Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений

..pdf
Скачиваний:
13
Добавлен:
20.10.2023
Размер:
7.88 Mб
Скачать

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

ДЕТЕКТОРЫ В ДОЗИМЕТРИИ

ИОНИЗИРУЮЩИХ

ИЗЛУЧЕНИЙ

ПО Л У П PO ВО ДИ И К О ВЫ Е Д ЕТ ЕК Т О Р Ы

ВД О ЗИ М ЕТР И И

ИО Н И ЗИ Р У Ю Щ И Х

ИЗЛ УЧ ЕН И Й

Под редакцией доктора технических наук

В. К. ЛЯПИДЕВСКОГО

МОСКВА АТОМИЗДАТ 1973

УДК 539.1.074.55

ft

Гі^-С. fl;.'-

г

I

каучно" •

1"‘:V !

I

(&С»ЛИО -

УС\'

f

:ЭКс^.'ЛІЛЯг

Л? [ ЧИТАЛЬНОГО ЗАДА

Цъ - з ф ч і ,

Полупроводниковые детекторы в дозиметрии иони­ зирующих излучений. М., Атомиздат, 1973, 180 с. (Авт. Кронгауз А. Н., Ляпидевский В. К., Манделышайг ІО. Б., Подгорный В. Н.).

В книге рассмотрены полупроводниковые детекто­ ры, широко применяемые в спектрометрии ионизирую­

щих

излучений.

Весьма

перспективно

использование

таких

детекторов

для

дозиметрии

рентгеновского

и

у-излучения, излучения

ускорителей

заряженных

ча­

стиц

и пр.

 

характеристики

полупроводни­

Изложены основные

ковых

материалов,

используемых для

детектирования

излучения; процессы, происходящие в них под дейст­ вием излучения; дозиметрические характеристики одно­ родных и неоднородных полупроводниковых детекторов; описаны схемы включений и дозиметры с использова­ нием полупроводниковых детекторов.

Рис. 44, табл. 8, библиографических ссылок 354.

03315—088

Атомиздат, 1973

034(01)—73

ПРЕДИСЛОВИЕ

Полупроводниковые детекторы широко применяются для ре­ гистрации различных видов излучений. Этому вопросу посвяще­ но большое число монографий, в которых рассмотрено приме­ нение детекторов для спектрометрии заряженных частиц (Дж. Дирнли и Д. Нортроп. Полупроводниковые счетчики излучений. М., «Мир», 1966 г.; Ю. К- Акимов и др. Полупроводниковые де­ текторы ядерных частиц и их применение. М., Атомиздат, 1967), применение полупроводников для регистрации излуче­ ний видимого диапазона и для преобразования световой энер­ гии в электрическую (С. М. Р ы б к и н . Фотоэлектрические явления

в

полупроводниках.

М., Физматгиз, 1963 г.; А. М. Васильев,

А.

П. Ландсман.

Полупроводниковые фотопреобразователи.

М„ «Советское радио», 1971 г.; А. Амброзяк. Конструкция и тех­ нология полупроводниковых фотоэлектрических приборов М., «Советское радио», 1970 г.).

Однако в дозиметрии ионизирующих излучений полупровод­ никовые детекторы, несмотря на весьма ценные качества (большая чувствительность, линейная зависимость сигнала от поглощенной дозы в большом диапазоне энергий и др.), приме­ няются сравнительно мало. Это обусловлено тем, что полупро­ водниковые детекторы нетканеэквивалентны, и поэтому для их применения в дозиметрии, где требуется определять поглощен­ ную дозу в тканях организма или экспозиционную дозу, необ­ ходима разработка' специальных методов. Методы дозиметрии с помощью нетканеэквивалентных детекторов освещены в литера­ туре недостаточно полно. Поэтому авторы пытались в какой-то степени заполнить этот пробел, обобщив и систематизировав материалы по применению полупроводниковых детекторов в до­ зиметрии ионизирующих излучений.

