4.2. Выбор параметров радиографического контроля

Основными параметрами, выбираемыми при рентгенографиче­ском контроле, являются: напряжение на рентгеновской трубке U, тип рентгеновской пленки и тип усиливающего экрана, фокусное расстояние F и экспозиция.

Напряжение на рентгеновской трубке, как отмечалось выше, влияет на энергетический спектр и интенсивность излучения. Энергетический спектр 1(E) в свою очередь определяет проникаю­щую способность излучения и чувствительность контроля.

Выбор радиографической пленки определяется необходимо­стью получения рентгеновского снимка с определенной контрастностью и четкостью изображения. Контрастность пленки, ее чувствительность и зернистость взаимосвязаны между собой, высокочувствительные пленки имеют крупные зерна и низкий пре­дел разрешения, а низкочувствительные - мелкие зерна и высо­кий предел разрешения. Поэтому с экономической точки зрения желательно, чтобы время экспонирования пленки было как можно короче, использование высокочувствительной пленки ограничива­ется ее зернистостью, которая в значительной мере определяет качество изображения мелких дефектов. Часто производители пленок (например Kodak) для контроля конкретных объектов реко­мендуют к применению определенный тип чувствительного мате­риала.

Усиливающие металлические и флуоресцентные экраны при­меняют для сокращения времени просвечивания. Усиливающее действие экранов характеризуется коэффициентом усиления, определяемым отношением времен просвечивания без экрана и с экраном.

Усиливающее действие металлических экранов, используемых при контроле методом прямой экспозиции, определяется вторич­ными электронами, образующимися в экране при прохождении через него ионизирующего излучения. Экраны изготавливают из фольги тяжелых металлов (Pb, W, Sn и др.). Для каждого источни­ка ионизирующего излучения материал экрана следует выбирать в зависимости от его энергии, в частности, для рентгеновского излу­чения целесообразно использовать олово, вольфрам, свинец, для гамма-излучения - вольфрам, свинец. Толщина экрана должна соответствовать максимальной длине пробега вторичных электро­нов в экране. При изменении толщины фольги либо уменьшается коэффициент преобразования энергии излучения в кинетическую энергию вторичных электронов, либо ослабляется интенсивность ионизирующего излучения, и вследствие этого уменьшается усили­вающее действие экрана. При применении металлических экранов практически не ухудшается разрешающая способность.

Усиливающее действие флуоресцентных экранов определяется действием фотонов видимой и ультрафиолетовой областей спект­ра, высвечиваемых из люминофоров при прохождении через них ионизирующего излучения. В качестве люминофоров используют ZnS, CdS, BaS0₄, PbS0₄, CaW0₄ и др. Флуоресцентные экраны изготавливают в виде пластмассовых или картонных подложек, на которые наносят слой люминофора. Эти экраны рекомендуется использовать со специально приспособленными рентгеновскими пленками, поскольку спектральная чувствительность эмульсии таких пленок и спектр свечения экранов хорошо согласуются. При использовании флуоресцентных экранов разрешающая способ­ность изображения на пленках существенно ухудшается из-за крупнозернистости экранов.

С помощью флуоресцентных экранов получают меньшие экспо­зиции, а при использовании металлических экранов - лучшую чув­ствительность.

Коэффициенты усиления для различных комбинаций пленок и экранов приведены в табл. 4.2.

При промышленной радиографии основным показателем каче­ства выполненного снимка является относительная чувстви­тельность, под которой понимают отношение (в %) размера минимального выявляемого дефекта или элемента эталона чув­ствительности к толщине просвечиваемого изделия.

Таблица 4.2

Коэффициент усиления к для рентгеновских пленок (при S = 1,5-1,8, Е = 50 кэВ, U= 80 кВ)

Типы экранов	Рентгеновские пленки
	РТ-1	РТ-3	РТ-4	РТ-6	РТ-2
Без экранов	1	1,8	5	15	2
Металлические	0,5	0,9	2,5	7,5	1
свинцовые
Флуоресцентные:
Стандарт	1,5	1,2	2,9	14	0,29
УФД-П/2	0,77	0,58	1,4	6,8	0,14
УФД-П/3	0,51	0,39	0,95	4,5	0,09
СБ	0,91	0,70	1,7	8,1	0,17

Значение k равно отношению времени просвечивания при использовании комбинации пленки и экрана и времени просвечивания для пленки РТ-1 без экрана.

