- •(Конспект лекцій по к. "Метрологія"за матеріалами підручника д.І.Левінзона " основы метрологии полупроводников")
- •Частина 1. Загальні і законодавчі основи метрології напівпровідників
- •1.Вступ в метрологію
- •Метрологія як наука
- •Гуманітарні і соціально економічні аспекти метрології
- •2.Основи законодавчої метрології
- •2.1.Предмет законодавчої метрології
- •2.2 Міжнародна співпраця в області законодавчої метрології
- •2.3.Структура і функції державної і відомчих метрологічних служб в Україні
- •Основні функції дмс:
- •2.4. Основні законодавчі і державні акти по стандартизації, метрології і сертифікації
- •2.5 Організація сертифікації товарів і виробів в Україні
- •3. Загальні принципи забезпечення єдності вимірювань
- •3.1. Помилки і невизначеність вимірювань
- •3.2. Показники якості і технологічності вимірювань
- •3.3. Засоби вимірювання і їх класифікація
- •3.4. Клас точності засобів вимірювань
- •3.5. Еталони і зразкові засоби вимірювань
- •3.6. Перевірка засобів вимірювання
- •3.7. Принципи розробки і оформлення методик виконання вимірювань (аналізів)
- •3.8. Утворення одиниць фізичних величин
- •3.9. Обчислення погрішностей і довірчих меж погрішності результату вимірювань
- •3.10.Поняття про кореляцію, рангова кореляція
- •3.11 Представлення результатів вимірювань
- •Основні положення метрології напівпровідників
- •4.1. Загальна характеристика метрології напівпровідників
- •4.2.Електрична активність дефектів кристалічної структури в напівпровідниках
- •4.2.1Основні характеристичні параметри напівпровідникових матеріалів і структур
- •4.2.Основні фізичні і технічні поняття, терміни і визначення метрології і матеріалознавства напівпровідників
- •4.3.Системи критеріїв оцінки якості напівпровідникових матеріалів і структур
- •4.6 Адаптаційний підхід до управління якістю напівпровідників
- •4.7 Геттерування дефектів в напівпровідниках
- •4.8 Об'єкти, методологія і принципи організації технологічного контролю напівпровідників
- •4.9.Експериментально-статистичний підхід до оцінки якості об'ємних кристалів і структур
- •4.10.Основні міжнародні стандарти в області напівпровідників
- •Література
4.10.Основні міжнародні стандарти в області напівпровідників
Історично склалося так, що міжнародна співпраця в області стандартів, метрології і сертифікації напівпровідникової продукції визначалася і визначається у всьому світі діяльністю Американської спілки по випробуванню матеріалів (ASTM) і німецької спілки по сертифікації в Європі (ДИН ГОСТ ТЮФ). Проте, останніми роками тут домінуюче положення переходить до SEMI (Semiconductor Equipment and Material International) – міжнародної асоціації, що об'єднує на основі добровільного асоціативного членства більше 2300 компаній, що працюють з напівпровідниковими приладами, а також устаткуванням і матеріалами для цієї промисловості.
Все частіше і частіше в нормативних і протокольних матеріалах, що супроводжують будь-які міжнародні операції і контракти в області напівпровідників, і якісні параметри узагальнено визначаються такими словами як "відповідно до стандартів ASTM" або "відповідно до стандартів SEMI".
Американська спілка по випробуванню матеріалів (ASTM) заснована в 1898 році і є науковою і технічною організацією, утвореною з метою "розробки стандартів на характеристики і експлуатаційні дані матеріалів, готової продукції, систем і технічне обслуговування, а також розповсюдження відповідних знань".
ASTM – найбільше світове джерело стандартів, розроблених на основі добровільного консенсусу. Ця організація функціонує з допомогою біля 150 основних технічних комітетів і більше двох тисяч підкомітетів. Щорічний випуск стандартів ASTM включає 60-80 томів, що містять спеціальні розділи, у тому числі і ті, що відносяться до напівпровідників, а також методам і засобам вимірювань. ASTM застосовує три основних категорії аргументів:
стандарт розроблений і прийнятий відповідно до принципів повного консенсусу і задовольняючий всім вимогам схвалених процедур і правил ASTM;
тимчасовий стандарт, не є документом повного консенсусу, оскільки він не проходить процедуру голосування в технічному комітеті, опублікований з метою заміни або прискорення видання стандарту;
пропозиція, що є документом, схваленим провідним комітетом із даної проблеми, опублікований з метою заміни або прискорення видання стандарту.
Застосування стандартів ASTM є суто добровільним. Ці стандарти не перешкоджає кому-небудь у виготовленні, маркетингу, продажу або застосуванні продукції (процесів, послуг),що не відповідають їм.
Стандарти ASTM піддаються періодичній перевірці і перегляду, який проводиться відповідним технічним комітетам. Стандарт повинен переглядатися не рідше, ніж кожні п'ять років, і якщо він не піддається змінам, то повинен бути або повторно схвалений, або вилучений з обігу.
Стандарти SEMI більш спеціалізовані по відношенню до напівпровідників. Тому вони значно оперативніше реагують на вимоги, що постійно змінюються, до параметрів напівпровідників і на появу нових сфер їх застосування. Якщо говорити про кремнієві пластини, то динаміка зміни вимог торкнулася, перш за все, їх діаметра і товщини, чистота поверхні, площинності, мікрошорсткості, округлості країв і т.д. Швидкість змін параметрів ставить серйозні задачі в частині переходу на більш прогресивні технології і нове устаткування.
Таким чином, система стандартів SEMI направлена на поліпшення можливостей організації ділового партнерства всіх членів SEMI в країнах СНГ. Завдяки співпраці в рамках SEMI, стало реальне можливим підкорення до метрологічного забезпечення вітчизняного виробництва напівпровідників таких всесвітньо відомих фірм як Philips, Semilab, Hewlett-Packard, Advantest, Applied Materials та інші.