1. какие факторы влияют на характеристики реальных покрытий?

2. Какие методы используются для контроля толщин слоя в процессе их нанесения?

3. На чем основан частотный метод контроля толщин?

4. В чем заключается сущность фотометрического метода контроля толщин оптических слоев?

5. В чем заключается основной смысл моделирования фотометрического метода контроля?

6. На чем основан принцип действия спектрофотометра СФКТ-1?

7. Государственный комитет российской федерации

ПО ВЫСШЕМУ ОБРАЗОВАНИЮ

МОСКОВСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ АКАДЕМИЯ

ПРИБОРОСТРОЕНИЯ И ИНФОРМАТИКИ

Кафедра ”ТЕХНОЛОГИЯ ОПТИЧЕСКОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ”

ТЕХНОЛОГИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ

МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ К ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ

ИЗУЧЕНИЕ ФОТОМЕТРИЧЕСКОГО МЕТОДА КОНТРОЛЯ

Специальность 19.07

ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ И СИСТЕМЫ

Москва, 1999 г.

Литература

1. Справочник технолога-оптика. Справочник /И. Я. Бубис и др. Под общ. ред. С. М. Кузнецова и М. А. Окатова - Л., Машиностроение, Ленинград. отд., 1983г.-414с./

2. Методы контроля измерения толщины пленок и способы получения пленок однородных по толщине // Физика тонких пленок. Пер. с англ.; Под ред. В.Б. Сандомирского - М. Мир, 1968г. - т.3 - с.7-37.

3. П.П.Яковлев, Б.Б.Мешков. Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987г. - с.96-116.

16