Однако измерение чувствительности по эталону еще не дает представления о реальных размерах выявленных дефектов, а слу­жит лишь средством оценки качества изображения дефектов на пленке. Используют различные типы эталонов: проволочные, пла­стинчатые или ступенчатые с канавками и отверстиями. Проволоч­ные эталоны лучше, чем эталоны с канавками, имитируют дефек­ты сварки типа трещин и непроваров. Пластинчатые и ступенчатые эталоны с отверстиями хорошо имитируют дефекты типа пор, раковин, шлаковых включений. Выбор того или иного эталона чув­ствительности зависит от конкретной задачи контроля и обычно регламентируется техническими условиями.

Наиболее распространенным является канавочный эталон чув­ствительности (рис. 4.2), который устанавливается на контролируе­мом изделии со стороны источника излучения; относительная чув­ствительность метода при этом определяется как

(4.2)

где Δh - минимальная глубина канавки, видимой на пленке; d - толщина контролируемого изделия; h - толщина эталона чувстви­тельности.

Рис. 4.2. Канавочный эталон чувствительности

Чувствительность контроля тем выше, чем ниже энергия источ­ника ионизирующего излучения (рис. 4.3), поэтому напряжение на трубке должно быть выбрано как можно меньшим, при сохранении приемлемой по времени экспозиции.

Радиография позволяет получить наиболее высокую чувстви­тельность контроля по сравнению с другими методами радиаци онного контроля. Она составляет для рентгенографии 1,5-2 %, а для гаммаграфии - 3-5 % толщины контролируемого соединения.

Существенное влияние на выявляемость дефектов оказы­вает радиографическая общая нерезкость изображения и (рис. 4.4), которая характеризу­ется величиной размытия краев на радиографическом снимке. Величина нерезкости при про­свечивании зависит от геомет­рии просвечивания, микрострук­туры пленки и процессов взаи­модействия ионизирующего излучения с веществом пленки (образованием фотоэлектронов, комптоновских электронов и их пробегом в эмульсии).

Рис. 4.3. Изменение чувствительности контроля при

радиографии стали в зависимости от толщины

материала и энергии излучения

Геометрическая нерезкость и_г зависит от размеров источни­ка излучения и геометрических условий просвечивания и опре­деляется размером фокусного пятна или активной части d, фокусным расстоянием F, тол­щиной объекта контроля 6, рас­стоянием от контролируемого предмета до пленки и размером поля облучения. Геометрическую нерезкость можно оценить соотношением u_г=dδ/(F-δ) . Для уменьшения геометрической нерезкости следует применять источ­ники излучения с малым фокусным пятном.

Однако уменьшение d приводит к снижению интенсивности излучения и увеличению времени экспозиции.

Рис. 4.4. Схема формирования нерезкости

На рисунке: 1 - источник излучения; 2 - объект контроля с резким изменением толщины; 3 - радиографиче­ская пленка; 4 - профиль радиационного изображения; 5 - сглаженный профиль оптической плотности снимка объекта контроля.

Внутренняя нерезкость u_в пленок зависит от рассеяния вторич­ных электронов в эмульсионном слое пленки, т.е. от энергии излу­чения и типа усиливающего экрана (табл. 4.3).

Таблица 4.3

Зависимость величины внутренней нерезкости от

типа излучения и усиливающих экранов

Тип излучения	Тип усиливающего экрана	Внутренняя нерезкость uв, мм
		Мелкозернистая пленка	Крупнозернистая пленка
Рентгеновское излучение	флюоресцентные экраны	0,1	0,5
	свинцовые экраны	0,025	0,1

Продолжение табл. 4.3

50 кэВ		0,03	0,05
100 кэВ		0,05	0,1
200 кэВ		0,09	0,12
300 кэВ		0,12	0,15
400 кэВ		0,15	0,2
1000 кэВ		0,24	0,3
2000 кэВ		0,32	0,45
Гамма излучение	свинцовые экраны	0,13	0,2
Гамма Излучение	свинцовые экраны	0,27	0,3
Гамма Излучение	свинцовые экраны	0,36	0,5

Значение нерезкости рассеяния можно оценить из уравнения и_р=и_еg^δ, где δ - толщина объекта (см), g - коэффициент про­порциональности. Для рентгеновского излучения 1,25, для ¹⁹²Ir g = 1,15, для ¹³⁷Cs g = 1,09, для ⁶⁰Со g = 1,04.

Нерезкость смещения, которая возникает вследствие движения источника, объекта контроля и пленки, можно устранить, применяя жесткие держатели источников, детекторов и объектов контроля.

