Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Каплун, В. А. Обтекатели антенн СВЧ (радиотехнический расчет и проектирование)

.pdf
Скачиваний:
42
Добавлен:
21.10.2023
Размер:
9.17 Mб
Скачать

Соотношение (6.9) в прямоугольной системе координат, связанной с плоско­ стью раскрыва антенны, дает следующие составляющие угловой ошибки:

xfm Афб2 cos Ѳ

Да.

4k

 

Да„ = ijfm

cos0

 

4k

где я н у — координаты проекции центра пластинки на плоскости раскрыва. Связь между координатами точек, лежащих в плоскости раскрыва, и коор­

динатами точек, лежащих на поверхности обтекателя (рис. 6.30), выражается следующими соотношениями:

х = — г sin і -f-У? cos V cos t',

y = R sin V,

cos Ѳ = cos і sin ß -fsin i cos ß cos V,

,

sin V

tg у — --------------------------------

 

cos V cos i — tg ß sin ( ’

где z, R , v — координаты точки

поверхности обтекателя;

і и Ѳ— угол наблюдения

и угол падения волны на стенку обтекателя со­

ответственно;

 

ß 11 Y — угол, образованный осью обтекателя и касательной к его поверхно­ сти (в случае конического обтекателя касательная совпадает с его

образующей), и угол наклона плоскости падения волны к плоскости пеленга.

Для обтекателя конической формы с радиусом R0 в плоскости, содержащей центр вращения антенны,

R = Ro — ztg ß.

Если определять положение диэлектрической пластинки на обтекателе ко­ ординатами г и V, то для конического обтекателя координаты центра ее проек­ ции на плоскости раскрыва будут

*= (R Z tg ß) COS V cos i — zsini,

У= (R z tg ß) sin V.

Анализ воздействия пластинки на угловые ошибки соответствую­ щих обтекателей показывает, что величина создаваемых ею ошибок пропорциональна наклону кривой «набег фазы — толщина обтекателя». Отсюда следует, что при больших углах падения наклон кривой зна­ чительно изменяется с толщиной (особенно для перпендикулярной по­ ляризации), причем максимум достигается при толщине стенки обте­ кателя, равной половине длины волны.

На основании изложенного можно сделать следующие заключения:

1)угловые ошибки максимальны, когда пластина устанавливается на обтекателе с толщиной стенки, равной половине длине волны;

2)угловые ошибки, вызываемые пластиной, установленной на обтекателе с толщиной, равной половине длины волны, всегда больше при перпендикулярной поляризации, чем при параллельной;

3)угловые ошибки минимальны, когда пластина устанавливается на обтекателе, толщина стенок которого равна четверти длины волны.

Сувеличением диэлектрической проницаемости при пепендикулярной

202

поляризации влияние пластинки приближается к нулю, а при парал­ лельной к величине, получаемой при толщине стенки, равной половине длины волны;

4) влияние пластинки на обтекатель с толщиной стенки, равной половине длины волны, повышается с увеличением диэлектрической проницаемости материала стенки.

Зависимость величины угловой ошибки при ее экстремальных зна­ чениях от положения пластинки на образующей ѵ = 0 полуволнового конического обтекателя и зависимость положения точки перехода угло­ вой ошибки от положительных ее значений к отрицательным (по'углу

9-)

Рис. 6.31. Величина угловой ошибки и изменение угла перехода ошибки от положительной к отрицательной в зависимости от положения пластины на образующей обтекателя (ѵ=0):

а — угловая ошибка; б — изменение угла перехода; -------- — рассчитанная кривая;

--------- — экспериментальные данные.

отклонения антенны относительно оси обтекателя) от положения плас­ тинки на образующей ѵ = 0 (также для полуволнового обтекателя) приведены на рис. 6.31. Следует отметить, что точки такого перехода ошибки от плюсовых к минусовым значениям соответствуют углам наблюдения, под которыми центр пластины и центр раскрыва антенны совпадают.

