книги / Методы измерений в волоконной оптике

6.Многопроходные методики электростатической и магнито-сило- вой микроскопии.

7.Особенности контактного и бесконтактного режимов работы атомно-силового микроскопа.

8.Методы и возможности спектроскопии: фотоэлектронной рентгеновской, рамановской, фотолюминесцентной, электролюминесцентной.

9.Факторы, обеспечивающие единство измерений внанотехнологиях.

10.Проблемы системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии.

221

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1.О техническом регулировании: федер. закон от 27 декабря

2002 г. № 184-ФЗ.

2.Об обеспечении единства измерений: федер. закон от 26 июня

2008 г. № 102-ФЗ.

3.Концепция обеспечения единства измерений, стандартизации, оценки соответствия и безопасности использования нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии в Российской Федерации до 2015 года.

4.Концепция развития национальной системы стандартизации (принятараспоряжениемПравительстваРФот28 февраля2006 г. №266 – р).

5.Стратегия обеспечения единства измерений в России на 20082010 годы и до 2015 года.

6.О состоянии работ в области обеспечения единства измерений Российской Федерации: доклад в Правительство Российской Федерации по итогам 2007 года.

7.Руководство ИСО/МЭК 2:2004. Стандартизация и смежные ви-

ды деятельности. Общий словарь / ISO/IEC 2:2004 Guide Standardization

and related activities.

8.ГОСТ Р1.0–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Основные положения.

9.ГОСТ Р1.1–2005. Технические комитеты по стандартизации. Порядок создания и деятельности.

10.ГОСТ Р1.10–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Правила стандартизации и рекомендации по стандартизации. Порядок разработки, утверждения изменения, пересмотра и отмены.

11.ГОСТ Р1.11–99. ГСС РФ. Метрологическая экспертиза проектов государственных стандартов.

12.ГОСТ Р1.12–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Термины и определения.

13.ГОСТ Р1.13–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Уведомления о проектах документов в области стандартизации. Общие требования.

14.ГОСТ Р1.2–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Стандарты национальные Российской Федерации. Правила разработки, утверждения, обновления и отмены.

222

15.ГОСТ Р1.4–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Стандарты организаций. Общие положения.

16.ГОСТ Р1.5–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Стандарты национальные Российской Федерации. Правила построения, изложения, оформления и обозначения.

17.ГОСТ Р1.6–2005. Стандартизация в Российской Федерации. Проекты стандартов. Организация проведения экспертизы.

18.ГОСТ Р1.8–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Стандарты межгосударственные. Правила проведения в Российской Федерации работ по разработке, применению, обновлению и прекращению применения.

19.ГОСТ Р1.9–2004. Стандартизация в Российской Федерации. Знак соответствия национальным стандартам Российской Федерации. Изображение. Порядок применения.

20.ГОСТ Р МЭК 793–1–93. Волокна оптические. Общие технические требования.

21.Р50.1.044–2003. Рекомендации по разработке технических регламентов.

22.Стандартизация в Российской Федерации. Комплект стандартов. М.: Изд-во стандартов, 2005.

23.Анцыферов С.С., Голубь Б.И. Общая теория измерений / под редакцией Н.Н. Евтихиева. – М.: Горячая линия–Телеком, 2007.

24.Асташенков А.И., Вишенков А.С Международные и национальные организации по метрологии на рубеже 21 века. – М.: ВНИ-

ИМС, 2000.

25.Бейли Д., Райт Э. Волоконная оптика: теория и практика: пер.

сангл. – М.: Кудиц-пресс, 2008. – 320 с.

26.Бертолотти М. История лазера. – Долгопрудный: Интеллект,

2011. – 336 с.

27. Блинов Ф.П. Добровольное применение и обязательное исполнение требований документов по стандартизации // Стандарты и качест-

во. – 2003.– № 5.

28.Брянский Л.Н., Дойников А.С., Крупин Б.Н. Шкалы, единицы

иэталоны // Измерительная техника. – 1992. – № 6.

29. Буденная Ж.Н., Грозовский Г.И., Макушкина С.М. Место и роль технических комитетов по стандартизации // Стандарты и каче-

ство. – 2003. – №10.

30. Бурдун Г.Д., Марков Б.Н. Основы метрологии. – М.: Изд-во стандартов, 1985.

223

31.Волоконно-оптические локальные вычислительные сети / под ред. А.А. Щокина. – М., 1994. – 90 с.

32.Волоконная оптика // Тр. Ин-та общей физики РАН. – Т. 5. – М.:

Наука, 1992 – 160 с.

33.Волоконная оптика // Тр. Ин-та общей физики РАН. – Т. 39 / гл. ред. А. М. Прохоров; отв. ред. тома Е. М. Дианов. – М.: Наука, 1993. –

215с.

34.Гончаренко А. М., Карпенко В. А. Основы теории оптических волноводов. – изд. 2-е, испр. – М.: Едиториал УРСС, 2004. – 240 с.

35.Государственные эталоны России: каталог. – М.: Госстандарт России, 2000.

36.Гуртов В. А. Оптоэлектроника и волоконная оптика. – Петрозаводск: Изд-во ПетрГУ, 2005. – 100 с.

37.Ермаков О. Н. Прикладная оптоэлектроника. – М.: Техносфера,

2004. – 416 с.

38.Земельман М.А. Метрологические основы технических измерений. – М.: Изд-во стандартов, 1991.

39.Зимовнова А. Публикация по материалам «круглого стола» – «Техническое регулирование и национальная система стандартизации» // Стандарты икачество. – 2004. – №6.

