книги из ГПНТБ / Микроминиатюризация высокочастотных радиоустройств
..pdf20
При этом тангенс угла потерь будет равен
($6 = tfyöA* b}SM = * ü)C(>f/v, *Kß).
Анализируя выражение(І.Э), замечаем, что соответствущим подбором индуктивности L g можно обеспечить Х Эд = 0 , при
этом модуль полного сопротивления будет минимальным и равным активному сопротивлению конденсатора, т .е .
|2дмим1 ~ №ЭД ш |
и (1 .10) |
( І .Ю ) |
Сравнение выражений (1 ,7 ) |
позволяет заключить, |
что в последнем случае модуль полного сопротивления меньше
на величину |
—, |
------ = |
П |
|
|
||
|
|
Qк |
|
|
U k > |
|
|
где |
Q* |
ігдМин\ |
|
|
|||
|
добротность |
последовательного контура, |
|||||
|
|
образуемого |
элементами |
Lgt |
. |
||
|
|
|
|
|
|
|
Это обстоятельство необходимо учитывать при проектировании .
фильтровых, блокировочных и переходных конденсаторов гибрид ных пленочных микросхем, работающих в диапазоне частот выше
100 МГц. Представляется также возможным получать передающие цепи в виде последовательных контуров, обладающих избиратель ностью.
Полученные формулы ( I .3 —1 .10) позволяют вычислять актив
ное и реактивное сопротивления, емкость и добротность реаль ного пленочного конденсатора с учётом потерь анергии в об кладках и диапеаграке во всем практическом диапазоне частот
при |
й с >1 |
, |
а формулы ( 1 .8 , 1 .9 , 1 .10) - проектировать |
|
|
избирательные цепи с машшаньша* ослаблением передаваемого с и г н п і .
21
3 , ВЛИЯНИЕ МАТЕРИАЛА ДИЭЛЕКТРИКА И ОБКЛАДОК ПЛЕНОЧНЫХ КОНДЕНСАТОРОВ НА ИХ ДОБРОТНОСТЬ
Задача получения пленочных конденсаторов с шсокой добротностью на частотах порядка 100 МГц и выше является весьма актуальной. Отсутствие в литературе сведений о пара метрах пленочных конденсаторов, пригодных для использования в микросхемах на частотах выше 100 МГц, потребовало проведе ния дополнительных экспериментальных исследований, основной
целью которых служило получение оценки добротности трехслой ных пленочных конденсаторов в зависимости от материала при мененного в них диэлектрика на частотах 200-400 МГц. Из ана
лиза результатов этих исследований (р и с .I |
. I I ) следует, что |
|
|||||
пленочные конденсаторы на основе диэлектрика из моноокиси |
|
||||||
кремния |
S i 0 |
обладают наиболее высокой добротностью по |
|
. |
|||
сравнению с конденсаторами с диэлектриком изТіО я |
и |
|
|||||
Удельная |
емкость конденсаторов составляла |
3000-5000 |
Ім ^ . |
|
|
||
Толщина обкладок равнялась 400-500 нм. |
№ |
-си тадл - |
ИР |
, |
|||
Исследовались также конденсаторы типа |
|
|
|||||
полученные способом микродозировашя. Средняя добротность |
|
||||||
их на частоте |
200 МГц равнялась 25 при удельной емкости |
|
|
800адЬ.
Зависимость добротности пленочных конденсаторов структу
ры A P S iO ~ Â P от толщины электродов и частоты изобретена
на р и с.1 .1 2 . Д ан те обраяцов I , 2 и 3 приведены в т а б л Д .І.
Толщина обкладок и диэлектрика измерялась с гтшищмл прибора ИДО-4.
