осветить параллельным пучком белого света, то вследствие дисперсии двойного лучепреломления для каж дого участка спектра с определенной длиной '.волны разности По—пе 'будут различными. Поэтому разности фаз б для разных длин волн также отличаются друг от друга. В результате на анализатор падает пучок эллиптически поляризованных волн как бы с бесконечно большим числом эллипсов. Форма и ори ентировка эллипсов определяются длиной волны.
Приведя обе составляющие каждого эллиптически поляри зованного колебания к одной плоскости, анализатор создает условия для их интерференции, результат которой зависит от сдвига фаз б между ними. Вследствие этого соотношения по токов излучений спектральных составляющих нарушаются и поле зрения становится окрашенным. Из выражения (20) следует, что первое слагаемое правой части определяет вели чину потока белого света, а от второго слагаемого зависит
•окраска поля зрения. Цвет поля зрения при скрещенном поло жении поляризатора и анализатора [формула (21)] наиболее насыщен, так как поток не имеет примеси белого света. При их параллельном расположении [формула (22)] из потока белого света вычитается поток, обусловливающий окраску при скре щенном. Таким образом, при скрещенной и параллельной уста новке поляризатора и анализатора поле зрения окрашено в до полнительные цвета.
45
Если вращать анализатор или поляризатор вокруг оси па дающего пучка, окраска поля зрения будет непрерывно ме няться. То же будет происходить при повороте пластинки,, если поляризатор и анализатор неподвижны. Явления, связан ные с появлением окраски при наблюдении в белом поляризо ванном свете кристаллического или любого другого объекта, обладающего оптической анизотропией, называются хромати ческой поляризацией [16].
Хроматическую поляризацию часто наблюдают в сходя щихся лучах (коноскопия). В этом случае получаются слож ные интерференционные картины. Разность фаз, возникающая между обыкновенным и необыкновенным лучами, зависит от угла наклона лучей и определяется выражением
S = ~ |
COS £ |
(23) |
A |
|
|
где d — толщина пластинки; i — угол падения |
лучей на пла |
|
стинку; п0 и пс — показатели преломления |
обыкновенного |
и необыкновенного лучей в данном направлении.
Таким образом, поток излучения, выходящий из анализато ра [формула (20)], зависит от наклона лучей, проходящих че рез пластинку. Если плоскости пластинки перпендикулярны к оси кристалла и она освещена монохроматическим пучком лучей, сходящихся на оптической оси прибора, то в поле зре ния чередуются концентрические светлые и темные кольца; при освещении белым светом кольца будут окрашены. Кон центрические кольца пересечены в поле зрения крестом, центр которого совпадает с центром поля зрения.
В рассматриваемом случае главным сечением кристалла будет любая плоскость, проходящая через оптическую ось кри сталла и луч. Если поляризатор пропускает лучи только с вер тикальным направлением колебаний, то для каждого главного сечения пластинки, лежащего под углом к вертикальной
плоскости, отличным от 0 и — будут иметь место две состав
2
ляющие, колебания в которых располагаются в главной плос кости и перпендикулярно к ней. Разность фаз этих составляю щих, определяемая по формуле (23), меняется с изменением угла i. Для данного угла падения лучей она постоянна, в ре зультате чего в поле зрения видны концентрические кольца.
Возникновение креста в поле зрения объясняется следую щим образом. Для лучей, лежащих в (вертикальной плоскости, главное сечение пересечет пластинку по вертикальной линии. Эти лучи, как лучи с плоскостью колебаний, совпадающей с главным сечением, пройдут через пластинку только как не обыкновенные. Для лучей, лежащих в горизонтальной плоско
46
сти, главное сечение располагается горизонтально, направле ние колебаний вертикально, и лучи пройдут через пластинку как обыкновенные. Таким образом, в двух взаимно перпенди кулярных направлениях из пластинки выходят линейно поля ризованные лучи с направлением колебаний, соответствую щим колебаниям, выходящим из поляризатора. Эти лучи будут задержаны анализатором при скрещенном положении (темный крест) и при параллельном положении анализатор их про пустит (светлый крест).
