книги из ГПНТБ / Тимашев В.В. Технический анализ и контроль производства вяжущих материалов и асбестоцемента учеб. пособие
.pdfплоскости 8. В плоскости конечного изображения, также имеется флюоресцирующий экран, превращающий элек тронное изображение в световое. Тонкие участки объекта в этом изображении являются светлыми, а толстые и плотные — темными. Под флюоресцирующим экраном по мещается кассета с обычной фотографической пластин кой, которую можно заэкспонировать. Вся система микро скопа находится в колонке под вакуумом, равным 1 • Ю - 4 —
5 • 10- 5 мм рт. ст. Общее увеличение микроскопа |
равно |
|
произведению увеличений, создаваемых линзами |
3 и 5. |
|
Так, если увеличение линзы равно 150, а |
линзы 5—200, |
|
то общее увеличение микроскопа — 30 000 |
раз. |
|
В исследовательской практике применяют электрон ные микроскопы различных классов по разрешающей способности, однако принцип их работы во.всех случаях одинаков. Наиболее известны следующие модели микро-
о
скопов: I класс (разрешение <5—15 А)—УЭМБ-100, УМВ-100, ЭМ-5 (СССР), / EM-5Y и НИ-10 (Япония); I I класс (разрешение 20—30 А.) —/ ЕМ-Т4, ТЕСЛА-ВС-242
о
(Чехословакия); I I I класс (разрешение 50—150 А) — УЭМ-100, ЭМ-3 (СССР),НМ-3 (Япония).
Полезное увеличение микроскопа достигает 300 000, однако такое увеличение редко используют на практике, поскольку в этом случае нельзя получить четкое и конт растное изображение. При исследовании вяжущих ве ществ обычно прибегают к увеличению 5 000—15 000 раз
(x'i), |
а |
затем |
увеличивают |
полученное |
изображение |
|
обычным |
оптическим |
путем при фотопечати |
(х2). Таким |
|||
образом, |
общее |
увеличение |
равно произведению Х\ х2. |
|||
(Пример: |
л-, = 6000; |
* 2 = 4, |
тогда х= 6000X4 = 24000 |
|||
раз.) |
Применение небольшого электронного |
увеличения |
позволяет, кроме того, расширить поле зрения, т. е. вклю чить в изображение больше деталей картины. Методом оптического фотоувеличения достигается затем необхо димая разрешающая способность.
Для составления более объективной характеристики изучаемого объекта обычно делают несколько электрон но-микроскопических снимков, причем фотографируют не случайные, а взаимосвязанные в том или ином на правлении участки препарата, т.е. ведут панорамную съемку.
210
Ход работы
а) П р и г о т о в л е н и е п р е п а р а т о в . Для иссле дования в электронном микроскопе препараты — объекты должны удовлетворять определенным требованиям. Вопервых, они должны быть прозрачными для электронов, во-вторых, ие ионизироваться под воздействием электрон ного луча и, в-третьих, не разрушаться в вакууме и под действием электронов.
Известно много способов препарирования объектов для изучения их под электронным микроскопом, каж дый из которых имеет определенную специфику. Выбор того или иного способа препарирования определяется прежде, всего целью данного опыта.
Препарат исследуемого материала вносят в микроскоп на сетке пли диафрагме, которые помещают в патрончик объектодержателя. Обычно применяют плетеную мед
ную сетку с 10 000 отв/см2, |
из которой |
специальным |
про |
||
бойником |
вырубают кружки необходимого |
диаметра. |
|||
б) И с с л е д о в а н и е |
п р о з р а ч н ы х |
п р е п а р а |
|||
т о в на |
п л е н к а х - п о д л о ж к а х . |
Подлежащий |
ис |
следованию кусочек цементного камня, предварительно
обезвоженный |
абсолютным спиртом |
и серным |
эфиром |
||||
по |
известной |
методике |
(стр. 166), истирают в |
агатовой |
|||
ступке |
до |
полного |
прохождения |
через |
сито с |
||
10 000 отв/см2 |
и помещают в бюкс. |
|
|
||||
|
В цилиндрическую чашку высотой 10—20 мм и диа |
||||||
метром |
около |
170 мм наливают |
дистиллированную воду |
||||
и |
на ее поверхность помещают |
с помощью стеклянной |
палочки одну каплю 1,5% раствора коллодия в амила цетате. Вследствие небольшого поверхностного натяже ния капля быстро растягивается по поверхности воды. Через несколько минут после испарения амилацетата пленка высыхает. Толщина пленки зависит от размера капли и не должна превышать от 2 - Ю - 5 до 3-10- 4 мм. Для 1,5% раствора лака такая пленка получается при объеме капли, равном примерно 0,05 см3.
