- •7. Технология изготовления микросхем
- •7.1. Общие сведения о микросхемах и технологии их изготовления
- •7.2. Изготовление монокристалла полупроводникового материала
- •7.3. Резка монокристалла и получение пластин
- •7.4. Изготовление фотошаблонов
- •7.5. Полупроводниковые микросхемы
- •1.6. Легирование методом термической диффузии примесей
- •7.8. Проектирование полупроводниковых резисторов в имс
- •7.9. Фотолитография
- •Подготовка поверхности
- •Нанесение фотослоя
- •Совмещение и экспонирование
- •Проявление
- •Травление
- •7.10. Расчет топологических размеров областей транзистора
- •7.11. Осаждение тонких пленок в вакууме
- •Термическое вакуумное напыление
- •Распыление ионной бомбардировкой
- •7.12. Тонкопленочные резисторы
- •7.13. Основы толстопленочной технологии
- •7.14. Коммутационные платы микросборок
- •Тонкопленочные платы
- •Толстопленочные платы
- •7.15. Крепление подложек и кристаллов
- •7.16. Электрический монтаж кристаллов имс на коммутационных платах микросборок
- •Проволочный монтаж
- •Монтаж жесткими объемными выводами
- •Микросварка
- •Микросварки
- •Изготовление системы объемных выводов
- •7.17. Герметизация микросхем и микросборок
- •Бескорпусная герметизация
- •Корпусная герметизация микросхем
- •Контроль герметичности
- •Контрольные вопросы
Микросварки
Материал монтажной площадки |
Метод микросварки, материал перемычек ТКС СКИН ЭКОС УЗС Аи А1 Си Аи А1 Си Аи А1 Си Аи А1 Си |
Аи Си или Ni А1 |
+++ -++++ + ++- ++++++ + ++ + -+++ +++- ++++ + +++ - + • + - + - + + ++ _ |
Примечание:
++
— свариваются хорошо; +
—
свариваются удовлетворитель
но;
не
свариваются.
Изготовление
системы ленточных перемычек
Исходным
материалом является двухслойная лента
(в рулоне): алюминий
толщиной 70 мкм и полиимид толщиной до
100 мкм. В непрерывной ленте
последовательно кадр за кадром
изготавливаются с помощью двухсторонней
фотолитографии элементы проводящего
рисунка в алюминиевой пленке
и изолирующие элементы в слое полиимида.
На рис. 7.37 показан пример
кадра, на котором полиимидный рисунок
зачернен и находится под проводящим
рисунком. В кадре можно выделить
несколько зон: 7 — кон-
такты для контроля качества приварки перемычек • к кристаллу (впоследствии эта зона отделяется вырубкой из кадра); 2 — внешние концы перемычек (впоследствии привариваются к площадкам коммутационной платы в случае большого шага их расположения); 3 — внешние концы перемычек для плат с малым шагом размещения площадок (в этом случае зона 2 отделяется от кадра вместе с зоной /); 4 — зона кристалла
(показано соединение внутренних концов перемычек с монтажными площадками кристалла).
Систему перемычек изготавливают на автоматических линиях непрерывного действия. Лента сматывается с исходного рулона, при этом она проходит все стадии обработки, присущие фотолитографическому процессу, через ванны, распылительные форсунки и другие устройства и в конце обработки наматывается в рулон. В позиции экспонирования очередной участок ленты (кадр) останавливается. Благодаря устройствам с накопительными петлями движение ленты на остальных позициях не прерывается. После обработки ленту разрезают на кадры, совмещают внутренние концы перемычек с площадками кристалла и приваривают их, контролируют качество присоединения, отделяют зону 1 (или совместно с зоной 2), формуют перемычки, наносят клей на монтажную поверхность платы, совмещают наружные концы и приваривают их.
Изготовление системы объемных выводов
Для формирования объемных выводов стандартный процесс, заканчиваемый осаждением защитной пленки SiCb и образованием в ней окон над монтажными площадками, дополняют рядом операций, выполняемых в групповой пластине, т. е. до разделения ее на отдельные кристаллы.
Для будущих круглых выводов в защитном окисле выполняют круглые окна диаметром 70 мкм. Методом осаждения в вакууме на всю поверхность пластины наносят слой ванадия (для восстановления алюминия из поверхностного окисла и уменьшения контактного сопротивления) и меди (для замыкания всех выводов и возможности последующего гальванического наращивания). Толщина каждого из слоев — несколько десятых долей микрометров (рис. 7.38, а). После формирования фотомаски, открывающей лишь участки будущих выводов, гальваническим методом выращивают слой меди толщиной порядка 50...60 мкм. Используя ту же фотомаску,
Рис. 7.38. Структура жестких объемных выводов на кристалле ИМС:
1 — алюминий; 2 — двуокись кремния; 3 — ванадий; 4 — тонкая медь; 5 — фотомаска; 6 — гальваническая медь; 7 — серебро; 8 — припой
гальванически наносят слой серебра толщиной в несколько микрометров. Серебро служит для защиты меди от окисления, а впоследствии •— в качестве маски для стравливания тонкой меди и ванадия.
Затем (рис. 7.38, б) фотомаску удаляют и последовательно стравливают слои меди и ванадия (выводы электрически разобщаются). После чего горячим лужением (контакт пластины с расплавленным припоем) получают на выводах слой припоя. Во избежание растворения серебра оловом припоя в состав припоя ПОС-61 вводится 3 % серебра (припой ПСрОС-3-58).