новая папка 1 / 310647
.pdfТаблица
Полосы поглощения, наблюдаемые в ИК-спектрах пористого кремния на подложке монокристаллического кремния
Положение |
|
|
линий |
Интерпретация |
Ссылки |
поглощения, см-1 |
|
|
1 |
2 |
3 |
484 |
Si−O−Si деформационные крутильные |
[6] |
515 |
Si−O−Si продольные валентные колебания мости- |
[6] |
616 |
кового кислорода |
[8] |
Si–Si валентные симметричные |
||
664 |
SiH маятниковые |
[6, 8] |
760 |
Si–C валентные продольные |
[6] |
804 |
SiH2 скручивающие, SiH (Si2O) |
[6, 8] |
832 |
SiF2 валентные продольные, O2–Si–OH |
[6, 7, 8] |
906 |
SiH2 ножничные |
[6, 7, 8] |
946 |
SiF3 валентные продольные |
[6] |
1060 |
Si−O−Si валентные (TO) |
[6] |
1105 |
Si−O−Si ассиметричные колебания мостикового |
[6, 8] |
|
кислорода |
|
1170 |
Si−O−Si валентные (LO) |
[6] |
|
SiH валентные продольные |
[6] |
2087 |
SiH2 валентные продольные |
[6, 7] |
2106 |
SiHn валентные продольные |
[6, 7, 8] |
2140 |
SiH−SiO2 структурная группа |
[6, 8] |
2190 |
O3SiH валентные продольные |
[6, 7] |
2250 |
CH2 валентные продольные симметричные |
[6] |
2853 |
CH2 валентные продольные асимметричные |
[6] |
2921 |
O−H валентные продольные Si–OH , пары воды |
[6, 7] |
3400–3500 |
|
|
Контрольные вопросы
1.Какие колебания в ИК-спектроскопии являются активными?
2.Что такое характеристическая или «групповая частота» в ИК-спект- роскопии?
3.Какие объекты можно эффективно исследовать методом ИК-спект- роскопии?
4.В чем состоят преимущества ИК-Фурье спектроскопии по сравнению с традиционной методикой исследования ИК-спектров?
5.Как получить классический ИК-спектр из Фурье-преобразованного ИК-спектра?
6.Представьте и опишите схему интерферометра Майкельсона.
11
Литература
1. Наканиси К. Инфракрасные спектры и строение органических соединений. Практическое руководство / К. Наканиси. – М. : Мир, 1965. –
220c.
2.Пул Ч. Нанотехнологии / Ч. Пул, Ф. Оуэнс. – М. : Техносфера, 2006. – 306 с.
3.Смит А. Прикладная ИК-спектроскопия / А. Смит. – М. : Мир, 1982. – 328 с.
4.Гремлих Г.-У. Язык ИК-спектров. Введение в интерпретацию спектров органических соединений / Г.-У. Гремлих. – М. : Брукер Оптик, 2002. – 93 с.
5.Накамото К. ИК-спектры и спектры КР неорганических и координационных соединений / К. Накамото. – М. : Мир, 1991. – 535 с.
6.Tolstoy V. P. Handbook of infrared spectroscopy of ultrathin films / V. P. Tolstoy, V. Chernyshova, V. A. Skryshevsky . – N.Y. : Wiley Interscience, 2003. – 710 p.
7.Копылов А. А. Инфракрасное поглощение в пористом кремнии,
полученном в электролитах, содержащих этанол / А. А. Копылов, А. Н. Холодилов // Физика и техника полупроводников. – 1997. – Т. 31,
№5. – С. 556–558.
8.Gorbach T. Ya. Simultaneous changes in the photoluminescence, infrared absorption and morphology of porous silicon during etching by HF / T. Ya. Gorbach // Semicond. Sci. Technol. – 1996. – V. 11. – P. 601–606.
12
Учебное издание
ИССЛЕДОВАНИЕ ПОРИСТОГО КРЕМНИЯ МЕТОДОМ ИНФРАКРАСНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
Учебно-методическое пособие для вузов
Составители: Юраков Юрий Алексеевич, Леньшин Александр Сергеевич, Середин Павел Владимирович
Редактор И.Г. Валынкина Компьютерная верстка О.В. Шкуратько
Подписано в печать 19.02.2014. Формат 60×84/16. Усл. печ. л. 0,76. Тираж 50 экз. Заказ 1271.
Издательский дом ВГУ.
394000, Воронеж, пл. им. Ленина, 10. Тел. 208-298, 598-026 (факс) http://www.ppc.vsu.ru; e-mail: pp_center@ppc.vsu.ru
Отпечатано в типографии Издательского дома ВГУ. 394000, г. Воронеж, ул. Пушкинская, 3. Тел. 204-133
13