На рис. 6.32 показаны семейства теоретических кривых угловых ошибок для пластин толщиной 0,04 X, лежащих на образующих

V =-. 0, V = 45° и V — 90° на расстояниях — 16 Л., — 24 Л. и ~ 32 X от основания обтекателя. Из рисунка видно, что эти кривые имеют при­ мерно синусоидальный характер, а при данном осевом положении их амплитуда уменьшается с увеличением ѵ (до ѵ =90°). При ѵ = 90° вы­ званные пластинкой угловые ошибки минимальны, а кросс-ошибки — максимальны; кроме того, приѵ = 90° кривые, характеризующие угло­ вые ошибки, становятся симметричными относительно нулевого угла наблюдения, а кривые, характеризующие кросс-ошибки, делаются равносимметричными (типичные результаты для кросс-ошибок при V = 90° и параллельной поляризации относительно плоскости пеленга показаны на рис. 6.33).

203

Результаты, полученные с пластинками, могут быть использованы для анализа влияния тонких колец на угловые ошибки обтекателей. При заданном осевом положении кольца его влиние на угловые ошиб­ ки можно определить с помощью рассмотренного выше принципа супер­ позиции по эффекту воздействия прямоугольной пластины, находящей­ ся в том же осевом положении, но при различных положениях ее на окружности. Обычно вполне достаточно информации о влиянии пла­ стины, расположенной через интервалы 30° по углу ѵ.

Рис. 6.32. Семейства кривых, характеризующие влияние диэлектрической пластины (перпендикулярная поляризация)-

---------- L = I 6 X ; -------- L = 24?.; ................

L = 3 2 X .

При заданном угле наблюдения угловые ошибки, обусловленные эквивалентным кольцом, определяются как результат суперпозиции ошибок от составляющих пластинок (рис. 6.34):

Да = 2

Д ар^

— — — ,

?

 

2/ 12 10 to

где 2 Да-р — суммарное воздействие 12 пластинок, имеющих одинако-

р

вое осевое положение и угол наблюдения;

2 f, / 0 и t 0 — соответственно размер прямоугольной пластины по окружности и вдоль образующей и толщина пластины; I, t — ширина и толщина эквивалентного кольца.

204

На рис. 6.35 приведена кривая угловых ошибок для кольца. Теоре­ тическая кривая соответствует пластинам квадратной формы, распо­ ложенным на полуволновом коническом обтекателе, выполненном из стеклоткани. Толщина кольца 0,03 X, ширина 0,12 X [97].

Рис. 6.33. Типичное влияние пластинки на величину кросс-ошибки (параллельная поляризация, v=90°, L = 18Я).

Рис. 6.34. Диэлектрическое кольцо на обтекателе как суперпозиция пластинок.

------- — рассчитанная кривая; ,----- —. — экспериментальные

данные.

Асе, м и н у т ы

L = 1GX

Рис. 6.35. Влияние кольца при перпенди­ кулярной поляризации относительно плос­ кости пеленга:

.--------— рассчитанная кривая;

— — —

экспериментальные

данные.

 

Хорошее соответствие расчетных результатов с эксперименталь­ ными позволяет использовать такой метод выбора компенсирующих колец и определения места их установки.

ГЛАВА 7

САМОЛЕТНЫЕ ОБТЕКАТЕЛИ

7.1. ПРЕДВАРИТЕЛЬНЫЕ ЗАМЕЧАНИЯ

Практически все современные самолеты оборудуются радиолока­ ционными станциями различного назначения. Требования большой разрешающей способности приводят, как правило, к большим размерам антенных систем и соответствующих им обтекателей. Зтп особенности, а также большие скорости современных самолетов заставляют конст­ рукторов при проектировании обтекателей наряду с радиотехниче­ скими требованиями существенное внимание уделять вопросам их механической прочности, теплостойкости и надежности [91].

Специфичным требованием для самолетных обтекателей является необходимость обеспечения достаточно высокой прозрачности во всем рабочем диапазоне волн: в сравнительно узком, на совмещенных вол­ нах, в широком непрерывном диапазоне воли и т. п. Ограничения же по угловым ошибкам, допустимым искажениям диаграммы направлен­ ности и т. п. не столь жестки, и обычно достижение требуемого коэф­ фициента прохождения обтекателя гарантирует выполнение также и этих требований. Несколько обособленно в этом отношении стоят обте­ катели навигационных станций допплеровского типа, для которых важным является также обеспечение постоянства пространственной ориентации диаграмм направленности.

Современным самолетным обтекателям свойственно широкое из­ менение углов падения ВЧ энергии (от 0 до 70—85°), излучаемой (или принимаемой) антенной, на их стенки. Лишь в отдельных случаях конструкция антенных устройств и их размещение на самолетах таково, что углы падения лежат в пределах 0—50° [8], [92], [103].