Книга состоит из восьми глав.

Сначала рассматриваются

общие характеристики

детекторов,

для определения

которых

не требуется знания

физических

процессов, происходящих

при поглощении излучения в рабочем объеме детектора

(гл. 1).

Затем кратко рассмотрены физические процессы, происходя­ щие в рабочем объеме полупроводникового детектора при его облучении (гл. 2). Эти процессы определяют собой характе­

3

ристики сигнала на выходах детектора, и поэтому их рассмот­ рение должно предшествовать рассмотрению свойств конкрет­ ных детекторов (гл. 3 5). Важное значение для дозиметрии представляет изучение влияния внешних факторов на характе­ ристики детекторов (гл. 6). В гл. 7 и 8 рассмотрены методы до­

зиметрии с помощью полупроводниковых детекторов и дозимет­ рическая аппаратура.

Главы 1—3 и 7 написаны В. К. Ляпидевским,

§ 3.4 гл. 3 —

А. Ф. Василевичем, Н. Г. Волковым и В. К.

Ляпидевским

гл. 8 — А. Н. Кронгаузом, Ю. Б. Мандельцвайгом и В. Н. Под­

горным, гл.

4

и 6 — А. Н. Кронгаузом и В. Н. Подгорным,

гл. 5 — Ю.

Б.

Мандельцвайгом.

Авторы будут признательны за все замечания, которые про­ сим направить в издательство.

ГЛАВА 1

ДОЗИМЕТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТОРА

Полупроводники и изоляторы* широко применяются в каче­ стве детекторов элементарных частиц. Кристаллы с узкой зап­ рещенной зоной (0,5—2,5 эв) обычно используются в качестве полупроводниковых детекторов, а кристаллы с широкой зап­ рещенной зоной (3,5—7,0 эв) — в качестве сцинтилляционных и люминесцентных детекторов.

Если на выходе детектора регистрируется изменение прово­ димости под действием излучения, то независимо от ширины запрещенной зоны будем называть детектор полупроводниковым (ППД)**, если регистрируется свечение — то люминесцентным. Если свечение люминофора регистрируется находящимся с ним

в оптическом контакте

полупроводником — то комбинирован­

ным.

детекторы можно разделить на два

Полупроводниковые

больших класса — однородные и неоднородные.

Однородный детектор представляет собой кристалл с одина­ ковым по всему чувствительному объему типом проводимости. Для изготовления детекторов применяют м-атериалы с большой шириной запрещенной зоны (алмаз, CdS и пр.). Это обусловле­ но тем, что полупроводники с малой шириной запрещенной зоны обладают при комнатной температуре большой темновой прово­ димостью и поэтому могут применяться в качестве детекторов излучений только при достаточно низких температурах, что не всегда практически осуществимо.

От этого недостатка свободен неоднородный ППД, представ­ ляющий собой полупроводник, в котором имеются области с различным типом проводимости — электронным (п) и дыроч­ ным (р).

* Деление на полупроводники и изоляторы в значительной степени условно. Обычно изоляторами считают такие вещества, в которых концентра­ ция темповых носителей пренебрежимо мала по сравнению с концентрацией носителей, генерируемых излучением. Тогда ширина запрещенной зоны при комнатной температуре должна превышать 1,5 эв. Кроме того, необходимо, чтобы расстояние уровня Ферми от ближайшего края запрещенной зоны превышало 0,75 эв.

** К ППД следует отнести и детекторы, основанные на регистрации изменения свойств полупроводников под действием излучения.

5

Некоторые важные для дозиметрии характеристики детектора можно определить, не рассматривая физические процессы, про­ исходящие в самом детекторе при его облучении. Такой под­ ход позволяет выделить наиболее общие характеристики, свой­ ственные любому детектору излучений, например функцию от­ клика (вероятность того, что при прохождении через детектор частицы с данными свойствами на выходе детектора появится сигнал — а).

