Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Тимашев В.В. Технический анализ и контроль производства вяжущих материалов и асбестоцемента учеб. пособие

.pdf
Скачиваний:
7
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
16.6 Mб
Скачать

плоскости 8. В плоскости конечного изображения, также имеется флюоресцирующий экран, превращающий элек­ тронное изображение в световое. Тонкие участки объекта в этом изображении являются светлыми, а толстые и плотные — темными. Под флюоресцирующим экраном по­ мещается кассета с обычной фотографической пластин­ кой, которую можно заэкспонировать. Вся система микро­ скопа находится в колонке под вакуумом, равным 1 • Ю - 4

5 • 10- 5 мм рт. ст. Общее увеличение микроскопа

равно

произведению увеличений, создаваемых линзами

3 и 5.

Так, если увеличение линзы равно 150, а

линзы 5—200,

то общее увеличение микроскопа — 30 000

раз.

 

В исследовательской практике применяют электрон­ ные микроскопы различных классов по разрешающей способности, однако принцип их работы во.всех случаях одинаков. Наиболее известны следующие модели микро-

о

скопов: I класс (разрешение <5—15 А)—УЭМБ-100, УМВ-100, ЭМ-5 (СССР), / EM-5Y и НИ-10 (Япония); I I класс (разрешение 20—30 А.) —/ ЕМ-Т4, ТЕСЛА-ВС-242

о

(Чехословакия); I I I класс (разрешение 50—150 А) — УЭМ-100, ЭМ-3 (СССР),НМ-3 (Япония).

Полезное увеличение микроскопа достигает 300 000, однако такое увеличение редко используют на практике, поскольку в этом случае нельзя получить четкое и конт­ растное изображение. При исследовании вяжущих ве­ ществ обычно прибегают к увеличению 5 000—15 000 раз

(x'i),

а

затем

увеличивают

полученное

изображение

обычным

оптическим

путем при фотопечати

2). Таким

образом,

общее

увеличение

равно произведению Х\ х2.

(Пример:

л-, = 6000;

* 2 = 4,

тогда х= 6000X4 = 24000

раз.)

Применение небольшого электронного

увеличения

позволяет, кроме того, расширить поле зрения, т. е. вклю­ чить в изображение больше деталей картины. Методом оптического фотоувеличения достигается затем необхо­ димая разрешающая способность.

Для составления более объективной характеристики изучаемого объекта обычно делают несколько электрон­ но-микроскопических снимков, причем фотографируют не случайные, а взаимосвязанные в том или ином на­ правлении участки препарата, т.е. ведут панорамную съемку.

210

Ход работы

а) П р и г о т о в л е н и е п р е п а р а т о в . Для иссле­ дования в электронном микроскопе препараты — объекты должны удовлетворять определенным требованиям. Вопервых, они должны быть прозрачными для электронов, во-вторых, ие ионизироваться под воздействием электрон­ ного луча и, в-третьих, не разрушаться в вакууме и под действием электронов.

Известно много способов препарирования объектов для изучения их под электронным микроскопом, каж­ дый из которых имеет определенную специфику. Выбор того или иного способа препарирования определяется прежде, всего целью данного опыта.

Препарат исследуемого материала вносят в микроскоп на сетке пли диафрагме, которые помещают в патрончик объектодержателя. Обычно применяют плетеную мед­

ную сетку с 10 000 отв/см2,

из которой

специальным

про­

бойником

вырубают кружки необходимого

диаметра.

б) И с с л е д о в а н и е

п р о з р а ч н ы х

п р е п а р а ­

т о в на

п л е н к а х - п о д л о ж к а х .

Подлежащий

ис­

следованию кусочек цементного камня, предварительно

обезвоженный

абсолютным спиртом

и серным

эфиром

по

известной

методике

(стр. 166), истирают в

агатовой

ступке

до

полного

прохождения

через

сито с

10 000 отв/см2

и помещают в бюкс.

 

 

 

В цилиндрическую чашку высотой 10—20 мм и диа­

метром

около

170 мм наливают

дистиллированную воду

и

на ее поверхность помещают

с помощью стеклянной

палочки одну каплю 1,5% раствора коллодия в амила­ цетате. Вследствие небольшого поверхностного натяже­ ния капля быстро растягивается по поверхности воды. Через несколько минут после испарения амилацетата пленка высыхает. Толщина пленки зависит от размера капли и не должна превышать от 2 - Ю - 5 до 3-10- 4 мм. Для 1,5% раствора лака такая пленка получается при объеме капли, равном примерно 0,05 см3.