ДВОЙНОЕ ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЕ, ВОЗНИКАЮЩЕЕ ПРИ ДЕФОРМАЦИЯХ И ВСЛЕДСТВИЕ ДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО И МАГНИТНОГО ПОЛЕЙ
В деформированных прозрачных изотропных телах возни кает двойное лучепреломление. При одностороннем сжатии или растяжении оптические свойства деформированного объ екта становятся подобными свойствам одноосного кристалла.
Рис. 25. Оптическая схема для наблюдения двойного лучепрелом ления, возникающего при деформациях
Оптическая ось такого объекта, например кубика (рис. 25), проходит в направлении 0 0 действия силы. После прохождения через кубик линейно поляризованный свет превращается в свет о эллиптической поляризацией.
Экспериментально установлено, что разность п0—пе про порциональна напряжению р, вызывающему деформацию объ екта, т. е.
п0 — пе = 1гр, |
(24) |
где k — константа, определяемая свойствами вещества. Оптическая разность хода, возникающая между лучами
при прохождении расстояния d в деформируемом объекте,
А = (п0— пе) d - kpd.
47
В соответствии с этим разность фаз
5 = — (п0 — пе) d = hpd,
Л
где /г — константа, зависящая от /г:
Величину и знак константы /г определяют свойства вещест ва: она может быть положительной или отрицательной. На блюдается также зависимость константы /г от длины волны — дисперсия двойного лучепреломления. При освещении дефор мированного объекта белым светом (см. рис. 24) в зависимо сти от разности фаз в разных местах поля зрения наблюдают различную окраску, как при хроматической поляризации. Это позволяет качественно оценить распределение напряжений в исследуемом объекте. Появление окраски в поле зрения ис пользуют также для обнаружения напряжений в прозрачных объектах.
После прекращения действия нагрузки на объект в нем мо гут остаться напряжения, в этом случае сохраняется двойное лучепреломление.
Возможность оценки оптическим методом распределения напряжений в объекте при приложении к нему нагрузки ши роко используется в практике — поляризационно-оптический метод, или метод фотоупругости [17, 18]. Из прозрачных мате риалов изготовляют модель конструкции и прикладывают к ней нагрузку, подобную той, которую придется выдерживать про ектируемой конструкции. По картине в поляризованном све те (при расположении нагруженной модели между поляризато ром и анализатором) можно судить о распределении напряже ний. При точных исследованиях измеряют разности фаз между обыкновенным и необыкновенным лучами е различных местах модели. Этот метод применяют также при наблюдении в от раженном свете [19]. Часто его используют только для качест венных оценок.
Диэлектрик становится анизотропным под действием элек трического поля [20]. Возникновение двойного лучепреломле ния у изотропного вещества под влиянием электрического по ля, направление которого перпендикулярно к распростране нию света, обнаруженное Керром, называется явлением Керра.
Свойства вещества, находящегося в однородном электриче ском поле, становятся подобными свойствам одноосного кри
48
сталла. в котором ось располагается вдоль электрического по ля. Схема установки для наблюдения явления изображена на рис. 26. Между поляризатором П и анализатором А располо жен жидкостный конденсатор К, к которому может быть при ложено постоянное напряжение. Если анализатор м поляриза тор скрещены, то при отсутствии поля свет не попадает к на блюдателю. При приложении напряжения жидкость становит ся двупреломляющен и из конденсатора выходит эллиптически поляризованный свет. Для монохроматического света разность показателей преломления необыкновенного и обыкновенного лучей пропорциональна квадрату напряженности поля:
пе — ,г0 = КЕ~,
где К — коэффициент пропорциональности, Е — напряжен ность поля.
т >
Рис. 26. Оптическая схема для наблюдения эффекта Керра
Оптическая разность хода, возникающая |
между лучами, |
Д = d [пе — n0) = KdE3, |
|
где d — длина пути луча между обкладками |
конденсатора. |
Выражая разность хода в длинах волн X используемого моно |
|
хроматического излучения, получим |
|
- ± = BdE\ |
(26) |
А |
|
где В —— — постоянная Керра. Постоянная Керра для боль- X
шииства жидкостей больше нуля, т. е. /ге>/г0, что соответствует анизотропии положительных кристаллов. Постоянная Керра зависит от длины волны и температуры.
Значения постоянных Керра для жидкостей [21] (при темпе ратуре 20° С и длине волны 546 нм) следующие:
4—2590 |
49 |