pdf / 3э.1 Изучение диэлектрического гистерезиса сегнетоэлектриков (1)
.pdfПоскольку сегнетоконденсатор C и эталонный конденсатор Сэт соединены последовательно, то их заряды равны: q = q эт. Поэтому модуль Р вектора поляризации, равный поверхностной плотности σ заряда на обкладках сегнетоконденсатора, вычисляется как:
P |
q |
|
qэт |
|
CэтUэт |
|
Cэт |
U |
y |
, |
(9) |
|
|
|
|
||||||||
|
S S |
|
S |
|
S |
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
где S – площадь обкладок сегнетоконденсатора и учтено равенство (8).
Входное напряжение U и подаваемое на горизонтальные пластины осциллографа напряжение Ux связаны соотношением:
U |
R1 R2 |
U x . |
(10) |
|
|||
|
R2 |
|
|
В лабораторной установке Cэт |
C , поэтому Uэт |
UC , где UC – напряжение |
на сегнетоконденсаторе. Тогда входное напряжение U можно считать равным UC:
U Uэт UC UC . (11)
Модуль Е напряженности поля в сегнетоконденсаторе толщиной d с учетом выражений (10) и (11) равен:
E |
UC |
|
R1 R2 |
U x . |
(12) |
|
R2d |
||||
|
d |
|
|
Подготовка лабораторной установки к работе
иметодика измерений
1.На лабораторной установке рукоятку регулировки напряжения перевести в крайнее левое положение.
2.Подключить лабораторную установку и осциллограф к сети 220 В.
3.Включить тумблер «Сеть» на установке и осциллографе.
4.Выждать 1–2 мин для прогрева приборов.
5.Рукояткой регулировки напряжения выставить максимальное напряжение 100 В. Убедиться, что на экране осциллографа появилась петля гистерезиса предельного цикла.
6.При напряжении U = 100 В с помощью осциллографа измерить Ux и Uy, значения которых указаны в меню, расположенном в правой части экрана осцил-
лографа (значение Ux показано после «1.», а Uy – после «2.»). Результат внести в табл. 1.
|
|
|
|
|
|
Таблица 1 |
|
№ |
U, B |
U x , В |
U y , В |
E, В/м |
P, Кл/м2 |
|
|
1. |
100 |
|
|
|
|
|
|
2. |
95 |
|
|
|
|
|
|
… |
|
|
|
|
|
|
|
7.Выполнить п. 7 при напряжениях U = 95 В, 90 В, 85 В, ..., пока петля не превратится в точку.
8.Рукоятку регулировки напряжения перевести в крайнее левое положение.
9.Выключить тумблер «Сеть» на установке и осциллографе.
10.Отключить лабораторную установку и осциллограф от сети 220 В.
11
ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ
1.По результатам измерений U x и U y вычислить значения напряженности
Еи поляризованности Р по расчетным формулам:
E |
R1 R2 |
U x , |
(13) |
|||
|
|
R2d |
|
|
|
|
P |
Cэт |
U |
y |
, |
(14) |
|
|
||||||
|
|
S |
|
|
||
|
|
|
|
|
где R1 и R2 – сопротивления резисторов делителя напряжения;
U x и U y – подаваемые соответственно на горизонтальные и вертикальные пла-
стины напряжения;
S и d – площадь обкладок и толщина сегнетоконденсатора соответственно; Сэт – электроемкость эталонного конденсатора.
Значения R1, R2, S, d и Сэт указаны в методическом пособии на рабочем месте в лаборатории.
Результаты внести в табл. 1.
2. По полученным в п. 1 результатам вычислить статическую диэлектрическую проницаемость ε по расчетной формуле:
|
1 |
|
P |
. |
(15) |
0 |
|
||||
|
|
E |
|
Результаты внести в табл. 1.
3. По данным табл. 1 построить графики зависимости Р(Е) и ε(Е). Построение графиков можно выполнить как на миллиметровой бумаге, так
и в приложении Microsoft Exсel.