Пленку подхватывают на вырубленные металлические сетки, осторожно срезая иглой по краям излишки пленки. Сетку с пленкой подсушивают в течение 1 ч под стеклян­ ным колпаком на фильтровальной бумаге. Пленка-под­ ложка выполняет функции предметного стекла в световом микроскопе. Она должна быть прочной и не иметь замет­ ной собственной структуры.

14*

211

трещины) беспрепятственно проходит через апертурную диафрагму объективной линзы и в виде прямого неотклонеиного луча попадает на флюоресцентный экран, вы­ зывая его яркое свечение (светлое поле). Электроны же,

попавшие на

плотные

кристаллические

участки

объекта

и частично рассеянные ими, доходят до

флюоресцирую­

щего экрана

в виде

существенно ослабленного

потока,

что вызывает весьма слабое его свечение (темные поля). Следовательно, контуры темных пятен на экране соответ­ ствуют форме частиц препарата. При получении отпе­ чатков данного изображения на фотобумаге (позитив)

цвет

поля меняется на прямо противоположный. На

рис.

53 приведены электронно-микроскопические снимки

ряда продуктов гидратации портландцемента, получен­ ных по светлополы-юму методу. При использовании тако­ го метода можно достичь максимального для данного микроскопа увеличения.

Препарат можно исследовать и по темнопольному ме­ тоду. В этом случае через апертурную диафрагму про­ пускают, наоборот, лишь те электроны, которые рассеи­ ваются кристаллической фазой объекта, а электроны, по­ падающие на межкристаллические участки, до экрана не доходят. Тогда на экране светлые участки будут соот­ ветствовать кристаллам, а темные — промежуткам меж­ ду ними. Особенность темнопольного метода — повышен­ ная контрастность изображения.

Наиболее интересные участки объекта фотографиру­ ют с помощью специального устройства, которым осна­ щен каждый микроскоп.

Некоторые детали структуры в электронном микроско­ пе часто выходят из поля зрения. Поэтому, рассматривая снимки, сделанные с отдельных разрозненных участков препарата, бывает трудно правильно расшифровать на­ блюдаемую картину. Если же заснять значительную площадь препарата, сделав серию перекрывающихся снимков, и затем смонтировать эти снимки в одну пано­ раму, то картина становится значительно яснее. Для па­ норамной съемки требуется больше снимков (иногда свыше 100) с одного препарата при одних и тех же усло­ виях съемки.

в) И с с л е д о в а н и е1 р е п л и к. Этот метод косвен­ ный, так как исследуется не сам объект, а его копия-реп­ лика. Репликой называют слепок с поверхности какоголибо твердого тела, точно воспроизводящий его рельеф.

213

Реплику готовят из материала, который при данном уве­ личении не имеет заметной собственной структуры, проз­

рачен для электронов и не разрушается

под их воздейст­

вием в вакууме. Ома должна быть тонкой и точной.

И с с л е д о в а н и е с п р и м е и е н и ем о д и о с т у-

п е н ч а т о й

р е п л и к и. Раскалывают

кусочек

цемент­

ного камня

на две части. Укрепляют

одни из

кусочков

с помощью пластилина на предметном стекле так, чтобы поверхность свежего скола была параллельна плоскости стекла. Предметное стекло с образцом помещают в спе­ циальную вакуумную установку УВР или ВУП, в кото­ рой создается вакуум порядка 1СН мм рт. ст. Осущест­ вляют электронагрев двух спектрально чистых угольных стержней, плотно прижатых друг к другу заостренными концами. При токе силой 30 а стержни в месте контакта разогреваются и испаряются. Молекулы вещества летят во все стороны равномерно и конденсируются на всех по­ верхностях, с которыми они сталкиваются, в том числе, естественно, и на поверхности скола образца. Поток этих частиц равномерен, так что поверхность образца покры­ вается слоем угля примерно одинаковой толщины. Уста­ навливают образец на расстоянии 10 см от контакта стер­ жней и через 20—25 сек испарения получают угольную

О

пленку (реплику) толщннои_ порядка 100—300 А.

