- •Источники тока
- •Обозначение Наименование
- •5. По способу установки различают щитовые приборы, предназначенные для монтажа на приборных щитах и пультах управления, и переносные приборы.
- •6. По устойчивости к внешним условиям приборы делят на три класса:
- •Электроизмерительные приборы непосредственной оценки
- •Электромеханические приборы
- •Электроизмерительные приборы
- •Электронные аналоговые приборы
- •Цифровые измерительные приборы
- •Измерение сопротивлений
- •Регестрирующие приборы и устройства
- •Регулирующие устройства
- •Электрических схем
- •Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Порядок выполнения работы
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Изучение принципа работы электронно- лучевого осциллографа
- •1. Назначение и принцип работы электронно-лучевого осциллографа
- •3. Измерение частот и фаз методом фигур Лиссажу
- •4. Выполнение работы
- •5. Контрольные вопросы
- •Определение удельного заряда электрона с помошью вакуумного диода
- •1.Теория
- •2.1. Описание схемы эксперимента
- •3. Проведение эксперимента
- •4. Задание
- •5. Контрольные вопросы
- •Закон степени 3/2
- •1. Теория релаксационного процесса в rc-цепи
- •2.Описание экспериментальной установки и методика измерения
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Проницаемости материалов
- •1. Краткая теория
- •2. Описание экспериментальной установки и выполнение измерений
- •3. Задание
- •4. Контрольные вопросы
- •Расчет коэффициента передачи методом векторных диаграмм
- •Определение постоянной времени rl-цепи
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы.
- •Лабораторная работа № 8 изучение магнитного поля соленоида
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 9 изучение затухающих колебаний в контуре
- •1. Введение
- •При малом затухании: . (8)
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
- •1. Введение
- •2. Постановка задачи
- •3. Порядок выполнения работы
- •4. Контрольные вопросы
2. Описание экспериментальной установки и выполнение измерений
2.1. Описание сменной платы
На сменной плате установлен разборный плоский конденсатор и измерительное сопротивление. Принципиальная схема, собранная на сменной плате, приведена на рис. 2.
Нижняя обкладка разборного конденсатора неподвижно закреплена на плате. Верхняя обкладка съемная и крепится с помощью прижимающей пластины и двух винтов. Исследуемый материал зажимается между верхней и нижней обкладками конденсатора.
2.2. Выполнение измерений
Для определения емкости конденсатора в точку А схемы (рис. 2) подают переменное напряжение от звукового генератора, а общую шину генератора подключают к точке С. К точке В подключают вход У осциллографа, а к точке F– общую шину осциллографа. При таком подключении определяют. Для измерения амплитуды напряжения генератора () вход У осциллографа переключается к точке Е.
С учетом входных емкостей кабеля и осциллографа , выходного сопротивленияи паразитных емкостей монтажасхема изменения имеет вид, представленный в рисунке 3.
В этой схеме 100 пФ,=1 МОм. Величина измерительного сопротивления5,1 кОм. Поэтому влияние входного сопротивления можно пренебречь. При этом ошибка измеренияне превысит 0,5 %. Сопротивление переменному току входной емкости на частотах не выше 10 кГц не превышает 200 кОм, что вносит ошибку измерения не более 2,5%. Поэтому до частот 10 кГц для расчетов коэффициентов передачи и измеряемой емкости можно пользоваться формулой (4).
Измерение сопротивления Rпроизводится омметром между точками В и С.
Учет паразитной емкости монтажа выполняется с помощью набора образцов с различной площадью диэлектрика в области перекрытия пластин и известной толщиной диэлектрической прослойки. Площади диэлектрических пластин различны благодаря вырезанным в них отверстиям различной конфигурации. Емкость полученного сложного конденсатора может быть рассчитана как сумма параллельно включенных конденсаторов с диэлектрической и вакуумной прослойками:
, (5)
где – общая площадь отверстий в данной пластине диэлектрика.
Преобразовав это выражение, получаем:
. (6)
Как видно из формулы (6), емкость конденсатора линейно уменьшается с ростом отверстий и при значении равном площади обкладки конденсатора становится равной:
, (7)
Площадь перекрытия пластин указана на плате. Расстояние между обкладкамисовпадает с толщиной пластины диэлектрика и измеряется с помощью микрометра.
Для нахождения строят график зависимости емкости от площади отверстий. График представляет собой прямую линию (см. рис. 4). Экстраполируя прямую в точку, получим значение, входящее в формулу (7). Следовательно для расчетаполучим формулу:
. (8)
Искомое значение емкости конденсатора с прослойкой из неизвестного материала получается вычитанием паразитной емкости из значения емкости, полученной по формуле (4):
. (9)
Зная емкость конденсатора с прослойкой, можно определить диэлектрическую проницаемость материала по формуле (2).