40.Иванов А.Б. Волоконная оптика: компоненты, системы передачи, измерения. – М.: Компания Сайрус системс, 1999 – 671 с.

41.Исаев Л.К. Российская система измерений // Измерительная техника. – 1993. – № 11.

42.Исаев Л.К., Малинский В.Д. Обеспечение качества: стандартизация, единство измерений, оценка соответствия. – М.: Изд-во стандар-

тов, 2001.

43.Классен К.Б. Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике. – М.: Постмаркет, 2000.

44.Клюшников В.Н. О приоритетных направлениях стандартизации // Компетентность. – 2005. – № 4.

45.Колесниченко В.И. Обработка и представление результатов эксперимента: учеб.-метод. пособие / Перм. гос. техн. ун-т. – Пермь,

2000. – 74 с.

46.Кузнецов В.А., Исаев Л.К., Шайко И.А. Метрология. – М.: Стандартинформ, 2005.

47.Кузнецов В.А., Ялунина Г.В. Метрология (теоретические, прикладные и законодательные основы). – М.: Изд-во стандартов, 1998.

224

48.Лахов В.М. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологии // Компетентность. – 2008. – № 2.

49.Листвин А. В., Листвин В. Н., Швырков Д. В. Оптические волокна для линий связи. – М.: ЛЕСАРарт, 2003. – 288 с.

50.Листвин А. В., Листвин В. Н. Рефлектометрия оптических волокон – М.: ЛЕСАРарт, 2005.– 208 с.

51.Международные документы по законодательной метрологии / под ред. Л.К. Исаева. – М.: ВНИИМС. – 2005.

52.Мышелов Е.П. Введение в метрологию, стандартизацию и сертификацию качества. – М.: КРАСАНД, 2010. – 224 с.

53.Никифоров Н.В. О концепции развития национальной системы стандартизации // Стандарты и качество. – 2006. – № 5.

54.Новиков Ю.А., Раков А.В., Тодуа П.А. Нанотехнология и нанометрология // Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии. – М.: Наука. 2006.

55.Облант Ж.М. Метрология: проблема наномасштаба // Мир стандартов. – 2007. – № 5(16).

56.Окрепилов В.В. От точных измерений к управлению качеством // Петербург взеркале. – 2007.– №2 (37).

57.Окрепилов В. В. Стандартизация и метрология в нанотехноло-

гиях. – СПб.: Наука, 2008. – 260 с.

58.Пихтин А. Н. Оптическая и квантовая электроника. – М.: Выс-

шая школа, 2001.– 573 с.

59.Постек М.Т. Метрология в нанометровом диапазоне // Вестник технического регулирования. – 2007. – № 7.

60.Пугачев СВ., Белобрагин В.Я. Концепция развития национальной системы стандартизации // Стандарты и качество. – 2006. – № 5.

61.Розеншер Э., Винтер Б. Оптоэлектроника: пер. с франц. – М.: Техносфера, 2004. – 592 с.

62.Российская метрологическая энциклопедия / гл. ред. Ю.В. Тарбеев. – СПб.: Лики России. – 2001.

63.Селиванов М.Н., Фридман А.Э., Кудряшова Ж.Ф. Качество измерений. Метрологическая справочная книга. – Л.: Лениздат, 1987.

64.Скляров О. К. Волоконно-оптические сети и системы связи: учеб. пособие. – 2-е изд., стер. – СПб.: Лань, 2010. – 272 с.

65.Соколов С. Нормативное обеспечение методологии стандартизации // Стандарты и качество. – 2005. – № 8.

66.Сорокин Е.П. Особенности национальной стандартизации на современном этапе // Стандарты и качество. – 2003. – № 8.

225

67.Трейер В.В. Национальная система стандартизации: какой она должна быть? // Стандарты и качество. – 2003. – № 8.

68.Федорин В.Л. Государственный первичный эталон единицы длины. Российская метрологическая энциклопедия. – СПб.: Лики Рос-

сии, 2001.

69.Фриман Р. Волоконно-оптические системы связи, изд. 2-е, доп. – М.: Техносфера, 2004, 496 с.

70.Шишкин Г. Г. Приборы квантовой электроники: учеб. пособие для вузов. – М.: Сайнс-Пресс, 2004. – 80 с.

Ссылки на ресурсы сети Интернет

71. Encyclopedia of Fibre Optics. – URL: http://www.its.bldrdoc.gov/

fs-1037/dir-025/_3720.htm

72. Введение в технику волоконно-оптических сетей. – URL: http://www.citforum.ru/nets/optic/optic1.shtml

73. Оптоволоконная технология. – URL: http://astu.secna.ru/russian/

students/personal/41nav/page1.html

74. История оптоволокна. – URL: http://www.tau.ac.il/~lab3/ OPTICFIBERS/opticfibers.html

75. Оптическая линия связи. – URL: http://www.jinr.ru/~jinrmag/ win/2000/5/optic5.htm

226

Учебное издание

Цаплин Алексей Иванович Лихачев Михаил Евгеньевич

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ В ВОЛОКОННОЙ ОПТИКЕ

Учебное пособие

Редактор и корректор И.А. Мангасарова

Подписано в печать 27.12.2011. Формат 70×100/16. Усл. печ. л. 18,4. Тираж 100 экз. Заказ № 252/2011.

Издательство Пермского государственного технического университета.

Адрес: 614990, г. Пермь, Комсомольский пр., 29, к. 113.

Тел. (342) 219-80-33.

227