Для отделения угольной реплики от образца на нее наносят каплями подогретый на водяной бане 10—20%- пый раствор желатина в воде, который постепенно (через 10—12 ч) затвердевает, образуя жесткую корочку. После этого корочку желатина с прочно сцепившейся с ней угольной пленкой механически отделяют от поверхности образца. Корочку желатина с угольной реплики удаля­ ют методом растворения в горячей дистиллированной во­ де. При этом реплику помещают в воду желатиновым

слоем вниз. Длительность полного отмывания

пленки —

не менее 30—40 мин. Затем угольную пленку

осторожно

вылавливают сеточкой и помещают во второй сосуд с по­ догретой водой, в которой ее промывают. Промытую плен­ ку-реплику вылавливают сеточкой и высушивают под стеклянным колпаком на фильтровальной бумаге. Уголь­ ные реплики аморфны, химически малоактивны и доста­ точно прочны.

Поскольку контрастность полученной реплики обычно невелика, то это снижает четкость изображения деталей поверхности в электронном микроскопе и его разрешаю-

214

щую способность. Для повышения контрастности репли­ ки детали ее рельефа оттеняют металлами, напыляемы­

ми на поверхность реплики под углом

(метод

косого

на­

пыления

металлов).

Схема

установки для

напыления

приведена на рис. 54. Обра­

 

 

 

 

 

 

 

 

зец'

укрепляют

на

штативе

 

 

 

 

 

 

 

 

7 под углом, который изме­

 

 

 

 

 

 

 

 

няется

в

пределах

10—45\

 

 

 

 

 

 

 

 

и обычно

подбирают

экспе­

 

 

 

 

 

 

 

 

риментально. В напылптель

 

 

 

 

 

 

 

 

2,

представляющий

собой

 

 

 

 

 

 

 

 

лодочку из тантала пли спи­

 

 

 

 

 

 

 

 

ральный

конус из

вольфра­

 

 

 

 

 

 

 

 

мовой

проволоки,

помеща­

 

 

 

 

 

 

 

 

ют

5—8

мг

 

распыляемого

 

 

 

 

 

 

 

 

металла

(золото,

хром и

 

 

 

 

 

 

 

 

др.)

и

накрывают

его

пла­

 

 

 

 

 

 

 

 

стинкой

с

отверстием

3.

i

КбамцннШ w

 

~ v ~ ™

Расстояние

от

реплики

до

устатке

 

 

А

&

нагревателя

5—6

см.

По­

Рис. 54. Схема вакуумной ус­

скольку

атомный

поток

ис­

тановки

для

напыления

ме­

паряющегося

металла

и

дви­

таллов

на

поверхность

объекта

жется

прямолинейно

кон­

2— напылптель

(угольные

стержни

 

 

 

 

 

 

 

 

 

/ — предметное

стекло

с

образцом;

денсируется

на всех

стоя­

или вольфрамовый

нагреватель-ис­

щих на его пути предметах,

паритель);

3—пластинка

 

с

отвер­

стием;

4—стеклянный

 

 

колокол;

то на тех

участках

реплики,

таллические электроды;

7 — ш т а т и в ;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5—вакуум-стойкие прокладки;

6— ме­

которые

расположены

пер­

8 — шкала

для

отсчета

угла

уста­

пендикулярно

атомному

по­

новки объекта

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

току,

быстро

набирается

 

 

 

 

 

 

 

 

толстый слой металла, участки же реплики, защищен­ ные от потока выступами, практически не покрываются металлической пленкой. В результате на изображении

J

Рис. 55. Схема образования тени при косом напылении ме­ талла

h

— высота

уступа; / — длина тени;

«

— угол

напыления; / — объект:

2 — подложка;

3 — молекулярный

пучок

 

 

возникают «тени» и «полутеки». Схема образования тени при косом напылении приведена на рис. 55. Следова­ тельно, напыление позволяет сильно повысить контраст­ ность рельефа реплик.

215

больше груз) н выдерживают до полного высыхания пер­ вичного слоя. После этого покрытие снимают и первич­ ный слой механически отделяют от поверхности образца. На полученную органическую реплику по описанной вы­ ше методике напыляют кварцевую или угольную пленку

о

толщиной до 120—150 А. Отделяют кварцевую пленку от рентгеновской пленки-реплики, растворяя последнюю в

ацетоне.

Чтобы

при этом тонкая кварцевая пленка не

разрушалась, ее

с

поверхности укрепляют парафиновой

пленкой,

которая

затем легко растворяется в толуоле.

