- •Введение
- •Обзор современного состояния субмикронной и глубоко-субмикронной технологий
- •Проектирование цифровых интегральных схем
- •Задачи и методы схемотехнического моделирования сбис
- •Этапы проектирования сбис
- •Общие вопросы характеризации цифровых библиотек
- •Характеризация логических элементов
- •Характеризация элементов памяти
- •Анализ переходных процессов
- •Описание характеристик ячеек из библиотеки
- •Языки моделирования цифровых библиотек
- •Обзор средств, существующих в настоящее время
- •Средства проектирования компании cadence
- •Системное проектирование
- •Аппаратное проектирование и верификация
- •Математическое макетирование
- •Топологическое проектирование
- •Средства проектирования компании synopsys
- •Средства проектирования компании mentor graphics
- •Системный уровень
- •Уровень регистровых передач
- •Логический уровень
- •Заказное проектирование аналоговых и смешанных схем
- •Топологическое проектирование
- •Краткое описание возможностей SystemC
- •Контекст SystemC
- •Аспекты SystemC
- •Точность моделирования
- •Модели вычислений
- •Функциональное моделирование
- •Моделирование на уровне транзакций
- •Уровень rtl и связь с реализацией
- •Верификационные расширения
- •Построение модели функционального виртуального прототипа
- •Модели использования fvp
- •Создание встроенных программ
- •Функциональная верификация
- •Анализ fvp с помощью транзакций
- •Программы для характеризации цифровых библиотек
- •Spice-подобные программы моделирования
- •Интерфейс к пользовательским моделям
- •Программная система Charisma
- •Характеризация цифровой ячейки по помехоустойчивости
- •Помехоустойчивость цифровых бис к воздействию внешних помех
- •Устойчивость цепей питания цифровых бис
- •Анализ устойчивости цифровых бис к воздействию внутренних помех
- •Влияние помех в шинах питания на входы бис
- •Рекомендуемые схемотехнические методы борьбы с помехами в шинах питания бис
- •Помехи, генерируемые в сигнальных шинах из-за перекрестного взаимодействия
- •Помехи в сигнальных шинах, вызванные «состязаниями» сигналов
- •Конечная верификация проекта
- •Электрическая верификация
- •Временная верификация
- •Функциональная верификация
- •Заключение
- •Библиографический список
- •Оглавление
- •394026 Воронеж, Московский просп., 14
Программная система Charisma
Программная система Charisma предназначена для автоматизированной характеризации библиотек стандартных ячеек и ячеек ввода/вывода с применением внешних программ схемотехнического моделирования. В результате характеризации формируются модели ячеек в стандартных форматах микроэлектронных САПР, необходимые для использования библиотек при проектировании микросхем.
Большинство современных СБИС разрабатывается на базе библиотек стандартных ячеек. Использование библиотек для автоматизированной разработки и верификации сложных микроэлектронных схем возможно только при условии полной и точной характеризации ячеек. Процедура характеризации является неотъемлемым этапом разработки библиотек стандартных ячеек.
Система Charisma является полным автоматизированным решением по характеризации библиотек стандартных ячеек с построением табличных моделей, которые обладают достаточной точностью при технологических процессах с длиной канала не более 90 нм.
При выполнении характеризации Charisma на основе настроек и анализа входных описаний ячеек формирует задания для внешних программ моделирования (Hspice, Spectre и т.д.), распределяет задания между процессорами локальной вычислительной сети, накапливает результаты моделирования в базе данных, затем формирует выходные файлы моделей (.lib, .v) и документации (.html, .pdf).
Charisma быстрое, точное и простое в использовании автоматизированное средство для характеризации библиотек стандартных ячеек с доступной стоимостью для компаний-производителей микросхем и разработчиков библиотек стандартных ячеек и ячеек ввода/вывода.
Система Charisma используется ОАО "НИИМЭ и Микрон" (г. Москва), применялась для заказной характеризации библиотек ячеек, разработанных СКТБ ЭС (г. Воронеж) и ИТМиВТ им. Лебедева (г. Москва).
Типы характеризуемых ячеек:
Стандартные ячейки:
комбинаторные с одним и несколькими выходами;
тристабильные;
мультиплексоры;
сумматоры и полусумматоры;
триггеры и защелки (с установкой, сбросом, разрешением, скан-входами);
специальные (со слабой обратной связью, тактовые буферы и др.);
Ячейки ввода-вывода:
входные, выходные, двунаправленные;
тристабильные;
с триггером Шмитта на входе;
с повышающей/понижающей нагрузкой на входе;
с открытым стоком/истоком на выходе;
с несколькими напряжениями питания;
Характеризуемые параметры:
Временные параметры:
задержка распространения;
время переключения выходного сигнала;
время установки и удержания сигнала данных;
время установки и удержания сигналов установки и сброса;
минимальная ширина импульса;
Мощностные параметры:
динамическая входная и выходная мощность;
статическая мощность;
Параметры по постоянному току:
напряжение входных и выходных логических уровней;
гистерезис входных уровней;
ток утечки входной и третьего состояния;
Шумовые параметры:
вольтамперные характеристики;
распространение шума;
устойчивость к шумам;
Выходные форматы:
Модели:
Synopsys Liberty (.lib);
Verilog (.v);
Документация:
гипертекст (.html);
документ (.pdf);
Внешние средства моделирования:
Cadence Spectre;
Synopsys Hspice;
Unique IC's AVOSpice;
Платформа:
Linux (Red Hat, Fedora core);
MS Windows;
Sun Solaris;
смешанная;
Поставка:
Charisma-Base (стандартные ячейки, временные и мощностные параметры);
Charisma-Std (стандартные ячейки и ячейки ввода/вывода, временные и мощностные параметры, параллельное моделирование 5 лицензий);
Charisma-Prof (стандартные ячейки и ввода/вывода, временные, мощностные и шумовые параметры, параллельное моделирование 10 лицензий);
Дополнительные опции:
Тестовая характеризация;
Особенности системы:
Характеризация ячеек для всех возможных путей вход-выход и входных комбинаций;
Автоматическое формирование входных воздействий для комбинаторных и последовательностных ячеек;
Автоматизированный выбор точек характеризации «входной фронт - выходная нагрузка»;
Графический пользовательский интерфейс с отображением состояния характеризации библиотеки в реальном масштабе времени;
Настраиваемые параметры PVT-углов характеризации;
Возможность перехарактеризации отдельных углов и ячеек;
Оптимизация с целью сокращения количества запусков моделирования;
Оптимизация размеров выходных файлов;
Вывод в выходные форматы с заданной точностью;
Распределенное моделирование с неограниченным количеством моделирующих процессоров в локальной вычислительной сети;
Планировщик управления ресурсами для моделирования;
Характеристики производительности:
Среднее время характеризации временных и мощностных параметров одной ячейки для одного угла при 5 моделирующих процессорах:
Библиотека 0.35 мкм (шаг моделирования 0.01 нс, таблица фронт/нагрузка 4х4) — 15 мин.
Библиотека 0.18 мкм (шаг моделирования 0.001 нс, таблица фронт/нагрузка 7х7) — 2 часа.