§1.1. ОСНОВНЫЕ ВЕЛИЧИНЫ, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИЕ ИЗЛУЧЕНИЕ

ИЕГО ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ С ВЕЩЕСТВОМ

Пусть на

поверхность детектора падает поток

фотонов

(рис. 1.1, а).

Образующиеся электроны

передают

энергию ве­

ществу, заполняющему рабочий объем

детектора,

и

веществу,

6

в

г

Рис. 1.1. Схема взаимодействия электромагнитного излучения с веществом, заполняющим рабочий объем детектора (а), поглощенная (б), экспозиционная (е)

дозы и керма (г):

1 — рабочий объем детектора;

'2 — стенка; 3 — вещество, окру­

жающее

детектор.

окружающему детектор. Электроны, образовавшиеся в окру­ жающем детектор веществе, также могут попасть в рабочий объем детектора и потерять в нем часть своей энергии. Эти

I

6

электроны дают вклад в поглощенную дозу наряду с электро­ нами, образовавшимися в самом детекторе. Приведем основные определения.

Плотность потока фотонов (частиц) есть число фотонов (частиц), проникающих в единицу времени в объем сферы с единичной площадью центрального сечения.

Для направленного излучения плотность потока фотонов (ча­ стиц) есть число фотонов (частиц), проходящих в единицу вре­ мени через нормально расположенную поверхность единичной площади

Ф = N/St,

(1.1)

где N — число фотонов; S — площадь

поверхности; t — время.

Интенсивность излучения — это энергия излучения, прони­ кающего в единицу времени в объем сферы с единичной пло­ щадью центрального сечения:

J = ф £ѵ,

 

(1.2)

где Еу — энергия фотона (энергию электрона,

ß- и а-частиц

обозначим Ее, Е$ и Еа соответственно).

(частиц)

по ка­

Спектр излучения — распределение фотонов

кой-либо величине. Энергетический спектр

 

 

Ф(ЕУ)

 

(1.3)

распределение фотонов (частиц)

по их энергиям.

номе­

Поглощенная доза излучения

в веществе с атомным

ром z

 

 

 

Dz = Eaz/m,

 

(1.4)

где Еог — энергия, переданная на ионизацию и возбуждение веще­ ства в объеме с массой т и атомным номером z (см. рис. 1.1, 6 ) (или, иначе, поглощенная в массе т энергия). Поглощенная до­ за обычно измеряется в радах (1рад=100 эрг/г = 6,24-ІО7 Мэвіг).

Экспозиционная доза рентгеновского или у-излучения

Ai = Q/m,

(1.5)

где Q — сумма электрических зарядов каждого знака, образую­ щихся в воздухе при полном использовании всех заряженных

частиц, освобожденных

первичным излучением в

массе т (см.

рис. 1. 1, е).

кулон на килограмм — экспозиционная

По ГОСТ 8848—63,

доза рентгеновского и

у-излучений, при которой

сопряженная

корпускулярная эмиссия на килограмм сухого атмосферного воздуха производит в воздухе ионы, несущие заряд в один ку­

лон электричества каждого знака.

 

рентгенах

Допускается измерять

экспозиционную дозу в

(Ір = 2,57976-10-4 к/кг). 1

р создает в

1 см3 воздуха

при давле­

нии 760 мм рт. ст. и температуре 0°С

1 к или 2,08-ІО9 пар ионов.

7

Принимая, что на образование одной пары ионов расходуется 34 эв, получаем, что при экспозиционной дозе в 1 р энергия у-

излучения, переданная электронам

в 1

см3 воздуха, равна

0,114 эрг/см3 или 88 эрг/г.

 

отнесенная к единице вре­

Мощность дозы излучения — это

мени доза излучения

 

 

 

 

Pz =

DJt, Рд ~

Djt,

(1.6)

где t — время

облучения.