Фокусное расстояние F следует выбирать таким образом, что­бы геометрическая нерезкость и_г была соизмерима со значением внутренней нерезкости и_в (и_г≈ и_в).

Когда источник излуче­ния не является точечным, формируемая тень не обла­дает идеальной резкостью. Степень геометрической нерезкости любой тени зависит от размеров источ­ника излучения (фокусного пятна или активной части) и от положения контролируе­мого объекта между источ­ником и радиационным изображением (рис. 4.5). Из подобия треугольников можно показать что:

(4.3)

где d - размер источника излучения; δ* - расстоя­ние от элемента объекта контроля до рентгеновской пленки; F₀ - расстояние от источника излучения до объекта контроля; F - фокусное расстояние. Исходя их этого для опре­деления фокусного расстояния часто используют соотношение:

(4.4)

Если рентгеновскую пленку помещать непосредственно на объект контроля, то δ^* можно считать равной толщине объекта δ.

Условие соразмерности геометрической нерезкости внутренней определяют из условий: и_г ≤ и_в при просвечивании тонкостенных изделий; и_г ≤ и_р при просвечивании изделий большой толщины, когда рассеянное излучение существенным образом ухудшает выявляемость дефектов. В последнем случае общая нерезкость изображения при и_г = и_р для ступенчатых дефектов (непровары, трещины и т.д.) приблизительно равна и ≈ 25и_р и для оваль­ных дефектов (поры, раковины и т.д.) и ≈ 1,43и_р .

Рис. 4.5. Схема формирования геометрической

нерезкости от фокусного расстояния

На рисунке: 1 - источник излучения, 2 - элемент объекта контроля, 3 - изображение на пленке.

В стандартах, регламентирующих радиационную дефектоско­пию, для выбора фокусных расстояний используют номограммы, построенные на основе зависимостей:

Первая из приведенных зависимостей основана на предположе­нии, что и_г = 2и_в, a и_в выбирается из табл. 4.3.

Увеличение фокусного расстояния F позволяет уменьшить нерезкость, но при этом снижается интенсивность излучения и уве­личивается время экспозиции. Значение F следует выбирать опти­мальным. Обычно оно составляет 500-1000 мм.

Размер поля облучения выбирают таким, чтобы изменение опти­ческой плотности посередине и на краях снимка не превышало 10%. Например, для листовых конструкций длину I контролируе­мого за одну экспозицию участка шва определяют по соотношению l≤0,8f (где f - расстояние от источника излучения до поверхности контролируемого шва).

Экспозиция X для рентгеновских аппаратов представляет собой произведение тока трубки на время облучения и измеряется обыч­но в миллиампер-минутах или миллиампер-секундах.

Выбор экспозиции производят по номограммам (рис. 4.6) либо подбирают опытным путем с помощью экспонометров (дозиметров типа ДК-0.2) - измеряют дозу облучения при разных значениях экспозиции и затем выбирают нужную.

Номограммы рентгеновских экспозиций представляют собой гра­фические зависимости между толщиной материала, напряжением на рентгеновской трубке и экспозицией. При планировании режи­мов просвечивания каждую конкретную номограмму можно исполь­зовать только при определенной совокупности условий, включаю­щих тип рентгеновского аппарата, конкретное фокусное расстоя­ние, тип пленки и экранов, условия обработки пленки с указанием оптической плотности снимка. Номограммы дают достаточно точ­ную информацию для оценки режимов просвечивания ОК в виде пластины, но при просвечивании ОК, толщина которого изменяется в широких пределах, их можно использовать только в качестве первого приближения.

Рис. 4.6. Номограммы экспозиций при радиографии сталей (а) и алюминиевых сплавов (б) рентгеновскими лучами (пленка РТ-1, F=750 мм, экран свинцовый δ=0,05 мм, S=1,5)

Такие номограммы, построенные для наиболее распространен­ных рентгеновских аппаратов и типов пленок, существуют для сплавов железа, алюминия, титана и магния и приведены в специ­альной литературе [6-9].

