Методическое пособие 565
.pdfРис. 21. 3D модель тонкопленочного транзистора в различных проекциях
40
1.МОДЕЛИРОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И ВАХ / ВФХ
1.1.Резистор на заданном материале
По технологии 0,18 мкм разрабатывается диффузионный резистор n+-типа в кремниевой подложке. В подложку кремния с примесью p-типа (бор) проводится диффузия сильно легированной примесью n+-типа (мышьяк). Глубина залегания составляет 0,2 мкм, максимальное рабочее напряжение 1,98 В и сопротивление 62 Ом/квадрат. Для небольших сопротивлений используется высоколегированная область (n+-слой) [3].
Листинг программы для расчета резистора:
#Переходим в victoryprocess и задействуем все ядра go victoryprocess simflags="-P all"
#1 строка: физические характеристики подложки: материал – кремний, легированный бором;
#2 строка: задание структуры (2D режим) с начальной толщиной подложки
0,3 мкм
#3 строка: численные параметры расчета технологического процесса – разрешение при моделировании
init material="silicon" rot.sub=45 c.boron=1e14 \ from=0 to=0.3 depth=0.5 gasheight=0.5 \ resolution="0.01,0.01"
#Задаем настройки сетки моделирования
#по оси Х:
line X loc=0.0 |
spac=0.04 |
line X loc=0.04 |
spac=0.04 |
line X loc=0.045 |
spac=0.001 |
line X loc=0.05 |
spac=0.001 |
line X loc=0.15 |
spac=0.1 |
line X loc=0.25 |
spac=0.001 |
line X loc=0.255 |
spac=0.001 |
line X loc=0.3 |
spac=0.045 |
# по оси Z: |
|
line Z loc=-0.1 |
spac=0.01 |
line Z loc=0.16 |
spac=0.01 |
line Z loc=0.18 |
spac=0.005 |
line Z loc=0.19 |
spac=0.005 |
line Z loc=0.29 |
spac=0.1 |
line Z loc=0.5 spac=0.1 |
# Формируем сильнолегированную область, путем имплантации мышьяка deposit material="photoresist" thick=0.4
etch DRY material="photoresist" thick=0.4 between="0.08,0.22" implant arsenic dose=2.45e15 energy=11
strip resist
41
diffuse time=10 temp=900
# Создаем электроды
deposit material="aluminum" thick=0.04 between="0.06,0.07" deposit material="aluminum" thick=0.04 between="0.23,0.24"
# Наносим оксид
deposit DRY material="oxide" thick=0.0 max
# Присваиваем имена электродам
electrodes name="source" X=0.065 Z=-0.01 electrodes name="gnd" X=0.235 Z=-0.01
#Сохраняем структуру и выводим ее на экран export structure=1resistor.str
tonyplot 1resistor.str
#Определяем сопротивление (Ом/квадрат) и глубину залегания extract name="Rs" sheet.res material="Silicon" mat.occno=1\
x.val=0.15 region.occno=1
extract name="Ja2" xj material="Silicon" mat.occno=1 \ x.val=0.15 junc.occno=1
#Переходим в victorydevice и задействуем все ядра
go victorydevice simflags="-P all"
# Загружаем структуру
mesh infile="1resistor.str" width=0.1
#Задаем смещение solve init solve previous
#Сохраняем лог и начинаем расчет log outf=1resistor_log.log
solve vsource=-10 vstep=0.5 vfinal=10.0 name=source log off
#Выводим log-файл на экран
tonyplot 1resistor_log.log
# Конец quit
Готовый резистор показан на рис. 22,а, на рис. 22,б – его ВАХ. Глубина залегания составляет 0,19 мкм, а Rs = 61,97 Ом/квадрат.