Пленку подхватывают на вырубленные металлические сетки, осторожно срезая иглой по краям излишки пленки. Сетку с пленкой подсушивают в течение 1 ч под стеклян ным колпаком на фильтровальной бумаге. Пленка-под ложка выполняет функции предметного стекла в световом микроскопе. Она должна быть прочной и не иметь замет ной собственной структуры.
14* |
211 |
трещины) беспрепятственно проходит через апертурную диафрагму объективной линзы и в виде прямого неотклонеиного луча попадает на флюоресцентный экран, вы зывая его яркое свечение (светлое поле). Электроны же,
попавшие на |
плотные |
кристаллические |
участки |
объекта |
и частично рассеянные ими, доходят до |
флюоресцирую |
|||
щего экрана |
в виде |
существенно ослабленного |
потока, |
что вызывает весьма слабое его свечение (темные поля). Следовательно, контуры темных пятен на экране соответ ствуют форме частиц препарата. При получении отпе чатков данного изображения на фотобумаге (позитив)
цвет |
поля меняется на прямо противоположный. На |
рис. |
53 приведены электронно-микроскопические снимки |
ряда продуктов гидратации портландцемента, получен ных по светлополы-юму методу. При использовании тако го метода можно достичь максимального для данного микроскопа увеличения.
Препарат можно исследовать и по темнопольному ме тоду. В этом случае через апертурную диафрагму про пускают, наоборот, лишь те электроны, которые рассеи ваются кристаллической фазой объекта, а электроны, по падающие на межкристаллические участки, до экрана не доходят. Тогда на экране светлые участки будут соот ветствовать кристаллам, а темные — промежуткам меж ду ними. Особенность темнопольного метода — повышен ная контрастность изображения.
Наиболее интересные участки объекта фотографиру ют с помощью специального устройства, которым осна щен каждый микроскоп.
Некоторые детали структуры в электронном микроско пе часто выходят из поля зрения. Поэтому, рассматривая снимки, сделанные с отдельных разрозненных участков препарата, бывает трудно правильно расшифровать на блюдаемую картину. Если же заснять значительную площадь препарата, сделав серию перекрывающихся снимков, и затем смонтировать эти снимки в одну пано раму, то картина становится значительно яснее. Для па норамной съемки требуется больше снимков (иногда свыше 100) с одного препарата при одних и тех же усло виях съемки.
в) И с с л е д о в а н и е1 р е п л и к. Этот метод косвен ный, так как исследуется не сам объект, а его копия-реп лика. Репликой называют слепок с поверхности какоголибо твердого тела, точно воспроизводящий его рельеф.
213
Реплику готовят из материала, который при данном уве личении не имеет заметной собственной структуры, проз
рачен для электронов и не разрушается |
под их воздейст |
||
вием в вакууме. Ома должна быть тонкой и точной. |
|||
И с с л е д о в а н и е с п р и м е и е н и ем о д и о с т у- |
|||
п е н ч а т о й |
р е п л и к и. Раскалывают |
кусочек |
цемент |
ного камня |
на две части. Укрепляют |
одни из |
кусочков |
с помощью пластилина на предметном стекле так, чтобы поверхность свежего скола была параллельна плоскости стекла. Предметное стекло с образцом помещают в спе циальную вакуумную установку УВР или ВУП, в кото рой создается вакуум порядка 1СН мм рт. ст. Осущест вляют электронагрев двух спектрально чистых угольных стержней, плотно прижатых друг к другу заостренными концами. При токе силой 30 а стержни в месте контакта разогреваются и испаряются. Молекулы вещества летят во все стороны равномерно и конденсируются на всех по верхностях, с которыми они сталкиваются, в том числе, естественно, и на поверхности скола образца. Поток этих частиц равномерен, так что поверхность образца покры вается слоем угля примерно одинаковой толщины. Уста навливают образец на расстоянии 10 см от контакта стер жней и через 20—25 сек испарения получают угольную
О
пленку (реплику) толщннои_ порядка 100—300 А.