Достижение необходимой радиопрозрачности обтекателей в задан­ ных диапазонах волн осуществляется выбором соответствующей конст­ рукции их стенок. При выборе стенок необходимо учитывать все осо­ бенности условий работы обтекателей на самолетах, их габариты и форму и гарантировать выполнение всего комплекса требований с не­ обходимым коэффициентом запаса, обусловливающим надежность экс­ плуатации в летных условиях. Определение таких оптимальных кон­

струкций — одна из главных задач разработчиков радиопрозрачных обтекателей.

Анализ показывает, что практически все рассмотренные в гл. 1 структуры диэлектрических стенок находят применение в современ-

206

ных самолетных обтекателях: однослойные, многослойные (компенса­ ционного и согласующего типов не сложнее семислойных), монолитные с реактивными согласующими решетками, многослойные с реактив­ ными решетками, стенки с плавным изменением показателя пре­ ломления и т. п.

7.2. ОБТЕКАТЕЛИ ДЛЯ РАБОТЫ В УЗКОМ ДИАПАЗОНЕ ВОЛН

Для самолетных обтекателей, предназначенных для работы в срав­ нительно узком диапазоне сантиметровых волн при широком секторе углов падения (от 0 до 70—85°), свойственных современным формам обводов, перспективными являются многослойные конструкции стенок, в том числе и с реактивными решетками в силовых слоях, позволяющи­ ми увеличить толщины силовых оболочек и тем самым повысить проч­ ность всей конструкции.

1 2 3 4- '5. 6 7 8

& II

1

2

3

4

5

ч

Ч

4

е4

е 5 Ч

 

 

 

 

 

 

 

 

X

1

П

^4 25 Ч Z 7

V Z 1 Ч z u^

Ч

Z B

п

_ П

П .

 

 

U

I—I

 

_|

—LJ

U

'"”1—1----- X

J

X

d-f

d-2,

^4 ^ 5

^7

d,

dz

d3 dif

dg

 

 

di=d3=(i5=(i7

 

 

d-1~dj =d5

 

 

 

£ 1 ~ е 3 ~ е 5 = е 7

 

£ 1 ~ е з = £ 5

 

 

 

 

£г -Ец

 

 

 

ег=£Ѵ £е

 

 

 

 

 

 

 

f)

 

 

 

 

а)

 

 

 

 

 

Рис. 7.1. Эквивалентные схемы многослойных диэлектрических стенок:

а — семнслойиая; б — пятнслойная.

Ниже рассмотрено применение изложенных в гл. 3 приближенных методов к синтезу наиболее, приемлемых для самолетных обтекателей многослойных диэлектрических стенок: семислойных, пятислойных,

трехслойных и семислойных с реактивными

решетками.

Вначале

рассматриваются семислойные

 

и пятислойные стенки.

Из (3.34)

с учетом преобразования (3.35)

для семислойной стенки

(рис. 7. 1, а) можно получить следующее приближенное соотношение

для коэффициента

отражения:

Я

Гі[1_

е- і 2Фі] [1 _l е-і'гкф.+ф.)] [і_|-е-/2'(2Ф>+фН-(Р<>]. (7.1)

Нули этого выражения, определяющие максимумы коэффициента прохождения, получаются при следующих условиях:

207

1)

е-/2ф<= 1, т.

е. ерх =

я я ,

я =

1, 2, 3,

...;

2)

е-/2

(фі+ф=) =

— j, т. е. фі -f ср2=

> h I

ni — 1. 3, 5,... ;

3)

ег‘2

(2Фі+ф2+ф4) — — і,

т. е.

2срх-|- ф2 + ф., = я2-у-', я2 = 1,3,5,...

Первому условию соответствует толщина плотных слоев, равная полуволне. На практике для волн длинее 15 мм этот случай не прием­ лем, поскольку вся стенка оказывается слишком громоздкой, и обте­ катель тяжелым*. Использование же таких конструкций на более ко­ ротких волнах наталкивается на технологические трудности в связи с жесткими производственными допусками.