При построении графиков в приложении Microsoft Exсel необходимо:
1.В документ Microsoft Exсel ввести экспериментальные данные табл. 1 в виде столбцов для Е, Р и ε. Для значений можно выбрать формат числа
Экспоненциальный.
Примечание. Расчет значений Е, Р и ε удобно выполнять в приложении Microsoft Exсel.
2.Выделить курсором столбцы данных Е, Р и на вкладке Вставка в группе Диаграммы щелкнуть диаграмму типа Точечная и выбрать подтип Точечная с маркерами (без соединительных линий).
3.Щелкнуть в любом месте диаграммы. В открывшейся при этом панели
Работа с диаграммами перейти на вкладку Макет.
4.В группе Анализ нажать кнопку Линия тренда и выбрать пункт До-
полнительные параметры линии тренда.
5.В открывшемся меню выбрать Полиномиальная и в окошке Степень подобрать значение (от 2 до 6), при котором линия располагается наиболее близко
кмаркерам.
6.На диаграмму добавить ее название и названия осей (рис. 10, а).
7.Выполнить пп. 2–6 для построения графика ε(Е) (см. рис. 10, б).
12
а) |
б) |
|
Рис. 10 |
ЗАДАНИЕ
1.Изучить лабораторную установку и методику измерений.
2.Следуя указаниям в подразделе «Подготовка лабораторной установки
кработе и методика измерений» включить лабораторную установку и измерить
U x и U y . при различных напряжениях U.
3.Результаты измерений внести в табл. 1.
4.Рукоятку регулировки напряжения перевести в крайнее левое положение.
5.Выключить тумблер «Сеть» на установке и осциллографе.
6.Отключить лабораторную установку и осциллограф от сети 220 В.
7.Следуя указаниям раздела «ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕ-
НИЙ» вычислить значения Е, Р, ε и построить графики зависимости Р(Е) и ε(Е).
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1.Что такое электрический диполь? Чему равен электрический дипольный момент? Какое направление он имеет?
2.Что такое полярная и неполярная молекула? Назовите и охарактеризуйте типы диэлектриков.
3.Опишите механизм поляризации неполярных, полярных и ионных диэлектриков.
4.Какие заряды называются связанными и сторонними?
5.Почему напряженность поля в диэлектрике меньше напряженности внешнего электрического поля (в вакууме)?
6.Дайте определение вектора поляризации P .
7.Какова связь между векторами P и E в изотропных диэлектриках?
8.Дайте определение сегнетоэлектрикам.
9.Опишите доменную структуру сегнетоэлектриков.
10.Опишите поляризационные процессы в сегнетоэлектрике, соответствующие различным участкам основной кривой поляризации.
11.Дайте определение диэлектрического гистерезиса.
12.Изобразите петлю гистерезиса полного цикла и дайте определения остаточной поляризованности и коэрцитивной силы.
13
ЛИТЕРАТУРА
1.Савельев, И. В. Курс общей физики. В 5 кн. Кн. 2 : Электричество и магнетизм / И. В. Савельев. – М. : Астрель : ACT, 2004.
2.Струков Б.А., Леванюк А.П. Физические основы сегнетоэлектрических явлений в кристаллах. М.: Наука, 1995. 2-е изд., 240 с.
3.Цедрик М.С. Физические свойства кристаллов триглицинсульфата / М.С. Цедрик. – Минск.: Наука и техника, 1986. – 216 с.
4.Лайнс, М. Сегнетоэлектрики и родственные им материалы / М. Лайнс, А. Гласс; пер. с англ. В. В. Леманова и Г. А. Смоленского. – Москва : Мир, 1981. – 736 с.
5.Блинц, Р. Сегнетоэлектрики и антисегнетоэлектрики: Динамика решётки
/Р. Блинц, Б. Жекш; пер. с англ. С. А. Пикина, Ю. 3. Эстрина, Н. Р. Иванова, А. П. Жукова. – Москва : Мир, 1975. – 400 с.
6.Желудев, И.С. Электрические кристаллы / И. С. Желудев. – Москва :
Наука, 1979. – 200 с.
14