- •1. Лабораторная работа № 1
- •1.2.2. Определение параметров транзисторов.
- •1.3. Содержание отчета:
- •1.4. Сведения и комментарии
- •1.4.1. Биполярные транзисторы.
- •2. Лабораторная работа № 2
- •2.2.2. Определение параметров транзисторов.
- •2.3. Содержание отчета:
- •2.4. Сведения и комментарии
- •2.4.2. Мдп-транзисторы.
- •3. Лабораторная работа № 3
- •3.2.2. Определение номинального коэффициента усиления.
- •3.2.3. Определение верхней границы динамического диапазона.
- •3.2.4. Исследование амплитудно-частотной характеристики.
- •3.3. Проверочный расчет
- •3.3.1. Расчетные формулы каскада на биполярном транзисторе:
- •3.5. Дифференциальный усилитель на биполярных транзисторах
- •3.6. Содержание отчета:
- •4.1.3. Внешние элементы схемы усилителя:
- •4.2. Экспериментальное исследование
- •4.2.1. Определение номинального коэффициента усиления и входного сопротивления.
- •4.2.2. Исследование амплитудно-частотной характеристики.
- •4.2.3. Исследование усилителя с обратной связью.
- •4.2.4. Измерение выходного сопротивления и напряжения дрейфа.
- •4.3. Проверочный расчет
- •5.1.3. Параметры усилителя:
- •5.1.4. Внешние (по отношению к усилителю) элементы:
- •5.1.5. Измерительные приборы:
- •5.2. Экспериментальное исследование
- •5.2.1. Исследование на постоянном токе.
- •5.2.2. Измерение коэффициента нестабильности по напряжению.
- •5.2.3. Измерение выходного сопротивления стабилизатора.
- •5.3. Поверочный расчет
- •5.4. Содержание отчета:
2. Лабораторная работа № 2
МДП ТРАНЗИСТОРЫ
Цель работы: изучение устройства, свойств, вольт-амперных характеристик и параметров МДП-транзисторов; приобретение навыков в исследовании полупроводниковых приборов.
2.1. Описание схем опытов
2.1.1. Объекты исследования:
* Q1 (рис. 2.1) – МДП-транзистор с индуцированным каналомn-типа.
2.2. Экспериментальное исследование
2.2.1. Вложенный анализ DC Sweep. Характеристики полевого транзистора jFET.
Задача 2.1
С помощью вложенного анализа DC Sweep получите характеристики полевого транзистора jFET.
Создайте следующую схему:
Рис.2.1 Схема включения с общим истоком
Для каждого значения будем изменять напряжениеот 0 до 15 В. Таким образом, изменение напряжениябудет составлять внутренний цикл, соответствующий источнику 1, а напряжение— внешний цикл, соответствующий источнику 2. Для устройств jFET нужно изменять напряжение от нуля до отрицательных значений. Введите данные в диалоговом окне анализа DC Sweep, следующие данные:
Source 1: ; Start value:0V; Stop value:15V;Increment:0,01V
Активировать Use source 2
Source 2:; Start value:-5V; Stop value:0V; Increment:0,5V
Щелкнем по вкладке Output. Добавим для анализа ток стокаI(JQ1[D]).
Нажмем кнопку Simulate, чтобы выполнить моделирование и добавить ток стока в график.
Таблица 2.1
Вариант |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
,B |
0-5 |
0-6 |
0-7 |
0-8 |
0-9 |
0-10 |
0-11 |
0-12 |
0-13 |
0-14 |
0-15 |
0-16 |
0-17 |
0-18 |
0-19 |
Increment мВ |
10 |
20 |
30 |
40 |
50 |
60 |
70 |
80 |
90 |
100 |
90 |
80 |
70 |
60 |
50 |
,B |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
-4-0 |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
-4-0 |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
-4-0 |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
Increment мВ |
500 |
Вариант |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
21 |
22 |
23 |
24 |
25 |
,B |
0-5 |
0-6 |
0-7 |
0-8 |
0-9 |
0-10 |
0-11 |
0-12 |
0-13 |
0-14 |
Increment мВ |
40 |
30 |
20 |
10 |
100 |
90 |
80 |
70 |
60 |
50 |
,B |
-4-0 |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
-4-0 |
-5-0 |
-4-0 |
-3-0 |
-4-0 |
-5-0 |
Increment мВ |
500 |
Задача 2.2
Получение вольт-амперных характеристик полевого транзистора 2N3821 jFET с помощью IV-плоттера.
На панели измерителей найти и добавить IV-плоттер. Чтобы понять как соединить плоттер и транзистор нужно открыть плоттер двойным нажатием мыши на него. Заменить тестируемый образец с диода на транзистор. В правой нижней части экрана отобразиться схема подключения. Собрать схему. Настроим параметры плоттера. Нажать кнопку «Simulateparam.» и задать параметры моделирования использую вариант предыдущей задачи. После задания параметров запустить симуляцию.
Используйте для симуляции варианты предыдущего примера.
Задача 2.3
Включить схему эксперимента (рис. 2.2). Открыв панель источника Vgs, напряжения на затвореиз указанных в табл. 1.2). Последовательно задавая значения постоянного напряжения на выходе в табл. 1.2, измерить при каждом значенииток стока. Данные занести в соответствующую таблицу. Эту же процедуру повторить при других (указанных в табл.2.2) значениях напряжения на затворе.
Рис. 2.2. Схема опыта для исследования ВАХ МДП-транзистора
Таблица 2.2
Вариант |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
13 |
14 |
15 |
, B |
1,85 |
1,86 |
1,87 |
1,88 |
1,89 |
1,9 |
1,91 |
1,92 |
1,93 |
1,94 |
1,95 |
1,96 |
1,97 |
1,98 |
1,99 |
Вариант |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
21 |
22 |
23 |
24 |
25 |
, B |
2 |
2,01 |
2,02 |
2,03 |
2,04 |
2,05 |
2,06 |
2,07 |
2,08 |
2,09 |
Измерить параметр ,мА при значениях,B=0; 0,5; 1; 2; 4; 5