- •Лекции "Технология оптоэлектронных устройств
- •Раздел 1. Излучатели
- •Полупроводниковые излучатели
- •1.2. Газоразрядные индикаторы
- •1.3. Жидкокристаллические индикаторы
- •1.4.Электролюминесцентные индикаторы
- •Раздел 2. Когерентная электроника. Лазеры.
- •2.1. Когерентное излучение.
- •2.2. Конструкция, параметры и режимы работы лазеров
- •2.3. Полупроводниковые лазеры
- •2.4. Разновидности лазеров
- •2.5. Сравнительная характеристика лазеров.
- •2.6. Лазерные модуляционные устройства
- •Раздел 3. Детекторы
- •3.1. Введение, общие вопросы
- •3.2. Основные критерии качества детекторов и их классификация
- •Классификация детекторов
- •Тепловые детекторы
- •Раздел 4. Полупроводниковые фотоприемники
- •Введение
- •Параметры и характеристики фотоприемников
- •Приложения Методические пособия для расчетных и лабораторных работ
- •Задание
- •Порядок выполнения работы
- •Определение основных характеристик полупроводниковых лазеров
- •Задание
- •Порядок выполнения работы
- •Определение основных характеристик фоторезисторов
- •Задание
- •Рассчитать:
- •Определение потерь пропускания в световоде волс
- •Исходные данные для расчета
Раздел 4. Полупроводниковые фотоприемники
Введение
Фотоприемник - это оптоэлектронный прибор служащий для преобразования оптического излучения в электрическую энергию. Несмотря на существование множества различных типов приборов для этих целей (тепловые, фотонные на основе внешнего фотоэффекта, фотонные на основе внутреннего фотоэффекта) наибольшее применение в технике нашли полупроводниковые фотоприемники.
Фотопроводимость и фото-ЭДС.
Под действием оптического излучения полупроводников происходит изменение их электрофизических параметров , обусловленное образованием дополнительных свободных носителей заряда. Процесс образования дополнительных носителей заряда (фотоносителей) внутри полупроводника под действием оптического излучения называется внутренним фотоэффектом или фотоэлектрическим эффектом.
В фотоприемниках используются две формы внутреннего фотоэффекта:
1. Фотогальванический эффект.
2. Эффект фотопроводимости.
Фотогальванический эффект возникает в полупроводниках с внутренним потенциальным барьером (с р-п переходом, с переходом металл — полупроводник, с гетеропереходом): внутреннее электрическое поле перехода разделяет возникшие под воздействием оптического излучения фотоносители. Пространственно разделенные фотоносители разных знаков — дырки и электроны — создают фото-ЭДС.
Эффект фотопроводимости (в отличие от фотогальванического) состоит только в создании фотоносителей; результатом изменения концентрации носителей в полупроводнике является увеличение проводимости полупроводника.
Оба эффекта используются в практике конструирования фотоприемников: фотогальванический эффект—в фотодиодах, фототранзисторах, фототиристорах и других фотоприемниках с р-п переходами, эффект фотопроводимости—в фоторезисторах.
Рассмотрим процесс образования фотоносителей в полупроводнике, т. е. образование дополнительных дырок и электронов при поглощении полупроводником фотонов оптического излучения. Энергия фотонов может быть передана электронам валентной зоны с переводом этих электронов в зону проводимости, т. е. энергия фотонов идет на ионизацию атомов полупроводника. Этот процесс называется эффектом собственной фотопроводимости. На рис.1 образованию собственных фотоносителей соответствует переход / (валентная зона—-зона проводимости)
1
фотоэффект в полупроводнике невозможен; при λ < λгр собственный фотоэффект может иметь место.
Параметры фотоэффекта. Эффективность протекания фотоэлектрических процессов характеризуется квантовым выходом, который равен отношению числа генерированных пар электрон—дырка к числу поглощенных фотонов излучения. В рабочем спектральном диапазоне фотоприемников квантовый выход обычно равен единице, т.е. поглощению каждого фотона излучения соответствует генерация пары фотоносителей (электрон — дырка).
Поглощение излучения характеризуют в полупроводниках глубиной поглощения или обратной величиной - показателем поглощения. Показатель поглощения равен относительному изменению потока излучения в слое полупроводника (рис. 3).
Рис. 3. Поглощение оптического излучения в 'полупроводнике
Закон изменения излучения в полупроводнике при поглощении (закон Бугера):
Таким образом, глубину поглощения х можно определить, как толщину слоя полупроводника, после прохождения которого поток излучения уменьшается в е=2,718 раз. Зависимость глубины поглощения от энергии фотонов излучения или длины волны излучения называется спектром поглощения полупроводника или спектральной характеристикой поглощения (рис.4). Следует подчеркнуть, что глубина поглощения большинства материалов, применяемых в фотоприемниках, очень резко изменяется вблизи длинноволновой границы.
Исключение составляет кремний, у которого изменение от прозрачного состояния до непрозрачного происходит при изменении λ примерно в 2 раза.
0,5 1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 ,эВ
Рис. 4. Спектральные характеристики поглощения материалов