42
а
б
Рис. 22. Резистор, выполненный по технологии 0,18 мкм: а – структура резистора; б – ВАХ резистора
43
1.2. Конденсатор на заданном материале
По технологии 0,18 мкм разрабатывается конденсатор со структурой ме- талл-диэлектрик-металл (МДП / MIM) на кремниевой подложке. На подложку кремния с примесью p-типа (бор) наносится диэлектрик, после чего создаются две пластины металла и между ними находится SiO2. Необходимо получить емкость конденсатора 1 фФ и максимальное рабочее напряжения 60 В. В MIM конденсаторах металлические электроды обладают низким сопротивлением. Уменьшение толщины диэлектрика проводится с целью увеличения емкости и приводит к росту тока утечки [4].
Листинг программы для расчета конденсатора:
#Переходим в victoryprocess и задействуем все ядра go victoryprocess simflags="-P all"
#1 строка: физические характеристики подложки: материал – кремний, легированный бором;
#2 строка: задание структуры (2D режим) с начальной толщиной подложки
0,05 мкм
#3 строка: численные параметры расчета технологического процесса – разрешение при моделировании
init material="silicon" rot.sub=45 c.boron=1e14 \ from=0 to=0.2 depth=0.05 gasheight=0.1 \ resolution="0.01,0.01"
#Задаем настройки сетки моделирования
#по оси Х:
line X loc=0.0 spac=0.005 line X loc=0.2 spac=0.005
# по оси Z:
line Z loc=-0.1 spac=0.005 line Z loc=0.05 spac=0.005
#наносим последовательно слои «металл-диэлектрик-металл» deposit material="oxide" thick=0.002
deposit material="aluminum" thick=0.015 between="0,0.19" deposit material="oxide" thick=0.0011 max
deposit material="aluminum" thick=0.015 between="0.01,0.2" deposit material="oxide" thick=0 max
#Присваиваем имена электродам
electrodes name="anode" X=0.01 Z=-0.01 electrodes name="cathode" X=0.19 Z=-0.03
#Сохраняем структуру и выводим ее на экран export structure=1capacitor.str
tonyplot 1capacitor.str
#Переходим в victorydevice и задействуем все ядра go victorydevice simflags="-P all"
44
# Загружаем структуру
mesh inf=1capacitor.str width=0.1
#Задаем модель подвижности models cvt srh print
output con.band val.band t.quantum
#Определяем численный метод method carr=2 maxtrap=10
#Задаем смещение solve init solve previous
#Сохраняем log-файл и начинаем расчет log outf=1capacitor_log.log
solve vgate=0 vstep=2 vfinal=60 name=anode ac freq=1e6 direct log off
#Выводим log-файл на экран
tonyplot 1capacitor_log.log quit
Готовый конденсатор показан на рис. 23,а, на рис. 23,б - его ВФХ. Емкость можно высчитать по формуле
С = |
|
|
, |
|
(1) |
|
|
|
|
||
где С – емкость плоского конденсатора; |
|
Ф/м2); |
|||
- электрическая постоянная (8,854187817 × |
|
||||
– относительная диэлектрическая |
проницаемость; |
|
|||
|
|
10 |
|
S – площадь пластин конденсатора; d – расстояние между пластинами.
Поставим все значения в формулу (1) и определим, какая емкость будет у плоского конденсатора:
3,9×8,854187817×10 |
, |
× |
= 1,02 |
. |
|
, × |
|
Посчитав по формуле, приведенной выше, получаем 1,02 фФ, этот ответ очень близок к значению, приводимому в datasheet на исследуемый прибор.
45
а
б
Рис. 23. MIM конденсатор, выполненный по технологии 0,18 мкм: а – структура конденсатора; б – ВФХ конденсатора
46
2. ДИОД ЗАДАННОГО ВИДА
По технологии 0,18 мкм разрабатывается диод Шоттки в кремниевой подложке. В подложке кремния с примесью n+-типа (фосфор) проводится эпитаксия слаболегированной примесью n-типа (фосфор). Для исключения краевых утечек и улучшения обратных характеристик по периметру контакта создается охранное кольцо p-типа проводимости (бор) [5]. Максимальное рабочее напряжение у диода Шоттки 5,5 В.