В каждом конкретном случае желательно составить номограмму экспозиций, соответствующую используемому типу аппарата, пленки и условиям контроля. Для того, чтобы составить номограм­му экспозиций, получают серию радиографических снимков ступен­чатого клина, изготовленного из того же материала, что и объект контроля. При этом для ряда анодных напряжений на рентге­новской трубке (через 10...30 кВ) клин последовательно рентгенографируют при различных экспозициях. Полученные пленки обра­батывают в соответствии со стандартной методикой. На каждом радиографическом снимке получается изображение клина в виде серии элементов с различной оптической плотностью. Выбрав определенную оптическую плотность почернения, например S=2, с помощью денситометра определяют местонахождение изображе­ния элементов с этой плотностью на каждой радиограмме. Для каждого такого элемента имеется информация о толщине клина, напряжении рентгеновской трубки и экспозиции. При отсутствии на рентгенограмме заданной плотности почернения соответствующую толщину материала оценивают путем интерполяции. Затем значе­ния толщины материала, напряжения и экспозиции для каждого элемента с заданной оптической плотностью наносят на график. Экспозицию в миллиампер-минутах откладывают по логарифмиче­ской шкале, а толщину материала - по линейной шкале.

Второй способ составления номограммы экспозиций требует меньше снимков, но больше арифметических вычислений и знания характеристической кривой для используемой пленки. При каждом выбранном напряжении выполняют однократное экспонирование ступенчатого клина. На каждой рентгенограмме измеряют оптиче­ские плотности для каждого элемента клина. Затем по характери­стической кривой используемой пленки вычисляют экспозицию, которая дала бы заданную оптическую плотность для каждого эле­мента клина. Полученные значения экспозиции, толщины и напря­жения наносят на графики, как и при выполнении первого способа.

Номограммы строятся для определенной пленки (с определен­ными усиливающими экранами) и фокусного расстояния F_H. Если значение фокусного расстояния F отличается от F_H, то полученную по номограмме экспозицию пересчитывают X_H по формуле:

(4.5)

При использовании пленок и экранов не тех типов, для которых построена номограмма, считается, что экспозицию можно пересчи­тать с учетом коэффициентов усиления к (табл. 4.2) по формуле:

(4.6)

где Х_н - экспозиция для пленки и экрана соответствующих номо­грамме; к_н - коэффициент усиления для пленки по номограмме; к - коэффициент усиления для используемой пленки. Но так как значения коэффициентов усиления к рассчитываются для конкрет­ных значений напряжений, энергий излучения и плотностей почер­нения, то легче и вернее построить новую номограмму экспозиций.

Формулы (4.5) и (4.6) можно объединить в одну:

(4.7)

При контроле импульсными рентгеновскими аппаратами время экспозиции, фокусное расстояние, тип рентгеновской пленки и уси­ливающих экранов выбираются исходя из конкретных условий контроля и требований, предъявляемых к качеству контроля. При контроле железа, меди, титана и сплавов на их основе рекоменду­ется использовать рентгеновские пленки РТ-1, РМ-1МД, R5, R7, R8, F8, D7 с флуоресцентными и свинцовыми усиливающими экра­нами. Для аппарата ПИОН-2М, при использовании флуоресцент­ных усиливающих экранов рекомендуется фокусное расстояние 500-1000 мм. При использовании пленок со свинцовой фольгой рекомендуется фокусное расстояние 300-600 мм.

Для импульсных аппаратов также строятся номограммы экспо­зиций. Поскольку максимальное напряжение в импульсной трубке не регулируется и задается разрядником-обострителем во вторич­ной цепи высоковольтного импульсного трансформатора, построить номограмму экспозиции для импульсного аппарата гораздо проще.

Следует отметить, что на практике часто исполь­зуют метод подбора экс­позиции, используя элек­тростатический дозиметр - электроскоп Лауритсена. В России этот дози­метр известен под марка­ми ДП-22В (ДП-24) (диапазон измерений О - 50 Р), ДК-0,2 (0 - 200 мР), КИД-2 (0,005 - 1 Р). Плотность почернения пленки S сопоставима со значени­ем экспозиционной дозы D. Поэтому можно зара­нее составить для используемой пленки таблицу соответствия плотности почернения экспозиционной дозе и построить зависи­мость S (D), по которой в последующем можно производить подбор экспозиции. Зная дозу, которая необходима для получения удовлетворительного качества снимков, дозиметр при контроле располагается за ОК и пленкой, его показания контролируются в промежут­ках между просвечиванием. При достижении необходимой дозы, рентгеновский аппарат выключают и производят обработку пленки. Этот метод можно использовать при РНК рентгеновскими аппа­ратами непрерывного действия.