Для отделения угольной реплики от образца на нее наносят каплями подогретый на водяной бане 10—20%- пый раствор желатина в воде, который постепенно (через 10—12 ч) затвердевает, образуя жесткую корочку. После этого корочку желатина с прочно сцепившейся с ней угольной пленкой механически отделяют от поверхности образца. Корочку желатина с угольной реплики удаля ют методом растворения в горячей дистиллированной во де. При этом реплику помещают в воду желатиновым
слоем вниз. Длительность полного отмывания |
пленки — |
не менее 30—40 мин. Затем угольную пленку |
осторожно |
вылавливают сеточкой и помещают во второй сосуд с по догретой водой, в которой ее промывают. Промытую плен ку-реплику вылавливают сеточкой и высушивают под стеклянным колпаком на фильтровальной бумаге. Уголь ные реплики аморфны, химически малоактивны и доста точно прочны.
Поскольку контрастность полученной реплики обычно невелика, то это снижает четкость изображения деталей поверхности в электронном микроскопе и его разрешаю-
214
щую способность. Для повышения контрастности репли ки детали ее рельефа оттеняют металлами, напыляемы
ми на поверхность реплики под углом |
(метод |
косого |
на |
|||||||||||||
пыления |
металлов). |
Схема |
установки для |
напыления |
||||||||||||
приведена на рис. 54. Обра |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
зец' |
укрепляют |
на |
штативе |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
7 под углом, который изме |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
няется |
в |
пределах |
10—45\ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
и обычно |
подбирают |
экспе |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
риментально. В напылптель |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
2, |
представляющий |
собой |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
лодочку из тантала пли спи |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
ральный |
конус из |
вольфра |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
мовой |
проволоки, |
помеща |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
ют |
5—8 |
мг |
|
распыляемого |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
металла |
(золото, |
хром и |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
др.) |
и |
накрывают |
его |
пла |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
стинкой |
с |
отверстием |
3. |
i |
КбамцннШ w |
|
~ v ~ ™ |
|||||||||
Расстояние |
от |
реплики |
до |
устатке |
|
|
А |
& |
||||||||
нагревателя |
5—6 |
см. |
По |
Рис. 54. Схема вакуумной ус |
||||||||||||
скольку |
атомный |
поток |
ис |
тановки |
для |
напыления |
ме |
|||||||||
паряющегося |
металла |
и |
дви |
таллов |
на |
поверхность |
объекта |
|||||||||
жется |
прямолинейно |
кон |
2— напылптель |
(угольные |
стержни |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
/ — предметное |
стекло |
с |
образцом; |
||||
денсируется |
на всех |
стоя |
или вольфрамовый |
нагреватель-ис |
||||||||||||
щих на его пути предметах, |
паритель); |
3—пластинка |
|
с |
отвер |
|||||||||||
стием; |
4—стеклянный |
|
|
колокол; |
||||||||||||
то на тех |
участках |
реплики, |
таллические электроды; |
7 — ш т а т и в ; |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
5—вакуум-стойкие прокладки; |
6— ме |
||||||
которые |
расположены |
пер |
8 — шкала |
для |
отсчета |
угла |
уста |
|||||||||
пендикулярно |
атомному |
по |
новки объекта |
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
току, |
быстро |
набирается |
|
|
|
|
|
|
|
|
толстый слой металла, участки же реплики, защищен ные от потока выступами, практически не покрываются металлической пленкой. В результате на изображении
J
Рис. 55. Схема образования тени при косом напылении ме талла
h |
— высота |
уступа; / — длина тени; |
|
« |
— угол |
напыления; / — объект: |
|
2 — подложка; |
3 — молекулярный |
||
пучок |
|
|
возникают «тени» и «полутеки». Схема образования тени при косом напылении приведена на рис. 55. Следова тельно, напыление позволяет сильно повысить контраст ность рельефа реплик.
215
больше груз) н выдерживают до полного высыхания пер вичного слоя. После этого покрытие снимают и первич ный слой механически отделяют от поверхности образца. На полученную органическую реплику по описанной вы ше методике напыляют кварцевую или угольную пленку
о
толщиной до 120—150 А. Отделяют кварцевую пленку от рентгеновской пленки-реплики, растворяя последнюю в
ацетоне. |
Чтобы |
при этом тонкая кварцевая пленка не |
|
разрушалась, ее |
с |
поверхности укрепляют парафиновой |
|
пленкой, |
которая |
затем легко растворяется в толуоле. |
|
В итоге получается |
вторичная кварцевая пленка-реплика |
||
в первичной органической реплике. |
|||
При |
проведении |
электронно-микроскопических иссле |
дований весьма трудно идентифицировать получаемую картину, поскольку контуры кристаллов многих минера лов совпадают. Для качественной расшифровки элек тронно-микроскопических снимков необходимо иметь на бор эталонов для сравнения структуры. Последние моде
ли |
микроскопов оборудованы устройствами для |
снятия |
|
с |
рассматриваемых кристаллов электронограмм |
(метод |
|
микродифракции), |
что позволяет расшифровать их |
||
структуру, а затем |
установить и состав фазы. |
|
Часть II. ТЕХНОЛОГИЯ АСБЕСТОЦЕМЕНТНЫХ ИЗДЕЛИЙ
Асбестоцементом называют искусственный камневидиып материал, получающийся в результате затверде вания смеси асбеста, портландцемента и воды. Весовое
соотношение асбеста и цемента в |
нем колеблется от |
10: 90 до 20 : 80. |
|
В зависимости от эластичности |
волокна различают |
три разновидности хризотпл-асбеста: нормальную, полу ломкую и ломкую.
