![](/user_photo/_userpic.png)
книги / Надежность и диагностика компонентов инфокоммуникационных и информационно-управляющих систем.-1
.pdf![](/html/65386/197/html_4o88Gm038J.ZaUz/htmlconvd-2eo6yZ311x1.jpg)
ai1 & 1
ai2 |
fi1 |
&
& 1
fi2
bi1 & bi2
Рис. 4.26. Ячейка схемы сжатия
Данная реализация является самопроверяемой по отношению к классу одиночных константных дефектов. Если ССВК больше двух, то схемы сжатия реализуются в виде каскадной схемы.
Пример 4.1. На рис. 4.27 приведена каскадная схема сжатия для 5 ССВК. Число схем сжатия – 4, число каскадов – 3.
При N ССВК число каскадов
Kкаск = ] log2 N [.
Число ячеек схемы сжатия
Kкаск N
Kяч = ∑n=1 2n .
Данная реализация обладает рядом недостатков:
1. При увеличении числа каскадов увеличивается задержка, вносимая схемой сжатия.
311
![](/html/65386/197/html_4o88Gm038J.ZaUz/htmlconvd-2eo6yZ312x1.jpg)
|
|
|
1-й каскад |
|
|
2-й каскад |
|
3-й каскад |
|
|||||||||
|
|
|
a11 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
a12 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ССВК1 |
|
|
|
|
f1 |
|
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
Схема |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
b11 |
|
сжатия |
|
f2 |
|
|
|
|
|
|
|||||
|
ССВК2 |
|
b12 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
f1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Схема |
|
|
|
|
|
|
a21 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
сжатия |
|
|
f2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
ССВК3 |
|
a22 |
|
|
|
f1 |
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
Схема |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
b21 |
|
сжатия |
|
f2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
ССВК4 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
b22 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
f1 |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Схема |
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
f2 |
|
|||||
|
|
|
a31 |
|
|
|
|
сжатия |
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
ССВК5 |
|
a32 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 4.27. Каскадная реализация схемы сжатия
2. Из-за неравномерного распределения задержек в схеме возможно кратковременное появление на выходе схемы сжатия комбинаций {00} или {11} при отсутствии неисправности.
Установлено, что константная модель дефектов, работающая для ТТЛ и ТТЛШ логики, не дает правильного представления о дефектах в БИС, построенных по ЭСЛ и МОП-технологии (ТТЛ – транзисторно-транзисторная логика; ТТЛШ – ТТЛ Шоттке; ЭСЛ – эмиттерно-связанная логика; МОП – метал-оксид-полу- проводник).
Ниже приведена реализация ячейки сжатия на МОПтранзисторах, позволяющая провести анализ на обнаружение неконстантных дефектов (рис. 4.28). Кроме обрывов в цепях, в данной схеме обнаруживаются дефекты типа короткое замыкание (КЗ), в том числе мостиковые КЗ.
312
![](/html/65386/197/html_4o88Gm038J.ZaUz/htmlconvd-2eo6yZ313x1.jpg)
![](/html/65386/197/html_4o88Gm038J.ZaUz/htmlconvd-2eo6yZ318x1.jpg)