150 |
250 |
550 |
У* МГц |
от |
|
Р и с .I . I I . |
Зависимость добротности Q |
||||
частоты |
/ |
пленочных конденсаторов |
о |
||
обкладками из алшиния |
при разных материа- |
Р и с .1 .1 2 . |
Зависимость добротности |
Q от |
||
частоты / |
пленочных конденсаторов с |
|||
диэлектриком из |
Si 0 |
при разных толщинах |
||
диэлектрика и |
обкладок. |
Таблица І . І . |
||
№ |
Толщина |
Толщина |
Активное сопротив |
|
oggas- ' диэлек |
обкладок, |
ление потерь, Ом |
||
I |
трика, нм |
нм |
0,62 |
|
680 |
210 • |
|||
. 2 |
730 |
410 |
0,60 |
|
3 |
650. |
710 |
0,44 |
Из рассмотренного графика ( р и с .I .12) можно сделать вывод
о том, что на добротность пленочного конденсатора с диэлек
триком из моноокиси кремния основное влияние окаяывает тол
\
23
щина обкладок. С увеличением |
толщины пленочных обкладок |
возрастает добротность таких |
конденсаторов, оставаясь практи |
чески неизменной в диапазоне |
от 150 до 400 МГц. |
В качестве материала для |
напыления обкладок трехслойных |
конденсаторов наиболее часто применяют алюминий. Однако на
поверхности алюминиевой пленки образуется тонкий слой окисла,
который увеличивает поверхностное сопротивление, что сопровож дается снижением добротности. Известны рекомендации о нанеое-
нии на алюминиевую пленку слабоокисляющихся металлов, таких как серебро, родий, ниобий, золото, рений.
Были проведены исследования трехслойных пленочных конден
саторов из различных материалов обкладок с целью выявления их частотных свойств. Исследовались конденсаторы- с диэлектриком из моноокиси кремния. Обкладки напылялись из меди, золота, алю миния, а также применялось сочетание пленок алюминия и серебра.
Верхняя обкладка имела толщину около 0 ,1 нм.
Активное сопротивление в партии пленочных конденсаторов,
измеренное на частоте 300 МГц, имело следующие средние значе ния для различных материалов обкладок: золота - 1 ,0 Ом;
меди - 1,37 Ом; алюминия - 1,57 Ом; алюминия и серебра - І,І8 0 м .
Установлено, что более высокую добротность имеют конденса торы со структурой № S iO -№ , Aß. Добротность конденсаторов структуры Au -S lO-Au оказалась ниже, хотя активное сопротивле
ние меньше, чем с обкладками из пленок алюминия и серебра. Эта особенность объясняется образованием на границе металл-диэлек трик запорных и антизапоргіых слоев. При измерении сопротивления пленочных конденсаторов постоянному току при разной полярности
24
приложенного напряжения наблюдается выпрямляющий эффект у |
|
конденсаторов с пленочными обкладками из золота. Униполярная |
|
проводимость такого пленочного |
конденсатора увеличивает неод |
нородность электрического поля |
и уменьшает удельную емкость, |
а следовательно, и добротность. |
|
Уменьшения потерь в обкладках пленочных конденсаторов можно достигнуть уменьшением их площади за счёт применения диэлектри ческих пленок, обеспечивающих получение конденсаторов с большой удельной емкостью. Однако необходимо при этом учитывать потери,
вносимые диэлектрическими пленками.
Для установления возможности применения в высокочастотных пленочных конденсаторах диэлектрических материалов, обеспечиваю щих получение больших удельных емкостей, было проведено иссле дование партий пленочных конденсаторов одинаковой емкости
(60 пф), изготовленных о диэлектрическими пленками из полипарак-
силилена и моноокиси кремния. Измерениями на частоте 395 МГц установлены средние значения активного сопротивления: у пер вых - 3 ,1 Ом, у вторых - 1 ,6 Ом.
Результаты измерений показывают, что, несмотря на уменьше ние площади обкладок, у пленочных конденсаторов с диэлектриче ским слоем из подипараксилилена добротность оказалась ниже,
чем у конденсаторов с диэлектриком из.моноокиси кремния, что объясняется большими потерями в диэлектрическом слое из поли-
параксилилена по сравнению с моноокисью кремния.
Общим выводом по результатам проведенных исследований • может служить заключение о том, что в пленочных микросхемах для частот до 300 МГц трехслойные пленочные конденсаторы с
25
диэлектрическим слоем из моноокисикремния и с обкладками из пленок алюминия, меди и алюминия, покрытого серебром,
обладают наименьшими потерями по сравнению с конденсаторами,
изготовленными с использованием других известных материалов.
4 . СВОЙСТВА ПЛЕНОЧНЫХ РЕЗИСТОРОВ НА ВЫСОКИХ ЧАСТОТАХ
На частотах более 40-50 МРҢ сопротивление пленочных ре
зисторов заметно зависит от частоты. Частотные погрешности сопротивления резисторов на ВЧ и СВЧ обусловлены собственной
индуктивностью, зависящей от формы и размеров, а также емко стью, зависящей от диэлектрической проницаемости подложйи и зернистости структуры пленки, т .е . технологического режима напыления.