веществе

с

атомным номером z

Керма в

облучаемом

 

 

K z = Ekzlm,

(1.7)

где Ekz — сумма кинетических энергий всех заряженных частиц, освобожденных первичным излучением в массе т (см. рис. 1.1, г).

Отметим, что кинетическая энергия электронов расходуется на образование тормозного излучения, ионизацию и возбуж­

дение атомов среды. Кинетическая энергия

ионов крайне мала,

и ее можно не учитывать.

веществе с атомным

Массовый коэффициент ослабления в

номером z

 

Ѵтт= dJ/(Jdx),

(1.8)

где dJ—изменение интенсивности излучения при прохождении слоя толщиной dx, происходящее в результате передачи энер­ гии электронам и рассеяния. Толщина слоя dx г/см2, а — массовый коэффициент ослабления, см2/г.

Массовый коэффициент передачи энергии излучения в веще­ стве с атомным номером z для фотонов с энергией Еу

dJk _

Ekz

__ Кг

Кг

(1.9)

Jdx

JtSdx

Jt

ФtEy '

 

где dJk—изменение интенсивности в результате передачи энер­ гии электронам, Kz — керма.

Электронное равновесие — это такое состояние, когда погло­ щенная энергия излучения в некотором объеме среды* равна суммарной кинетической энергии электронов, образованных в том же объеме.

В условиях электронного равновесия плотность потока вто­ ричных электронов Фе изменяется так же, как плотность потока фотонов Фѵ, т. е. отношение Фе/Ф? остается постоянным.

Массовый коэффициент поглощения энергии

И’п m z

dJп

JtSdx

E k z (1 - R z )

= n*m20 - R z ) . (MO)

 

Jdx

JtSdx

 

* Равная сумме потерь энергии на ионизацию и тормозное излучение вторичными электронами в этом объеме.

8

Здесь dJn— изменение интенсивности электромагнитного излу­ чения, происходящее в результате передачи электронам энер­ гии Em= Ehz (1—Rz), где Rz— доля энергии вторичных элек­

тронов, потерянная на тормозное излучение в веществе.

Энергия

Епх поглощается в массе вещества, отличной от in= Sdx,

а поэто­

му отношение Е ^ т в общем случае не является дозой. Только

при выполнении условия электронного равновесия можно счи­

тать, что Enz/m — Dz. Тогда

из (1.10)

получим, что в

условиях

электронного равновесия

 

 

 

 

 

Dz = iiamzJt.

 

(1.11)

Тормозная

способность

вещества

для заряженной

частицы

с энергией

(или Еа) выражается отношением

 

 

d4 ^

dEu2

dER ^

(1.12)

 

dx

dx

'

dx '

 

 

где dEaz — энергия, теряемая одной частицей на ионизацию и возбуждение (при прохождении пути dx), а dEn — на тормозное излучение. Обычно dE/dx измеряют в Мэв-смг/г. Учитывая, что (dEf(/dx)l{dEf,/dx)=Rz, получаем

dEp

dEnz f

l \

(1.13a)

dx

dx

\ 1 — RZJ ‘

 

Для электронов справедливо приближенное соотношение И]

dER/ d x ___ Е_

dEnjdx

Ек-р

(1.14)

 

где Екр — критическая энергия *, зависящая от г. Из (1.12) и (1.14) следует, что

(dErJdx) = ~ ^ ( 1 + Е/Екр).

(1.15)

Из (1.13а) и (1.15) видно, что

1 / ( 1 - R Z) = 1 + E / E KP.

(1.16)

Потери на ионизацию и возбуждение. Из соотношения (1.13а) получим

dEaJdx = dEp (1 — Rz)/dx.

(Г.136)

Если через массу Sdx проходит N заряженных частиц, то, учи­ тывая (1.4),

Dz =

фі Мэв/г.

(1.17)

Sdx dx

* £і:р — энергия заряженной частицы, при которой потери на тормозное излучение равны ионизационным потерям.

9

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