- •. Измерительные задачи при определении моделей радиокомпонентов.
- •1.1. Структура элементной базы радиоэлектронных схем
- •1.2.1. Общие положения
- •1.2.2. Классификация моделей рк
- •1.2.3. Основные требования к моделям
- •1.2.4. Макромодели пассивных радиокомпонентов
- •1.2.5. Встроенные макромодели транзисторов
- •1.2.6. Макромодели, определяемые пользователем.
- •1.2.7. Макромодели операционных усилителей.
- •1.2.8. Факторные статистические модели многополюсных рк
- •1.3. Измерительные задачи
- •2. Алгоритмические методы измерения динамических параметров макромоделей многополюсных радиокомпонентов
- •2.1 Общие положения
- •2.2. Матрицы проводимости и сопротивления
- •2.2.1. Определение y- и z-матриц
- •2.2.2. Определение коэффициентов z и y матриц прямым способом.
- •2.3 Гибридные матрицы четырёхполюсника
- •2.4. Эквивалентная схема компонента.
- •2.5. Матрицы рассеяния
- •2.5.1. Определение s-матриц в свч диапазоне.
- •2.5.2. Измерение матриц рассеяния в схемах с конечными активными нагрузками.
- •2.4.3. Условия исключения систематических погрешностей при измерении s -матриц многополюсников в волноводных трактах.
- •2.6. Измерение y-параметров многополюсника с учетом паразитных параметров измерительных цепей.
- •2.6.1 Паразитные параметры в измерительных схемах с конечными нагрузками.
- •2.6.2. Определение y-матриц с учетом искажений
- •2.6.3 Идентификация падающих волн в измерительных схемах с паразитными параметрами
- •2.6.4 Следствие операции нормирования y- матрицы.
- •2.5.6 Способ полного исключения влияния входной цепи измерительного прибора на результаты измерений.
- •2.7. Калибровка измерительных цепей
- •2.7.1. Измерение динамических параметров двухполюсных элементов
- •2.7.2. Определение динамических параметров образцовых мер
- •2.7.3. Аттестация паразитных параметров контактно-соединительных
- •2.7.4. Корректировка -матриц по данным аттестации контактно-соединительных цепей.
- •2.8. Измерения в переменном базисе полюсных нагрузок
- •394026, Воронеж, Московский просп., 14.
2.7.4. Корректировка -матриц по данным аттестации контактно-соединительных цепей.
Влияние соединительного проводника, показанного в виде индуктивности на рис. 2.37.б, отражено проводимостью на эквивалентной схеме рис.2.38.
Влияние индуктивности проявляется в том, что истинный вход объекта измерения – многополюсника Y, превращается во внутренний узел многополюсника Y'. Коэффициенты матрицы Y' будут отличаться от коэффициентов матрицы Y тем больше чем больше, чем сильнее будет нарушено условие
, (2.198)
где - модуль входного сопротивления многополюсника со стороной полюса .
Чтобы определить связь коэффициентов матриц и , которые имеют размер , рассмотрим структуру матрицы Y'' размером с дополнительным узлом (рис. 2.38). Согласно правилам формирования матриц проводимости [2.6] элементы матрицы Y'' можно определить через элементы матрицы и проводимость по формулам
при ; (2.199)
при ; (2.200)
; (2.201)
; (2.202)
; (2.203)
при . (2.204)
Тогда матрица может быть выражена в виде
, (2.205)
г де - элементы матрицы Y.
Чтобы преобразовать матрицу в матрицу , необходимо выполнить ее редукцию, исключив узел . Воспользовавшись рекуррентной формулой Гаусса [6]
, (2.206)
где q - индекс исключаемого узла; при из (2.204) получаем следующие расчетные формулы для коэффициентов матрицы
при ; (2.207)
; (2.208)
; (2.208)
. (2.210)
Из уравнений (2.207)-(2.208) приходим к алгоритму определения коэффициентов искомой матрицы многополюсника Y через коэффициенты матрицыY', которые вычисляются по результатам измерения:
1) находим узловую проводимость корректируемого узла, воспользовавшись выражением (2.208)
. (2.211)
2) используя выражений (2.209) и (2.210) с учетом формулы (2.211) определяем коэффициенты взаимной проводимости
; (2.212)
, (2.213)
используя данные расчета по формулам (2.211)-(2.213) определяем остальные коэффициенты при
. (2.214)
Таким образом, применяя формулы (2.211)-(2.214), можно скорректировать влияние индуктивности контакта на результаты измерения для любого из входов-полюсов измерительной схемы. В общем случае такая операция должна производится (по числу полюсов). Для оптимизации вычислительного процесса желательно в каждом случае обосновать необходимость такой корректировки. Это может быть произведено в результате анализа конкретных значений индуктивностей , влияние которых возрастает с частотой. В первом приближении этим влиянием можно пренебречь, если выполняется условие (2.198). Результаты исследований опубликованы в работе [38].