Второе и третье условия определяют электрические толщины слоев малой плотности (ф2 и ф4) при заданной электрической толщине сило­ вых слоев (фх) и углах компенсации Ѳх и Ѳ2. Для нахождения толщин

этих слоев

d2 и d4 необходимо

положить

Фі

+

ф2 = ях у при

угЛе

падения 0 =

0 !, атакжеН? фх -f- ф2 + ф4 =

я 2

у

при 0 =

02и решить

полученную

систему из двух

уравнений

относительно

ф2

и ф4,

имея в виду связь между геометрической и электрической толщинами (между ф и d).

Величины я х н п 2 определяют порядок стенки: для

стенки порядка

у я х =

1 и /г2 =

1; для стенки порядка у я х 1 и п 2

= 3; для стенки

порядка

9

3 и я 2 = 1 и т. д. Лучшие характеристики прохож­

у п 1 =

дения в диапазоне углов соответствуют стенкам меньшего порядка. Аналогично получается соотношение для стенки пятпслойной

структуры (рис. 7.1, б):

Я в і ^ М І —е-/2ф'] [1 -f е-/2 (фі+фг) -і-е_;Ч (фН-фз)].

(7.2)

Нули R BX имеют место при

 

 

 

1) е- / 2фі = і, т. е. ф4 = ял,

я = 1 ,2 ,3 ,...;

 

 

2 ) е - / 2 ( Ф і + Ф = ) + е - / 4 (Ф1+ ф ! ) =

_ і „ т . е . ф і - ) - ф 2 = - Д - )

3

, - 1 - я , . . .

 

3

3

Первому условию соответствует толщина плотных слоев, равная полуволне; такой конструкции обтекателей свойственны все ограни­ чения, оговоренные выше. Второе условие определяет электрическую толщину слоев с малой плотностью ф2 при заданной электрической толщине силовых слоев фх. По известным фх и ф^, а также величине диэлектрической проницаемости материала слоев определяются их геометрические толщины d1 и d 2. При условии фх + ф2 = я/З (или 2л/3) для угла падения Ѳх и полном согласовании стенки при угле паде­ ния Ѳ2 за счет рационального выбора толщины среднего слоя** диэ-

*Такие обтекатели могут найти использование в наземных условиях.

**Это можно сделать с помощью диаграммы полных сопротивлений.

208

лектрыческая стенка будет иметь два минимума коэффициента отра­ жения R 1JX (при 0 J и Ѳ2), что обеспечивает для нее высокий коэффи­ циент прохождения в широком секторе углов падения, свойственном современным обтекателям. -

Данный приближенный метод синтеза позволяет достаточно просто выбирать размеры семислойных или пятислойных конструкций стенок проектируемого обтекателя. Для уточнения характеристик прозрач­ ности необходимо проводить контрольный расчет (например, методом эквивалентных линий). Если при этом характеристики не удовлет­ воряют требованиям прозрачности, следует проводить дополнитель­ ную корректировку, задаваясь либо новыми значениями толщин слоев, либо новыми углами компенсации Ѳ( и 02.

Рис. 7.2. Эквивалентные схемы многослойных диэлектрических стенок с реактивными решетками.

Рассмотренный метод чрезвычайно удобен на начальной стадии разработки обтекателей, когда еще окончательно не определена ни конструкция стенки, ни ее основные размеры и требуется прикинуть возможные варианты и основные ожидаемые характеристики.

Если данный метод синтеза по каким-либо причинам не приемлем, следует пользоваться более строгими методами: например, методами, применяемыми при синтезе ступенчатых переходов (гл. 3, § 3), кривы­ ми постоянной отраженной мощности (гл. 3, § 4) и т. п.

Рассмотрим далее многослойные стенки с реактивными решетками. Приближенный расчет параметров трехслойных стенок с реактив­ ными решетками в силовых слоях (рис. 7.2) можно осуществить с по­ мощью выражения для коэффициента прохождения, аналогичного

(7.1):

== гг [1 — е—/2<р>] [1 + е- і 2(Ф,+Фг)].

(7.3)

Нули данного выражения имеют место при

1)е—/‘2<р*= 1, т. е. ф1 = 0,

2)е—/2 <фі+ ф.) = — 1, т. е. фі-Е фа = п - | - ,

где п = 1, 3, 5,...

8 Зак. 424

209

Тип стенки

семислойная

dj ^2 dj dt,0; ^2^7 ifcditzfcj

1 2' 1 Н 1 2 1

семислойная

df dz dj dtf.djdzd]

1 2 1 tf 1 2 1

семислоиная ■

d j d 2 d j dtf d , d z ei..

