38. Влияние внешней среды на параметры преобразователей.
В процессе эксплуатации преобр-ли располагают непосредственно на объекте измерения. Усл-я эксплуатации на соврем. объектах измерения весьма разнообразны: это м.б. лабораторные, либо внешние условия. В процессе проектирования обеспечивается устойчивость датчика к воздействию заданного комплекса внешних условий: темпер-ры, вибрации, уровня акустич. давления, электромагн. полей, радиации и т.д. Ниже показана схема влияния на измерит. устр-во влияющих величин.
Как сама измеряемая величина, так и влияющие факторы явл. случайными функциями времени. Воздействующие на датчик влияющие факторы вносят искажение в вых. сигнал. Следовательно, погреш-ть явл. случайной функцией: y(t)=f[x(t), x1(t),…xn(t)], где у(t)-выходной сигнал устройства, f-оператор преобр-я, х - измеряемый параметр функции от времени t, x1,…xn - дестабилизирующие факторы. Растущие требования точности к функции преобр-я вызывают необходимость изыскания эффективных методов коррекции и стабилизации хар-к вых. пар-в. После изготовления датчика его реальная функция преобр-я может отличаться от номинальной вследствие методич. погрешности. В этом случае возникает задача коррекции реальной функции преобр-ля, она может осущ. конструктивными и схемными путями. В последнее время получили развитие алгоритмические.
39. Методы повышения точности.
Растущие требования точности функции преобразования (ФП) первичных преобразователей (датчиков) вызывают необходимость изыскания методов коррекции и стабилизации выходных параметров. После изготовления датчика его реальная ФП может отличаться от номинальной вследствие наличия методической и инструментальной погрешностей. В этом случае возникает задача коррекции реальной функции преобразования, т.е. её максимальные приближения к номинальной ФП. Указанная коррекция может быть осуществлена конструктивными и схемными путями. В первом случае используют дополнительные регулировочные элементы, с помощью которых можно воздействовать на аддитивные и мультипликативные погрешности.
Рассмотрим структурную схему для корректировки мультипликативной погрешности:
ЧЭ – чувствительный элемент; РИП – регулируемый источник поля; ДЧЭ – дополнительный ЧЭ; ВУ – вычислительное устройство. Работа схемы: с помощью имеющейся информации действовать через РИП и вести корректировку.
Структурная схема, позволяющая регулировать аддитивную составляющую погрешности:
КК – коррекционный контур; СС – схема сравнения; ИК - измерительный контур; ИОН – источник опорного напряжения.
40. АЦП и ЦАП.
ЦАП и АЦП в цифр-й измерит-й технике рассматрив-я как один из видов измерений имеющих нормиров-е метролог-е хар-ки.
Вых-й сигнал ЦАП и АЦП не может непосред-о наблюдаться оператором. Под непр-й величиной x(t) поним-ся такая величина кот-я
ОК – объект контроля;
УСО – устройство сопряжения с объектом;
ПУО – пульт управления оператора;
СОИ – сист-ма отображения
41. Основные требования к ацп и цап.
Хар-ки м.б. разбиты на 3 группы (они определяют возможность использоваться в измер-й технике)
Хар-ка статич-ой точности
Динамич-е хар-ки
Условия применения