- •1.1.Оптические микроскопы:
- •1.2.Электронные микроскопы:
- •1.2.1. Просвечивающий электронный микроскоп
- •1.2.2. Растровый электронный микроскоп
- •1.3. Сканирующие зондовые микроскопы
- •1.4.1. Проекционный рентгеновский микроскоп.
- •1.4.2. Отражательный рентгеновский микроскоп.
- •2.1.Лаборатория рентгенографии.
- •2.2.Лаборатория металлографии.
- •2.3.Лаборатория физических свойств.
- •2.4.Лаборатория механических свойств.
- •2.5.Лаборатория термической обработки.
- •2.6.Лаборатория приготовления шлифовки.
- •4.3.Типы биоматериалов и их использование
- •5.1.Особенности:
- •5.2.Применения:
- •6. Знакомство с конструкцией спектрометра кафедры химии.
- •6.1.Методы регистрации спектров
- •6.2.Типы спектрометров
- •6.3.Применение
- •7. Знакомство с конструкцией электронного микроскопа кафедры физического металловедения.
- •7.1.Компоненты
- •7.2.Подготовка образцов
- •7.3. Методы исследования объекта:
- •8.Использование ускорителей заряженных частиц в технологических целях.
- •8.1. Линейные ускорители:
- •8.2. Циклические ускорители:
- •8.2.1. Бетатрон
- •8.2.2. Циклотрон
- •8.2.3. Микротрон
5.1.Особенности:
Собственная система виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного)
Сканирующая Туннельная Микроскопия, Атомно-Силовая Микроскопия и Shear Force (позволяет использовать оптическое волокно в качестве зондового датчика) в одном приборе.
Работа в жидкостях, в контролируемой газовой среде и при температурах до 150°С
Интерактивная система управления и программная настройка режимов работы и функциональной схемы прибора.
Возможность сохранения настроек в отдельных файлах позволяет начинающему пользователю работать с использованием практически всех современных методов сканирующей зондовой микроскопии.
Опытный пользователь может разрабатывать и реализовывать свои собственные методики, в том числе многопроходные.
Микроскоп имеет 3 режима работы:
Контактный (для шероховатых поверхностей)
Полуконтактный (для более гладких поврехностей)
Бесконтактный (для абсолютно гладких поверхностей)
5.2.Применения:
Идеальный прибор для комплексного исследования различных материалов с высоким разрешением на воздухе и в контролируемых газовых средах (конфигурация сканирования образцом). Прибор может применяться в электронной промышленности для контроля нанолитогрфических (токовых, электрополевых, механических, химических и др.) операций, для контроля качества поверхности полупроводниковых и других пластин диаметром до 100 мм и толщиной до 20 мм. В химической промышленности, материаловедении и в биотехнологии прибор может применяться для контроля технологических процессов получения различных покрытий, пленок, полимерных и структурированных материалов и т.д.
На данном микроскопе мы рассматривали СТ40:
6. Знакомство с конструкцией спектрометра кафедры химии.
Спектрометр — оптический прибор, используемый в спектроскопических исследованиях для накопления спектра, его количественной обработки и последующего анализа с помощью различных аналитических методов. Анализируемый спектр получается путем регистрации флуоресценции после воздействия на исследуемое вещество каким-либо излучением (рентгеновским или лазерным излучением, искровым воздействием и др.). Обычно измеряемыми величинами являются интенсивность и энергия (длина волны, частота) излучения, но могут регистрироваться и другие характеристики, например, поляризационное состояние. Термин «спектрометр» применяется к приборам, работающим в широком диапазоне длин волн: от гамма до инфракрасного диапазона.
6.1.Методы регистрации спектров
Для регистрации спектра могут использоваться полупроводниковые детекторы, сцинтилляционные счётчики, либо детекторы на базе ПЗС линейки или ПЗС матрицы. Спектрометры могут различаться по спектральному диапазону, спектральной чувствительности, оптической схеме. При интерпретации спектров в большинстве случаев производится сравнение полученного спектра со спектром вещества известного состава. Ранние спектроскопы представляли собой простые призмы с градуировкой, обозначающей длины волн света, в современных приборах они вытеснены дифракционной решёткой.