Полная схема пленочного резистора при работе на ВЧ пред ставлена на р и с .І .ІЗ о Анализ этой схемы достаточно сложен.
Для его упрощения предполагаем, что резонансная частота пле ночного резистора много выше рабочей. Тогда распределенные параметры можно заменить сосредоточенными, и схема упрощает ся ( р и с .I .1 4 ).
Исходя из этой схемы, определим условия частотной незави симости пленочных резисторов. Полное сопротивление X пленоч ного резистора в общем случае равно:
z = ß x + j X X ,
-При условии, что
ХзГ7 • Rn
^ Ro,
Хзл * Xл
26
Rn
|
|
|
|
Рис. I . 14. Упрощенная схема |
||
согласно |
|
замещения пленочного |
резистора. |
|||
схемеD |
р и с .1 .14 |
получаем: |
|
|||
|
|
|
|
_ |
Ro |
|
|
|
|
|
|
|
|
где |
|
|
У |
to i - ш ъІ г'С - ö j t f c |
’ |
|
L |
- |
K x ~ (f-u> 4C )z +t»zt f C z |
||||
С - |
собственная индуктивность пленочного резистора; |
|||||
|
собственная |
емкость; |
|
Скп- емкость между контактными площадками;
R0 - сопротивление резистора на постоянном токе;
R„ - сопротивление подложки;
27
Ra - сопротивлеше диэлектрических слоев;
Цъп - сопротивлеше защитного покрытия пленочного резистора;
R ' - приведенное сопротивлеше;
С - приведенная емкость.
Пленочные резисторы по преобладавшему влиянию собствен
ной емкости или индуктивности на активную составляющую пол ного сопротивления условно подразделяем на низкоомные и высокоомные.
Низкоомный пленочный резистор считается частотнонезависи
мым в том случае, если величина его активного сопротивления
на порядок больше реактивного. Так как пленочные низкоомные резисторы в микросхемах имеют обычно малые размеры (длиной не более 3-5 мм), то реактивное сопротивлеше их много меньше активного в широком диапазоне частот.
Условие частотной независимости шзкоомных пленочных
резисторов имеет вид: |
» |
|
. |
R0 |
|
/ Oüj L |
|
Для пленочных резисторов сопротивлением более 300 Ом обычно
т . е . для высокоомных пленочных резисторов, влиянием их соб ственной индуктивности можно пренебречь.
Обычно длина высокоомных пленочных резисторов не превы шает 10-15 мм, и реактивное сопротивлеш е, обусловленное собственной индуктивностью, мало по.сравнению с активным сопротивлением. В то же время порядок величины реактивного
сопротивления, обусловленного ооботвенной емкостью, на высоких частотах приближается к активному. В этом случае наивысшая частота, до которой полное сопротивление практи
чески равно R0 , определяется выражением:
/ < Â L J-MOKC " £ С ' .
Одним' из наиболее часто употребляемых материалов для
получения пленочных резисторов является сплав нихром. В
связи со сложностью определения составляющих полного сопро тивления пленочного резистора были экспериментально иссле дованы зависимости изменения активного сопротивления пле ночных резисторов от частоты, материалом резистивной пленки
которых служил нихром. Удельное сопротивление пленки
J)0 = 804-100 Om/q . При напылении резисторов выдерживался
рекомендованный технологический режим, что обеспечивало однородность структуры пленок в исследованных образцах пленоч ных резисторов. Резисторы напылялись на подложку из стекла марки C - 4 I - I . Сопротивление резисторов на постоянном токе R0
измерялось с помощью цифрового вольтомметра BK7-I0A. Данные сопротивлений каждого образца резистора на постоянном токе приведены в таб л .1 .2 .
Три резистора (4 , 8 , 12) имели форму меандра, остальные
прямоугольной формы. Зависимость изменения отношения -4 -
г<о
от |
частоты для пленочных резисторов из нихрома |
изображена |
на |
р и с .I .15 . Измерения проводились с помощью генератора |
|
Г4-14А, измерительной линии Ж -3 и селективного усилителя |
||
Х 4 -4 . Для сравнения на рисунке приведены также |
характеристи- |
29
Р и с .I . 15 . Зависимость сопротивления |
резисторов |
из нихрома от частоты у |
0 |