BJ= " -■

13

1 2 1 0 1 2 1

пятислойная dj d2 dj йгdj

1 2 3 2 1

пятислойная dj dz d3 dz d:

1 2 3 2 1

Слон

• = 2,8 - 10_а

-Г- = 0,2

X di

т = ° -08

di

= 4 , 7 - 1 0 “

d2

T = °-19

di

-T- = 0,07

-Y = 2,6-10- a

d7

-r - = 4 - 1 0 - 2

dn

f = ° - 4:

' Т ' = 0 ,1 3

X

de

- f = 0 , 3

- l = 2,8-10-2

Л

d3

~ t = 0’1

dn

- = 0,2

di

-^- = 4,4-10-2

d3

т= ° - п

т= 0' 16

Материал

стекло­ текстолит

сотовая

структура

стекло­ текстолит

сотовая

структура

стекло­ текстолит

сотовая

структура

стекло­ текстолит

сотовая

структура

стекло­ текстолит

сотовая

структура

Т а б л и ц а 7.1

 

 

Радиотехнические

 

 

характеристики

ІГ

 

 

 

 

10

 

 

 

 

0,8

 

-первн. поляр.

О,В

 

 

 

-парад; поляр.

О

20

0 0

60 В,зрад

Irl2

 

 

 

1,0

 

 

 

 

0,8

-----перпен. поляр. \

0,6

----- парал. поляр.

О

 

20

60

60 8,град

О 20 НО бОО.граЗ

Iт\г

1,0

0,80,6 - — перпен. поляр.

------парал. поляр.

О 20 W 608}град

ігі2

1,0

г

г

т ч і

0,8

---- перпен. поляр.

0,6

---- парал. поляр.

 

29

*і9

§08ггрр§

210

Тип'стенки Слон

 

 

 

 

di

3-io -a

пятисмоиная

— i- =

X

 

ctj &2

ti-j &2 Ctf

d3

= 0 ,18

 

 

 

 

1 2

3

2

1

X

 

’ = 0,1

 

 

 

 

 

 

 

 

d,

 

 

 

 

 

1 Г =2,5' 10“2

трехслойная, среак­

-= 0,27

тивной. решеткой

 

 

äj

йг

dj

сетка

 

 

 

 

 

 

 

 

S

= 0,33

1

2

 

1

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

= 2 ,2 . 1 0 -3

 

 

 

 

ei,

 

 

 

 

 

-Г- = 2,8. 10-2

 

 

 

 

X

 

 

 

 

 

і 1

 

 

 

 

 

-1 = 5 ,7 .1 0 - 2

трехслойная, с

 

 

решеткой В утол­

T

= 0’19

щенном слое

d] d2 dj дц dj d^ dj

di

= 0,095

 

 

 

 

l

 

 

 

 

X

 

1 Z 1

H

1

2 7

 

 

Материал

стекло­ текстолит

сотовая

структура

стекло­ текстолит

сотовая

структура

проволока

стекло­ текстолит

сотовая

структура

• =

0,33

проволока

X

 

Продолжение

Радиотехнические

характеристики

І7І2

1,0

0,8

0,6 - перпеи. поляр. -ларал. поляр.

0 '20' НО 60в,град

ІГІ2

0,8

_L

А-

0,6

-перпен. поляр. \

-парал. поляр

 

п

20 НО

60S,град

Irl

 

1,0

S

0,8 —перпен. поляр. >

0.6 _парал. поляр.

0 20 но 60В,град

2p

^ - = 2,2-10-3 A.

Для получения хорошей прозрачности при двух видах поляриза­ ции падающей на данную стенку электромагнитной волны (параллель­ ной и перпендикулярной) определение параметров слоев должно про­ водиться так, чтобы первое условие выполнялось при угле падения Ѳх для перпендикулярной поляризации, а второе — при угле Ѳ2 для параллельной поляризации. При этом лучшая прозрачность синте­ зируемой стенки в широком секторе углов падения получается при Ѳ2 < Ѳх; угол Ѳ2 должен лежать в пределах сектора 0—50°, а Ѳх — в пределах 50—75° (в зависимости от формы и назначения обтекателя).

8 *

211

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