Длина волокон асбеста весьма различна |
и |
колеблет |
ся в пределах от 1 до 10 мм, но иногда длина |
отдельных |
|
волокон может достигать 20—25 и даже 50 |
мм. |
Частицы сопутствующей породы с размером в попе речнике более 0,25 мм называют «галей», частицы по роды и асбестовое волокно, прошедшее через сито с раз
мером ячейки в свету 0,25 мм — «пылью». |
|
В зависимости от длины волокон и содержания |
пыли |
и гали хризотил-асбест подразделяется на 8 сортов |
(с 0 |
до 7-го), а в зависимости от текстуры (степени сохране |
|
ния агрегатов волокон) — на ряд групп. |
|
Для производства асбестоцементных изделий приме няют асбест 3, 4, 5 и 6-го сортов. Для более низких сор тов асбеста (6-го и 7-го) характерны короткие волокна и большое содержание гали и пыли. Поэтому такой ас бест в производстве асбестоцементных изделий исполь зуют весьма ограниченно.
§ 1. О П Р Е Д Е Л Е Н И Е КАЧЕСТВА АСБЕСТА
Поскольку роль асбеста в процессе твердения асбес
тоцементных изделий весьма велика, не все виды |
асбе |
||
ста можно применять для производства |
асбестоцемент |
||
ных изделий. Выше указывалось, что |
промышленность |
||
использует 3, 4, 5 и 6-й сорта |
асбеста. |
Сорта, текстура |
|
и марки асбеста приведены в табл. 26. |
|
|
|
В обозначениях марок асбеста буквы означают: АК- |
|||
асбест кусковой, ДВ — длинноволокнистый, Ж — |
жест |
||
кая, П Р Ж — промежуточная |
текстура, П — полужесткая |
текстура, М — мягкая текстура, К—асбест мягкой тек стуры, получаемый из продуктов осаждения пылеочистных сооружений. Цифры в обозначении марок имеют
218
Т а б л и ц а 26. Сорта, текстура и марки асбеста
Сорта
0
1
2
3
4
5
6
7
жесткая
АК ДВ-0-80 ВВ-0-55
Ж-1-50
Ж-1-38 Ж-2-20
Ж-3-40
—
—
—
—
Текстура и марки
промежуточная полужесткая
— |
— |
|
ПРЖ-1-75 |
— |
|
ПРЖ-1-50 |
||
|
||
ПРЖ-2-30 |
П-2-30 |
|
ПРЖ-2-15 |
П-2-15 |
|
— |
П-3-70 |
|
П-3-60 |
||
|
П-3-50 |
|
— |
П-4-40 |
|
П-4-30 |
||
|
П-4-20 |
|
|
П-4-5 |
|
— |
П-5-67 |
|
П-5-65 |
||
|
П-5-52 |
|
|
П-5-50 |
|
— |
П-6-45 |
|
П-6-30 |
||
— |
— |
мягкая
—
—
—
М-3-70 М-3-60
М-4-40 М-4-30 М-4-20 М-4-5
М-5-65 М-5-50
М-6-40 М-6-30 К-6-45 К-6-30 К-6-20 К-6-5
7-300
7-370
7-450
7-520
следующий смысл: первая — сорт асбеста, вторая — га рантированный минимальный остаток волокна в % для
асбеста данной марки иа основном |
сите контрольного |
|
аппарата, а для асбеста 7-го сорта — объемная |
масса. |
|
При контроле качества асбеста |
проверяют: |
текстуру |
и длину волокна; влажность и объемную массу |
асбеста, |
|
ломкость волокна и ситовой состав асбеста. |
|
219