В случае, если есть номограмма экспозиций для материала с известным линейным коэффициентом ослабления μ₀, но необходи­мо произвести контроль изделия (и найти экспозицию) из другого материала, с толщиной d_M, для которого также известен коэффи­циент ослабления μ_M, то можно найти толщину эквивалентного ослабления d_o (при прохождении излучения через материал d₀ и d_m мощность дозы (интенсивность) будет одинаковой). Зная толщину эквивалентного ослабления d_o, по номограмме легко определить необходимую экспозицию. Матери­ал, для которого построена номограмма экспозиции, называется базовым (табл. 4.4). Подсчет толщины эквивалентного поглощения можно определить по соотношению:

(4.8)

где d_М - толщина контролируемого материала; μ_o, μ_м - соответ­ственно линейные коэффициенты ослабления базового и контро­лируемого материалов для эффективной энергии излучения Е_эфф.

В качестве Е_эфф принимают энергию излучения, соответствую­щую 2/3*U_max для обычных аппаратов и U_max/2 для импульсных аппаратов. Значения U_max для различных материалов приведены в табл. 4.4.

Таблица 4.4

Значения напряжений U_max на рентгеновской трубке для базовых материалов

Umax, кВ	Толщина материалов, мм
	Fe	Ti	Al	Mg
60	1	3	20	35
80	2	6	38	57

Продолжение табл. 4.4

100	5	10	54	80
120	7	18	59	105
150	10	24	67	120
200	21	47	100	160
250	27	57	112	200
300	33	72	132	240

Значения линейных коэффициентов ослабления для различных материалов приведены в табл. 4.5.

Таблица 4.5

Значения линейных коэффициентов ослабления μ (см^-1)

Энергия, МэВ	Материалы
	Fe	Al	Cu	Ti	Ni	Mo	Pb	W
0,08	4,22	0,49	6,17	1,62	5,9	0,31	23,6	145
0,1	2,6	0,42	3,66	1,09	3,53	0,27	60,3	81,6
0,15	1,39	0,36	1,79	0,68	1,77	0,23	21,8	29
0,2	1,06	0,32	1,28	0,55	1,3	0,21	10,7	14,2
0,3	0,83	0,28	0,95	0,45	0,98	0,18	4,25	5,8
0,4	0,72	0,25	0,81	0,4	0,81	0,16	2,44	3,4
0,5	0,65	0,23	0,73	0,36	0,76	0,15	1,7	2,5
0,6	0,6	0,21	0,67	0,33	0,69	0,14	1,33	2
0,7	0,57	0,2	0,64	0,32	0,67	0,13	1,18	1,8
0,8	0,52	0,18	0,58	0,14	0,6	0,12	0,95	1,5
1	0,47	0,16	0,52	0,12	0,54	0,11	0,77	1,2
1,25	0,42	0,15	0,47	0,11	0,49	0,1	0,66	1,1

Толщину эквивалентного ослабления стали приблизительно можно найти, используя коэффициенты эквивалентности из табл. 4.6. Чтобы вычислить толщину эквивалентного ослабления стали, необходимо умножить толщину просвечиваемого материала на коэффициент эквивалентности, выбранный для используемого напряжения рентгеновской трубки или радионуклида.

Таблица 4.6

Значения коэффициентов эквивалентности k_экв

Металлы	Напряжение на трубке, кВ					Радионуклиды
	50	100	150	200	400	Tm	Se	Ir	Cs	Co
Магний	0,03	0,06	0,12	0,18	0,22	0,16	0,18	0,22	0,23	0,23
Алюминий	0,05	0,08	0,16	0,25	0,32	0,29	0,32	0,34	0,34	0,34
Титан	0,35	0,37	0,42	0,50	0,54	0,52	0,54	0,56	0,57	0,57
Железо	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Медь	1,52	1,46	1,39	1,29	1,15	1,21	1,15	1,11	1,11	1,11
Никель	1,44	1,39	1,35	1,27	1,18	1,22	1,19	1,15	1,15	1,15
Молибден	4,51	4,42	3,79	2,65	1,62	2,14	1,82	1,31	1,29	1,26
Свинец	-	-	21,1	14,1	4,94	7,32	6,94	3,85	3,28	2,23
Вольфрам	-	-	27,8	18,6	6,75	10,6	9,53	4,96	4,21	3,21

Основными параметрами, выбираемыми при просвечивании гамма-лучами, являются: энергия излучения, активность источни­ка, экспозиция, рентгеновская пленка, усиливающие экраны, фокусное расстояние.

Энергия излучения зависит от схемы распада и гамма-перехо­дов возбужденного дочернего ядра. Спектр гамма-излучения может быть достаточно сложным, и состоять из нескольких линий с разными энергиями, кроме того всегда присутствует сопутствующее рентгеновское излучение. Энергия излучения влия­ет на проникающую способность и на мощность дозы как гамма - постоянная Г_СИ.

