- •. Измерительные задачи при определении моделей радиокомпонентов.
- •1.1. Структура элементной базы радиоэлектронных схем
- •1.2.1. Общие положения
- •1.2.2. Классификация моделей рк
- •1.2.3. Основные требования к моделям
- •1.2.4. Макромодели пассивных радиокомпонентов
- •1.2.5. Встроенные макромодели транзисторов
- •1.2.6. Макромодели, определяемые пользователем.
- •1.2.7. Макромодели операционных усилителей.
- •1.2.8. Факторные статистические модели многополюсных рк
- •1.3. Измерительные задачи
- •2. Алгоритмические методы измерения динамических параметров макромоделей многополюсных радиокомпонентов
- •2.1 Общие положения
- •2.2. Матрицы проводимости и сопротивления
- •2.2.1. Определение y- и z-матриц
- •2.2.2. Определение коэффициентов z и y матриц прямым способом.
- •2.3 Гибридные матрицы четырёхполюсника
- •2.4. Эквивалентная схема компонента.
- •2.5. Матрицы рассеяния
- •2.5.1. Определение s-матриц в свч диапазоне.
- •2.5.2. Измерение матриц рассеяния в схемах с конечными активными нагрузками.
- •2.4.3. Условия исключения систематических погрешностей при измерении s -матриц многополюсников в волноводных трактах.
- •2.6. Измерение y-параметров многополюсника с учетом паразитных параметров измерительных цепей.
- •2.6.1 Паразитные параметры в измерительных схемах с конечными нагрузками.
- •2.6.2. Определение y-матриц с учетом искажений
- •2.6.3 Идентификация падающих волн в измерительных схемах с паразитными параметрами
- •2.6.4 Следствие операции нормирования y- матрицы.
- •2.5.6 Способ полного исключения влияния входной цепи измерительного прибора на результаты измерений.
- •2.7. Калибровка измерительных цепей
- •2.7.1. Измерение динамических параметров двухполюсных элементов
- •2.7.2. Определение динамических параметров образцовых мер
- •2.7.3. Аттестация паразитных параметров контактно-соединительных
- •2.7.4. Корректировка -матриц по данным аттестации контактно-соединительных цепей.
- •2.8. Измерения в переменном базисе полюсных нагрузок
- •394026, Воронеж, Московский просп., 14.
2.5.6 Способ полного исключения влияния входной цепи измерительного прибора на результаты измерений.
Этот способ нужно рассматривать как следствие базового метода измерения, приведенного в п.2.3.2. Если в базовом способе измерения предполагается использование одного измерительного прибора типа векторного вольтметра, измерительный вход которого, с полным входным сопротивлением Zп поочередно 2n(n+1) раз подключается к входам измеряемого n-полюсника, то в данном случае предлагается использовать векторный вольтметр с n измерительными входами, каждый из которых подключен к соответствующему вхолу n–полюсника. При этом входные сопротивления Zпi, каждого из измерительных каналов могут отличаться друг от друга, т.е. справедливо
Zпi Zпj при ij. (2.166)
При такой постановке вопроса эквивалентную схему измерительных цепей, представленную на рис.2.22 а, нужно рассматривать в виде, показанном на рис.2.32
И з схемы рис.2.33 видно, что в результате одновременного подключения к входам этой схемы n пробников с входными сопротивлениями Zпi при i=1,n произойдет количественной изменение матрицы Y0, а, следовательно, и матрицы S0.
Так как возмущение производится только со стороны внешних цепей, то изменятся только диагональные элементы матрицы Y0. Эти элементы, если это необходимо, могут быть рассчитаны по формуле
Y'0ii =Yoii+1/ Zпi, (2.167)
где Y'0ii и Y0ii - диагональные элементы матриц Y'0 и Y0 соответственно;
Zпi - входное сопротивление пробника векторного вольтметра, подключаемого в i-му входу измерительной схемы.
Рис. 2.33. Структура многополюсника, эквивалентного паразитным параметрам измерительной схемы, при использовании многовходового векторного вольтметра
В результате происходит только изменение параметров матрицы Y0. Но параметры матрицы Y'0 учитываются в процессе выполнения опытов холостого хода, причем в процессе измерения каждого из полюсных напряжений изменения параметров схемы не происходит.
В этой связи расчет Y-матрицы измеряемого многополюсника должен производится согласно базовой методики по формулам (2.107), (2.113), (2.116).
Достоинствами рассмотренного способа измерения являются:
1.Исключение операций по калибровке пробника векторного вольтметра.
2.Повышение точности измерения, тат как неизбежные погрешности калибровки не будут сказываться на результатах.
Естественным недостатком является усложнение аппаратурной части измерительного комплекса за счет использования многоканального векторного вольтметра.
лючения к входам этой схемы n пробников с входными сопротивлениями Zпi при i=1,n произойдет количественной изменение матрицы Y0, а, следовательно, и матрицы S0.
Так как возмущение производится только со стороны внешних цепей, то изменятся только диагональные элементы матрицы Y0. Эти элементы, если это необходимо, могут быть рассчитаны по формуле
Y'0ii =Yoii+1/ Zпi, (2.167)
где Y'0ii и Y0ii - диагональные элементы матриц Y'0 и Y0 соответственно;
Zпi - входное сопротивление пробника векторного вольтметра, подключаемого в i-му входу измерительной схемы.
Рис. 2.33. Структура многополюсника, эквивалентного паразитным параметрам измерительной схемы, при использовании многовходового векторного вольтметра
В результате происходит только изменение параметров матрицы Y0. Но параметры матрицы Y'0 учитываются в процессе выполнения опытов холостого хода, причем в процессе измерения каждого из полюсных напряжений изменения параметров схемы не происходит.
В этой связи расчет Y-матрицы измеряемого многополюсника должен производится согласно базовой методики по формулам (2.107), (2.113), (2.116).
Достоинствами рассмотренного способа измерения являются.
Исключение операций по калибровке пробника векторного вольтметра.
Повышение точности измерения, тат как неизбежные погрешности калибровки не будут сказываться на результатах.
Естественным недостатком является усложнение аппаратурной части измерительного комплекса за счет использования многоканального векторного вольтметра.