В итоге получается

вторичная кварцевая пленка-реплика

в первичной органической реплике.

При

проведении

электронно-микроскопических иссле­

дований весьма трудно идентифицировать получаемую картину, поскольку контуры кристаллов многих минера­ лов совпадают. Для качественной расшифровки элек­ тронно-микроскопических снимков необходимо иметь на­ бор эталонов для сравнения структуры. Последние моде­

ли

микроскопов оборудованы устройствами для

снятия

с

рассматриваемых кристаллов электронограмм

(метод

микродифракции),

что позволяет расшифровать их

структуру, а затем

установить и состав фазы.

 

Часть II. ТЕХНОЛОГИЯ АСБЕСТОЦЕМЕНТНЫХ ИЗДЕЛИЙ

Асбестоцементом называют искусственный камневидиып материал, получающийся в результате затверде­ вания смеси асбеста, портландцемента и воды. Весовое

соотношение асбеста и цемента в

нем колеблется от

10: 90 до 20 : 80.

 

В зависимости от эластичности

волокна различают

три разновидности хризотпл-асбеста: нормальную, полу­ ломкую и ломкую.

Длина волокон асбеста весьма различна

и

колеблет­

ся в пределах от 1 до 10 мм, но иногда длина

отдельных

волокон может достигать 20—25 и даже 50

мм.

Частицы сопутствующей породы с размером в попе­ речнике более 0,25 мм называют «галей», частицы по­ роды и асбестовое волокно, прошедшее через сито с раз­

мером ячейки в свету 0,25 мм — «пылью».

 

В зависимости от длины волокон и содержания

пыли

и гали хризотил-асбест подразделяется на 8 сортов

(с 0

до 7-го), а в зависимости от текстуры (степени сохране­

ния агрегатов волокон) — на ряд групп.

 

Для производства асбестоцементных изделий приме­ няют асбест 3, 4, 5 и 6-го сортов. Для более низких сор­ тов асбеста (6-го и 7-го) характерны короткие волокна и большое содержание гали и пыли. Поэтому такой ас­ бест в производстве асбестоцементных изделий исполь­ зуют весьма ограниченно.

§ 1. О П Р Е Д Е Л Е Н И Е КАЧЕСТВА АСБЕСТА

Поскольку роль асбеста в процессе твердения асбес­

тоцементных изделий весьма велика, не все виды

асбе­

ста можно применять для производства

асбестоцемент­

ных изделий. Выше указывалось, что

промышленность

использует 3, 4, 5 и 6-й сорта

асбеста.

Сорта, текстура

и марки асбеста приведены в табл. 26.

 

 

В обозначениях марок асбеста буквы означают: АК-

асбест кусковой, ДВ — длинноволокнистый, Ж —

жест­

кая, П Р Ж — промежуточная

текстура, П — полужесткая

текстура, М — мягкая текстура, К—асбест мягкой тек­ стуры, получаемый из продуктов осаждения пылеочистных сооружений. Цифры в обозначении марок имеют

218

Т а б л и ц а 26. Сорта, текстура и марки асбеста

Сорта

0

1

2

3

4

5

6

7

жесткая

АК ДВ-0-80 ВВ-0-55

Ж-1-50

Ж-1-38 Ж-2-20

Ж-3-40

Текстура и марки

промежуточная полужесткая

ПРЖ-1-75

ПРЖ-1-50

 

ПРЖ-2-30

П-2-30

ПРЖ-2-15

П-2-15

П-3-70

П-3-60

 

П-3-50

П-4-40

П-4-30

 

П-4-20

 

П-4-5

П-5-67

П-5-65

 

П-5-52

 

П-5-50

П-6-45

П-6-30

мягкая

М-3-70 М-3-60

М-4-40 М-4-30 М-4-20 М-4-5

М-5-65 М-5-50

М-6-40 М-6-30 К-6-45 К-6-30 К-6-20 К-6-5

7-300

7-370

7-450

7-520

следующий смысл: первая — сорт асбеста, вторая — га­ рантированный минимальный остаток волокна в % для

асбеста данной марки иа основном

сите контрольного

аппарата, а для асбеста 7-го сорта — объемная

масса.

При контроле качества асбеста

проверяют:

текстуру

и длину волокна; влажность и объемную массу

асбеста,

ломкость волокна и ситовой состав асбеста.

 

219

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