Энергию излучения для заданного материала и толщины свар­ного соединения определяют путем выбора соответствующего изо­топа по табл. 4.7. Пленку, усиливающие экраны и фокусные рассто­яния выбирают так же, как и при рентгеновском просвечивании.

Таблица 4.7

Толщины базовых материалов при

гаммаграфировании, мм

Источник излучения	Материал
	Fe	Ti	Al	Mg
Tm-170	до 4	до 8	до 50	до 80
Se-75	2-40	4-70	10-200	25-250
Ir-192	10-70	20-120	45-250	65-300
Cs-137	25-100	50-170	95-300	130-420
Co-60	35-200	100-340	190-550	280-820

Активность источника является важным параметром гамма- источника и влияет на мощность дозы. Связь между активностью и мощностью экспозиционной дозы для точечного изотропного радионуклидного источника можно записать как:

(4.9)

где b_x - мощность экспозиционной дозы; А - активность источ­ника; Г_СИ - гамма-постоянная источника; F - расстояние от источ­ника до точки регистрации.

Рис. 4.7. Универсальная номограмма для определения времени экспозиции при гамма-графировании стали с использованием пленки РТ-1

Экспозиция при гамма-графировании зависит от мощности экспозиционной дозы источника. Экспозицию определяют, как и в случае рентгенографического контроля, по заранее составленным номограммам. Удобно пользоваться универсальными номограмма­ми (рис. 4.7), позволяющими устанавливать время просвечивания для базовых материалов различными изотопами при различных фокусных расстояниях. Выбор времени просвечивания осуще­ствляют следующим образом.

Для выбран­ного изотопа проводят гори­зонтальную линию через точку, соответ­ствующую тол­щине контро­лируемого материала, до пересечения с вертикальной линией, опре­деляющей мощность экс­позиционной дозы (МЭД) D_x. Затем через найденную точку пересечения проводят линию, параллельную диагоналям n, до пересечения с вертикальной линией, соответствующей выбранному фокусному расстоянию F, после чего по оси ординат определяют время про­свечивания t.

В некоторых справочниках номограммы экспозиции для гамма излучения приводятся в единицах экспозиции, определенных как произведения активности на время. Эти таблицы составлены для конкретных значений фокусного расстояния, плотности почерне­ния, типа пленки, используемого экрана и изотопа.

При расчетах экспозиции необходимо учитывать снижение мощности дозы D источников вследствие их радиоактивного распада. В техническом паспорте к источнику указываются мощность дозы и время измерения. Рассчитать мощность дозы D на момент контроля можно по выражению:

(4.10)

где D₀ - мощность дозы указанная в паспорте на источник; t - время прошедшее с даты измерения, указанной в паспорте источника, до момента контроля; T_1/2 - период полураспада используемого радионуклида. В табл. 4.8 приведены параметры радионуклидов, используемых в дефектоскопии.

При изменении фокусного расстояния и/или типа используемой пленки необходимо пересчитать время экспозиции для компенсации разницы их чувствительности.

Таблица 4.8

Радионуклид	Период полураспада, Т1/2	Энергия γ-квантов, кэВ	Гамма-постоянная ГСИ
Кобальт	5,27 лет	1332 и 1173	13,2
Цезий	29,6 лет	661,6	3,3
Иридий	74,4 дня	сложный спектр от 136 до 1360, при макс. 300-400	4,8
Селен	120,4 дня	сложный спектр от 66 до 572, при макс. 120-280	2,03
Иттербий	32 дня	сложный спектр от 63 до 308, при макс. 63-198	1,25
Тулий	129 дней	52 и 84	0,025

Для расчета новой экспозиции при изменении фокусного расстояния и/или замене типа пленки можно воспользоваться тем же выражением, что для рентгенографического контроля. Коэффициенты усиления к пленок Kodak INDUSTREX, относительно пленки АА400 для разных типов источников приведены в табл. 4.9. Данные приведены для случая автоматической обработки в проявочной машине В2000 в течение 8 минут при температуре 26°С.

Таблица 4.9

Энергия	Тип пленки Kodak INDUSTREX
	AA400	T200	MX125	M100	M	DR50
50-150 кВ	1	1,6	2,9	4,1	3,0	6,5
220 кВ	1	1,7	2,8	4,2	3,5	7,2
Иридий	1	1,9	3,1	5,4	4,4	9,0
Кобальт	1	1,9	3,3	6,3	5,1	10