Листинг программы для расчета диода Шоттки:
#Переходим в victoryprocess и задействуем все ядра go victoryprocess simflags="-P all"
#1 строка: физические характеристики подложки: материал – кремний, легированный фосфором;
#2 строка: задание структуры (2D режим) с начальной толщиной подложки
0,6 мкм
#3 строка: численные параметры расчета технологического процесса – разрешение при моделировании
init material="silicon" rot.sub=45 c.phos=9e19 \ from=0 to=0.6 depth=0.6 gasheight=0.8 \ resolution="0.01,0.01"
#Задаем настройки сетки моделирования
#по оси Х:
line X loc=0.0 |
spac=0.03 |
line X loc=0.15 |
spac=0.03 |
line X loc=0.2 |
spac=0.005 |
line X loc=0.25 |
spac=0.03 |
line X loc=0.35 |
spac=0.03 |
line X loc=0.4 spac=0.005 |
|
line X loc=0.45 |
spac=0.03 |
line X loc=0.6 |
spac=0.03 |
# по оси Z: |
|
line Z loc=-0.8 |
spac=0.03 |
line Z loc=-0.23 |
spac=0.03 |
line Z loc=-0.2 |
spac=0.005 |
line Z loc=-0.18 |
spac=0.005 |
line Z loc=-0.14 |
spac=0.04 |
line Z loc=-0.1 |
spac=0.005 |
line Z loc=0.0 |
spac=0.005 |
line Z loc=0.6 |
spac=0.1 |
# Производим эпитаксию n-типа
epitaxy time=15 temperature=900 thickness=0.4 dopants="phos" \ dopingvalues=1e12
47
#Формируем два кармана p-типа путем имплантации бора deposit material="photoresist" thickness=0.3
etch DRY material="photoresist" thick=0.23 between="0,0.09" etch DRY material="photoresist" thick=0.23 between="0.51,0.6" implant boron dose=1.0e14 energy=10
strip resist
diffuse time=10 temp=900
#Сохраняем структуру
export structure=2diodes.str
#Переходим в victorydevice и задействуем все ядра go victorydevice simflags="-P all"
#Загружаем структуру
mesh inf=2diodes.str width=0.1
# Создаем электроды и присваиваем им имена
electrode name=anode x.min=0.26 x.max=0.34 y.min=-0.41 y.max=-0.4 electrode name=cathode x.min=0 x.max=0.6 y.min=0.6 y.max=0.61
#Задаем модель, работу выхода на аноде и подключаем для расчета метод Ньютона
model conmob fldmob srh auger bgn contact name=anode workf=4.97 method newton
#Задаем смещение
solve init solve previous
#Сохраняем log-файл и начинаем расчет log outfile=2diodes_log.log
solve vanode=0.05 vstep=0.05 vfinal=1 name=anode solve vstep = 0.5 vfinal = 5.5 name = anode
log off
#Сохраняем структуру
save outf=2diodes_str.str
# Выводим на экран log-файл и структуру tonyplot 2diodes_log.log -set 1de_log.set tonyplot 2diodes_str.str
quit
Готовый диод Шоттки показан на рис. 24,а, на рис. 24,б – его ВАХ.
48
а
б
Рис. 24. Диод Шоттки, выполненный по технологии 0,18 мкм: а – структура диода Шоттки; б – ВАХ диода Шоттки
2.1. Эквивалентная схема диода
При анализе электрических цепей диод заменяют его эквивалентной схемой [6]. Для получения эквивалентной схемы нужны два резистора и два конденсатора. Резисторы и конденсаторы будут браться из предыдущих заданий.
Листинг программы для расчета эквивалентной схемы:
# Переходим в victoryprocess и задействуем все ядра go victoryprocess simflags="-P all"
49