3. Определение толщины образцов

В данной работе проведены исследования по определению толщины образцов пористого оксида алюминия. Для исследований использовались образцы под номерами 340, 347, щкс, 304, 341. Данные исследований сведены в таблицу 5.

Таблица 5 - Измерение толщины пленок оксида алюминия

Номер опыта	Наименование образца	Толщина
1 (светло - син)	№ 340	3,7305
2 (желт)	№ 347	0,6224
3 (кр)	№ щкс	20,2923
4 (зел)	№ 304	6,0346
5 (син)	№ 341	35,8562

Толщина пленок напрямую зависит от рецептуры анодирования и от его режимов.

Рисунок 34 - График толщин пленок оксида алюминия

Заключение

За время выполнения выпускной работы рассмотрены фотонные кристаллы (их свойства, материалы). Большое внимание уделялось их параметрам и характеристикам. Изучены дефекты в фотонных кристаллах, а также их влияние на свойства последних. Представлен обзор области применения фотонных кристаллов. В ходе работы изучены законы поглощения света, плотности фотонных состояний и их роль в оптических характеристиках.

В ходе работы изучены вопросы спектрофотометрии. Представлен обзор спектрофотометра СФ – 2000 и спектрофотометра Specord 250 Plus.

Проведены исследования оптических характеристик образцов наноструктурированного пористого оксида алюминия. Представлены исследования пяти образцов. Образцы исследовались на отражение под различными углами и на пропускание. Отработана методика исследования оптических характеристик фотонных кристаллов. Также проведены измерения толщины данных образцов.

Список используемых источников

1. Чувильдеев В.Н., Нохрин А.В., Пирожникова О.Э., Грязнов М.Ю., Лопатин Ю.Г., Смирнова Е.С. Физика новых материалов. – Издательство: ННГУ. 2013.

2. А.М. Желтиков. Оптика микроструктурированных волокон. – Издательство: Наука. Москва. 2004.

3. В.П. Быков. Спонтанное излучение в периодической структуре. – Издательство: ЖЭТФ. 1972. - 505–513 с.

4. В.А. Шалыгин. Оптические явления в полупроводниковых квантово-размерных структурах. – Издательство: СПбГТУ. Санкт-Петербург. 2000.

5. А.И. Гусев. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии. – Издательство: Физматлит. Москва. 2005.

6. А.В. Федоров. Оптика наноструктур. – Издательство: Недра. Санкт- Петербург. 2005.

7. К. Борен, Д.Хафмен. Поглощение и рассеяние света малыми частицами. – Издательство: Мир. Москва. 1986.

8. А. Анималу. Квантовая теория кристаллических твердых тел. – Издательство: Мир. Москва. 1981.

9. М. Херман. Полупроводниковые сверхрешетки. – Издательство: Мир. Москва. 1989.

10. А.Я. Шик, Л.Г. Бакуева, С.Ф. Мусихин, С.А. Рыков. Физика низкоразмерных систем. – Издательство: Наука. Санкт-Петербург. 2001.

11. Гапоненко С.В. Фотонный кристаллы. Оптика наноструктур. – Издательство: Недра. 2005. 1-48 с.

12. В. Ф. Шабанов, С. Я. Ветров, А. В. Шабанов Оптика реальных фотонных кристаллов. – Издательство: СО РАН. Новосибирск. 2005.

13. Бушуев В.А., Прямиков А.Д. Влияние кубичной нелинейности на отражение и лазерного излучения в одномерном фотонном кристалле. Квантовая электроника. Москва. 2003. 515–519 с.

14. Ветров С.Я., Шабанов А.В. Локализованные электромагнитные моды и спектр пропускания одномерного фотонного кристалла с дефектами решетки. – Издательство: ЖЭТФ. 2001. 1126–1134 с.

15. Кособукин В.А., Фотонные кристаллы. Окно в микромир. Москва. 2002.

16. Б.И. Манцызов, Когерентная и нелинейная оптика фотонных кристаллов. – Издательство: РГГУ. Москва. 2009. 153 с.